JPS6149889B2 - - Google Patents
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- JPS6149889B2 JPS6149889B2 JP53062181A JP6218178A JPS6149889B2 JP S6149889 B2 JPS6149889 B2 JP S6149889B2 JP 53062181 A JP53062181 A JP 53062181A JP 6218178 A JP6218178 A JP 6218178A JP S6149889 B2 JPS6149889 B2 JP S6149889B2
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- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、送電線の端子電流を各相毎に位相信
号に変換し、相互に伝送し合う位相比較継電装置
に係り、特にその点検に関するものである。
号に変換し、相互に伝送し合う位相比較継電装置
に係り、特にその点検に関するものである。
本発明の従来技術を図面を参照して説明する。
第１図は従来の位相比較リレーを示すブロツク図
であり、第２図，第３図は位相比較リレーの動作
原理を説明するための図である。第２図に簡単な
電力系統図を示したように、位相比較リレーは２
台ＲyA，ＲyBが対になつてリレー設置点間に事故
が発生していないかどうかを判別するものであ
る。図中のｅA，ｅBはそれぞれ電源、CTA，CTB
は主変流器である。F1は保護区間内部事故、F2
は外部事故を表わし、F1の場合にリレー出力を
得るように構成されている。第３図ａはF1すな
わち内部事故発生時の第１図の各部波形を示した
ものである。
第１図は従来の位相比較リレーを示すブロツク図
であり、第２図，第３図は位相比較リレーの動作
原理を説明するための図である。第２図に簡単な
電力系統図を示したように、位相比較リレーは２
台ＲyA，ＲyBが対になつてリレー設置点間に事故
が発生していないかどうかを判別するものであ
る。図中のｅA，ｅBはそれぞれ電源、CTA，CTB
は主変流器である。F1は保護区間内部事故、F2
は外部事故を表わし、F1の場合にリレー出力を
得るように構成されている。第３図ａはF1すな
わち内部事故発生時の第１図の各部波形を示した
ものである。
すなわち、ＡリレーＲyAの入力電流ＩAはレベ
ル検出器（以後LDと呼ぶ）によりレベル検出お
よび矩形変換され、送信信号（以後Ｓと呼ぶ）と
自端信号（以後S′と呼ぶ）が作り出される。信号
Ｓは相手のリレー、すなわちＢリレーＲyBの通信
装置ＴBへ通信装置ＴAを使つて送られる。同様に
ＢリレーＲyBから信号Ｓが送られてくるが、Ａリ
レーＲyAはこれを受信信号（以後Ｒと呼ぶ）とし
て受ける。一方、信号S′は伝送遅れ補償回路（以
後DELと呼ぶ）を経てだけ遅延され信号S″と
なる。このようにして得た信号S″とＲとは論理
積回路（以後ANDと呼ぶ）により重なり角（あ
るいは重なり時間）を検出され、この重なり角
（時間）が予定値以上継続しているか否かを時間
測定回路TDEにて測定し、このTDEの出力を復
帰時遅延回路（以後TDDと呼ぶ）に入力して連
続出力を得る。
ル検出器（以後LDと呼ぶ）によりレベル検出お
よび矩形変換され、送信信号（以後Ｓと呼ぶ）と
自端信号（以後S′と呼ぶ）が作り出される。信号
Ｓは相手のリレー、すなわちＢリレーＲyBの通信
装置ＴBへ通信装置ＴAを使つて送られる。同様に
ＢリレーＲyBから信号Ｓが送られてくるが、Ａリ
レーＲyAはこれを受信信号（以後Ｒと呼ぶ）とし
て受ける。一方、信号S′は伝送遅れ補償回路（以
後DELと呼ぶ）を経てだけ遅延され信号S″と
なる。このようにして得た信号S″とＲとは論理
積回路（以後ANDと呼ぶ）により重なり角（あ
るいは重なり時間）を検出され、この重なり角
（時間）が予定値以上継続しているか否かを時間
測定回路TDEにて測定し、このTDEの出力を復
帰時遅延回路（以後TDDと呼ぶ）に入力して連
続出力を得る。
以上は入力電流が商用周波数のものだけの場合
を説明したが、送電線TLは静電容量やインダク
タンスをもつために事故発生時に高調波電流や直
流電流が商用周波の電流に重畳して流れる。この
ような電流をそのままレベル検出して位相比較信
号を作ると位相比較信号は高調波分により寸断さ
れたり、直流分により検出レベルが変動したと同
様の現象を起こすなどの不具合がある。したがつ
て、従来よりこのような不具合を避けるため、入
力変成器ＴとLDとの間に高調波成分と直流成分
とを除くフイルタFILを設けている。第３図―ｂ
はF2すなわち外部事故に対する各部波形であ
る。以上が位相比較リレーの動作原理である。
を説明したが、送電線TLは静電容量やインダク
タンスをもつために事故発生時に高調波電流や直
流電流が商用周波の電流に重畳して流れる。この
ような電流をそのままレベル検出して位相比較信
号を作ると位相比較信号は高調波分により寸断さ
れたり、直流分により検出レベルが変動したと同
様の現象を起こすなどの不具合がある。したがつ
て、従来よりこのような不具合を避けるため、入
力変成器ＴとLDとの間に高調波成分と直流成分
とを除くフイルタFILを設けている。第３図―ｂ
はF2すなわち外部事故に対する各部波形であ
る。以上が位相比較リレーの動作原理である。
ところで、リレーの高信頼度化のために、一例
として従来より次のような点検を行なつている。
すなわち入力変成器T1に点検巻線ＷT設け、これ
に点検電流ＩTを通電し、S′とのANDが成立する
ように連続“１”信号に制御し、リレー出力（以
後Ｃと呼ぶ）を得ることを確めて、異常のないこ
とを確認している。このような点検方法はロジツ
ク回路の“１”３“０”点検には非常に有効であ
るが、次のようなアナログ的な点検、すなわち(イ)
フイルタ（FIL）入出力の位相ずれ、(ロ)レベル検
出器（LD）のレベルの異常、(ハ)伝送遅れ補償回
路（DEL）の補償時間の異常、(ニ)位相比較判定
角の異常などには不適当である。
として従来より次のような点検を行なつている。
すなわち入力変成器T1に点検巻線ＷT設け、これ
に点検電流ＩTを通電し、S′とのANDが成立する
ように連続“１”信号に制御し、リレー出力（以
後Ｃと呼ぶ）を得ることを確めて、異常のないこ
とを確認している。このような点検方法はロジツ
ク回路の“１”３“０”点検には非常に有効であ
るが、次のようなアナログ的な点検、すなわち(イ)
フイルタ（FIL）入出力の位相ずれ、(ロ)レベル検
出器（LD）のレベルの異常、(ハ)伝送遅れ補償回
路（DEL）の補償時間の異常、(ニ)位相比較判定
角の異常などには不適当である。
それぞれの不良が発生した場合のリレーの応動
を具体的に説明する。(イ)フイルタ（FIL）入出力
の位相ずれとは、FILを構成する部品不良による
FILの位相特性が異常になりFIL出力に位相ずれ
が起こることである。その結果例えば第３図―ａ
のような内部事故が発生した場合、Ａリレーの
S′信号は入力電流ＩAには正確に応動できなくな
り、したがつてリレー出力Ｃを得ることが不可能
となることも起こる。逆に第３図―ｂのような外
部事故が発生した場合には同様にしてＳおよび
S′信号は入力電流ＩAに正確に応動できなくな
り、Ｒ信号との重なりが生じて誤動作に至ること
がありうるのである。
を具体的に説明する。(イ)フイルタ（FIL）入出力
の位相ずれとは、FILを構成する部品不良による
FILの位相特性が異常になりFIL出力に位相ずれ
が起こることである。その結果例えば第３図―ａ
のような内部事故が発生した場合、Ａリレーの
S′信号は入力電流ＩAには正確に応動できなくな
り、したがつてリレー出力Ｃを得ることが不可能
となることも起こる。逆に第３図―ｂのような外
部事故が発生した場合には同様にしてＳおよび
S′信号は入力電流ＩAに正確に応動できなくな
り、Ｒ信号との重なりが生じて誤動作に至ること
がありうるのである。
(ロ)レベル検出器（LD）のレベルの異常とは、
LDを構成する部品不良によりLDのレベルが高す
ぎたり、低すぎたりすることで高すぎるとＳおよ
びS′信号の“１”の区間が正常のものより短くな
り後段でのAND条件が成立しなくなり誤動作と
なることがある。またレベルが低すぎると“１”
の区間が正常のものより長くなり誤動作となるこ
とがある。
LDを構成する部品不良によりLDのレベルが高す
ぎたり、低すぎたりすることで高すぎるとＳおよ
びS′信号の“１”の区間が正常のものより短くな
り後段でのAND条件が成立しなくなり誤動作と
なることがある。またレベルが低すぎると“１”
の区間が正常のものより長くなり誤動作となるこ
とがある。
(ハ)伝送遅れ補償回路（DEL）の補償時間の異
常とは、補償回路（一例としてTDEとTDDの直
列回路構成がある）を構成する部品不良でDEL
出力でS″信号がS′信号に正確に応動できなくな
り、“１”の区間が正常のものより長くなつたり
短くなつたりすることで(ロ)の場合と同様誤不動
作、誤動作となる場合がある。
常とは、補償回路（一例としてTDEとTDDの直
列回路構成がある）を構成する部品不良でDEL
出力でS″信号がS′信号に正確に応動できなくな
り、“１”の区間が正常のものより長くなつたり
短くなつたりすることで(ロ)の場合と同様誤不動
作、誤動作となる場合がある。
(ニ)位相比較判定角の異常とは、TDEを構成す
る部品不良で判定角が正常のものより大きすぎた
り小さすぎたりすることで誤不動作、誤動作とな
る場合がある。
る部品不良で判定角が正常のものより大きすぎた
り小さすぎたりすることで誤不動作、誤動作とな
る場合がある。
上記のような不良は従来技術の点検によつては
発見できず入力電流の位相を比較するというリレ
ーの本来の目的を果たせないまま放置されるとい
う欠点が従来技術にはあつた。
発見できず入力電流の位相を比較するというリレ
ーの本来の目的を果たせないまま放置されるとい
う欠点が従来技術にはあつた。
本発明は上記の従来技術のもつ欠点を除去する
ために行なつたもので、位相比較継電装置のアナ
ログ的な不良の点検をも可能にし、高信頼度の位
相比較継電装置を提供することを目的とする。
ために行なつたもので、位相比較継電装置のアナ
ログ的な不良の点検をも可能にし、高信頼度の位
相比較継電装置を提供することを目的とする。
（実施例の構成）
以下、本発明を第４図に示す一実施例について
説明する。なお第４図中に記入されているLD1，
S1′，S1″，S1、送信信号１、受信信号１、点検信
号１、R1，A1，B1，C1リレー出力１という記号
は第１図の中で用いられているLD、S′，S″，
Ｓ、送信信号、受信信号、点検信号、Ｒ，Ａ，
Ｂ，Ｃリレー出力という記号にそれぞれ対応し、
すべて同一の機能を有する。また記号の添数字は
３相中の第１相、つまりI1を入力とするリレーの
構成を意味する。第２相，第３相を保護するリレ
ー構成は第１相の構成と全く同様である。I1，
I2，I3は電力系統に流れる３相交流の各相電流を
表わす。これらの電流は入力変成器T1，T2，T3
によりリレー部のフイルタFIL１，FIL２，FIL
３に入力され、ここで入力電流中に含まれる高調
波成分と直流成分とが除去される。そしてフイル
タFIL１，FIL２，FIL３の出力はそれぞれレベ
ル検出器LD１，LD２，LD３に導かれ、レベル
検出と共に矩形変換が行なわれる。レベル検出器
LD１，LD２およびLD３の出力S1，S2，S3は位
相比較信号であり、送信装置TR１，TR２，TR
３で相手端へ送られる。更にこれらS1，S2，S3は
自端の比較信号S1′，S2′，S3′としても扱かわれ伝
送遅れ補償回路DELを経て夫々S1″，S2″，S3″と
なる。受信装置REの受信信号R1，R2，R3はそれ
ぞれ前記S1″S2″，S3″と共にAND、に入力された
後、時間測定回路TDE、連続化回路TDDに導入
され、リレー出力１，２，３という各相ごとのリ
レー出力を得る。
説明する。なお第４図中に記入されているLD1，
S1′，S1″，S1、送信信号１、受信信号１、点検信
号１、R1，A1，B1，C1リレー出力１という記号
は第１図の中で用いられているLD、S′，S″，
Ｓ、送信信号、受信信号、点検信号、Ｒ，Ａ，
Ｂ，Ｃリレー出力という記号にそれぞれ対応し、
すべて同一の機能を有する。また記号の添数字は
３相中の第１相、つまりI1を入力とするリレーの
構成を意味する。第２相，第３相を保護するリレ
ー構成は第１相の構成と全く同様である。I1，
I2，I3は電力系統に流れる３相交流の各相電流を
表わす。これらの電流は入力変成器T1，T2，T3
によりリレー部のフイルタFIL１，FIL２，FIL
３に入力され、ここで入力電流中に含まれる高調
波成分と直流成分とが除去される。そしてフイル
タFIL１，FIL２，FIL３の出力はそれぞれレベ
ル検出器LD１，LD２，LD３に導かれ、レベル
検出と共に矩形変換が行なわれる。レベル検出器
LD１，LD２およびLD３の出力S1，S2，S3は位
相比較信号であり、送信装置TR１，TR２，TR
３で相手端へ送られる。更にこれらS1，S2，S3は
自端の比較信号S1′，S2′，S3′としても扱かわれ伝
送遅れ補償回路DELを経て夫々S1″，S2″，S3″と
なる。受信装置REの受信信号R1，R2，R3はそれ
ぞれ前記S1″S2″，S3″と共にAND、に入力された
後、時間測定回路TDE、連続化回路TDDに導入
され、リレー出力１，２，３という各相ごとのリ
レー出力を得る。
以上は、従来技術による位相比較リレーを３台
分並べたものであるが、この構成に次のような点
検回路を付加する。すなわち第４図に示すように
各相毎に設けた点検巻線WT1，WT2、および
WT3に同一の点検電流（ＩT）を通電する。そし
てLD１，LD２，LD３の出力を排他的論理和回
路（EX―ORと呼ぶ）に入力する。このEX―OR
の出力（不一致出力）は動作時遅延回路TDETに
入力され、点検出力を得る。なお、このEX―OR
は例えばS1，S2およびS3が夫々入力されるNAND
回路およびOR回路とこれら回路の出力を入力す
るANDT回路で構成する。
分並べたものであるが、この構成に次のような点
検回路を付加する。すなわち第４図に示すように
各相毎に設けた点検巻線WT1，WT2、および
WT3に同一の点検電流（ＩT）を通電する。そし
てLD１，LD２，LD３の出力を排他的論理和回
路（EX―ORと呼ぶ）に入力する。このEX―OR
の出力（不一致出力）は動作時遅延回路TDETに
入力され、点検出力を得る。なお、このEX―OR
は例えばS1，S2およびS3が夫々入力されるNAND
回路およびOR回路とこれら回路の出力を入力す
るANDT回路で構成する。
（実施例の作用）
次に上記のように構成した本発明の位相比較継
電装置の作用、すなわち、いかにして回路のアナ
ログ的不良の点検を行ないうるかを説明する。構
成説明のところですでに述べたように、第４図に
示した本発明の一実施例は位相比較リレーを３台
分並べ、これに３相に同一の電流を通電し、レベ
ル検出回路およびフイルタのアナログ的不良を含
む点検を行なおうというものである。まず第１に
３相に同一の電流を与えることであるが、これは
点検巻線ＷT1，ＷT2およびＷT3に点検用電源から
単相交流を通電する。第１相，第２相および第３
相に直列に流せばよい。第２に不一致検出につい
て説明する。一例としてLD１のレベルが異常、
LD２，LD３のレベルは正常という場合を考え
る。３相に同一の電流を与えるとレベル検出、矩
形変換され、LD１，LD２，LD３の出力は第５
図のようになり、LD１の出力は、LD２，LD３
の出力とは異なつている。EX―OR回路はこの３
つの信号の不一致を検出する。EX―OR回路を構
成するNAND，OR，AND回路の出力も第５図に
示す。今の場合LD１出力のLD２出力、LD３出
力との異なる部分のみが不一致出力として検出さ
れる。第３にTDETの働きであるが、これは上記
不一致出力が所定の値α以上になつたとき異常と
判定するためのものである。この例ではLD１の
レベルが異常であると判定される。一例として
LD１のレベル異常を考えたが、LD２，LD３の
レベル異常の場合も同様にして説明できる。ま
た、レベルが正常で、フイルタの入出力の位相ず
れがある場合もこの点検回路で不一致出力を検出
し、異常と判定できることは明らかである。
電装置の作用、すなわち、いかにして回路のアナ
ログ的不良の点検を行ないうるかを説明する。構
成説明のところですでに述べたように、第４図に
示した本発明の一実施例は位相比較リレーを３台
分並べ、これに３相に同一の電流を通電し、レベ
ル検出回路およびフイルタのアナログ的不良を含
む点検を行なおうというものである。まず第１に
３相に同一の電流を与えることであるが、これは
点検巻線ＷT1，ＷT2およびＷT3に点検用電源から
単相交流を通電する。第１相，第２相および第３
相に直列に流せばよい。第２に不一致検出につい
て説明する。一例としてLD１のレベルが異常、
LD２，LD３のレベルは正常という場合を考え
る。３相に同一の電流を与えるとレベル検出、矩
形変換され、LD１，LD２，LD３の出力は第５
図のようになり、LD１の出力は、LD２，LD３
の出力とは異なつている。EX―OR回路はこの３
つの信号の不一致を検出する。EX―OR回路を構
成するNAND，OR，AND回路の出力も第５図に
示す。今の場合LD１出力のLD２出力、LD３出
力との異なる部分のみが不一致出力として検出さ
れる。第３にTDETの働きであるが、これは上記
不一致出力が所定の値α以上になつたとき異常と
判定するためのものである。この例ではLD１の
レベルが異常であると判定される。一例として
LD１のレベル異常を考えたが、LD２，LD３の
レベル異常の場合も同様にして説明できる。ま
た、レベルが正常で、フイルタの入出力の位相ず
れがある場合もこの点検回路で不一致出力を検出
し、異常と判定できることは明らかである。
（他の実施例）
次の本発明の他の実施例を説明する。
(1) 第４図において、EX―ORに導入される信号
を直接LDの出力（Ｓ）とするのではなく、伝
送遅れ補償回路DELの出力（S″）に置換して
もよい。この場合フイルタのアナログ不良、
LDのレベル異常に加えてDELの補償時間の異
常をも点検できることは明らかである。
を直接LDの出力（Ｓ）とするのではなく、伝
送遅れ補償回路DELの出力（S″）に置換して
もよい。この場合フイルタのアナログ不良、
LDのレベル異常に加えてDELの補償時間の異
常をも点検できることは明らかである。
(2) 第４図における不一致検出回路EX―ORの入
力S1，S2，S3に代えて第６図ａのように時間測
定回路TDE１，TDE２およびTDE３の出力
B1，B2，B3を入力して位相比較回路出力
（TDEの出力）の不一致をみると同時に、更に
第６図ｂの回路を追加し、継電器出力（TDD
の出力）C1，C2，C3が“１”であることを確
することにより、TDD回路の不良を含む点検
が可能である。TDD出力は各相ごとにみるこ
ともできるし、３相のANDをとつても実現可
能である。
力S1，S2，S3に代えて第６図ａのように時間測
定回路TDE１，TDE２およびTDE３の出力
B1，B2，B3を入力して位相比較回路出力
（TDEの出力）の不一致をみると同時に、更に
第６図ｂの回路を追加し、継電器出力（TDD
の出力）C1，C2，C3が“１”であることを確
することにより、TDD回路の不良を含む点検
が可能である。TDD出力は各相ごとにみるこ
ともできるし、３相のANDをとつても実現可
能である。
(3) 第７図は第４図の構成のうちレベル検出器
（LD）を送信信号レベル検出要素（SLL）と自
端信号レベル検出要素（SLH）と分けた場合
の実施例である。レベル検出要素以後の接続お
よび構成は第４図に全く同一である。この場合
も、第１の実施例、および他の実施例(1)および
(2)までの各々の点検が可能である。すなわち、
フイルタのアナログ不良、SLLのレベル異常、
SLHのレベル異常、DELの補償時間の異常、
位相比較判定角の異常、リレー出力回路連続化
の異常を含む点検ができる。
（LD）を送信信号レベル検出要素（SLL）と自
端信号レベル検出要素（SLH）と分けた場合
の実施例である。レベル検出要素以後の接続お
よび構成は第４図に全く同一である。この場合
も、第１の実施例、および他の実施例(1)および
(2)までの各々の点検が可能である。すなわち、
フイルタのアナログ不良、SLLのレベル異常、
SLHのレベル異常、DELの補償時間の異常、
位相比較判定角の異常、リレー出力回路連続化
の異常を含む点検ができる。
(4) 第８図は第４図の構成のうち、３相同一信号
の与え方において、潮流キヤンセルのためにキ
ヤンセルCT（D1〜D3）を用いたもので、フイ
ルタ出力以後の接続および構成は第４図と全く
同一である。いままで述べた実施例において、
点検電流ＩTが潮流I1，I2，I3に比べて十分大き
いときは点検精度は高い。しかし第９図のベク
トル図のように点検電流ＩTと潮流I1，I2，I3と
の大きさの差があまりないときは各相リレーが
同相でない電流Ｉ1+T，Ｉ2+T，Ｉ3+Tが入力さ
れ点検誤差が生じうる。キヤンセルCTを使う
と潮流がキヤンセルされるので、全く同相の入
力ＩTを与えることができ、きわめて精度の高
い点検が可能である。また、すでに例で示した
各回路の点検ができることは明らかである。第
８図において接点E1〜E3は点検時閉成し、接
点G1，G2，G3は点検時開放する。
の与え方において、潮流キヤンセルのためにキ
ヤンセルCT（D1〜D3）を用いたもので、フイ
ルタ出力以後の接続および構成は第４図と全く
同一である。いままで述べた実施例において、
点検電流ＩTが潮流I1，I2，I3に比べて十分大き
いときは点検精度は高い。しかし第９図のベク
トル図のように点検電流ＩTと潮流I1，I2，I3と
の大きさの差があまりないときは各相リレーが
同相でない電流Ｉ1+T，Ｉ2+T，Ｉ3+Tが入力さ
れ点検誤差が生じうる。キヤンセルCTを使う
と潮流がキヤンセルされるので、全く同相の入
力ＩTを与えることができ、きわめて精度の高
い点検が可能である。また、すでに例で示した
各回路の点検ができることは明らかである。第
８図において接点E1〜E3は点検時閉成し、接
点G1，G2，G3は点検時開放する。
以上説明したように本発明には次のような効果
がある。
がある。
(1) 点検方式が非常に簡単である。
入力としては単相交流を各相一括して通電す
るだけであり、困難は全くない。しかも単相入
力であるので、各相で位相ずれがなく不一致検
出が簡単である。
るだけであり、困難は全くない。しかも単相入
力であるので、各相で位相ずれがなく不一致検
出が簡単である。
(2) 高精度の点検ができる。
点検電流の大きさが変動して、得られる矩形
波の幅が変化しても、各相間一信号であるので
各相が同様に変化し不一致検出としては無視で
きる。
波の幅が変化しても、各相間一信号であるので
各相が同様に変化し不一致検出としては無視で
きる。
第１図は従来技術による位相比較リレーのブロ
ツク図、第２図，第３図は位相比較リレーの動作
原理図、第４図は本発明による位相比較リレーの
一実施例のブロツク図、第５図は一実施例の作用
の説明図、第６図，第７図および第８図はそれぞ
れ本発明の他の実施例のブロツク図、第９図は潮
流と点検電流とのベクトル図である。 Ｉ…潮流、ＩT…点検電流、Ｔ…トランス、
FIL…フイルタ、LD…レベル検出器、SLL…送
信信号レベル検出器、SLH…自端信号レベル検
出器、DEL…伝送遅れ補償回路、AND…論理積
回路、TDE…時間測定回路、TDD…連続化回路
回路、Ｓ…送信信号、S′…自端信号、S″…DEL
出力、Ｒ…受信信号、Ａ…AND出力、Ｂ…TDE
出力、Ｃ…リレー出力、EX―OR…排他的論理和
回路。
ツク図、第２図，第３図は位相比較リレーの動作
原理図、第４図は本発明による位相比較リレーの
一実施例のブロツク図、第５図は一実施例の作用
の説明図、第６図，第７図および第８図はそれぞ
れ本発明の他の実施例のブロツク図、第９図は潮
流と点検電流とのベクトル図である。 Ｉ…潮流、ＩT…点検電流、Ｔ…トランス、
FIL…フイルタ、LD…レベル検出器、SLL…送
信信号レベル検出器、SLH…自端信号レベル検
出器、DEL…伝送遅れ補償回路、AND…論理積
回路、TDE…時間測定回路、TDD…連続化回路
回路、Ｓ…送信信号、S′…自端信号、S″…DEL
出力、Ｒ…受信信号、Ａ…AND出力、Ｂ…TDE
出力、Ｃ…リレー出力、EX―OR…排他的論理和
回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 平衡多相交流電路の端子電流を、各相毎に入
力変成器を介して所望な大きさに変換した後、レ
ベル検出器を経て位相比較信号を得、この位相比
較信号を相手端に伝送し、相手端では自端の位相
比較信号と伝送されてくる位相比較信号とを位相
比較することにより保護区間の事故か否かを判別
する位相比較継電装置において、前記各相の入力
変成回路に点検入力回路をそれぞれ設け、この複
数の点検入力回路に対して直列に点検用単相交流
電源を接続し、上記レベル検出器から、位相比較
後の重なり時間を測定する時間測定回路までのう
ちの各相の任意回路の出力端子に排他的論理和回
路を接続したことを特徴とする位相比較継電装
置。 ２ 特許請求の範囲第１項に記載のものにおい
て、レベル検出器は検出レベルの異なる少なくと
も２つの検出要素を有し、一方の検出要素の出力
を相手端に送信し、他方の検出要素の出力を自端
で位相比較信号として用い、これら各相の送信信
号あるいは自端の位相比較信号の両方又はいずれ
か一方の不一致を検出するようにした位相比較継
電装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6218178A JPS54154057A (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | Phase comparison relay device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6218178A JPS54154057A (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | Phase comparison relay device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54154057A JPS54154057A (en) | 1979-12-04 |
| JPS6149889B2 true JPS6149889B2 (ja) | 1986-10-31 |
Family
ID=13192694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6218178A Granted JPS54154057A (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | Phase comparison relay device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54154057A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56162927A (en) * | 1980-05-20 | 1981-12-15 | Tokyo Shibaura Electric Co | Carriage protection relay |
| US5825162A (en) * | 1994-07-25 | 1998-10-20 | Hitachi, Ltd. | Electric power flow controller |
-
1978
- 1978-05-26 JP JP6218178A patent/JPS54154057A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54154057A (en) | 1979-12-04 |
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