JPS6162024A - 光情報処理装置 - Google Patents

光情報処理装置

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JPS6162024A
JPS6162024A JP59184777A JP18477784A JPS6162024A JP S6162024 A JPS6162024 A JP S6162024A JP 59184777 A JP59184777 A JP 59184777A JP 18477784 A JP18477784 A JP 18477784A JP S6162024 A JPS6162024 A JP S6162024A
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lens
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Maki Yamashita
山下 牧
Naohisa Inoue
直久 井上
Masaharu Matano
俣野 正治
Kazuhiko Mori
和彦 森
Isao Taguchi
功 田口
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Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背L4 (1)発明の技術分野 ξの発明は、半導体1ノーリ゛1.7どからのレーザ光
を集束()、光デCスクの情報記録部に照射し、その反
射光の強度変化にもとづいて光ディスクの情報を読取る
光ピックアップ装置で代表される光情報処理装置に関1
する。
(2)従来技術の説明 近年、高%j録畜度の光ディスク・メtりが実用化ざ杓
るにともない、高性能かつ小型軽量の光ビツウアツブ装
保の開発が明侍されている3、従来の光ピツクアップ装
置の、1要部は光学系と駆動系とから構成されている。
光学系は基本的には、1ノーリ゛光を1東1ノンズC光
ディスクの情報記録部上に集光し、光ディスクからの反
04光をフAトダイA−ドτ・電気イ、1号に変換4る
機能をもっており、光iイスク上の記録情報(Jよる反
射光の光量変化が電気信舅と1)で取出される。
光学系は、そねらの作用によって1光デイスクに照射さ
れる光と光ディスクからの反m光とを分111するアイ
ソレータ光学系、光ディスク(J照射される光を1μm
径程麻のスポットに集束さ1!るビーム集光光学系、お
よσ)A−カシング・」−ラーや1−ラッキング・]ニ
ラ−を検出するための1−ラー検出光学系に分cJられ
る。Jれらの=3− 光学系は、光源ど1ノでの半導体レーザ、各種レンズ類
、プリズム類、回折格子、ミラー、1/4波長板、受光
ダイオード<Cどの素子を適宜組合1!ることにより構
成される。
駆動系には、フォーカシング駆動系、トラフ4:ング駆
動系お、」、びラジアル送り駆動系がある。
フA−力シング駆Ih系は、集束1ノンズで集光された
光ビームが光ディスク面に正[)いスポットを形成する
ように、集中1メンズと光デイスク面との距離を適切に
保つための機構である。集束レンズをその光軸方向に動
かして調整するものが最も一般的ぐある。
トラッキング駆動系は、1ノーザ−スポットが光ディス
クのトラックから脱線【ノないように追従さけるための
機構である。この機構と1ノでは、集束1ノンスを光軸
と垂直方向にω)かして調整J□c+− るもの、光+−゛ツクアップ・ヘッド全体を光ディスク
の半径す向IM−動かして調整ヰるもの、川向ミラー(
ピボツティング・ミラー)により集束1ノンズへの入射
光の角度を調整するものなどが一般的に用いられている
ラジアル送り駆O」系は、光ピツクアップ・ヘッドを光
ディスクの半径方向に送る機構であり、これには一般に
リニア・モータが使用される。
このような従来の光ピツクアップ装置は、次のような欠
点をもっている。
光学系が複雑で光軸合わせがめんどうであるとともに、
振動により光軸がずれやりい。
部品点数が多く、組立てに時間がかかり生産性が悪い。
光学部品が高価であるために全体としでも高価にt【る
6一 光学部品が大きいために光ピツクアップ装置も人望ど4
Tす、光学部品を保持Jる機構も必要であるから全体と
し7小くなる。
発明の概要 (1)発明の目的 この発明は、小型かつ軽量τ・1ノかも複94Iな光軸
合わせイ°)不要な光情報処理装j6を提供することを
「I的と?[る。
(2)発明の構成、作用および効果 この発明による光情報処理装置は、基板1−に形成され
た光導波路、光導波路に導入されるレーザ光の光源、光
導波路上【J形成され、先導波  1路を伝播する光を
斜め上方に3つに分離して出射させかつ3つの異なる4
t!置に2次元的に集光する1ノンズ手段、および斜め
上方から反射してくる光をそれぞれ受光づる手段を備え
でいることを特徴どする。
この発明に43いては、光学部品としてのレンズ、プリ
ズム、回折格子、ミ′ニアー11/4波I(楡等が用い
ら11ていないので、装置の小f1す化、軽量化を図る
ことができる。とくに、光導波路から17−リ゛光を1
?1め上方kT fl rJ)Iさせかつ斜め1方から
の反射光を受光づる」、うにし−Cいるから、従来の光
ピツクアップ装置の光学系に必要てdすっだアイソレー
タ光学系を省略Jることができる。しかも、ご3つの光
ビームをそねぞね異4する位置に集光さ1しているから
、中央の光ビームを情報ビッタアップl1t7 J−カ
シング・■−ラー検出用、両側の2つの光ビームをトラ
ッキング・]−ラー検出用に用いることが(゛きるの1
・、)A−カシング、トラッキングの適切な調整がir
能τ・ある。ま1=、光軸合ね[!も受光手段の11“
r、 i#、i決めの力を行なえばJ、い。光導波路、
;ノンズ手段および受光手段を同−基板十に形成づれば
、組立て時にお(プる光軸合わせは不要どなる。
実施例の説明 (1)光ピツクアップ・ヘッドの構成の概要第1図は光
ピツクアップ・ヘッドの構成を示1ノでいる。基台(1
0)十に、半導体1ノーザ(11)および2つの基板(
12)  (13)が配置されかつ固定されている。半
導体レーザ(11)は基台(10)上に形成された電極
(18)  (19)に与えられる駆動電流により駆動
される。
基板(12)にはたとえば3i結晶が用いられ、この基
板(12)上面の熱酸化または5i02の蒸着もしくは
スパッタにより基&(12)上面に5i02バッファ層
が形成されたのち、たとえばコーニング7059などの
ガラスをスパッタすることにより先導波層(21)が形
成されCいる。半導体レーザ(11)から出射したレー
リ゛光はこの先導波層(21)に入射1ノかつ伝播する
光力波tiW(21)−Thには=1リメーフインク・
1ノンズ(22)およびカップリング・1ノンズが形成
されlいる。コニ)リメーテインク・1ノンズ゛(22
)(4半導体1ノーザ(11)から出口4した広がりを
もつ1ノー1f・ビームを平行光に変換1するもの7”
ある。
カップリング・レンズは、光導波(4(21)を伝播(
)てきl、ニレーザ光を斜め上方に3つに分前1ノで出
射さ[シるとどもに、これらの光ビームを異なる3つの
点に2次元的に集光(フォーカシング)するものC′あ
る。カップリンク・1ノンズは、コリメーティング・レ
ンズ〈22)にJ、って平行光に変換されたレーザ光の
伝播経路を横切−1凸− ・)で−列に配911さねた3つの71ノネルへI(グ
レーティング・レンズ(〕1ノネル・1ノンズ)  (
41)〜(43)と、これらのグレーティング・1ノン
ズ(41)〜(43)によって3つに分割されかつ集束
される光の伝播経路上に設【プられたチャー1型(ch
irperl )グレーティング・カプラ(51)〜(
53)とから構成されている。グレーティング・レンズ
(41)〜(43)は、平行光を光導波層(21)内で
集束さ1!るl、−めのものである。グレーディング・
カフ゛う(51)〜(53)は、光の)4行、fノ向に
向って周期(間隔)が小さくなる白線状のグレーディン
グからそれぞれ構成されており、光導波ff1(21)
内を伝播で16光を出射さI!るとともに1直線状に集
光づる機能を−1つつ。
光ン等波窟(21)を伝Jtli ′1J−る光のうら
の中央部の光はグレー7ィング・1ノンズ(41)によ
って1〕方向に集束されているから、グレ−ティング・
1ノンズ(41)の焦点どり1ノーiインク・力/う(
!il)の焦点とが同−貞P1にあれば、先導波層(2
1)から出射した光は貞P1で1貞(J集光Jる。同じ
J、うに、各グレーティング・カブラ(52)  (5
3)から出射1ノた光はそねぞれ魚1)2、P3に集光
ηる。これらのレーザ・スポラ]・[)1〜P3の径は
l Itm稈1復τ・あり間隔は201ノm稈庶eある
。中央のレーザ・スポットp I G1.1光デイスク
の情報の読取りおよびフォーカシング・エラー検出用で
あり、両側のレーザ・スポラ1〜P2、P3はトラッキ
ング・エラー検出用て゛ある。これらのスポットP1〜
[)3は同一平面−L(光ディスクの情報記録面)&J
広焦点結んでおり、かつほぼ−直線状に並んでいる。
基板(12)と1ノてl、、、 i N h Oa結晶
が用いられ1.−場合には、ぞのト面に1−1を熱拡散
覆−ることに、J、り光導波層(21)が形成される。
もう1つの基板(13)もJ、たたとえばSi結晶にJ
、り構成ざl+でいる。この基板(13)には受光部(
3<1)が形成されている。受光部(30)は、光ディ
スクの情報記録面からの反射光を受光するためのもので
・・あり、トiWiの1ノーザ・スポットP1〜F)3
の位Hから斜め■方に反Di lノでくる光を受光でき
る位醪?に配置されている。
受光部(30)4;t、15つの独立した受光素子(3
1)〜(35)からなる。中央の受光素子(31)は情
報の読取り用であり、スポラh P 1からの反射光を
受光づる。ぞの前後にある受光素子(32)  (33
>はフォーカシング・エラー検出用(゛ある。受光素子
り31)の両側にある受光素子(34>  (35)は
トラツーA:ング・」−ラー検出射であり、スポラ1〜
P2、P3からの反射光をそれぞれ受光?する。これら
の受光素子(31)〜(35)は、t、−とλばS1基
板(13)に5つの独立したPN接合(−)Aトダイオ
ード)をつくることにより構成されている。受光素子(
31)〜(35)の出力信エゴは、基板(13)上に形
成された配線パターンにより電極(36)にそれぞれ導
かれ、さらCワイ曳7・ボンディングにより基台(Hl
)−Vの電極(31)にそれぞれ導かれる。基台(10
)上のもう1つの電1ii(38)は受光素子(31)
〜(35)の共通電極である。
光ディスクに記録された情報は、反射光の強度変化と1
ノで現われる。スポットP1の反射光が受光素子(31
)により受光され、ぞの出力信号が記録情報の読取り信
号となる。受光素子(31)〜(33)の和信号を読取
り信局としてもよい。
第1図においでは、草根(12)と(13)とは接しC
設置Jられているが、両基板(12)と(13)どの間
に適当な間隔をありでこれらが位置決めされCも、にい
また基板(12)と(13)とを一体に1ノでもよい。
基板(12)  (13)をともにSiで一体的に構成
1[る場合には、この基板上面全体に先導波層を形成1
)、この先導波層トに直接にCVD法により5−)の独
’:l−1/たアモルファス・シリコン(a−8i >
光起電力素子を形成し、これらにより受光部(30)を
構成11−る。
また、基板〈12)と(13)をL ! N b Os
で一体的に構成する場合には、L ! N tl Oa
十面に同じにうにa−8iによる受光部を形成すること
ができる。
光起電力素子としCは、他に(’)、 tl ’T−e
、 C(IS lcどを用いることが可能rある。
(2)半導体レーザと先導波層との結合半導体1ノーリ
゛(11)と基板(12m+の先導波層(21)とは、
この実施例ではバラ1〜・」−ツジ(butt  er
lge)結合法Cm J、り結合されテイル。
第2図(5−拡大して示されているように、基板(12
)の結合端面が光学研摩され、半導体1ノーザ(11)
の活↑11層(12)と光導波層(21)との高さをあ
わ1!てこれらの両層(12)  (21)の端面が対
面するように()(、半導体1ノーザ(11)が電極パ
ッド(18) L−<:固定される。半導体レーザ(1
1)から出NJ4された1ノーザ光は先導波層(21)
内で広がる。ゝF 79体1ノーリ゛(11)の活性層
(12)内と先導波層(21)内の光のW分(1i ’
rよよく似!、−形を1)【いるの7゛畠効率の結合が
可能−で・あるとともに、特別な結合手段が不要である
という利点をもっている。基台(10)は半導体1ノー
リ“(11)のヒートシンクにもなる。
(3)コリメーティング・レンズ 先導波層上に形成されるコリメーティング・レンズには
、フレネル・レンズ、ブラッグ・グレ−ティング・1ノ
ンズ、ルネブルグ・レンズ、ジオデシツウ・レンズなど
がある。
第3図はフレネル・1ノンズ(24)を示すもので、光
導波層(21)十に光軸から離れるにしたがって「IJ
が小さく ’c’sる(ヂャープド、0hirpod 
)凹凸(グレーティング>(24A)また(、未屈折率
分布が形成さねでいる。
Iことえば凹凸(2/la)を形成する場合には、先導
波層〈21)十にフォトリジストをスピンコード1ノ、
形成?[べき凹凸パターンと同形の露光パターンを用い
て露光後、現像1することにより凸部となる部分の1ノ
ジストを除去する。そして、たとλばガラスをスパッタ
する。i後にすべlのレンズ(〜を除去づれば光導波層
(21)上にスパッタされたガラスによる凸部が残り、
他の部分が四部に相当づることになって結局凹凸(24
a)が形成される。
屈折率弁孔を作成り−る場合には、上述の1ノジスト・
パターンを作成したのち、その−トに1.:とえばT1
膜を形成する。そしてリフトオフ法IJより王1パター
ンを形成づる。上述の凸部となる部分にのみT;膜が残
ることになる。このTiを熱拡散させることにより、T
iがドーlされた部分の屈折率が増大1ノ、第53図に
承り凹凸(24a )のパターンと同じパターンの屈折
二F分布がつくられる。寸なりら凸部に相当116部分
の屈折率が増大する。
ノ゛ラッグ・グレ−ティング・レンズ(25)は第4図
に示されているように、先導波層(21)十に光軸から
のvrIlllllが人きくなるほど光軸とのイfす角
が大きくなる凹凸(25a)または屈折率分布を設置:
J 7r、 4:)の1゛ある。この1ノンズ(25)
は、フレネル・レンズ(24)と同じ方法により作製さ
4する。
第5図はルネノ゛ルグ・1ノンズ(26)を承りもので
ある。、ルネブルグ・レンズ〈26)は、光導波11g
(21)上に中央部が最も厚く周囲にいくにつれr R
9くなるなだらかな厚み分布をもつ高屈析十薄11シ1
をITi面からみて円形IJ形成1ノたものである。
これはlことAば、光導波Fm (21)上刃に円形間
「」をもつマスクを配置し、ガラスなどをスパッタηる
ことににり作製される。円形開口を通っで光導波層(2
1)4:向うスパッタされた物7′iは尤)畔波層(2
1N、、二到達刀るまでに広がるので゛、周囲にいくほ
ど膜厚のA&いA9膜が形成ざねる。
第6図はジオデシック・レンズ(27)を示1゜でいる
。光導波層(21)を形成覆る前に基板(12)表面に
曲面をもつくぼみを形成し、このくぼみにそって先導波
[<21>を形成]jる。
(4)カッlリング・1ノンス゛ 第1図に示されているカッlリング・レンズは、上述し
たように3つのグレーティング・レンズ(41)〜(4
3)とグレーティング・力1う(51)〜(52)とか
ら構成されCいる。これらのレンズ、カプラも−に)ホ
したフレネル・1ノンズと同じJ、うな方法ににり作製
される。
第7図はカップリング・1ノンズの仙の例を示−l ソ
 − しでいる。ゴ1リメーディング・1ノンズ(22)にJ
−っC平行光に変換された光の伝播経路上に、3つの2
次元−ノA−カシング・グ1ノーティング・カプラ(6
1)〜(63)がILJられている。2次元フA−カシ
ンク・グレーディング・カプラ(Jlつのレンズで光の
出射機能と2次元集光機能とを1)′)もので1進行り
向に向うほど周期(間隔)が小さくなる円弧状のグレー
ティング(凹凸)から構成されでいる。このグ1ノーテ
ィング・カプラもま1.:、上述したフレネル・レンズ
ど同じよう4T方法により作製される。このようlj3
つのグレーティング・カフ゛う(61)〜(63)を用
いることにJ、す、異なる位置に集光する3つのレーザ
・スポットP 1〜P3を形成11−ることができる。
4「お、第7図においてはグレーティング(凹凸)は、
ffi単のために+l+をもたない線で描写されている
(5〉)A−カシング・J−ラーの検出光ディスクの情
報記録面にはそのトラックにそってディジタル情報を長
さや(1′!置に、1.−) 7表ねりピッ]〜(くぼ
み)が形成されている。第8図は、光ディスク(81)
と光ピツクアップ・ヘッド(9)との位置関係、ならび
にレーザ・スポットP1を形成する光およびその反則光
を示すものである。第8図(A)は光ディスク(81)
の周方向くビット(82)の長手、方向)と光軸方向が
ほぼ一致している場合において(第10図参照)、光デ
ィスク(81)を王の周方向にそ−)C切断()C示1
ものであり、第8図(B)は光ディスク(81)の半径
り向と光軸方向とがほぼ一致している場合においC(第
11図参照)、光ディスク(81)をその半径り向に切
断して示i[ものである。いり゛れの場合においても、
以下の議論は同じ、J、うにあてはまる。また、第8図
(△)においては1,1;り分りや4くするために受光
素子(31)〜(33)がやや突出1.て描かれている
グ1ノー1インク・カプラ(51)から出用しに1ノー
ザ光(スポッI〜F)1を形成する光)は光ディスク(
81)の情報記録面(第8図ではビット(82)を含む
部分)で反at l、−U受光部(30)とくに受光素
)(31)r″受光れる。第9図は、光デCスク(81
)からの反射光が受光部〈30)を照II ’?Jるぞ
の範囲を示している(受光素子(34)  (3!i)
は省略されている)。
第8図どくに第8図(Δ)におい11実線で示された光
ディスク(81)およびピッ1〜(82)は、光ディス
ク(81)ど光ピ′ツタアップ・ヘッド(9)との間の
距離が最適τパあり、+Ij *=1光の光デ゛イスク
(81)、、)へのフt −frシングが正1ノく行4
Tわれ−Cいる様子をiiN?lもので・ある。このと
きの受光部(30)にお(Jろ反射光の照q・I領域が
Qlて示されている。C−の照射領域01は中央の受光
索子(31)l−に位置しでおり、他の受光索子(32
)  (33)には反射光は受光さねない。
光ディスタ〈81)とピックアップ・ヘッド(9)との
間の距離が相対的に大きくまたは小さくなって適切イ≧
フA−カシングが行なわれない場合の光ディスク(81
)の位置が第8図(Δ)に鎖線で示されている。光ディ
スク(81)とピックアップ・ヘッド(9)との間の距
離が相対的に小さくなった場合(−△dの変位)には、
反射光の照射領+1i(Q11’?−表わさtlている
)は受光索子(32)側に寄る。受光索子(32)は差
動増幅器(71)の負側に、受光素子(33)は正側に
て杓ぞね接続さねでいるから、この場合には差動増幅器
(71)の出力は負の値を示し、この4if目J安41
/耐−△dの大きさを表ねlノでいる。
光ディス7′7(81)とピックアップ・ヘッド(9〉
との間の距離が相対的に大きくなった場合(」−八〇の
変位〉には、反射光の照射領域(Q12で表わされてい
る)は受光索子(33)側に寄る。差動増幅器(71)
の出力は正の値を示1ノ、かつこの(f口ま変位量子Δ
dを表わす。
このようにして、ピックアップ・ヘッド(9)からの出
射光ビームのフォーカシングが適切であるかどうか、フ
ォーカシング・エラーが生じている場合にはLラーの方
向ど人ぎさが差動増幅器〈71)の出力から検知される
。フォーカシング・−「ラーが無い場合には差動増幅器
(71)の出力は零で′ある。
(6)1〜ラツキング・]−ラーの検出第10図お31
、び第11図(:1、光ディスク(81)に形成され/
、=ピッt−(82)と光ピツクアップ・ヘッド(9)
l−のグlノーティング・カブラ(!i1)〜(53)
 A3よび受光部(3(+)とを同一平面上に模式的に
配貿」ノで示しI、:ものであり、いわば光ディスク(
81)をその而り向に透視して光ピツクアップ・ヘッド
(9)をみた模式図である。
差動増幅器(72)は受光索子(34>  (35)と
の電気的接続関係を明らかにする目的で図示されている
。第10図は、光ディスクの周り向と光軸方向とがほぼ
一致する構成の場合、第11図は光ディスクの半径、f
J向と光軸方向とがほぼ一致する構成の場合である。い
ずれの場合にも適切にフォーカシングがなさねでいるも
のとじで11/lかれている。
)凶切なトラッキング制御が行なわれている場合には、
中央の1ノーザ・スポットP1とピッ1−(82)のr
l+方向の中心とが一致しでいる。他の2つのスポット
P2、P34.1ピッ1−(82)の両側にり“ねでい
る。スポットP2、P3はビット(82)にかかつCい
てもよいしかかつていなくてもJ、いが、スポットP2
どP3のビット(82〉からの変位量は等1)い。スポ
ラ1〜P2、P3からの反身・1光を受光Jる受光素子
(34)  (35)は差動増幅器(72)に接続され
ている。
1ノー甲・スポット21が光ディスク(81)C7)情
報記録面に当I、ニリ、イの反a=1光の強度がビット
(82〉の存在にJ、−)T変調される。これには、ピ
ッ1〜(82)の1]J:りもスポット・サイズの方が
やや大きいので゛ピット(82)の底面で反射Jる光と
ピッ1〜(82)以外の部分で・反身、l ?Iる光と
が存在し、ビット(82)の深ざが1/4λ(λはレー
リ゛光の波長)程度に設定されていることにより、上記
の21Φ類の反射光の間にπのIQ/相差が生じでnい
に」1消lノ合い、光強度が小さくなるという説明や、
ピッ1−ui2)の縁部で光の散乱が生じこれに、[、
り受光される反q・1光強fCLが小ざくなるという説
明へとがある。いずれに1)でも、ビット(82)の佇
右によ−)で受光素子(31)に受光される光強度は小
さくなる。他のスポラ1〜P2、p 3!の反射光を受
光する受光素子(34)  (3!i)についても同様
のことがいえる。
レーjF・スポット1〕1の中心とビット(82)の中
方向の中心とが一致している場合には、スポットP2の
ビット(82)に対する変位量とスポットP3のビット
(82)に対する変位量と(,1雪しいので、受光素子
<34)  <35)に受光される光強度は等1ノい。
したがって、差動増幅器(72)の出力電圧は零を示す
。スポラl−P 1がビット(82)から横方向にり゛
れると、これにどもなつ(曲のスポラ1−P2、P3の
うちの一方はビット(82)から遠ざかり他方はビット
(82)の巾万−向中心に近づく。したがつC1受光素
子(34)ど(35)とに受光される光量が異なり、差
動増幅器(72)から(ま、ずれのh向に応じて正また
は負の電圧が発711)、かつこの出力電圧の犬ぎざト
Lずれの大きざを表わす。
(:のJ:うに1)で、差動増幅器(72)の出力によ
りビーム・スポラl−P 1が光ディスク(81)のト
ラックに1確に沿っているか、トラッキング・エラーが
生じているか、それは左、右のどららにどの程度ずれた
二■−ラーかが検出される。
−28= (7)フA−カシングa−ンよびトラッキング駆動機構 第12図から第14図はフォーカシング駆動機構おJ、
び1〜ラッキング駆動機構を示lノでいる。
この機構は、光ディスクの周り向と光軸とがほぼ一致し
Cいる構造の45の(第8図(A)、第10図)に適用
され、光ディスクの径1ノ向と光軸とがほぼ一致してい
る構造のものく第8図(B)、第11図)の場合には、
第12図において光ピツクアップ・ヘッド(9)が水平
面内で90’回転された位置に固定される。
支持板(100)の一端部に支持部材(101)がX′
手段されでいる。この支持81114 (1o1)の両
側下端部は切欠かれている(符号(102) )。
支持板(100)の他端部上方には可動部祠(103)
が位置tノでいる。上下方向に弾性的に屈曲1ノうる4
つの根ぽね(121)  (122)の一端は支持部材
(101)の上端両側A3 J’、び−ト部切欠ぎ(1
02)に固定されており、他端は可動部材(103>の
1喘おJ:びト端の両側IJそhぞれ固定さ七1(いる
。し!、:かって、可動部)rA (103)はこれら
の板ばt)(121)  (122)を介してト下ノ)
向に運!111ノ゛)る状態で支持部材(101)に支
持さ4′ニアいる。
光ピツクアップ・ヘッド(9)を載147 Lノだステ
ージ(110)は、L部の方形枠(+12) 、方形枠
(112)の両端から干hkTのびた両脚(114) 
 (11!i)おJ:び方形枠(112)の中央部から
下方にのびた中央脚(ii3)から構成されている、1
方形枠(112)上に光ピツクアップ・ヘッド(9)が
載置固定されている。横り向に弾目的に屈曲しうる4つ
の板ぽね(131)の一端は可動部材(103)の両側
1、下部に固定され、他端はステージ(11(+)の中
央脚(113)の両側士、下部(、−固定され4いる。
スラージ(IHI)は、こtlらの板ばt+(131>
を介して横り向(第10図の〕f右方向と一致する)に
、運動1ノうる状態で支持さねている。1ノ1=が−)
(、ステージ<  1io)は、1−1・方向(フォー
カシング)および横り向(トラフ1−ング)に移動自在
−τ゛ある。
支持板(100)、支持部(A(101) 、’iq動
部祠(HI3)およびステージ(iH))は非磁性月利
、/Sとえばプラス−1ツタにより構成され(いる。
支持部4J (101) A3.I、ヒnl 1111
部暑Δ(103)ノ内面にはヨーク(10/l)  (
105)が固定されている。ヨーク(104)は、支持
部)J (101)にj)   l  − 固定された垂自部分(104a)と、これと間隔をおい
(位置する!〕う1つの垂直部分(104b)と、これ
らの両部会(H14a)  (1(141))をそれら
の下端で結合させる水平部分とから構成されている。
ヨーク(105)もヨ1−り(10/りど全く同じ形状
であり、一定の間隔をおいて離れた2つの垂直部分(1
(1’、+8)  (10!ib) ヲ備エテイル。
これらのヨーク(104>  (10!i>の垂直部分
(104a)  (H)5a)の内面には、この内面側
をたとえばS極とする永久磁石(106)がそれぞれ固
定されでいる。そしIXヨーク(104)  (105
)の他力の垂直部分(104b)  (105b)と永
久磁石(106)どの間に、ステージ(110)の脚(
114)  (115)がそれらに接しない状態でそれ
ぞね入り込んでいる。
ステージ(110)の両脚(114)  (115)の
まわりには−74−カシング駆動用=1イル(123)
が水平h17Il←゛二巻回されている。J、/、−こ
れらの脚(114)  (11!i)の一部には、永久
磁イi (1(16)と対向する部分においC上下方向
に向う部分を右するトラッキンク駆iE++用=二1イ
ル(133)が巻回されている。
フォーカシング駆仙lit lTh5は第13図に11
1もよく示されCいる。永久磁石(106)から発生し
た磁束11は鎖線で示されているようにFl−り(10
4)  (10!l)の垂直部分(104h)  (1
05b)にそれぞね向う。この磁界を横切って水平り向
に配設されlζニコイル(123)に、1.−とえば第
12図に43いて紙面に向・)方向(J駆動電流が流さ
れると、上方に向う力[−1が発生する。この力F[に
よってステージ(110)は下方に移1PJI鳳する。
ステージ(+1(1)の移銀j部は二〕イル(123)
に流される電流の大きざによって調整することがで゛き
る。したが−)(−1上)ボ1ノた差動増幅器(71)
の出力信号に応じ−にの駆動電流のプフ向を切換えるこ
とに、1.す、お。1、び電流の大きさを調整するまた
は電流をオン、Aフすることにより、フォーカシング制
御を行4rうことがて・′きる。
トラツヤング駆動機構は第17′1図に最もよく表わさ
杓でいる。−1イル(133)の磁界1−1をよF J
i向に横切つi(Fit1!設された部分に、Iことえ
は第1/1図でパ紙面に向う方向に(第12図で一ト方
に向つ()駆動電流を流Jと、第14図におい7’ j
jJに向う力(第12図においで横方向に向う力)「1
が介’J−,lノ、ステージ(110)は同方向に移動
する。上)ホ1ノIこ差動増幅器(72)の出力信号に
応じてコイル(133)に流づ電流をオン、7171.
、たり、電流の方向、必要ならばその大きさを調整する
ことにより、トラッキング制御を行なうことができる。
電気光学効果を利用しlフA−カシングおよび1〜ラツ
4−ングの制御を行なうこともできろ。
たとえば、光導波路(21)  (および基板<12)
)を電気光学効果をも−〕月料(たとえば1−iNh0
3>’?’形成するか、またはグ1ノーティング・レン
ズ(41)〜(43)やグ1ノーディング・カプラ(!
il)〜(53)の場所に電気光学効果をもつ材料(I
ことえばZnOやA/N)の薄膜を形成し、これらの1
ノンズおよびカプラの両側に電極を設ける。電極に印加
する電圧を変えることにより、こねらの1ノンズやカプ
ラの焦点距1!111を調整することができ、これによ
りフォーカシング制御やトラツー1ング制御が行なわれ
る。−Il、=、光導波路(21)を伝播する光ビーム
を電気光学効果を利用して偏向ざ1Jることにより、1
〜ラツキンクの制御t)’iTJ能て゛ある。光ビーム
の偏向はI、:とえば光と5AW(弾性表面波)との相
互作用を利用1ノで達成することがτ゛きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光ピツク7ノツプ・ヘッドを示寸斜視図である
。 第2図はゝl′導体1ノーザど光導波居との光結合部分
を示す斜視図である。 第3図はフレネル型グ1ノーーiインク・レンズを示寸
斜視図である。 第4図はブラッグfillグ1ノーディング・レンズを
示す斜視図である。 第5図はルネゾルグ・1ノンズを示Jもので、(Δ)は
平面図、〈1〕)は断面図である。 第6図tまジAj゛シック・レンズを示すもので、(△
)は平面図、(13)は断面図でdする。 第7図はカップリング・レンズの他の実施例を示1斜視
図である。 第8図は、光ディスクと光ピツクアップ・ヘッドとの(
it置量関係示す断面図であり、(A>は光ディスクの
周Ij向と光軸方向とがほぼ一致する構造にお#する!
りの、(B)は光ディスクの径り向と光軸り向どがほぼ
一致する構造におするものである。 第9図は、受光部上にお1プるフォーカシング・エラー
の検出原理を示す図C゛ある。 第10図おJ、び第11図は、ドラッギング・エラーの
検出原理を示す図であり、第10図番、1光ディスクの
周方向と光軸り向とがほぼ一致する構造のノコの、第1
1図は光ディスクの径方向と光軸方向とがほぼ一致する
構造のものである。 第12図から第14図は、フォーカシングおよび1ヘラ
ツキング駆動機構を示すもので、第12図は斜視図、第
13図は第12図のX■−Xm線にぞう断面図、第14
図は光ピツクアップ・ヘッドを除去1ノC小J−甲面図
である。 (9)・・・光ピツクアップ・ヘッド、(10)・・・
基台、(11)・・・31(導体レーザ、(12)  
(13)・・・基板、  (21)・・・光導波層、(
22)・・・コリメーティング・レンズ、(3(1)・
・・受光部、(31)〜(35)・・・受光素子、(4
1)〜(43)・・・グレーティング・1ノンズ、(!
i1)〜(53)・・・グレーティング・カプラ、<6
1)  (62)  (63)・・・2次元フォーカシ
ング・グレーティング・カプラ。 以  上 4L 第2区 第53.図1 (A) (A) (羽 r>+8 柑 。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に形成された光導波路、 光導波路に導入されるレーザ光の光源、 光導波路上に形成され、光導波路を伝播する光を斜め上
    方に3つに分離して出射させかつ3つの異なる位置に2
    次元的に集光するレンズ手段、および 斜め上方から反射してくる光をそれぞれ受光する手段を
    備えた光情報処理装置。
  2. (2)光導波路、レンズ手段および受光手段が同一基板
    上に形成されている、特許請求の範囲 第(1)項に記
    載の光情報処理装置。
  3. (3)斜め上方に出射された3つの光のフォーカシング
    調整手段、および 斜め上れに出射された3つの光のトラッキング調整手段
    、 を備えた特許請求の範囲第(1)項に記載の光情報処理
    装置。
  4. (4)レーザ光源、基板および受光手段が1つの基台上
    に設けられており、フォーカシング調整手段が基台を基
    台の面に垂直な方向に動かす機構であり、トラッキング
    調整手段が基台を基台の面に平行な方向に動かす機構に
    ある、特許請求の範囲第(3)項に記載の光情報処理装
    置。
  5. (5)レンズ手段が電気光学効果をもつ部分上に形成さ
    れており、電気光学効果を利用してフォーカシング調整
    、トラッキング調整の少なくともいずれか一方が行なわ
    れる、特許請求の範囲第(3)項に記載の光情報処理装
    置。
  6. (6)光導波路が電気光学効果をもつ部分上に形成され
    ており、電気光学効果を利用して光の伝播方向を変える
    ことによりトラッキング調整が行なわれる、特許請求の
    範囲第(3)項に記載の光情報処理装置。
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DE10061259A1 (de) * 2000-12-01 2002-06-27 Fraunhofer Ges Forschung Schaltungsanordnung

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