JPS614944A - 微粒子測定システムにおける配管清浄装置 - Google Patents
微粒子測定システムにおける配管清浄装置Info
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- JPS614944A JPS614944A JP59125106A JP12510684A JPS614944A JP S614944 A JPS614944 A JP S614944A JP 59125106 A JP59125106 A JP 59125106A JP 12510684 A JP12510684 A JP 12510684A JP S614944 A JPS614944 A JP S614944A
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- JP
- Japan
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- piping
- liquid
- gas
- sample liquid
- piping system
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/714—Sample nebulisers for flame burners or plasma burners
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は液体に含有する微粒子の粒径、数およびその分
布を測定する微粒子測定システムに係り、特にサンプル
液体を抽出する配管系を清浄化するのに好適な配管の清
浄装置に関するものである。
布を測定する微粒子測定システムに係り、特にサンプル
液体を抽出する配管系を清浄化するのに好適な配管の清
浄装置に関するものである。
液体に含有する微粒子を測定する場合、レーザ。
超音波等を用いて直接測定する方法があるが、測定精度
に限界があり、十分なものでなかった。また、液体の一
部をサンプリングし顕微鏡を用いて測定すると精度的に
は良好な結果が得られる。しかし、測定に長時間を要す
る問題があった。そこで、サンプリングした液体をか化
、そして気化させ、気体用の微粒子測定器で測定すると
測定時間。
に限界があり、十分なものでなかった。また、液体の一
部をサンプリングし顕微鏡を用いて測定すると精度的に
は良好な結果が得られる。しかし、測定に長時間を要す
る問題があった。そこで、サンプリングした液体をか化
、そして気化させ、気体用の微粒子測定器で測定すると
測定時間。
精度ともに良好な結果が得られる。しかし、この場合に
も微粒子の測定を行なわない非測定時にはサンプル液体
を抽出する配管系に微粒子を含有する液体が残留し、生
菌が発生しまた増殖する恐れがあった。なお、この種の
装置として関連するものには例えば米国特許第４，３８
１，６７４号、同第４．３３９．９４’４号等がある。
も微粒子の測定を行なわない非測定時にはサンプル液体
を抽出する配管系に微粒子を含有する液体が残留し、生
菌が発生しまた増殖する恐れがあった。なお、この種の
装置として関連するものには例えば米国特許第４，３８
１，６７４号、同第４．３３９．９４’４号等がある。
本発明の目的はサンプル液を抽出する配管系に残存する
微粒子を含有する液体を排除し、配管系を清浄に保持す
る装置を提供することにある。
微粒子を含有する液体を排除し、配管系を清浄に保持す
る装置を提供することにある。
本発明は微粒子を含有する液体の一部をサンプル液とし
て抽出し、霧化、そして気化しガス状にして測定する微
粒子測定システムにおいて、微粒子の測定を行なわない
非測定時にはサンプル液を抽出する配管系に高嚇の気体
を供給し配管系に残留するサンプル液の排除と清浄を行
うようにしたものである。
て抽出し、霧化、そして気化しガス状にして測定する微
粒子測定システムにおいて、微粒子の測定を行なわない
非測定時にはサンプル液を抽出する配管系に高嚇の気体
を供給し配管系に残留するサンプル液の排除と清浄を行
うようにしたものである。
以下、本発明の実施例を第１図、第２図について説明す
る。
る。
第１図において、１は微粒子を含有する液体が流れる母
管であり、この母管１には流量調節弁２を介してオーバ
ーフロータンク３に接続する配管４が配置されている。
管であり、この母管１には流量調節弁２を介してオーバ
ーフロータンク３に接続する配管４が配置されている。
オーバーフロータンク３はドレンタンク５内に配置され
オーバーフロータンク３よりのオーバーフロー液をドレ
ン孔５ａより排出する。ドレン孔５ａより排出されるド
レン量は流量調節弁２によって調節される。６はジェッ
トノズルで気化器７内に配置される。このジェットノズ
ル６の一方は電磁弁８を介してオーバーフロータンク３
に配管９により接続され、また他方はフィルターｌＯを
介し圧縮機等の気体源（図示せず）に配管１１によって
接続されている。１２はヒータ等の加熱源で気体源に通
じる配管１１の″途中に設けられ配管１１を流通する気
体を加熱する。配管９と配管１１は電磁弁１３を介した
バイパス配管１４によって接続される。
オーバーフロータンク３よりのオーバーフロー液をドレ
ン孔５ａより排出する。ドレン孔５ａより排出されるド
レン量は流量調節弁２によって調節される。６はジェッ
トノズルで気化器７内に配置される。このジェットノズ
ル６の一方は電磁弁８を介してオーバーフロータンク３
に配管９により接続され、また他方はフィルターｌＯを
介し圧縮機等の気体源（図示せず）に配管１１によって
接続されている。１２はヒータ等の加熱源で気体源に通
じる配管１１の″途中に設けられ配管１１を流通する気
体を加熱する。配管９と配管１１は電磁弁１３を介した
バイパス配管１４によって接続される。
１５は気体の微粒子測定器で電磁弁１６を介し気化器７
に配管１７により接続されている。配管１８には電磁弁
１９が配置され内部を流れる気体を外部に排出する。
に配管１７により接続されている。配管１８には電磁弁
１９が配置され内部を流れる気体を外部に排出する。
本発明は上記のように構成されているので、母管１を流
れる液体の一部は流量調節弁２の調節によってオーバー
フロータンク３に導びがれる。流量調節弁−２はオーバ
ーフロータンク３で液体が若干ドレンタンク５に溢れる
ように調節される。オーバーフロータンク３に導びがれ
た液体は電磁弁８を介した配管９によって、また気体源
（図示せず）からの気体は配管１１を経て加熱源１２に
より加熱されジェットノズル６に導入され、このジェッ
トノズル６により混合霧化され気化器７に噴射され気化
される。気化された気体は気体用の微粒子測定器１４に
導びかれ、微粒子の粒径、数。
れる液体の一部は流量調節弁２の調節によってオーバー
フロータンク３に導びがれる。流量調節弁−２はオーバ
ーフロータンク３で液体が若干ドレンタンク５に溢れる
ように調節される。オーバーフロータンク３に導びがれ
た液体は電磁弁８を介した配管９によって、また気体源
（図示せず）からの気体は配管１１を経て加熱源１２に
より加熱されジェットノズル６に導入され、このジェッ
トノズル６により混合霧化され気化器７に噴射され気化
される。気化された気体は気体用の微粒子測定器１４に
導びかれ、微粒子の粒径、数。
そしてその分布が測定される。
尚、微粒子測定時５にはバイパス配管１４に配置される
電磁弁１３、配管１８に配置される電磁弁１９は閉鎖し
ている。
電磁弁１３、配管１８に配置される電磁弁１９は閉鎖し
ている。
次に、微粒子の測定を行なわない状態、すなわば非測定
時の状態を第２図について説明する。配管１７に配置さ
れる電磁弁１６は閉鎖され、他の電磁弁８，１３．１９
は開口されている。
時の状態を第２図について説明する。配管１７に配置さ
れる電磁弁１６は閉鎖され、他の電磁弁８，１３．１９
は開口されている。
この状態で気体源（図示せず）からの気体をフィルター
１０を介して送り込み加熱源９によって加熱された高温
の気体の一方はジェットノズル６を通り配管１７．１８
を経て機外に排気される。
１０を介して送り込み加熱源９によって加熱された高温
の気体の一方はジェットノズル６を通り配管１７．１８
を経て機外に排気される。
また、他方は配管１４を通りオーバーフロータンク３に
、また配管９を通ってジェットノズル６に導びかれる。
、また配管９を通ってジェットノズル６に導びかれる。
このように、高温気体を流動させることにより、非測定
時におけるサンプル液の残留を排除し、生菌の発生、そ
して増殖を完全に防止できる。
時におけるサンプル液の残留を排除し、生菌の発生、そ
して増殖を完全に防止できる。
尚、母管１とオーバーフロータンク３との間の配管４に
は常に一定の液体が流動しているため生菌の発生、増殖
はほとんどない。
は常に一定の液体が流動しているため生菌の発生、増殖
はほとんどない。
以上説明したように、本発明によれば微粒子の測定を行
なわない非測定時にはサンプル液を抽出する配管系に残
存する微粒子を含有する液体を高温の気体で排除するよ
うにしたので、生菌の発生。
なわない非測定時にはサンプル液を抽出する配管系に残
存する微粒子を含有する液体を高温の気体で排除するよ
うにしたので、生菌の発生。
増殖を防止できる。また、これにより測定時における微
粒＋、ｍ定誤差を低減でき、液体微粒子測定システムの
信頼性を向上させることができる。
粒＋、ｍ定誤差を低減でき、液体微粒子測定システムの
信頼性を向上させることができる。
第１図、第２図は本発明の微粒子測定システムにおける
配管清浄装置の系統図である。 １・・・母管、２・・・流量調節弁、３・・・オーバー
フロータンク、５・・・ドレンタンク、６・・・ジェッ
トノズル、７・・・気化器、１０・・・フィルター、１
２・・・加熱源１４・・・バイパス配管、１５・・・微
粒子測定器。
配管清浄装置の系統図である。 １・・・母管、２・・・流量調節弁、３・・・オーバー
フロータンク、５・・・ドレンタンク、６・・・ジェッ
トノズル、７・・・気化器、１０・・・フィルター、１
２・・・加熱源１４・・・バイパス配管、１５・・・微
粒子測定器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、液体を含有する微粒子の粒径、数およびその分布を
測定するに、前記液体よりサンプル液を抽出し、このサ
ンプル液を霧化、気化しガス状にして測定する微粒子測
定システムにおいて、非測定時、前記サンプル液を抽出
する配管系に高温の気体を供給し、配管系に残留するサ
ンプル液の排除と清浄を行うことを特徴とする微粒子測
定システムにおける配管清浄装置。 ２、特許請求の範囲第１項において、前記サンプル液を
霧化するための気体を配管系に供給することを特徴とす
る微粒子測定システムにおける配管清浄装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59125106A JPS614944A (ja) | 1984-06-20 | 1984-06-20 | 微粒子測定システムにおける配管清浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59125106A JPS614944A (ja) | 1984-06-20 | 1984-06-20 | 微粒子測定システムにおける配管清浄装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS614944A true JPS614944A (ja) | 1986-01-10 |
Family
ID=14901994
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59125106A Pending JPS614944A (ja) | 1984-06-20 | 1984-06-20 | 微粒子測定システムにおける配管清浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS614944A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0513536U (ja) * | 1991-05-07 | 1993-02-23 | 株式会社コーセー | スポイト |
| KR100536581B1 (ko) * | 2002-10-29 | 2005-12-14 | 정다열 | 에어 샘플링 튜브 세척장치 및 그 방법 |
-
1984
- 1984-06-20 JP JP59125106A patent/JPS614944A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0513536U (ja) * | 1991-05-07 | 1993-02-23 | 株式会社コーセー | スポイト |
| KR100536581B1 (ko) * | 2002-10-29 | 2005-12-14 | 정다열 | 에어 샘플링 튜브 세척장치 및 그 방법 |
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