JPS6157718B2 - - Google Patents

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JPS6157718B2
JPS6157718B2 JP16481178A JP16481178A JPS6157718B2 JP S6157718 B2 JPS6157718 B2 JP S6157718B2 JP 16481178 A JP16481178 A JP 16481178A JP 16481178 A JP16481178 A JP 16481178A JP S6157718 B2 JPS6157718 B2 JP S6157718B2
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JP
Japan
Prior art keywords
light
semiconductor layer
refractive index
layer
emitting diode
Prior art date
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Expired
Application number
JP16481178A
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English (en)
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JPS5591890A (en
Inventor
Kyoshi Hanamitsu
Shigeo Oosaka
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は多重にヘテロ接合をもつ発光ダイオー
ドに関する。
従来発光ダイオードは、発光出力を取り出す形
式から面放射形と端面放射形の2つのタイプに大
別される。このうち端面放射形のものは多重ヘテ
ロ接合構造により活性層で発光した光を活性層内
部に導波させて放射端面に導くものである。この
場合導波される光は誘導放出により増幅されるた
め、面放射形発光ダイオードにない指向性が出力
光に得られる。
発光出力を取り出す形式としては面放射形発光
ダイオードでは多重ヘテロ接合構造の層に垂直な
方向に光出力が得られるのに対して、端面放射形
発光ダイオードでは多重ヘテロ接合構造の層に平
行な方向に光出力が得られる。
本発明は、従来の端面放射形発光ダイオードの
ように多重ヘテロ接合構造により活性層内部の光
の導波を行いつつ発光出力としては面放射形発光
ダイオードと同様接合面に対して垂直な方向に取
り出すことのできる発光ダイオードに関するもの
である。
以下本発明を詳細に説明する。
まず、本発明の原理を第1図に基づいて説明す
る。第1図は3つの半導体層からなるスラブ導波
路の断面を示したもので横軸に電界の強さ、縦軸
は垂直方向の距離を示す。中心層の屈折率を
n1、上側クラツド層の屈折率n2、下側クラツド
層の屈折率をn3とする。
これらの屈折率の間には次式(1)の関係がある。
n1>n2>n3 (1) 第1図においてaは導波モード、bは放射モー
ドを示す。
X軸の進行方向に対しては電界成分を持たず、
y軸方向に電界成分をもつ電磁波(TE波と略
す)が活性層に閉じ込められ、Z軸方向に伝播で
きる。このような活性層内を伝播する導波モード
が存在するための条件は次のように与えられる。
活性層の厚さをd、屈折率の非対称パラメータa
を(1)式、厚さのパラメータDを(2)式で定義する。
a=n −n /n −n ……(1) D=dko(n1 2−n2 2)〓 ……(2) ここでko=2π/λo ……(3) λoは自由空間での発光波長である。
活性層の厚さd及び屈折率の非対称パラメータ
aを(1)式及び(2)式のように定義すると導波モード
が存在する条件は次式(4)で定まる。
tan D=(a―1)〓 ……(4) すなわち、ヘテロ接合を構成する各層の材質の
屈折率n1,n2,n3が定まれば、(2)及び(4)式から
求められる活性層の厚さdの値より小さな薄い厚
さのスラブ構造では、Z軸方向に伝播するモード
は第1図曲線bで示すように放射モードとなり、
X軸方向に電界がクラツド層までしみだす。
第2図に放射モードがZ軸方向に伝播する様子
を示す。活性層1で発生した光は下層のクラツド
層2との界面では全反射がおこり、下層のクラツ
ド層2への透過光4はない。一方、上層のクラツ
ド層3との界面では全反射条件が満されないため
透過光4が存在する。本発明の発光ダイオードで
はこの上層3への透過光を出力光として用いるも
のである。この透過光は活性層1中をZ軸方向に
ジグザグに進行する光の一部であり、このジグザ
グに進行する光は誘導放出によるコヒーレントな
増幅をうけているため、自然放出の光よりも空間
的、時間的コヒレンスが改善された光となつてい
る。
以上述べた本発明の原理に基づき構成された発
光ダイオードの実施例を第3図に示す。
この実施例は0.8μm帯に発光波長をもつ、
GaAlAs系の材料を用いた例である。基本的な構
造および製法は通常のGaAs多重ヘテロ接合型レ
ーザと同じである。n型Gas基板34にn型
Ga0.8A10.2As33,P―GaAs31,P―
Ga0.5A10.5As32,n―GaAs30を連続液相成長す
る。
発光巾Wに亘つて亜鉛Znを拡散し、n―
GaAs30の一部を選択的にP型に変換してストラ
イプ状のP型拡散層35を形成する。更にn―
GaAs基板34を中央の巾Wの部分をエツチング
で取り除きストライプ状の溝36を形成し反射防
止膜37が施されている。オーミツクコンタクト
電極から成るP電極38,N電極39が設けられ
ている。このような材料をらぶと各層の屈折率は
Alの組成比Xから決まり活性層GaAs31nクラツ
ド層n―Ga0.8Al0.2As33,Pクラツド層P―
Ga0.5Al0.5As32の屈折率はそれぞれ3.6,3.42,
3.29となる。λo=0.83μmに対して(2),(3)式か
ら求められるdの値は約0.13μmとなる。従つて
活性層の厚さは0.13μm以下、例えば0.12μmに
えらばれている。
また、レーザでいうところの2つのへき開面か
らなる共振器面は、できる限り高反射が得られる
よう誘電体多層膜40が施されている。
このような構造を有する発光ダイオードに順方
向電流を通じると活性層内で自然放出光が発生す
る。この光のうち、活性層31とPクラツド層3
2の屈折率差で決まる臨界角内の角度で放射され
る光はPクラツド層32で全反射され、またnク
ラツド層33との界面では一部は反射、一部は透
過される。反射光は更にこの過程が連続して起こ
りジグザグパスをえがきながら端面に達する。端
面に達した光は反射され、反対の方向に更にジグ
ザグに伝播する。このジグザグの伝播過程で誘導
放出によるコヒーレント増幅をうけ、自然放出光
よりコヒーレンスのよい光となる。上述のnクラ
ツド層30に透過屈折する光はGaAsのエツチン
グ窓を通して、出力光として外部に導かれる。こ
の光は活性層31内を伝播する光の一部から成つ
ているため、コヒーレンスのよい、すなわち高輝
度で指向性のよい光となる。
なお、この発光ダイオードは発光巾はストライ
プ巾で、またその長さは共振器長Lにより決定さ
れる。
第4図は本発明による他の実施例であり発光ダ
イオードの層構造は上記の第1の実施例と同じで
あるがP電極48として、二酸化シリコン膜50
を介して発光波長で吸収の少い透明電極、二酸化
スズ例えばSnO2を用いた実施例である。
この実施例では、第3図の例とは反対にn―
GalAsクラツド層33よりp―GaAlAsクラツド
層32の屈折率を大きくして、p―GaAlAsクラ
ツド層32側から光が取り出される。
以上のように本発明による発光ダイオードは従
来の面放射形発光ダイオードのように層構造に垂
直方向に光を取り出す構造をもちつつ、端面放射
形発光ダイオードと同様に輝度及びコヒーレンス
においてすぐれた出力光が得らるれる特徴をも
つ。発光巾はストライプ巾、共振器長を決めるこ
とにより任意に選択できるため、使用目的に応じ
た任意の発光領域をもつ高輝度の発光ダイオード
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の原理を説明する説
明図、第3図、第4図は本発明による実施例を示
す斜視図である。 1…活性層、2…下層クラツド層、3…上層ク
ラツド層、30…n型GaAs層、31…P型GaAs
活性層、32…P型クラツド層、33…n型クラ
ツド層、34…n型GaAs基板、35…P型拡散
層、36…ストライプ状溝、37…反射防止膜、
38,48…P電極、39,49…n電極、40
…高反射膜、50…二酸化シリコン膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 屈折率n1の第1の半導体層が該第1の半導
    体層より禁制帯巾が大きくかつ屈折率の小さい屈
    折率n2の第2の半導体層と該第1の半導体層よ
    り禁制帯巾が大きくかつ第2の半導体層より屈折
    率の小さな屈接率n3の第3の半導体層とではさ
    まれてなる多重ヘテロ接合構造を有する発光ダイ
    オードにおいて、 前記第1の半導体層の厚さdが次式(1)(2)(3)(4) a=n −n /n −n ……(1) D=dk0(n1 2−n2 2)〓 ……(2) ko=2π/λ ……(3) ただしλは自由空間での発光波長 0<D<tan-1(a―1)〓 ……(4) を満たし、前記第1の半導体層の発光領域から前
    記第2の半導体層側の方向に接合面に対して垂直
    な出力光が取り出されることを特徴とする発光ダ
    イオード。
JP16481178A 1978-12-28 1978-12-28 Photodiode Granted JPS5591890A (en)

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JP16481178A JPS5591890A (en) 1978-12-28 1978-12-28 Photodiode

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JPS5591890A JPS5591890A (en) 1980-07-11
JPS6157718B2 true JPS6157718B2 (ja) 1986-12-08

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2763008B2 (ja) * 1988-11-28 1998-06-11 三菱化学株式会社 ダブルヘテロ型エピタキシャル・ウエハおよび発光ダイオード
JP3787321B2 (ja) 2002-10-11 2006-06-21 ローム株式会社 半導体発光素子

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52137280A (en) * 1976-05-11 1977-11-16 Thomson Csf Contacting structure on semiconductor array

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JPS52137280A (en) * 1976-05-11 1977-11-16 Thomson Csf Contacting structure on semiconductor array

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