JPS6152416B2 - - Google Patents
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- JPS6152416B2 JPS6152416B2 JP13930081A JP13930081A JPS6152416B2 JP S6152416 B2 JPS6152416 B2 JP S6152416B2 JP 13930081 A JP13930081 A JP 13930081A JP 13930081 A JP13930081 A JP 13930081A JP S6152416 B2 JPS6152416 B2 JP S6152416B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光沢計測装置に関するものである。
従来の光沢計測装置は、JISに規格されている
ように第１図に示す被検査面Ｓの法線に対して45
度の照射角度で投光しうるように配置した投光手
段１と、被検査面Ｓでの前記照射光の正反射光を
受光する受光素子２とで構成され、一定投光光量
に対し得られる受光光量から被検査面Ｓの光沢を
計測するようにしたものである。
ように第１図に示す被検査面Ｓの法線に対して45
度の照射角度で投光しうるように配置した投光手
段１と、被検査面Ｓでの前記照射光の正反射光を
受光する受光素子２とで構成され、一定投光光量
に対し得られる受光光量から被検査面Ｓの光沢を
計測するようにしたものである。
この光沢計測装置は、被検査面Ｓの凹凸状態に
方向性がなく、どの方向からの照射に対しても同
一受光特性を呈する場合にはその測定結果は有効
であるが、第２図に示すような木材３の表面のよ
うに導管３ａ……の存在により凹凸状態に方向性
を有する被検査面では、導管３ａ……の走行方向
に対して垂直な方向ａより照光する第３図Ａの場
合と、導管３ａ……の走行方向ｂより照光する同
図Ｂの場合とでは測定結果に大きな差が生じ、正
確な測定を行うことができない。そして、このよ
うな方向性を有する被検査面は、前記木材表面に
限らずヘアライン加工された金属表面などの実際
の測定対象として無数に存在するため、このよう
な方向性を有する被検査面に対しても正確な測定
結果が得られる光沢計測装置の開発は、精度の高
い光沢計測を行ううえで不可欠である。
方向性がなく、どの方向からの照射に対しても同
一受光特性を呈する場合にはその測定結果は有効
であるが、第２図に示すような木材３の表面のよ
うに導管３ａ……の存在により凹凸状態に方向性
を有する被検査面では、導管３ａ……の走行方向
に対して垂直な方向ａより照光する第３図Ａの場
合と、導管３ａ……の走行方向ｂより照光する同
図Ｂの場合とでは測定結果に大きな差が生じ、正
確な測定を行うことができない。そして、このよ
うな方向性を有する被検査面は、前記木材表面に
限らずヘアライン加工された金属表面などの実際
の測定対象として無数に存在するため、このよう
な方向性を有する被検査面に対しても正確な測定
結果が得られる光沢計測装置の開発は、精度の高
い光沢計測を行ううえで不可欠である。
したがつて、この発明の目的は、方向性を有す
る被検査面の光沢測定についても正確に行うこと
のできる光沢計測装置を提供することである。
る被検査面の光沢測定についても正確に行うこと
のできる光沢計測装置を提供することである。
この発明の一実施例を第４図に示す。すなわ
ち、この光沢計測装置は、被検査面Ｓに対し垂直
に光ビームを照射する投光器４と、前記投光器４
の光軸５上で前記投光器４と被検査面Ｓの間に配
設され前記光軸５を回転中心として回転し前記投
光器４から照射された光ビームを前記光軸５に対
し所定の放射角度に反射する平面鏡６と、前記光
軸５と自己の軸心とが一致するように前記平面鏡
６の少し下方に配置され自己の内周鏡面７ａで前
記平面鏡６からの反射光を受け被検査面Ｓの所定
点Ｐ（前記光軸５が被検査面Ｓと交わる点）に向
け45度の角度で入射するように反射させるととも
に、被検査面Ｓ上の点Ｐでの反射光を自己の内周
鏡面７ａ（前記平面鏡６からの反射光を受ける面
域に対し180度の周角度で対向する面域）で受け
前記平面鏡６の背面側に向けて反射する円環状ミ
ラー７（ｆ―θミラー）と、前記平面鏡６の背面
に固定され前記平面鏡６に従動回転して、前記円
環状ミラー７を介して入光する被検査面Ｓ上の点
Ｐでの反射光を受光する受光素子８とを備え、前
記平面鏡６と受光素子８とは自己の軸心を前記光
軸５に揃えて配置した円筒回転軸９の下端部に固
定するとともに、通電環路１０ａ，１０ａを上面
に有するロータ１０を前記円筒回転軸９の上部に
周設して、被検査面上の点Ｐでの反射光量に対応
して得られる前記受光素子８の出力を前記ロータ
１０の通電環路１０ａ，１０ａに摺接させたブラ
シ１１を介して電圧信号として得るようにしたも
のである。
ち、この光沢計測装置は、被検査面Ｓに対し垂直
に光ビームを照射する投光器４と、前記投光器４
の光軸５上で前記投光器４と被検査面Ｓの間に配
設され前記光軸５を回転中心として回転し前記投
光器４から照射された光ビームを前記光軸５に対
し所定の放射角度に反射する平面鏡６と、前記光
軸５と自己の軸心とが一致するように前記平面鏡
６の少し下方に配置され自己の内周鏡面７ａで前
記平面鏡６からの反射光を受け被検査面Ｓの所定
点Ｐ（前記光軸５が被検査面Ｓと交わる点）に向
け45度の角度で入射するように反射させるととも
に、被検査面Ｓ上の点Ｐでの反射光を自己の内周
鏡面７ａ（前記平面鏡６からの反射光を受ける面
域に対し180度の周角度で対向する面域）で受け
前記平面鏡６の背面側に向けて反射する円環状ミ
ラー７（ｆ―θミラー）と、前記平面鏡６の背面
に固定され前記平面鏡６に従動回転して、前記円
環状ミラー７を介して入光する被検査面Ｓ上の点
Ｐでの反射光を受光する受光素子８とを備え、前
記平面鏡６と受光素子８とは自己の軸心を前記光
軸５に揃えて配置した円筒回転軸９の下端部に固
定するとともに、通電環路１０ａ，１０ａを上面
に有するロータ１０を前記円筒回転軸９の上部に
周設して、被検査面上の点Ｐでの反射光量に対応
して得られる前記受光素子８の出力を前記ロータ
１０の通電環路１０ａ，１０ａに摺接させたブラ
シ１１を介して電圧信号として得るようにしたも
のである。
前記受光素子８と前記ロータ１０の通電環路１
０ａ，１０ａとは前記円筒回転軸９に沿つて配設
される通電線（図示せず）を介して接続してい
る。
０ａ，１０ａとは前記円筒回転軸９に沿つて配設
される通電線（図示せず）を介して接続してい
る。
また、前記円筒回転軸９はモータ（図示せず）
により所定回転速度で回転駆動するようにしてい
る。
により所定回転速度で回転駆動するようにしてい
る。
この光沢計測装置の動作を第５図の概略図およ
び第６図の波形図に基づき次に説明する。
び第６図の波形図に基づき次に説明する。
投光器４からビーム１２を照射しながら前記円
筒回転軸９を回転させると、光ビーム１２は所定
の傾斜角度に設定された前記平面鏡６で前記光軸
５に対して所定の放射角度θで反射するととも
に、その反射方向は前記円筒回転軸９の回転に伴
ない前記光軸５を中心にして刻々と回動変位す
る。
筒回転軸９を回転させると、光ビーム１２は所定
の傾斜角度に設定された前記平面鏡６で前記光軸
５に対して所定の放射角度θで反射するととも
に、その反射方向は前記円筒回転軸９の回転に伴
ない前記光軸５を中心にして刻々と回動変位す
る。
平面鏡６からの反射光１２ａは前記円環状ミラ
ー７の内周鏡面７ａで受けられ、被検査面Ｓの前
記光軸５と交わる点Ｐに向けて45度の角度で入射
するように反射され、同時に被検査面Ｓの点Ｐで
の反射光１２a′は、前記平面鏡Ｓからの反射光１
２ａを受ける前記円環状ミラー７の内周鏡面７ａ
の所定面域に対し180度の周角度で対向する内周
鏡面７ａの他面域で受けられて、その反射光１２
a′は前記平面鏡６の背面に固定された受光素子８
に受光され、その受光動作は前記平面鏡６の回転
に伴ない連続的に行われ（これに伴ない前記円環
状ミラー７の平面鏡６からの反射光１２ａの受光
面域および被検査面Ｓからの反射光１２a′の受光
面域は刻々と回動変位する）、被検査面Ｓの点Ｐ
への360度全方位にわたる入射光１２ａに対する
正反射光１２a′の光量を前記受光素子８が第６図
に示すように電圧出力として連続的に出力し、ロ
ータ１０、ブラシ１１を経て測定される。
ー７の内周鏡面７ａで受けられ、被検査面Ｓの前
記光軸５と交わる点Ｐに向けて45度の角度で入射
するように反射され、同時に被検査面Ｓの点Ｐで
の反射光１２a′は、前記平面鏡Ｓからの反射光１
２ａを受ける前記円環状ミラー７の内周鏡面７ａ
の所定面域に対し180度の周角度で対向する内周
鏡面７ａの他面域で受けられて、その反射光１２
a′は前記平面鏡６の背面に固定された受光素子８
に受光され、その受光動作は前記平面鏡６の回転
に伴ない連続的に行われ（これに伴ない前記円環
状ミラー７の平面鏡６からの反射光１２ａの受光
面域および被検査面Ｓからの反射光１２a′の受光
面域は刻々と回動変位する）、被検査面Ｓの点Ｐ
への360度全方位にわたる入射光１２ａに対する
正反射光１２a′の光量を前記受光素子８が第６図
に示すように電圧出力として連続的に出力し、ロ
ータ１０、ブラシ１１を経て測定される。
第６図に示す電圧出力の波形において、電圧レ
ベルが180度の周期で高低変化しているのは、前
記被検査面Ｓにヘアラインや導管などによる凹凸
状態の方向性を示すもので、電圧レベルの低い部
分すなわち反射光量の少ない部分は投受光が被検
査面Ｓの凹凸条に対し垂直方向から行われている
部分に相当し、逆に電圧レベルの高い部分は投受
光方向が凹凸条の走行方向に揃つている場合に相
当している。
ベルが180度の周期で高低変化しているのは、前
記被検査面Ｓにヘアラインや導管などによる凹凸
状態の方向性を示すもので、電圧レベルの低い部
分すなわち反射光量の少ない部分は投受光が被検
査面Ｓの凹凸条に対し垂直方向から行われている
部分に相当し、逆に電圧レベルの高い部分は投受
光方向が凹凸条の走行方向に揃つている場合に相
当している。
このように構成したため、被検査面Ｓでの投受
光を360度全方位にわたつて行い、全方位の受光
量を連続的に測定することができ、被検査面Ｓの
凹凸状態に方向性がある場合でも、前記受光素子
８の全方位にわたる電圧出力データを平均化して
その平均値で光沢度合を判定したり、また前記電
圧出力の最低レベルおよび最高レベルを所定基準
値と比較するなどの処理を行うことにより、被検
査面Ｓの正確な光沢測定を行うことができる。
光を360度全方位にわたつて行い、全方位の受光
量を連続的に測定することができ、被検査面Ｓの
凹凸状態に方向性がある場合でも、前記受光素子
８の全方位にわたる電圧出力データを平均化して
その平均値で光沢度合を判定したり、また前記電
圧出力の最低レベルおよび最高レベルを所定基準
値と比較するなどの処理を行うことにより、被検
査面Ｓの正確な光沢測定を行うことができる。
また、被検査面Ｓがヘアライン加工した金属面
のような場合で、ヘアラインと交差する方向に傷
が存在する場合には、ヘアラインに対して垂直な
方向から投受光が行われる電圧出力の低い部分
（第７図ＡにT1で示す）に前記傷に対応する信号
ｃが見られるので、この信号ｃを検出することに
より被検査面Ｓの傷検出装置としても利用するこ
とができる。
のような場合で、ヘアラインと交差する方向に傷
が存在する場合には、ヘアラインに対して垂直な
方向から投受光が行われる電圧出力の低い部分
（第７図ＡにT1で示す）に前記傷に対応する信号
ｃが見られるので、この信号ｃを検出することに
より被検査面Ｓの傷検出装置としても利用するこ
とができる。
なお、このような傷の検出においては、傷に対
応する信号ｃの発生域であるヘアラインに対して
垂直な方向から投受光が行われる区間T1に同期
する第７図Ｂに示すようなゲート信号を発するゲ
ート回路を用いて、前記受光素子８の電圧出力の
うち傷に対応する信号ｃの発生域T1のみを取り
出し、これを微分回路に入力するなどして第７図
Ｃに示すように前記傷に対応する信号c′をピツク
アツプし、その検出を容易に精度よく行うことも
可能である。
応する信号ｃの発生域であるヘアラインに対して
垂直な方向から投受光が行われる区間T1に同期
する第７図Ｂに示すようなゲート信号を発するゲ
ート回路を用いて、前記受光素子８の電圧出力の
うち傷に対応する信号ｃの発生域T1のみを取り
出し、これを微分回路に入力するなどして第７図
Ｃに示すように前記傷に対応する信号c′をピツク
アツプし、その検出を容易に精度よく行うことも
可能である。
前記実施例では、前記円環状ミラー７の内周鏡
面７ａは凹面仕上げとして、入射される光ビーム
を被検査面Ｓへの照射の際に効果的に収束させる
ようにしているが、特にそのような収束を必要と
しない場合には、前記内周鏡面７ａは平面仕上げ
としてもよい。
面７ａは凹面仕上げとして、入射される光ビーム
を被検査面Ｓへの照射の際に効果的に収束させる
ようにしているが、特にそのような収束を必要と
しない場合には、前記内周鏡面７ａは平面仕上げ
としてもよい。
この発明の他の実施例を第８図に示す。すなわ
ち、この光沢計測装置は、前記実施例における投
光器４′としてHe―Neレーザ（赤色）とArレー
ザ（青色）を混合した光ビーム１３を照射するも
のを用いるとともに、前記実施例における平面鏡
６に替えて前記光ビーム１３をArレーザ１３ａ
とHe―Neレーザ１３ｂとに分光して投光器４′の
光軸５′に対してそれぞれ異なる所定放射角度で
放射させるプリズム１４を配設する一方、円環状
ミラーとして、前記Arレーザ１３ａを反射する
第１円環状ミラー１５と前記He―Neレーザ１３
ｂを反射する第２円環状ミラー１６とを被検査面
Ｓの上方に重合配置し、被検査面Ｓの所定点Ｐよ
り第１円環状ミラー１５で反射して入光するAr
レーザ１３ａの反射光１３a′を受光する第１受光
素子８′ａと第２円環状ミラー１６で反射して入
光するHe―Neレーザ１３ｂの反射光１３b′を受
光する第２受光素子８′ｂとを、前記プリズム１
４に並設して、２種類の異なる光により、それぞ
れ被検査面Ｓに対する投受光角度を異ならせて光
沢測定を全方位にわたつて行うようにしたもので
ある。
ち、この光沢計測装置は、前記実施例における投
光器４′としてHe―Neレーザ（赤色）とArレー
ザ（青色）を混合した光ビーム１３を照射するも
のを用いるとともに、前記実施例における平面鏡
６に替えて前記光ビーム１３をArレーザ１３ａ
とHe―Neレーザ１３ｂとに分光して投光器４′の
光軸５′に対してそれぞれ異なる所定放射角度で
放射させるプリズム１４を配設する一方、円環状
ミラーとして、前記Arレーザ１３ａを反射する
第１円環状ミラー１５と前記He―Neレーザ１３
ｂを反射する第２円環状ミラー１６とを被検査面
Ｓの上方に重合配置し、被検査面Ｓの所定点Ｐよ
り第１円環状ミラー１５で反射して入光するAr
レーザ１３ａの反射光１３a′を受光する第１受光
素子８′ａと第２円環状ミラー１６で反射して入
光するHe―Neレーザ１３ｂの反射光１３b′を受
光する第２受光素子８′ｂとを、前記プリズム１
４に並設して、２種類の異なる光により、それぞ
れ被検査面Ｓに対する投受光角度を異ならせて光
沢測定を全方位にわたつて行うようにしたもので
ある。
前記第１，第２受光素子８′ａ，８′ｂの入光部
には、それぞれ入光波長の異なるフイルタ１７
ａ，１７ｂ（He―Neレーザを受光する第２受光
素子８′ｂについては632.8nmフイルタ、Arレー
ザを受光する第１受光素子８′ａについては
514.0nmフイルタ）を被着して、２つの光が混入
することがないようにしている。
には、それぞれ入光波長の異なるフイルタ１７
ａ，１７ｂ（He―Neレーザを受光する第２受光
素子８′ｂについては632.8nmフイルタ、Arレー
ザを受光する第１受光素子８′ａについては
514.0nmフイルタ）を被着して、２つの光が混入
することがないようにしている。
前記投光器４′は、被検査面Ｓに対して垂直方
向にArレーザ１３ａを照射する第１投光部４′ａ
と、前記第１投光部４′ａの光軸に対し直角に光
軸を設定してHe―Neレーザ１３ｂを照射する第
２投光部４′ｂと、前記第１投光部４′ａの光軸上
に配置され前記第２投光部４′ｂの照光を前記第
１投光部４′ａの光軸に揃えて第１投光部４′ａの
照光と混合するダイクロイツクミラー４′ｃとで
構成している。
向にArレーザ１３ａを照射する第１投光部４′ａ
と、前記第１投光部４′ａの光軸に対し直角に光
軸を設定してHe―Neレーザ１３ｂを照射する第
２投光部４′ｂと、前記第１投光部４′ａの光軸上
に配置され前記第２投光部４′ｂの照光を前記第
１投光部４′ａの光軸に揃えて第１投光部４′ａの
照光と混合するダイクロイツクミラー４′ｃとで
構成している。
そのほかの構成は前記実施例と同様である。
このように構成したため、この光沢計測装置を
用いて被検査面Ｓの傷検知を行う場合に、２種類
の照光により同時に投受光角度の異なる２つの測
定を行うことができ、１つの投受光角度による測
定では発見できないような深さの異なる傷につい
ても容易に検出でき、精度の高い傷検知を行うこ
とができる。
用いて被検査面Ｓの傷検知を行う場合に、２種類
の照光により同時に投受光角度の異なる２つの測
定を行うことができ、１つの投受光角度による測
定では発見できないような深さの異なる傷につい
ても容易に検出でき、精度の高い傷検知を行うこ
とができる。
そのほかの効果は前記実施例と同様である。
以上のように、この発明の光沢計測装置は、被
検査面に対し垂直に光ビームを照射する投光手段
と、前記投光手段と被検査面の間に配設され前記
投光手段の光軸を軸心として回転し前記光ビーム
を光軸に対して所定放射角度に放射する放射手段
と、前記光軸に軸心を揃えて被検査面の上方に配
置され自己の内周鏡面で前記放射手段からの放射
光を受け被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射
手段配設部に反射する円環状ミラーと、前記放射
手段に一体的に設けられ前記放射手段に従動回転
し前記円環状ミラーを介して入光する被検査面で
の反射光を受光し被検査面の反射光量に相当する
出力を得る受光素子とを備えたものであるため、
被検査面に対する投受光測定を全方向にわたつて
行うことができ、ヘアラインなどの表面の凹凸状
態に方向性を有する被検査面に対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果
を有する。
検査面に対し垂直に光ビームを照射する投光手段
と、前記投光手段と被検査面の間に配設され前記
投光手段の光軸を軸心として回転し前記光ビーム
を光軸に対して所定放射角度に放射する放射手段
と、前記光軸に軸心を揃えて被検査面の上方に配
置され自己の内周鏡面で前記放射手段からの放射
光を受け被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射
手段配設部に反射する円環状ミラーと、前記放射
手段に一体的に設けられ前記放射手段に従動回転
し前記円環状ミラーを介して入光する被検査面で
の反射光を受光し被検査面の反射光量に相当する
出力を得る受光素子とを備えたものであるため、
被検査面に対する投受光測定を全方向にわたつて
行うことができ、ヘアラインなどの表面の凹凸状
態に方向性を有する被検査面に対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果
を有する。
第１図は従来の光沢計測装置による光沢計測の
説明図、第２図は木材表面の光沢計測を示す斜視
図、第３図Ａ，Ｂは被検査面の凹凸状態に方向性
のある場合の光沢計測を示す説明図、第４図はこ
の発明の一実施例を示す斜視図、第５図はその動
作を示す概略図、第６図はその受光素子の電圧出
力を示す波形図、第７図ＡないしＣはそれぞれ傷
検知の場合の波形図、第８図はこの発明の他の実
施例を示す概略図である。 ４，４′……投光器、５，５′……光軸、６……
平面鏡（放射手段）、７……円環状ミラー、８…
…受光素子、８′ａ……第１受光素子、８′ｂ……
第２受光素子、９……円筒回転軸、１０……ロー
タ、１０ａ……通電環路、１１……ブラシ、１４
……プリズム（放射手段）、１５……第１円環状
ミラー、１６……第２円環状ミラー、Ｓ……被検
査面。
説明図、第２図は木材表面の光沢計測を示す斜視
図、第３図Ａ，Ｂは被検査面の凹凸状態に方向性
のある場合の光沢計測を示す説明図、第４図はこ
の発明の一実施例を示す斜視図、第５図はその動
作を示す概略図、第６図はその受光素子の電圧出
力を示す波形図、第７図ＡないしＣはそれぞれ傷
検知の場合の波形図、第８図はこの発明の他の実
施例を示す概略図である。 ４，４′……投光器、５，５′……光軸、６……
平面鏡（放射手段）、７……円環状ミラー、８…
…受光素子、８′ａ……第１受光素子、８′ｂ……
第２受光素子、９……円筒回転軸、１０……ロー
タ、１０ａ……通電環路、１１……ブラシ、１４
……プリズム（放射手段）、１５……第１円環状
ミラー、１６……第２円環状ミラー、Ｓ……被検
査面。
Claims (1)
- １ 被検査面に対し垂直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段と被検査面の間に配設さ
れ前記投光手段の光軸を軸心として回転し前記光
ビームを光軸に対して所定放射角度に放射する放
射手段と、前記光軸に軸心を揃えて被検査面の上
方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段から
の放射光を受け被検査面の所定位置に反射しかつ
被検査面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前
記放射手段配設部に反射する円環状ミラーと、前
記放射手段に一体的に設けられ前記放射手段に従
動回転し前記円環状ミラーを介して入光する被検
査面での反射光を受光し被検査面の反射光量に相
当する出力を得る受光素子とを備えた光沢計測装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13930081A JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13930081A JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5839932A JPS5839932A (ja) | 1983-03-08 |
| JPS6152416B2 true JPS6152416B2 (ja) | 1986-11-13 |
Family
ID=15242067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13930081A Granted JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5839932A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH099454A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Meishin Denki Kk | 蛇腹状電線保護管 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4626604A (en) * | 1985-09-11 | 1986-12-02 | Davy Mckee (London) Limited | Hydrogenation process |
| IL162290A (en) | 2004-06-01 | 2013-06-27 | Nova Measuring Instr Ltd | Optical measurement system |
| JP7367562B2 (ja) * | 2020-03-02 | 2023-10-24 | マツダ株式会社 | 艶評価装置および該方法 |
| JP7367563B2 (ja) * | 2020-03-02 | 2023-10-24 | マツダ株式会社 | 照り評価装置および該方法 |
-
1981
- 1981-09-03 JP JP13930081A patent/JPS5839932A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH099454A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Meishin Denki Kk | 蛇腹状電線保護管 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5839932A (ja) | 1983-03-08 |
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