JPH09120022A - 光学装置 - Google Patents

光学装置

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Publication number
JPH09120022A
JPH09120022A JP8120777A JP12077796A JPH09120022A JP H09120022 A JPH09120022 A JP H09120022A JP 8120777 A JP8120777 A JP 8120777A JP 12077796 A JP12077796 A JP 12077796A JP H09120022 A JPH09120022 A JP H09120022A
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JP
Japan
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light
light receiving
optical
substrate
optical waveguide
Prior art date
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Pending
Application number
JP8120777A
Other languages
English (en)
Inventor
Maki Yamashita
牧 山下
Naohisa Inoue
直久 井上
Masaharu Matano
正治 俣野
Kazuhiko Mori
和彦 森
Isao Taguchi
功 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP8120777A priority Critical patent/JPH09120022A/ja
Publication of JPH09120022A publication Critical patent/JPH09120022A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光源からの光を導光板に導入し,導光板に導
入された光を制御するタイプの光学装置において,集積
化を図る。 【構成】 電極(18,19,37,38)が形成された基台
(10)上に,発光素子(11)と基板(12)とが固定され
る。発光素子(11)の出射光は基板(12)の光導波層
(21)に導入される。発光素子(11)は電極(18,19)
に接続される。基台(10)上には受光素子(31,32,3
3,34)も設けられ,電極(37,38)に接続される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】この発明は,光源からの光を導光板に導入
し,導光板に導入された光を制御するタイプの光学装置
に関する。
【0002】
【背景技術】この種の光学装置では導光板の端面に接し
てまたは近接して光源を配置し,光源からの光を直接に
またはレンズ等の光学部品を介して導光板に導入する構
成が一般的である。このような構成では,光源と導光板
とを光学的に結合させるための位置決めおよびそれらの
固定が困難である。また,光源への配線,導光板の支持
等のための構造を別途に設ける必要がある。
【0003】
【発明の開示】この発明は光源,その配線構造,導光
板,その支持構造等を集積化しうる構成を提供するもの
である。
【0004】この発明による光学装置は,導体パターン
が表面に設けられた基台,上記基台に固定され,上記導
体パターンと電気的に接続された発光素子,および上記
基台に固定され,導光構造を有する導光板を備え,上記
発光素子が,その出射光が上記導光板に入射して上記導
光構造内を導光するように配置されているものである。
【0005】光源としての発光素子および導光板がとも
に基台上に固定されている。この基台に導体パターンが
形成され,この導体パターンに発光素子が電気的に接続
されているので,導体パターンを通して発光素子が駆動
される。このようにして,一つの基台を用いて,発光素
子と導光板との位置合せおよび固定,発光素子への電力
の供給,ならびに導光板の支持を達成することができ
る。
【0006】基台上に受光素子を設け,基台上の導体パ
ターンに受光素子を電気的に接続することにより一層の
集積化が可能となる。
【0007】導光板の導光構造内に導入された光は光学
装置の用途に応じて種々の制御を受ける。たとえば光の
収束,偏向,拡散,外部への出射等である。一実施態様
では,上記導光板に,上記導光構造内を伝搬する光を外
部に出射させる凹凸構造が設けられる。
【0008】導光板は,その表面に上記導光構造として
の光導波層が形成された基板も含む。
【0009】
【実施例】
(1) 光ピックアップ・ヘッドの構成の概要 図1は光ピックアップ・ヘッドの構成を示している。基
台10上に,半導体レーザ11および2つの基板12,13が配
置されかつ固定されている。半導体レーザ11は基台10上
に形成された電極18,19に与えられる駆動電流により駆
動される。
【0010】基板12にはたとえばSi結晶が用いられ,
この基板12上面の熱酸化またはSiO2 の蒸着もしくは
スパッタにより基板12上面にSiO2 バッファ層が形成
されたのち,たとえばコーニング7059などのガラス
をスパッタすることにより光導波層21が形成されてい
る。半導体レーザ11から出射したレーザ光はこの光導波
層21に入射しかつ伝播する。
【0011】光導波層21上にはコリメーティング・レン
ズ22およびカップリング・レンズが形成されている。コ
リメーティング・レンズ22は半導体レーザ11から出射し
た広がりをもつレーザ・ビームを平行光に変換するもの
である。
【0012】カップリング・レンズは,光導波層21を伝
播してきたレーザ光を斜め上方に3つに分離して出射さ
せるとともに,これらの光ビームを異なる3つの点に2
次元的に集光(フォーカシング)するものである。カッ
プリング・レンズは,コリメーティング・レンズ22によ
って平行光に変換されたレーザ光の伝播経路を横切って
一列に配列された3つのフレネル型グレーティング・レ
ンズ(フレネル・レンズ)41,42,43と,これらのグレ
ーティング・レンズ41〜43によって3つに分割されかつ
集束される光の伝播経路上に設けられたチャープ型(ch
irped )グレーティング・カプラ51,52,53とから構成
されている。グレーティング・レンズ41〜43は,平行光
を光導波層21内で集束させるためのものである。グレー
ティング・カプラ51〜53は,光の進行方向に向って周期
(間隔)が小さくなる直線状のグレーティングからそれ
ぞれ構成されており,光導波層21内を伝播する光を出射
させるとともに一直線状に集光する機能をもつ。光導波
層21を伝播する光のうちの中央部の光はグレーティング
・レンズ41によって幅方向に集束されているから,グレ
ーティング・レンズ41の焦点とグレーティング・カプラ
51の焦点とが同一点P1にあれば,光導波層21から出射
した光は点P1で一点に集光する。同じように,各グレ
ーティング・カプラ52,53から出射した光はそれぞれ点
P2,P3に集光する。これらのレーザ・スポットP1
〜P3の径は1μm程度であり間隔は20μm程度であ
る。中央のレーザ・スポットP1は光ディスクの情報の
読取りおよびフォーカシング・エラー検出用であり,両
側のレーザ・スポットP2,P3はトラッキング・エラ
ー検出用である。これらのスポットP1〜P3は同一平
面上(光ディスクの情報記録面)に焦点を結んでおり,
かつほぼ一直線状に並んでいる。
【0013】基板12としてLiNbO3 結晶が用いられ
た場合には,その上面にTiを熱拡散することにより光
導波層21が形成される。
【0014】もう1つの基板13もまた,たとえばSi結
晶により形成されている。この基板13には受光部30が形
成されている。受光部30は,光ディスクの情報記録面か
らの反射光を受光するためのものであり,上述のレーザ
・スポットP1〜P3の位置から斜め下方に反射してく
る光を受光できる位置に配置されている。
【0015】受光部30は,5つの独立した受光素子31,
32,33,34,35からなる。中央の受光素子31は情報の読
取り用であり,スポットP1からの反射光を受光する。
その前後にある受光素子32,33はフォーカシング・エラ
ー検出用である。受光素子31の両側にある受光素子34,
35はトラッキング・エラー検出用であり,スポットP
2,P3からの反射光をそれぞれ受光する。これらの受
光素子31〜35は,たとえばSi基板13に5つの独立した
PN接合(フォトダイオード)をつくることにより構成
されている。受光素子31〜35の出力信号は,基板13上に
形成された配線パターンにより電極36にそれぞれ導か
れ,さらにワイヤ・ボンディングにより基台10上の電極
37にそれぞれ導かれる。基台10上のもう1つの電極38は
受光素子31〜35の共通電極である。
【0016】光ディスクに記録された情報は,反射光の
強度変化として現われる。スポットP1の反射光が受光
素子31により受光され,その出力信号が記録情報の読取
り信号となる。受光素子31〜33の和信号を読取り信号と
してもよい。
【0017】図1においては,基板12と13とは接して設
けられているが,両基板12と13との間に適当な間隔をあ
けてこれらを位置決めしてもよい。
【0018】また基板12と13とを一体にしてもよい。基
板12,13をともにSiで一体的に構成する場合には,こ
の基板上面全体に光導波層を形成し,この光導波層上に
直接にCVD法により5つの独立したアモルファス・シ
リコン(a−Si)光起電力素子を形成し,これらによ
り受光部30を構成する。
【0019】また,基板12と13をLiNbO3 で一体的
に構成する場合には,LiNbO3上面に同じようにa
−Siによる受光部を形成することができる。
【0020】光起電力素子としては,他にCdTe,C
dSなどを用いることが可能である。
【0021】(2) 半導体レーザと光導波層との結合 半導体レーザ11と基板12上の光導波層21とは,この実施
例ではバット・エッジ(butt edge )結合法により結合
されている。図2に拡大して示されているように,基板
12の結合端面が光学研摩され,半導体レーザ11の活性層
12と光導波層21との高さをあわせてこれらの両層12,21
の端面が対面するようにして,半導体レーザ11が電極パ
ッド18上に固定される。半導体レーザ11から出射された
レーザ光は光導波層21内で広がる。半導体レーザ11の活
性層12内と光導波層21内の光の界分布はよく似た形をし
ているので高効率の結合が可能であるとともに,特別な
結合手段が不要であるという利点をもっている。基台10
は半導体レーザ11のヒートシンクにもなる。
【0022】(3) コリメーティング・レンズ 光導波層上に形成されるコリメーティング・レンズに
は,フレネル・レンズ,ブラッグ・グレーティング・レ
ンズ,ルネブルグ・レンズ,ジオデシック・レンズなど
がある。
【0023】図3はフレネル・レンズ24を示すもので,
光導波層21上に光軸から離れるにしたがって幅が小さく
なる(チャープド,chirped )凹凸(グレーティング)
24aまたは屈折率分布が形成されている。
【0024】たとえば凹凸24aを形成する場合には,光
導波層21上にフォトレジストをスピンコートし,形成す
べき凹凸パターンと同形の露光パターンを用いて露光
後,現像することにより凸部となる部分のレジストを除
去する。そして,たとえばガラスをスパッタする。最後
にすべてのレジストを除去すれば光導波層21上にスパッ
タされたガラスによる凸部が残り,他の部分が凹部に相
当することになって結局凹凸24aが形成される。
【0025】屈折率分布を作成する場合には,上述のレ
ジスト・パターンを作成したのち,その上にたとえばT
i膜を形成する。そしてリフトオフ法によりTiパター
ンを形成する。上述の凸部となる部分にのみTi膜が残
ることになる。このTiを熱拡散させることにより,T
iがドープされた部分の屈折率が増大し,図3に示す凹
凸24aのパターンと同じパターンの屈折率分布がつくら
れる。すなわち凸部に相当する部分の屈折率が増大す
る。
【0026】ブラッグ・グレーティング・レンズ25は図
4に示されているように,光導波層21上に光軸からの距
離が大きくなるほど光軸とのなす角が大きくなる凹凸25
aまたは屈折率分布を設けたものである。このレンズ25
は,フレネル・レンズ24と同じ方法により作製される。
【0027】図5はルネブルグ・レンズ26を示すもので
ある。ルネブルグ・レンズ26は,光導波層21上に中央部
が最も厚く周囲にいくにつれて薄くなるなだらかな厚み
分布をもつ高屈折率薄膜を平面からみて円形に形成した
ものである。
【0028】これはたとえば,光導波層21上方に円形開
口をもつマスクを配置し,ガラスなどをスパッタするこ
とにより作製される。円形開口を通って光導波層21に向
うスパッタされた物質は光導波層21に到達するまでに広
がるので,周囲にいくほど膜厚の薄い薄膜が形成され
る。
【0029】図6はジオデシック・レンズ27を示してい
る。光導波層21を形成する前に基板12表面に曲面をもつ
くぼみを形成し,このくぼみにそって光導波層21を形成
する。
【0030】(4) カップリング・レンズ 図1に示されているカップリング・レンズは,上述した
ように3つのグレーティング・レンズ41〜43とグレーテ
ィング・カプラ51〜53とから構成されている。これらの
レンズ,カプラも上述したフレネル・レンズと同じよう
な方法により作製される。
【0031】図7はカップリング・レンズの他の例を示
している。コリメーティング・レンズ22によって平行光
に変換された光の伝播経路上に,3つの2次元フォーカ
シング・グレーティング・カプラ61,62,63が設けられ
ている。2次元フォーカシング・グレーティング・カプ
ラは1つのレンズで光の出射機能と2次元集光機能とを
もつもので,進行方向に向うほど周期(間隔)が小さく
なる円弧状のグレーティング(凹凸)から構成されてい
る。このグレーティング・カプラもまた,上述したフレ
ネル・レンズと同じような方法により作製される。この
ような3つのグレーティング・カプラ61〜63を用いるこ
とにより,異なる位置に集光する3つのレーザ・スポッ
トP1〜P3を形成することができる。なお,図7にお
いてはグレーティング(凹凸)は,簡単のために幅をも
たない線で描写されている。
【0032】(5) フォーカシング・エラーの検出 光ディスクの情報記録面にはそのトラックにそってディ
ジタル情報を長さや位置によって表わすピット(くぼ
み)が形成されている。図8は,光ディスク81と光ピッ
クアップ・ヘッド9との位置関係,ならびにレーザ・ス
ポットP1を形成する光およびその反射光を示すもので
ある。図8(A) は光ディスク81の周方向(ピット82の長
手方向)と光軸方向がほぼ一致している場合において
(図10参照),光ディスク81をその周方向にそって切断
して示すものであり,図8(B) は光ディスク81の半径方
向と光軸方向とがほぼ一致している場合において(図11
参照),光ディスク81をその半径方向に切断して示すも
のである。いずれの場合においても,以下の議論は同じ
ようにあてはまる。また,図8(A) においては,より分
りやすくするために受光素子31〜33がやや突出して描か
れている。
【0033】グレーティング・カプラ51から出射したレ
ーザ光(スポットP1を形成する光)は光ディスク81の
情報記録面(図8ではピット82を含む部分)で反射して
受光部30とくに受光素子31で受光される。図9は,光デ
ィスク81からの反射光が受光部30を照射するその範囲を
示している(受光素子34,35は省略されている)。
【0034】図8とくに図8(A) において,実線で示さ
れた光ディスク81およびピット82は,光ディスク81と光
ピックアップ・ヘッド9との間の距離が最適であり,出
射光の光ディスク81上へのフォーカシングが正しく行な
われている様子を示すものである。このときの受光部30
における反射光の照射領域がQ1で示されている。この
照射領域Q1は中央の受光素子31上に位置しており,他
の受光素子32,33には反射光は受光されない。
【0035】光ディスク81とピックアップ・ヘッド9と
の間の距離が相対的に大きくまたは小さくなって適切な
フォーカシングが行なわれない場合の光ディスク81の位
置が図8(A) に鎖線で示されている。光ディスク81とピ
ックアップ・ヘッド9との間の距離が相対的に小さくな
った場合(−Δdの変位)には,反射光の照射領域(Q
11で表わされている)は受光素子32側に寄る。受光素子
32は差動増幅器71の負側に,受光素子33は正側にそれぞ
れ接続されているから,この場合には差動増幅器71の出
力は負の値を示し,この値は変位量−Δdの大きさを表
わしている。
【0036】光ディスク81とピックアップ・ヘッド9と
の間の距離が相対的に大きくなった場合(+Δdの変
位)には,反射光の照射領域(Q12で表わされている)
は受光素子33側に寄る。差動増幅器71の出力は正の値を
示し,かつこの値は変位量+Δdを表わす。
【0037】このようにして,ピックアップ・ヘッド9
からの出射光ビームのフォーカシングが適切であるかど
うか,フォーカシング・エラーが生じている場合にはエ
ラーの方向と大きさが差動増幅器71の出力から検知され
る。フォーカシング・エラーが無い場合には差動増幅器
71の出力は零である。
【0038】(6) トラッキング・エラーの検出 図10および図11は,光ディスク81に形成されたピット82
と光ピックアップ・ヘッド9上のグレーティング・カプ
ラ51〜53および受光部30とを同一平面上に模式的に配置
して示したものであり,いわば光ディスク81をその面方
向に透視して光ピックアップ・ヘッド9をみた模式図で
ある。差動増幅器72は受光素子34,35との電気的接続関
係を明らかにする目的で図示されている。図10は,光デ
ィスクの周方向と光軸方向とがほぼ一致する構成の場
合,図11は光ディスクの半径方向と光軸方向とがほぼ一
致する構成の場合である。いずれの場合にも適切にフォ
ーカシングがなされているものとして描かれている。
【0039】適切なトラッキング制御が行なわれている
場合には,中央のレーザ・スポットP1とピット82の幅
方向の中心とが一致している。他の2つのスポットP
2,P3はピット82の両側にずれている。スポットP
2,P3はピット82にかかっていてもよいし,かかって
いなくてもよいが,スポットP2のピット82からの変位
量とP3のピット82からの変位量とは等しい。スポット
P2,P3からの反射光を受光する受光素子34,35は差
動増幅器72に接続されている。
【0040】レーザ・スポットP1が光ディスク81の情
報記録面に当たり,その反射光の強度がピット82の存在
によって変調される。これには,ピット82の幅よりもス
ポット・サイズの方がやや大きいのでピット82の底面で
反射する光とピット82以外の部分で反射する光とが存在
し,ピット82の深さが(1/4)λ(λはレーザ光の波
長)程度に設定されていることにより,上記の2種類の
反射光の間にπの位相差が生じて互いに打消し合い,光
強度が小さくなるという説明や,ピット82の縁部で光の
散乱が生じこれにより受光される反射光強度が小さくな
るという説明などがある。いずれにしても,ピット82の
存在によって受光素子31に受光される光強度は小さくな
る。他のスポットP2,P3の反射光を受光する受光素
子34,35についても同様のことがいえる。
【0041】レーザ・スポットP1の中心とピット82の
幅方向の中心とが一致している場合には,スポットP2
のピット82に対する変位量とスポットP3のピット82に
対する変位量とは等しいので,受光素子34,35に受光さ
れる光強度は等しい。したがって,差動増幅器72の出力
電圧は零を示す。スポットP1がピット82から横方向に
ずれると,これにともなって他のスポットP2,P3の
うちの一方はピット82から遠ざかり,他方はピット82の
幅方向中心に近づく。したがって,受光素子34と35とに
受光される光量が異なり,差動増幅器72からは,ずれの
方向に応じて正または負の電圧が発生し,かつこの出力
電圧の大きさはずれの大きさを表わす。
【0042】このようにして,差動増幅器72の出力によ
りビーム・スポットP1が光ディスク81のトラックに正
確に沿っているか,トラッキング・エラーが生じている
か,それは左,右のどちらにどの程度ずれたエラーかが
検出される。
【0043】(7) フォーカシングおよびトラッキング駆
動機構 図12から図14はフォーカシング駆動機構およびトラッキ
ング駆動機構を示している。この機構は,光ディスクの
周方向と光軸とがほぼ一致している構造のもの(図8
(A) ,図10)に適用され,光ディスクの径方向と光軸と
がほぼ一致している構造のもの(図8(B) ,図11)の場
合には,図12において光ピックアップ・ヘッド9が水平
面内で90°回転された位置に固定される。
【0044】支持板100 の一端部に支持部材101 が立設
されている。この支持部材101 の両側下端部は切欠かれ
ている(符号102 )。支持板100 の他端部上方には可動
部材103 が位置している。上下方向に弾性的に屈曲しう
る4つの板ばね121 ,122 の一端は支持部材101 の上端
両側および下部切欠き102 に固定されており,他端は可
動部材103 の上端および下端の両側にそれぞれ固定され
ている。したがって,可動部材103 はこれらの板ばね12
1 ,122 を介して上下方向に運動しうる状態で支持部材
101 に支持されている。
【0045】光ピックアップ・ヘッド9を載置したステ
ージ110 は,上部の方形枠112 ,方形枠112 の両端から
下方にのびた両脚114 ,115 および方形枠112 の中央部
から下方にのびた中央脚113 から構成されている。方形
枠112 上に光ピックアップ・ヘッド9が載置固定されて
いる。横方向に弾性的に屈曲しうる4つの板ばね131の
一端は可動部材103 の両側上,下部に固定され,他端は
ステージ110 の中央脚113 の両側上,下部に固定されて
いる。ステージ110 は,これらの板ばね131 を介して横
方向(図10の左右方向と一致する)に,運動しうる状態
で支持されている。したがって,ステージ110 は,上下
方向(フォーカシング)および横方向(トラッキング)
に移動自在である。
【0046】支持板100 ,支持部材101 ,可動部材103
およびステージ110 は非磁性材料,たとえばプラスチッ
クにより構成されている。
【0047】支持部材101 および可動部材103 の内面に
はヨーク104 ,105 が固定されている。ヨーク104 は,
支持部材101 に固定された垂直部分 104aと,これと間
隔をおいて位置するもう1つの垂直部分 104bと,これ
らの両部分 104a, 104bをそれらの下端で結合させる
水平部分とから構成されている。ヨーク105 もヨーク10
4 と全く同じ形状であり,一定の間隔をおいて離れた2
つの垂直部分 105a,105bを備えている。
【0048】これらのヨーク104 ,105 の垂直部分 104
a, 105aの内面には,この内面側をたとえばS極とす
る永久磁石106 がそれぞれ固定されている。そして,ヨ
ーク104 ,105 の他方の垂直部分 104b, 105bと永久
磁石106 との間に,ステージ110 の脚114 ,115 がそれ
らに接しない状態でそれぞれ入り込んでいる。
【0049】ステージ110 の両脚114 ,115 のまわりに
はフォーカシング駆動用コイル123が水平方向に巻回さ
れている。またこれらの脚114 ,115 の一部には,永久
磁石106 と対向する部分において上下方向に向う部分を
有するトラッキング駆動用コイル133 が巻回されてい
る。
【0050】フォーカシング駆動機構は図13に最もよく
示されている。永久磁石106 から発生した磁束Hは鎖線
で示されているようにヨーク104 ,105 の垂直部分 104
b,105bにそれぞれ向う。この磁界を横切って水平方
向に配設されたコイル123 に,たとえば図12において紙
面に向う方向に駆動電流が流されると,上方に向う力F
fが発生する。この力Ffによってステージ110 は上方
に移動する。ステージ110 の移動量はコイル123 に流さ
れる電流の大きさによって調整することができる。した
がって,上述した差動増幅器71の出力信号に応じてこの
駆動電流の方向を切換えることにより,および電流の大
きさを調整するまたは電流をオン,オフすることによ
り,フォーカシング制御を行なうことができる。
【0051】トラッキング駆動機構は図14に最もよく表
わされている。コイル133 の磁界Hを上下方向に横切っ
て配設された部分に,たとえば図14で紙面に向う方向に
(図12で下方に向って)駆動電流を流すと,図14におい
て上方に向う力(図12において横方向に向う力)Ftが
発生し,ステージ110 は同方向に移動する。上述した差
動増幅器72の出力信号に応じてコイル133 に流す電流を
オン,オフしたり,電流の方向,必要ならばその大きさ
を調整することにより,トラッキング制御を行なうこと
ができる。
【0052】電気光学効果を利用してフォーカシングお
よびトラッキングの制御を行なうこともできる。たとえ
ば,光導波路21(および基板12)を電気光学効果をもつ
材料(たとえばLiNbO3 )で形成するか,またはグ
レーティング・レンズ41〜43やグレーティング・カプラ
51〜53の場所に電気光学効果をもつ材料(たとえばZn
OやAlN)の薄膜を形成し,これらのレンズおよびカ
プラの両側に電極を設ける。電極に印加する電圧を変え
ることにより,これらのレンズやカプラの焦点距離を調
整することができ,これによりフォーカシング制御やト
ラッキング制御が行なわれる。また,光導波路21を伝播
する光ビームを電気光学効果を利用して偏向させること
により,トラッキングの制御も可能である。光ビームの
偏向はたとえば光とSAW(弾性表面波)との相互作用
を利用して達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光ピックアップ・ヘッドを示す斜視図である。
【図2】半導体レーザと光導波層との光結合部分を示す
斜視図である。
【図3】フレネル型グレーティング・レンズを示す斜視
図である。
【図4】ブラッグ型グレーティング・レンズを示す斜視
図である。
【図5】ルネブルグ・レンズを示すもので,(A) は平面
図,(B) は断面図である。
【図6】ジオデシック・レンズを示すもので,(A) は平
面図,(B) は断面図である。
【図7】カップリング・レンズの他の実施例を示す斜視
図である。
【図8】光ディスクと光ピックアップ・ヘッドとの位置
関係を示す断面図であり,(A)は光ディスクの周方向と
光軸方向とがほぼ一致する構造におけるもの,(B) は光
ディスクの径方向と光軸方向とがほぼ一致する構造にお
けるものである。
【図9】受光部上におけるフォーカシング・エラーの検
出原理を示す図である。
【図10】トラッキング・エラーの検出原理を示す図で
あり,光ディスクの周方向と光軸方向とがほぼ一致する
構造のものである。
【図11】トラッキング・エラーの検出原理を示す図で
あり,光ディスクの径方向と光軸方向とがほぼ一致する
構造のものである。
【図12】フォーカシングおよびトラッキング駆動機構
を示す斜視図である。
【図13】フォーカシングおよびトラッキング駆動機構
を示すもので,図12のXIII−XIII線にそう断面図であ
る。
【図14】フォーカシングおよびトラッキング駆動機構
を示すもので,光ピックアップ・ヘッドを除去して示す
平面図である。
【符号の説明】
9 光ピックアップ・ヘッド 10 基台 11 半導体レーザ 12,13 基板 21 光導波層 22 コリメーティング・レンズ 30 受光部 31,32,33,34,35 受光素子 41,42,43 グレーティング・レンズ 51,52,53 グレーティング・カプラ 61,62,63 2次元フォーカシング・グレーティング・
カプラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森 和彦 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 (72)発明者 田口 功 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導体パターンが表面に設けられた基台,
    上記基台に固定され,上記導体パターンと電気的に接続
    された発光素子,および上記基台に固定され,導光構造
    を有する導光板を備え,上記発光素子は,その出射光が
    上記導光板に入射して上記導光構造内を導光するように
    配置されている,光学装置。
  2. 【請求項2】 上記導光板は基板であって,この基板の
    表面に上記導光構造としての光導波層が形成されてい
    る,請求項1に記載の光学装置。
  3. 【請求項3】 上記導光板には,上記導光構造内を伝搬
    する光を外部に出射させる凹凸構造が設けられている,
    請求項1に記載の光学装置。
  4. 【請求項4】 上記基台上に固定され,上記導体パター
    ンと電気的に接続された受光素子をさらに備えた,請求
    項3に記載の光学装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022508474A (ja) * 2019-10-22 2022-01-19 三菱電機株式会社 回折格子カプラ

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