JPS6155247B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6155247B2
JPS6155247B2 JP3232081A JP3232081A JPS6155247B2 JP S6155247 B2 JPS6155247 B2 JP S6155247B2 JP 3232081 A JP3232081 A JP 3232081A JP 3232081 A JP3232081 A JP 3232081A JP S6155247 B2 JPS6155247 B2 JP S6155247B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
film substrate
semiconductor element
fixing
electrode lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3232081A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57147262A (en
Inventor
Yoshio Miura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Sanyo Electric Co Ltd, Sanyo Denki Co Ltd filed Critical Tokyo Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP3232081A priority Critical patent/JPS57147262A/ja
Publication of JPS57147262A publication Critical patent/JPS57147262A/ja
Publication of JPS6155247B2 publication Critical patent/JPS6155247B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4821Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports
    • H01L21/4828Etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49534Multi-layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置の製造方法に関する。
従来の一般的な半導体装置の量産方法は金属薄
板のパンチングフレームを用いていた。しかしな
がら斯るフレームでは高々14連程度で区切られる
ため、連続してフレームを供給して行くことは不
可能であつた。この欠点を改善するために第1図
の如く、ポリイミド、ポリアミドイミド等の耐熱
性プラスチツク層1上に銅箔2を貼つたフレキシ
ブルフイルム基板3が提案された。しかしこのフ
レキシブルフイルム基板3は耐熱性プラスチツク
層1が極めて高価であり、半導体装置の量産方法
としては不適当であつた。
本発明は斯点に鑑みてなされ、従来の穴点を除
去した半導体装置の製造方法を提供するものであ
る。以下に第2図乃至第8図を参照して本発明の
一実施例を詳述する。
本発明の第1の工程は第2図および第3図に示
す如く、フレキシブルなフイルム基板10を形成
することにある。このフイルム基板10は二枚の
銅箔11,12を互いに熱硬化性樹脂の接着剤1
3で圧着して形成される。この二枚の銅箔11,
12はプリント基板等に用いられる約35μ厚の銅
箔を用い、一方あるいは両方の銅箔11,12の
一面にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂から成る接
着剤13を塗布した後にローラーで圧着して二枚
の銅箔11,12を一体化してフイルム状にす
る。ここで用いられる熱硬化性樹脂としては例え
ば特公昭55−20394号公報に記載されたものを用
いれば良い。この様に二枚の銅箔は互いに約30μ
厚の薄い接着剤13で電気的に絶縁され、最低で
も600V、平均では約2500Vの絶縁耐圧が得られ
る。
斯るフイルム基板10は所定の巾例えば50mm巾
に切断して帯状にして例えば長さ50m単位でカー
トリツジに巻き取り、製造に供する。この帯状の
フイルム基板10には第3図の如く所望の導電パ
ターンを設けない両端部分に一定間隔でインデツ
クス孔14を打抜いて形成し、以降の製造工程で
インデツクス孔14を用いて位置の割出しやフイ
ルム基板10の移送を行う。
本発明の第2の工程は第4図に示す如く、フイ
ルム基板10の一方の銅箔11をエツチングして
所望の導電パターン15を多数長さ方向に一定間
隔で連続して形成することにある。導電パターン
15はフイルム基板10のほぼ中央部に設けた半
導体素子の配置領域16の近傍から四方向に延在
された複数本の電極リード17より構成され、こ
の電極リード17は各方向毎に平行且つ一定間隔
で配列されており、最終的に外部端子として働
く。
なお製造中にフイルム基板10を移送する際に
加わる力から各導電パターン15を保護するため
に、フイルム基板10の両端にインデツクス孔1
4を含んで連続した帯状パターン18を設け、更
に必要あれば帯状パターン18をはしご状に接続
する連結パターン19を設けて完全に導電パター
ン15を囲む。このとき導電パターン15は帯状
パターン18および連結パターン19を電気的に
独立させ、且つ各電極リード17も夫々電気的に
独立させておく。
本発明の第3の工程は第5図に示す如く、フイ
ルム基板10の他方の銅箔12をエツチングして
固着パターン20を各導電パターン15に対応し
て形成することにある。固着パターン20は点線
で示した導電パターン15の各電極リード17の
半導体素子の配置領域16と隣接した端部と重畳
して、配置領域16を囲む様にリング状に形成さ
れる。この固着パターン20はすべての電極リー
ド17の端部を接着剤13を介して一体的に支持
し、支持機能を全く有さない接着剤13の薄層に
代つて導電パターン15を支持すると同時に金属
片の固着手段となる。
また前述した帯状パターン18および連結パタ
ーン19を補強するために帯状パターン18およ
び連結パターン19と対応する部分に他方の銅箔
12を残して補強パターン21を設ける。更に各
電極リード17の外部端子として働く部分に対応
して他方の銅箔12を残して裏リード22を設
け、且つこの裏リード22を延長して補強パター
ン21と接続し各電極リード17の他端も補強パ
ターン21により一体的に支持する。
上述した如く導電パターン15は夫々電気的に
独立していても裏面に設けた固着パターン20、
補強パターン21および裏リード22によつて接
着剤13を介して帯状パターン18および連結パ
ターン19で形成される枠内に一体に支持できる
のでフイルム基板10の状態で製造に用いられ
る。
前述した第2の工程および本工程の銅箔11,
12のエツチングは同時に行うことができる。即
ちフイルム基板10の両面の銅箔11,12に所
望形状にレジストをスクリーン印刷した後に両面
エツチング装置内にフイルム基板10を連続して
送り込み、エツチング液を対向するノズルからフ
イルム基板10の両面に吹き付けて同時に両面エ
ツチングを行う。
更に導電パターン15の必要な部分例えば電極
リード17の少なくとも超音波ボンデイングを行
う固着パターン20側の端部にニツケルメツキ層
を付着形成しておく。
本発明の第4の工程は第6図に示す如く、固着
パターン20に点線で示す金属片23を半田付け
して固着した後、金属片23の配置領域16上に
半導体素子24を固着し、半導体素子24の電極
と対応するニツケルメツキした電極リード17と
をボンデイング細線により接続する。
導電パターン15等を形成したフイルム基板1
0を収納したカートリツジからインデツクス孔1
4を用いてコマ送りしてフイルム基板10を供給
し、固着パターン20に銅等の良熱導電性金属か
らなり固着パターン20と略同じ大きさの正方形
状の板体である金属片23を半田付けしてフイル
ム基板10と一体とし、配置領域16にある接着
剤13の薄層を除去してそこに半導体素子24を
銀ペーストあるいは半田を用いて固着した後に自
動ボンデイング装置により半導体素子24の電極
と対応する電極リード17とをアルミニウムのボ
ンデイング細線で接続する。
この際金属片23は電極リード17のボンデイ
ングを端部も支持しているので良好な超音波ボン
デイングが行なえる。
前述した如く各電極リード17は電気的に独立
しているのでボンデイング終了後各電極リード1
7に検査用の針をたてて通電し各半導体素子24
の回路機能検査を行ない必要あればフアンクシヨ
ナルトリミング等を行い、不良の場合には半導体
素子24を交換して再生するかあるいは特別のマ
ークを付けて以後の組立工程を中止して完成品の
歩留の向上を図る。
この検査後半導体素子24およびボンデイング
細線をシリコンレジン等の保護樹脂で被覆する。
本発明の第5の工程は第7図に示す如く、フイ
ルム基板10の導電パターン15の外部端子とな
る電極リード17を残して他を樹脂25でモール
ドすることにある。
樹脂モールドはフイルム基板のままでコマ送り
をして1個ないし数個づつ粉末のエポキシ樹脂を
吹き付けて加熱硬化させて外部端子となる部分の
電極リード17を露出させて全体をモールドす
る。
しかし放熱のために必要であれば第8図の如く
金属片23の一面を樹脂25から露出しても良
い。その後第7図で一点鎖線で示す部分で電極リ
ード17および補強パターン21を切断して個別
の半導体装置に分離する。なお電極リード17と
裏リード22とは接着剤13で絶縁されているの
で、第8図に示す如く貫通孔26を設けてその孔
に半田27を充填して電極リード17と裏リード
22を電気的に接続する。
また裏リード22はプリント基板への半田付け
の際に用いられる。
以上に詳述した如く本発明に依れば、二枚の銅
箔を貼り合せたフイルム基板によりポリイミド膜
等を用いない安価なフイルムキヤリア方式の量産
ができる。また本発明に依れば、従来では実現さ
れない高消費電力の半導体装置にフイルムキヤリ
ア方式を採用できる。更に本発明では半導体素子
の固着後にフイルム状のままで半導体素子の回路
機能検査を行え完成品の歩留を大巾に向上でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は周知のフレキシブル基板を説明する断
面図、第2図は本発明を適用するフレキシブルフ
イルム基板を説明する断面図、第3図乃至第7図
は本発明の各工程を説明する平面図、第8図は本
発明により完成した半導体装置を説明する断面図
である。 主な図番の説明、10はフイルム基板、11,
12は二枚の銅箔、15は導電パターン、17は
電極リード、20は固着パターン、23は金属
片、24は半導体素子、25はモールド樹脂。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 二枚の銅箔を熱硬化性樹脂で接着し且つ該樹
    脂で互いに絶縁されたフイルム基板を形成する工
    程と、該基板の一方の銅箔をエツチングして形成
    した半導体素子の配置領域近傍から延在される複
    数本の電極リードより成る導電パターンを形成す
    る工程、前記基板の他方の銅箔をエツチングして
    形成され前記配置領域を囲み且つ前記電極リード
    の一部と重畳する固着パターンを形成する工程
    と、該固着パターンに金属片を固着し該金属片上
    の前記配置領域に半導体素子を固着し該素子と前
    記電極リードとをボンデイングにより接続する工
    程と、前記電極リードの外部端子となる部分を露
    出して全体をモールドする工程を具備することを
    特徴とする半導体装置の製造方法。
JP3232081A 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of semiconductor device Granted JPS57147262A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3232081A JPS57147262A (en) 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3232081A JPS57147262A (en) 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of semiconductor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57147262A JPS57147262A (en) 1982-09-11
JPS6155247B2 true JPS6155247B2 (ja) 1986-11-27

Family

ID=12355638

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3232081A Granted JPS57147262A (en) 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS57147262A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01227285A (ja) * 1988-03-08 1989-09-11 Sanyo Electric Co Ltd ディスクプレーヤの駆動機構

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6024396Y2 (ja) * 1981-04-14 1985-07-20 株式会社野村ト−イ 勢輪動力装置付シヤベルブルト−ザ−玩具の自動展開走行装置
DE3235702C2 (de) * 1982-09-27 1985-01-17 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur Herstellung von Filmträgern für Halbleiterchips

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01227285A (ja) * 1988-03-08 1989-09-11 Sanyo Electric Co Ltd ディスクプレーヤの駆動機構

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57147262A (en) 1982-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910002035B1 (ko) 반도체 장치와 그 제조 방법
JPH0982741A (ja) チップキャリアの構造およびその製造方法
KR920000076B1 (ko) 반도체장치
US4621278A (en) Composite film, semiconductor device employing the same and method of manufacturing
JP4159348B2 (ja) 回路装置の製造方法
JP2000150702A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH11176885A (ja) 半導体装置及びその製造方法、フィルムキャリアテープ、回路基板並びに電子機器
JPS6155247B2 (ja)
JPS6152977B2 (ja)
JP2740977B2 (ja) 半導体装置
JPS6220694B2 (ja)
GB2093401A (en) Composite film
JPS6217858B2 (ja)
JPS6256656B2 (ja)
JPS5815945B2 (ja) リ−ドフレ−ムハンドウタイソウチ
JPS6329414B2 (ja)
JPH0653383A (ja) 半導体素子搭載用基板の製造方法
JP2644194B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPS61166148A (ja) 多層混成集積回路装置
JPH0793402B2 (ja) 半導体装置
JPS58134450A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH09307019A (ja) 半導体パッケージの製造方法及び半導体パッケージ
KR850001541B1 (ko) 양면 프린트 기관과 그 다량 접속방법
JPS6217859B2 (ja)
JPH07249708A (ja) 半導体装置及びその実装構造