JPS6140154B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6140154B2
JPS6140154B2 JP53067856A JP6785678A JPS6140154B2 JP S6140154 B2 JPS6140154 B2 JP S6140154B2 JP 53067856 A JP53067856 A JP 53067856A JP 6785678 A JP6785678 A JP 6785678A JP S6140154 B2 JPS6140154 B2 JP S6140154B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
junctions
thermocouple
thermopile
area
target area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53067856A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5412578A (en
Inventor
Deeru Batsukusutaa Ronarudo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leeds and Northrup Co
Original Assignee
Leeds and Northrup Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leeds and Northrup Co filed Critical Leeds and Northrup Co
Publication of JPS5412578A publication Critical patent/JPS5412578A/ja
Publication of JPS6140154B2 publication Critical patent/JPS6140154B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/01Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/10Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects
    • H10N10/17Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects characterised by the structure or configuration of the cell or thermocouple forming the device
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/81Structural details of the junction
    • H10N10/817Structural details of the junction the junction being non-separable, e.g. being cemented, sintered or soldered
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/854Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising only metals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 初期の形態のサーモパイル型輻射パイロメータ
ーにおいては、輻射が方向づけられたターゲツト
領域であつて、サーモパイルの高温側接合点を包
有したターゲツト領域は、該ターゲツト領域上の
高温側接合点から輻射パイロメーターの本体ある
いはケースと関連した低温側接合点までの熱伝導
を最小程度に減らすため、電電対ワイヤにより空
間的に支えられているものであつた。比較的最近
では、ソリツド・バツク式サーモパイルと呼ばれ
ている装置が注目されており、この装置において
は、薄い絶縁層が支承フレームの穴を横切つて延
在し、フレームに設けられた中央穴のセンターに
ある領域に配置されている高温側接合点とフレー
ム材料に対応した領域に配設された低温側接合点
とを有する一連の熱電対接合点を絶縁層の上に溶
着することによりサーモパイルが形成されてい
る。ピー・ビラー他に与えられた米国特許第
3424624号とエヌ・ピー・スチーブンス他に与え
られた第3405273号は、ソリツド・バツク式サー
モパイルを得る2つの異なつた接近のし方を開陳
している。薄い絶縁皮膜について、これら2つの
特許に示されている共通した材料は、マイラー皮
膜(Mylar film)でもあり、酸化アルミニウムの
皮膜でもあつた。このタイプのサーモパイルを構
成するにさいして、接着剤を用いて支承皮膜を支
承フレームに固着することが一般的に行なわれて
いるやり方であつた。しかして、酸化アルミニウ
ムの皮膜は、アルムミニウムのブロツク材を陽極
電解処理して、アルミニウムの中央部分をエツチ
ング処理により取り除いて、支承されていない酸
化アルミニウムの皮膜を形成することにより作ら
れている。サーモパイルの接合点の数にあわせて
サーモパイルから最大出力を得るため、このタイ
プの装置に一般に使用されている材料としては、
シーベツク係数が高いことにかんがみビスマスと
アンチモンが用いられている。米国特許第
3424624号は、輻射サーモパイルが一般に行なわ
れている配置構成であるサーモパイルの構成を開
陳しており、この構成においては、米国特許第
3405273号に示されているように、列をなす接合
点がサーモパイルに取り付けられている。
サーモパイル輻射検出器の性能は、一般に受信
された輻射エネルギーのワツト当りサーモパイル
から得た電圧出力とサーモパイルに応答する時間
定数により測定される。受信されたエネルギーの
ワツト当りの時間定数が低いことと、電圧出力が
大きいことが、設計のさいの目的であることはい
うまでもない。ソリツド・バツク式サーモパイル
においては、この性能は、主として有効ターゲツ
ト領域に配置することができる熱電対の接合点の
数と、絶縁層を通つて高温側接合点から低温側接
合点までの伝熱の量ならびに低温側接合点の領域
から熱を放散する比較的一般的な問題とにより決
定される。
本発明は、高性能サーモパイルを提供するよう
ユニークに設計された輻射パイロメーターに使用
される小型の輻射応答サーモパイルと、このよう
なサーモパイルを製作する方法に関する。
本発明のサーモパイルにおいては、熱電対接合
点の模様組織は、熱電対高温側接合点が、輻射タ
イプの模様組織における特色であるが、ターゲツ
ト領域の周囲に配置されるよりもむしろターゲツ
トのいたるところに分散配置されるよう構成され
ている。さらに、高温側接合点は、これらの熱電
対に一般的にみられるような1本の直線配置構成
に限定されるものではなく、接合点は、ターゲツ
ト領域を越えて1列に並べて配置されている。高
温側接合点が、ターゲツト領域に配置される模様
組織のユニークさは、高温側接合点のリード線が
互にほぼ直角をなすように高温側接合点にいたる
熱電対リード線を配置することにより達成され
る。一定の熱電体リード線のサイズと間隔につい
ては、このような配置構成を用いた場合の熱電対
接合点の数が、在来の模様組織における高温側接
合点から反対の方向に延在した熱電対リード線を
用いて高温側接合点が形成されている配置構成に
ついて得ることができる接合点の数の2倍である
ことは容易に明らかである。この模様組織の結
果、ターゲツト領域における高温側接合点の数を
増やすことができるとともに、サーモパイルの出
力を増大させることができ、ユニークな対称を有
する模様組織を作ることができる。このような対
称は、皮膜内に応力が現われることを避けるため
薄い皮膜支承材を取り扱う場合には重要なことで
ある。
特定のターゲツト領域とリード線間隔に対し
て、ターゲツト領域における高温側接合点の数を
最大限に増やすことが可能な上記の配置構成に加
えて、本発明のサーモパイルは、サーモパイルの
低温側接合点と関連した反射体領域を特徴とする
ものである。これらの反射領域は、低温側接合点
の領域を比較的低い温度に保持することを助け
て、低温側接合点の領域から到来した漂遊輻射エ
ネルギーを反射することにより、ターゲツト領域
が衝突する輻射エネルギー・レベルを受けたとき
のサーモパイルからの最大出力を確保するもので
ある。
本発明のサーモパイルの構成的な特徴は、在来
のサーモパイルにみられる特徴とははつきり異な
つており、さらに、サーモパイル自身を製作する
方法も、在来の技術が教えるところからも異なつ
ている。本発明の方法においては、サーモパイル
の薄い皮膜サポートは接着剤を用いて支承フレー
ムに接着されるのではなくて、特定の結晶の方
向、即ち(1−0−0)の結晶方向を有するウエ
ーハー(wafer)に薄い絶縁皮膜を溶着し、制作
の途中で、向きに左右されるようなエツチング処
理、即ちアニソトロピー的エツチング処理により
ターゲツト領域の範囲内にあるウエーハーの材料
を取り除くことにより形成されており、これによ
り、高温側接合点は、支承ウエーハーから絶縁さ
れた支承皮膜あるいはウエブの一部分の上に配置
され、一方、低温側接合点は、支承皮膜あるいは
ウエブが支承部材により支承される領域の範囲内
で前記皮膜あるいはウエブの上に配置されること
となる。
本発明における、輻射サーモパイルの重要部分
を構成するに当り、結晶ウエーハーの結晶方向が
(1−0−0)であるものを使うと云うことで、
(特許請求の範囲記載の第1番目の発明の項で云
えば第3工程に於て)該ウエーハー材料にアニソ
トロピー的エツチング処理を施すことゝ相俟つ
て、第2図図示の(本発明の意図する)「中央開
き穴56」、即ち、アニソトロビー的エツチング
処理により結晶ウエーハーの結晶の方向に応じて
制御されたエツチングが行なわれ、この結果、
「結晶ウエーハーの(1−1−1)面により限定
された、形状がほゞ矩形の開き穴56」が得られ
るのである。而して、ほうけい酸ガラスの薄い皮
膜54の背面にあるこの中央開き穴56の輪郭
は、小さい寸法の開き穴の場合に要求されるよう
に、高温側接合点の領域あるいはサーモパイルの
ターゲツト領域では側部が正確に限定されるもの
である。
本発明に於て、結晶方向が(1−0−0)の結
晶に限定したのは、(1−0−0)以外の結晶方
向のものでは、(アニソトロピー的エツチング処
理を施しても)本発明の意図する前記「開き穴5
6」は達成し得ないことによる。即ち、 ウエーハーの結晶の結晶方向が(1−0−0)
であるとき、アニソトロピー的エツチング処理を
すると云うことで、第2図図示の如き「矩形の中
央開き穴56の側壁面が所要のテーパーした」も
のを達成し得るものであつて、之により、時間定
数が著しく高く、受信された一定の輻射に対する
出力が極めて大きいサーモパイルが得られるので
ある。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施例
を詳細に説明する。
第1図に示されているサーモパイル10は、16
個の高温側接合点12を備えており、しかして該
高温側接合点12は、サーモパイル10の中央領
域あるいはターゲツト領域に配置されている。一
連の低温側接合点14も設けられており、該低温
側接合点14は、サーモパイル10の外側エツジ
のまわりに配置されている。これらの高温側と低
温側の熱電対接合点12と14は、異なつた組成
の2種類の導線を接合することにより作られてい
る。熱電対接合点を作るため多くの異なつたタイ
プの導線を使用することができることは公知のこ
とであるが、本発明の好適した実施例において
は、コンスタンタンから作られた導線とニクロム
導線のごとき80パーセント・ニツケルと20パーセ
ント・クロムより成る合金から作られた導線を使
用することによりもつとも好ましい結果を得るこ
とができることが判明した。第1図において、導
線16は、コンスタンタンの導線を表わし、一
方、導線18は、ニクロムの導線を表わす。13個
の低温側接合点14が、コンスタンタン導線16
とニクロム導線18との間の接続により作られて
いることに注目していただきたい。しかし、第1
図のサーモパイルの構成においては、中間導線を
使用して作られた低温側接合点が2つ設けられて
いる。金のごとき反射能の高い導電材料から作ら
れた4つの大きい面積領域20,22,24,2
6は、サーモパイルを構成するにあたつて二重の
目的を果している。すなわち、前記面積領域は、
電気的な接触要素として機能するとともに、低温
側接合点14と連係されたヒート・シンクを漂遊
輻射エネルギーから保護する熱反射体としても機
能するものである。前記面積領域20が、コンス
タン・パツド接続領域28とニクロム・パツド接
続領域30の間で導電関係にあることにとくに注
目していただきたい。この金の面積領域20は、
パツド領域28とパツド領域30との間の接続体
として機能し、直列に接続された二つの独立した
接合点、すなわち、パツド28におけるコンスタ
ンタン−金の接合点とパツド30におけるニクロ
ム−金の接合点より構成された熱電気的な低温側
接合点を提供するものである。金は各接合点の一
方の要素であるので、正味効果は、コンスタンタ
ン−ニクロムの低温側接合点の正味効果であるこ
とは理解されよう。同様に、金の面積領域22
は、コンスタンタン・パツドの接続領域32とニ
クロム・パツドの接続領域34との間の接続体と
して機能する。金の面積領域24は、ニクロム・
パツドの接続領域38と協働して、サーモパイル
10の一方の出力接続端を提供し、一方、金の面
積領域26は、コンスタンタン・パツドの接続領
域36と協働して、サーモパイル10の他方の出
力ターミナルを提供している。これらの領域24
と26は、セメント46を用いてベース44固着
された適当なリード線40と41(第1A図参
照)の端部に接続されている。パツド24からリ
ード線40までの接続は、ワイヤ48を介して行
なわれ、一方、面積領域26からリード線42ま
での接続は、ワイヤ50を介して行なわれる。
金の接合点領域の反射能を改善するために貼り
つけられた金の大きい面積領域20,22,2
4,26に加えて、低温側接合点14それぞれと
関連して比較的小さい反射領域27が設けられて
おり、該反射領域27は、低温接合点14の一部
分の上にかぶさつているとともに、絶縁材料の薄
い皮膜54の一部分をおおつて延在している。こ
の面積領域27は、低温側接合点14に作用する
漂遊輻射の影響を減らすとともに、低温側接合点
14を皮膜54に固着して、該皮膜54のヒー
ト・シンク特性を改善することを助けるものであ
る。
本サーモパイル10を説明するにあたつて、衝
突する輻射を測定するため、16個の高温側接合点
12が設けられていることが明らかにされた。熱
電対を特定の数の接合点に限定することは必要で
ないことはいうまでもなく、模様組織は、さらに
広げることができるが、ここで接合点の数に関す
る唯一の制限はターゲツト領域のサイズと、リー
ド線と接合点のサイズと、熱電対リード線間の所
要の間隔である。
サーモパイル10を包有した輻射検出器を製作
する本発明に係る新規な方法は、完成したサーモ
パイル10の横断面を示す第2図を参照すれば非
常にはつきりと理解することができる。製作は、
(1−0−0)の結晶方向をもつ結晶物質のウエ
ーハーから始められる。該ウエーハーは、最終製
品における支承フレーム52を形成するものであ
る。本発明の好適した実施態様においては、結晶
物質は、シリコンである。公知の溶着法により適
当な絶縁材料の薄い皮膜54がシリコン・ウエー
ハー52の正面に溶着される。絶縁材料は、該絶
縁材料と支承フレームとの間の結合が、製造工程
の間、装置の温度の変化により損なわれないよう
な物理的特性を備えていることが重要なことであ
る。この目的のため、10000オングストロムの厚
さを有するほうけい酸ガラスがシリコン支承フレ
ーム52といつしよに使用するのに適しているこ
とが判明した。溶着によりほうけい酸ガラス皮膜
54をシリコン支承フレーム52に結合したあ
と、前記ほうけい酸ガラス皮膜とシリコン支承フ
レームの組み合わせ体は、焼鈍処理に付され、シ
リコン支承フレーム52にほうけい酸ガラスを溶
着する段階の間生じたほうけい酸ガラスの薄い皮
膜54に内在する応力がすべて除去される。
熱電対は、公知の写真平板テクニツクを使用し
て、絶縁材の薄い皮膜54の露出した表面に形成
される。さらに詳しく言えば、ほうけい酸ガラス
54の露出した表面は、熱電対のコンスタンタン
導線16に対応した模様組織を表わす適当なマス
クを通つて露出したホトレジストで被覆される。
これらの導線16はそれぞれ、0.015mm(0.0006
インチ)の幅を有するリード線部分から構成され
ていて、接続を行なうため拡大パツド領域で終つ
ていて、高温側と低温側の熱電対接合部12と1
4を形成している。ホトレジストを現像して、コ
ンスタンタン導線16を配置すべき領域よりホト
レジストを取り除いたあと、1000から2000オング
ストロムの厚さのコンスタンタンが、ガラス皮膜
54の表面全体にわたつて溶着される。しかるの
ち、露出した表面は、前部表面と該表面上に溶着
されたコンスタンタンからすべての残存ホトレジ
スを取り除く働きをする一般市販のホトレジス
ト・ストリツパーを用いた処理に付される。この
結果、細いリード線部分と拡大接合点部分を有す
る所定の模様組織のコンスタンタン導線が得られ
る。ほうけい酸ガラス皮膜の表面にニクロム導線
18を溶着して、コンスタンタン導線にかぶせ
て、サーモパイル10の高温側と低温側の熱電対
接合部を作るため、同じ手順が繰り返えされる。
第1図を参照すれば、コンスタンタン導線とニ
クロム導線16,18を薄いガラスの基材54の
上に上述のように溶着することによりサーモパイ
ル10の一連の高温接合部12が形成される。加
えて、13個の低温側接合点14が形成され、これ
により3つの独立したグループの直列に接続され
た高温側と低温側の接合点12と14が形成され
る。8つの高温側接合点12と7つの低温側接合
点14より成る第1のグループは、コンスタンタ
ン・パツド36とニクロム・パツド30との間に
配置されている。4つの高温側接合点12と3つ
の低温側接合点14を有するいま一つの一連の熱
電対接合点が、コンスタンタン・パツド28とニ
クロム・パツド34の間に配置されている。最後
に、4つの高温側接合点12と3つの低温側接合
点14より成るいま一つの熱電対グループが、コ
ンスタンタン・パツド32とニクロム・パツド3
8との間に形成されている。
サーモパイルを製作する方法の次の段階は、各
グループの熱電対接合点の間で相互接続を行なつ
て、直列に接続された16個の高温側接合点を有す
るシングル・サーモパイルを用意するとともに、
サーモパイル自身に適切な接点手段を提供するこ
とである。この目的を達成するため、皮膜54の
前部表面が、ホトレジストで被覆される。ホトレ
ジストは、第1図の露出した領域20,22,2
4,26,27を作るため、マスクを通して露出
される。ホトレジストは、現像され、そしてこの
現像により露出したホトレジストが選択的に取り
除かれる。次に、皮膜54の表面全体にわたつて
薄いクロムの層が、約400オングストロムの厚さ
まで溶着される。約4000オングストロムの厚さを
有する金の層が、クロム層の頂部に溶着される。
しかるのち、表面は、ホトレジスト・ストリツパ
ー溶液を用いた処理に付されて、ホトレジストの
頂面にあるクロムと金の層といつしよに残存ホト
レジストが取り除かれ、第1図に示されているよ
うに低温側接合点44と連係された大きい金の表
面を有する4つの大きい面積領域20,22,2
4,26と比較的小さい面積領域27よりなる模
様組織が形成される。前述のように、面積領域2
0は、ニクロム・パツド30とコンスタンタン・
パツド28との間の接続を提供し、熱電対接合点
の二つのグループ間の接合点を提供するととも
に、二つのグループ間の接続を提供するものであ
る。面積領域22は、ニクロム・パツド34から
コンスタンタン・パツド32にいたる電気的な接
続を提供して、熱電体接合点のグループ間の接続
を提供するとともに、所要の低温側接合点を提供
するものである。加えて、面積領域26は、コン
スタンタン・パツド36にいたる電気的な接続を
提供し、一方、面積領域24は、ニクロム・パツ
ド38にいたる接続を提供するものであることは
理解されよう。
サーモパイルを製作する上述の段階は、シリコ
ン支承フレーム52上のガラス皮膜54の露出表
面で実施される操作に関係したものである。サー
モパイルを支える絶縁材の薄いウエーブを用意す
るため、16個の高温側接合点12を備えたターゲ
ツト領域直下の材料をシリコン・ウエーハー52
から取り除くことが必要である。支承フレーム5
2の中に急角度に限定され、正確に制御された中
央開き穴56を作るため、厚さが約400オングス
トロムのクロムの層がまずシリコン・ウエーハー
の上に溶着され、これに続いて約4000オングスト
ロムの厚さを有する金の層55が溶着される。金
の層55の露出した表面は、ホトレジストの薄い
皮膜で被露されて、適当なマスクを通して紫外線
に露光される。露光されたホトレジストは現像さ
れて、開き穴56に該当した領域にある金の層か
らホトレジストが取り除かれる。次に、露出した
金の層は、酸エツチング処理に付され、このエツ
チング処理により露出した金の層と該金の層の下
に所在している薄いクロム層が取り除かれ、シリ
コンが露出することとなる。露出したシリコン
は、アニソトロピー的なエツチング処理に付さ
れ、このエツチング処理によりシリコン・ウエー
ハーの結晶の方向に応じて制御されたエツチング
が行なわれ、この結果、シリコン・ウエーハーの
(1−1−1)面により限定された、形状がほぼ
矩形の開き穴56が得られる。ほうけい酸ガラス
の薄い皮膜54の背面にある開き穴56の輪郭は
小さい寸法の開き穴の場合に要求されるように、
高温側接合点の領域あるいはサーモパイルのター
ゲツト領域では側部が正確に限定される。
サーモパイル10の応答性を改善するため、タ
ーゲツト領域は、該ターゲツト領域に衝突する輻
射の吸収を増加させるため、レセプター材料
(receptor material)を備えている。第1図に示
されているサーモパイル10の面の上にマスクが
置かれるが、開き穴56にかぶせて配置されたマ
スクの中に穴があけられている。高温側接合点1
2を包有したサーモパイル10のターゲツト領域
にあるマスクに設けられた穴を通つてほうけい酸
ガラスの薄い皮膜58が溶着される。これに続い
て、比較的小さい穴を有するマスクが、サーモパ
イル10の上に置かれ、マスクを通つてメタル・
ブラツク(metal black)の皮膜60が皮膜58
上に溶着されて、サーモパイル10のターゲツト
領域が限定される。
しかるのち、第1A図に示されているように、
出来上がつたサーモパイル10は、シリコン支承
フレーム52をベース部材44上に接着すること
により金メツキされたベース部材44に取り付け
られる。前記両方のものをあわせ取り付けるにあ
たつて、導電性エポキシが好適した接着剤である
ことが判明した。ベース部材44は、該ベース部
材を貫通する開き穴62を備えており、しかし
て、該開き穴62は、支承フレーム52に設けら
れた開き穴56と1列に並べられている。
サーモパイルと電気的な接続を行なうためワイ
ヤ50は、熱圧縮性ボール・ボンド(ball
bond)を用いて接触面積領域26に取り付けら
れていて、熱圧縮性ウエジ・ポンド(wedge
bond)を用いてリード線42の端に接続されて
いる。同様に、接触面積領域24は、ワイヤ48
を用いてリード線40に接続されている。第3図
は、本発明に従がつて完成されたキヤツプ64を
有するサーモパイル検出器を示す。前記キヤツプ
64は、ベース44に固着されている。測定され
る輻射線を入れる小さい中央穴66が前記キヤツ
プ64に設けられている。第3図には、サーモパ
イル線40と42に加えて、ベース44の底に電
気的に取り付けられた接地リード線68が補足的
に設けられている。
本発明が教示するところに従がつて構成された
サーモパイルは、時間定数が極端に高く、(時間
定数が著しく小さく)受信された一定の輻射に対
し出力が大きい点において特に有利である。この
大きな効果は、本発明のサーモパイルを製作する
方法、特に、結晶ウエーハーの結晶方向が(1−
0−0)のものを使い、且つ、該ウエーハー材料
にアニソトロピー的エツチング処理を施すと云う
方法と部材の物理的な配置により得られたもので
ある。導線の寸法が極端に小さいことが、本装置
の非常に早い応答性に大きく貢献している。2.5
mm(1/10インチ)の寸法と上記のリード線寸法を
有する正方形の輪郭に作られた面積領域20、2
2,24,26を備えた上述のように構成された
サーモパイルの時間定数が10ミリ秒であることが
判明した。これに対し、当初に挙げた米国特許第
3424624号に開陳されている在来の装置の時間定
数は、130から160ミリ秒の範囲にわたつているこ
とが報告されている。本サーモパイルから比較的
大きい出力が得られることは、主として、サーモ
パイルの接合部の物理的な配置構成と、寸法が小
さいことと、導線を作る精度のしからしめるとこ
ろであり、これにより特定のターゲツト領域の範
囲内に最大個数の高温側接合点12を設けること
ができるのである。さらに、本発明に従がつて構
成されたサーモパイルは、受信した輻射エネルギ
ー1ワツト当り20ボルトの出力をもつことが判明
した。
サーモパイルを製作する上述の方法は、一般に
シリコン材料の1枚のウエーハーの上に複数のサ
ーモパイルを製作することにより実施される。1
枚のシリコン・ウエーハーの上に一度に多重サー
モパイルを作る場合、シリコン・ウエーハー52
の中に開き穴56をエツチング処理するためホト
レジストを露光させるのに使用されるエツチ・マ
スクは、個々のサーモパイルそれぞれの間の劈開
ラインをエツチング処理するホトレジストを露出
させる段取も備えている。このような段取の結
果、支承フレーム52は、該フレームのエツジに
沿い材料がエツチング処理され、第2図に示され
ているように傾斜面70と72が作られる。これ
により好適に限定された劈開ラインに沿い個々の
サーモパイルを分離することができる。
上述の説明は、コンスタンタン・ワイヤとニク
ロム・ワイヤを接合することにより熱電対接合点
が作られることを明らかにしたものである。この
ような材料は、例示的に使用されたにすぎず、熱
電対接合点を作るため他の導線を使用することが
できることはいうまでもない。高温側接合点と低
温側接合点の間に延在した導線の物理的な寸法が
極端に小さいことにかんがみ、2つの異なつたワ
イヤの間の熱電気的な効果だけでなく、選択され
た材料の抵抗にも考慮を払わなければならない。
ビスマスとアンチモニについては、シーベツク係
数が高いことは、当事者には公知のことである。
しかし、このような材料は、抵抗率が極端に高
く、本発明に従がつて製作されるタイプのサーモ
パイルに使用するには適していない。本発明の教
示するところに従がつて構成されたサーモパイル
を測定したところ、このサーモパイルが1400オー
ムのオーダーのインピーダンスを有することが判
明した。ジヨンソン・ノイズを低く抑えて、本サ
ーモパイルの系に大きい信号対ノイズ比を与える
ためには、低インピーダンスが望ましいことは理
解されよう。
本願発明は前述の構成であつて、シリコン・ウ
エーハーと溶着されたほうけい酸ガラスを焼鈍す
る工程と、前記ウエーハーの中央部分に配置され
た一連の接合点と、前記中央部分より間隔がへだ
てられていて、該中央部分の周囲まわりに分散配
置された一連の中間接合点とを有する異なつた導
電材料から作られた複数の直列に接続された熱電
対を前記ガラスの上に溶着する工程とに依り、薄
肉皮膜サーモパイルの製作に当り、絶縁層とシリ
コンとの間の接着剤が本サーモパイル製作中に起
る大きな温度変化に於ても悪影響を受けないと云
う大きな効果が齎らされた。
更に、直列回路の関係にて前記高温側接合点と
前記低温側接合点を交互に接続する複数の熱電対
リード線であつて、前記高温側接合点の前記リー
ド線が、前記絶縁皮膜の表面に対応した平面の中
に所在していて、ほゞ互に直角であるリード線と
から成ると云う構成にしたことに依り、高温側接
合点の数を著しく大ならしめ、以て出力を大なら
しめ得たと云う効果が齎らされた。
而して、ターゲツト領域内に形成されていて第
1の熱電対リード線と第2の熱電対リード線の第
1の接合点によりターゲツト領域を通つて分散配
置された複数の高温側熱電対接合点と前記リード
線とが、互にほゞ直角をなして前記高温側接合点
それぞれに接続されていると共に、二つの異なつ
た熱電対リード線の他方の接合点により形成され
た前記フレームにより限定されている領域内に設
けられた複数の低温側熱電対接合点と、前記リー
ド線とが、互にほゞ平行に前記低温側接合点に接
続されている構成となしたことに依り、接合点の
数を著しく大ならしめ、以て出力を大ならしめ得
たと云う大きい効果が齎らされたのである。
以下、本発明に係る小型高性能の輻射サーモパ
イルと該サーモパイルを製作する方法について実
施態様を示せば次の通りである。
(1) (1−0−0)の結晶方向を有する結晶ウエ
ーハーの一方の表面に絶縁材料の薄い皮膜を溶
着する段階と、 前記ウエーハーの中央部分に配置された一連
の接合点と、前記中央部分より間隔がへだてら
れていて、該中央部分の外側で周囲まわりに分
散配置された一連の中間接合点とを有する異な
つた導電材料から作られた複数の直列に接続さ
れた熱電対を前記絶縁材料の上に溶着する段階
と、 前記中央部分の前記絶縁材料より前記ウエー
ハー材料をアニソトロピー的にエツチング処理
して、前記中央部分の前記一連の接合点が絶縁
材の前記薄い皮膜によつてのみ支承されるよ
う、前記中央部分の前記ウエーハー材を除去す
る段階と を用いてソリツド・バツク式の高性能な薄肉皮
膜サーモパイルを製作する方法。
(2) (1−0−0)の結晶方向を有するシリコ
ン・ウエーハーの一方の表面にほうけい酸ガラ
スの薄い皮膜を溶着する段階と、 前記シリコン・ウエーハーと溶着されたガラ
スを焼鈍する段階と、 前記ウエーハー中央部分に配置された一連の
接合点と、前記中央部分より間隔がへだてられ
ていて、該中央部分の周囲まわりに分散配置さ
れた一連の中間接合点とを有する異なつた導電
材料から作られた複数の直列に接続された熱電
対を前記ガラスの上に溶着する段階と、 前記シリコン・ウエーハーの(1−1−1)
面により急角度に限定されたほぼ矩形の形状を
有する中央穴を作るため、向きにより左右され
るエツチング処理により前記中央部分にある前
記ガラスより前記シリコンを選択的に除去する
段階と、 を用いて、ソリツド・バツク式の高性能な薄肉
否膜サーモパイルを製作する方法。
(3) 熱電対を溶着する段階が、第1図の模様組織
の第1の導電材料より成る複数のまつすぐな細
い線を前記ガラスの上に溶着し、しかして、前
記リード線がそれぞれ、ほぼ正方形の拡大パツ
ド面積領域で終つていることと、 第2の模様組織の第2の導電材料より成る複
数のまつすぐな細い線を前記ガラスの上に溶着
し、しかして、前記リード線がそれぞれ、ほぼ
正方形の拡大パツド面積領域で終つていて、前
記第2の材料の前記パツド面積領域のうち選択
されたものが、前記第1の材料の前記パツド面
積領域のうち選択されたものの上にかぶさつ
て、前記熱電対接合点を形成していること を特徴とする前記第2項に記載の方法。
(4) 前記パツド面積領域のうち所定のものを選ん
で、前記熱電対の電気的に絶縁された区画の間
の電気的な接続と前記サーモパイル10の出力
接続を作りあげるとともに、前記パツド面積領
域からの漂遊輻射を反射することにより前記ウ
エーハーの温度を下げて、前記中間接合点を比
較的低い温度に維持するため、大きい分離した
面積の高反射性の導電材料を溶着する段階を補
足的に備えているものであることを特徴とする
前記第3項に記載の方法。
(5) 大きい分離した面積の高反射性の導電材料を
溶着する段階が、前記中間接合点と関連した比
較的小さい面積も溶着するものである前記第4
項に記載の方法。
(6) 絶縁材料の薄い皮膜から作られた基材と、ほ
ぼ矩形の中央開き穴を有する前記基材の支承フ
レームと、 前記支承フレームの中央開き穴を有する前記
基材の支承フレームと、 前記支承フレームの中央開き穴と対応した領
域内においてターゲツト領域にある前記基材に
溶着された複数の第1の熱電対接合点と、 前記支承フレームにより支承された面積領域
で前記基材の表面上に溶着された複数の第2の
熱電対接合点と、 直列回路の関係にて前記高温側接合点と前記
低温側接合点を交互に接続する複数の熱電対リ
ード線であつて、前記高温側接合点の前記リー
ド線が、前記絶縁皮膜の表面に対応した平面の
中に所在していて、ほぼ互に直角であるリード
線とから成り、 これにより、前記高温側接合点が前記ターゲ
ツト領域を通つて分散配置されていて、該ター
ゲツト領域に配置することができる高温側接合
点の数が、あらかじめ選択された熱電対リード
線の間隔とターゲツトの面積にあわせて最大限
に増加させることができるものである ことを特徴とする輻射に応答する温度測定装置
に使用される改良された高性能なソリツド・バ
ツク式サーモパイル。
(7) 熱電対リード線が、まつすぐな線に沿つて所
定の模様組織に配設されており、前記まつすぐ
な線がそれぞれ、二つの高温側接合点を備えて
いることを特徴とする前記第6項に記載の改良
されたソリツド・バツク式高性能サーモパイ
ル。
(8) 輻射レセプターにより限定されたターゲツト
領域と、 該ターゲツト領域より間隔がへだてられてい
て、該ターゲツト領域を取り囲んでいるフレー
ムと、 一つの平面に配置された複数の第1の熱電対
リード線と、 前記平面に配置された複数の第2の熱電対リ
ード線と、 前記ターゲツト領域内に形成されていて、前
記第1の熱電対リード線と前記第2の熱電対リ
ード線の第1の接合点により、前記ターゲツト
領域を通つて分散配置された複数の高温側熱電
対接合点と前記リード線とが、互にほぼ直角を
なして前記高温側接合点それぞれに接続されて
いるものであることと、 前記二つの異なつた熱電対リード線の他方の
接合点により形成された前記フレームにより限
定されている領域内に設けられた複数の低温側
熱電対接合点と、前記リード線線とが、互にほ
ぼ平行に前記低温側接合点に接続されているも
のであること より成る輻射パイロメーターとして使用される
改良された高性能サーモパイル。
(9) 前記熱電対リード線が、ほぼ互に直角をなす
直線の模様組織に並べられており、該模様組織
の中の前記直線がそれぞれ、前記高温側接合点
と、前記直線の異なつた線セグメントに沿う異
なつた熱電対リード線のうち二つを備えている
ことを特徴とする前記第8項に記載の装置。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に従がつて構成された部分的
に完成したサーモパイルの拡大平面図。第1A図
は、サーモパイルの平面図であつて、サーモパイ
ルが熱電対構造体(図示せず)の細かい部品とい
つしよにベースに取り付けられている状態を示
す。第2図は、第1図に示された線に沿つて切断
された完成したサーモパイルの横断面図。第3図
は、完全に包み囲まれたサーモパイルの実物大寸
法のものの斜視図。 10はサーモパイル、12は高温側接合点、1
4は低温側接合点、16はコンスタンタン導線、
18はニクロム導線、20,22,24,26は
面積領域、27は反射領域、28はコンスタンタ
ン・パツド接続領域、30はニクロム・パツド接
続領域、32はコンスタンタン・パツド接続領
域、34はニクロム・パツド接続領域、36はコ
ンスタンタン・パツド接続領域、38はニクロ
ム・パツド接続領域、40,42はリード線、4
4はベース、46はセメント、48,50はワイ
ヤ、52は支承フレーム、54は絶縁材料の薄い
皮膜、55は金の層、56は中央開き穴、58は
ほうけい酸ガラスの薄い皮膜、64はキヤツプ、
66は中央穴、68は接地リード線、70,72
は傾斜面。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 (1−0−0)の結晶方向を有するシリコ
    ン・ウエーハーの一方の表面にほうけい酸ガラス
    の薄い皮膜を溶着する段階と、 前記シリコン・ウエーハーと溶着されたガラス
    を焼鈍する段階と、 前記ウエーハーの中央部分に配置された一連の
    接合点と、前記中央部分より間隔がへだてられて
    いて、該中央部分の周囲まわりに分散配置された
    一連の中間接合点とを有する異なつた導電材料か
    ら作られた複数の直列に接続された熱電対を前記
    ガラスの上に溶着する段階とを特徴とする 前記シリコン・ウエーハーの(1−1−1)面
    により急角度に限定されたほぼ矩形の形状を有す
    る中央穴を作るため、向きにより左右されるエツ
    チング処理により前記中央部分にある前記ガラス
    より前記シリコンを選択的に除去する段階を含む ソリツド・バツク式の薄肉皮膜サーモパイルを製
    作する方法。 2 絶縁材料の薄い皮膜から作られた基材と ほぼ矩形の中央開き穴を有する前記基材の支承
    フレームと、 前記支承フレームの中央開き穴を有する前記基
    材の支承フレームと、 前記支承フレームの中央開き穴と対応した領域
    内においてターゲツト領域にある前記基材に溶着
    された複数の高温側熱電対接合点と、 前記支承フレームにより支承された面積領域で
    前記基材の表面上に溶着された複数の低温側熱電
    対接合点と、 直列回路の関係にて前記高温側接合点と前記低
    温側接合点を交互に接続する複数の熱電対リード
    線であつて、前記高温側接合点の前記リード線
    が、前記絶縁皮膜の表面に対応した平面の中に所
    在していて、ほぼ互に直角であるリード線とから
    成り、 これにより、前記高温側接合点が、前記ターゲ
    ツト領域を通つて分散配置されていて、該ターゲ
    ツト領域に配置することができる高温側接合点の
    数が、あらかじめ選択された熱電対リード線の間
    隔とターゲツトの面積にあわせて最大限に増加さ
    せることができるものである ことを特徴とする輻射に応答する温度測定装置に
    使用されるソリツド・パツク式サーモパイル。 3 輻射レセプターにより限定されたターゲツト
    領域と、 該ターゲツト領域より間隔がへだてられてい
    て、該ターゲツト領域を取り囲んでいいるフレー
    ムと、 一つの平面に配置された複数の第1の熱電対リ
    ード線と、 前記平面に配置された複数の第2の熱電対リー
    ド線と、 前記ターゲツト領域内に形成されていて前記第
    1の熱電対リード線と前記第2の熱電対リード線
    の第1の接合点により前記ターゲツト領域を通つ
    て分散配置された複数の高温側熱電対接合点と前
    記リード線とが、互にほぼ直角をなして前記高温
    側接合点それぞれに接続されているものであるこ
    とと、 前記二つの異なつた熱電対リード線の他方の接
    合点により形成された前記フレームにより限定さ
    れている領域内に設けられた複数の低温側熱電対
    接合点と、前記リード線とが、互にほぼ平行に前
    記低温側接合点に接続されているものであること より成る輻射パイロメーターとして使用されるサ
    ーモパイル。
JP6785678A 1977-06-29 1978-06-07 Method of and device for producing compact and high performance radiation thermopile Granted JPS5412578A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/811,373 US4111717A (en) 1977-06-29 1977-06-29 Small-size high-performance radiation thermopile

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5412578A JPS5412578A (en) 1979-01-30
JPS6140154B2 true JPS6140154B2 (ja) 1986-09-08

Family

ID=25206371

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6785678A Granted JPS5412578A (en) 1977-06-29 1978-06-07 Method of and device for producing compact and high performance radiation thermopile

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4111717A (ja)
JP (1) JPS5412578A (ja)
GB (2) GB1603364A (ja)
IT (1) IT1097131B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6339653A (ja) * 1986-08-02 1988-02-20 Akira Fujii シヤワ−ヘツド

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4301682A (en) * 1979-08-24 1981-11-24 Everest Charles E Infrared thermometer in making stress-degree measurements for irrigation purposes
JPS5672321A (en) * 1979-11-20 1981-06-16 Kensetsusho Kenchiku Kenkyu Shocho Radiation thermocouple and its manufacture
FR2471055A1 (fr) * 1979-12-03 1981-06-12 Anvar Dispositif sensible a un gradient de temperature et son application pour constituer un fluxmetre calorifique ou un capteur solaire
US4363927A (en) * 1980-02-15 1982-12-14 Wilson Kenneth T Thermoelectric generator panel and heater device therefor
US4363928A (en) * 1980-02-15 1982-12-14 Wilson Kenneth T Thermoelectric generator panel and cooling device therefor
US4276441A (en) * 1980-02-15 1981-06-30 Wilson International Incorporated Thermoelectric generator and method of forming same
JPS57113332A (en) * 1980-12-30 1982-07-14 Horiba Ltd Compensating thermopile detector
US4456390A (en) * 1981-10-26 1984-06-26 Wahl Instruments, Inc. Noncontact temperature measuring device
US4558342A (en) * 1983-05-31 1985-12-10 Rockwell International Corporation Thermoelectric infrared detector array
DD221604A1 (de) * 1983-12-06 1985-04-24 Adw Ddr Thermoelektrischer detektor
US4631350A (en) * 1983-12-30 1986-12-23 Damon Germanton Low cost thermocouple apparatus and methods for fabricating the same
US4795498A (en) * 1983-12-30 1989-01-03 Damon Germanton Low cost thermocouple apparatus and methods for fabricating the same
GB8515024D0 (en) * 1985-06-13 1985-07-17 Secr Defence Pyrgeometers
US4859250A (en) * 1985-10-04 1989-08-22 Buist Richard J Thermoelectric pillow and blanket
DE3707631A1 (de) * 1987-03-10 1988-09-22 Manfred Dipl Ing Klonz Vielfachthermoelement mit sehr kleinem temperaturkoeffizienten als monolithisch integrierter chip fuer praezise temperaturdifferenzmessungen bei strahlungssensoren und vielfachthermokonvertern
US5055140A (en) * 1987-10-05 1991-10-08 Murata Mfg. Co., Ltd. Thermoelectric element using semiconductive ceramic material
US4922822A (en) * 1988-12-12 1990-05-08 Bierschenk James L Thermoelectric cooler
CH678579A5 (ja) * 1989-04-24 1991-09-30 Mettler Toledo Ag
DE4102524C2 (de) * 1990-01-30 2000-05-25 Citizen Watch Co Ltd Infrarotsensor
GB9008908D0 (en) * 1990-04-20 1990-06-20 Emi Plc Thorn Thermal detection arrangement
US5087312A (en) * 1990-07-11 1992-02-11 Boehringer Mannheim Gmbh Thermopile having reduced thermal noise
US5059543A (en) * 1990-09-21 1991-10-22 The Board Of Regents Acting For And On Behalf Of The University Of Michigan Method of manufacturing thermopile infrared detector
US5100479A (en) * 1990-09-21 1992-03-31 The Board Of Regents Acting For And On Behalf Of The University Of Michigan Thermopile infrared detector with semiconductor supporting rim
US5393351A (en) * 1993-01-13 1995-02-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Multilayer film multijunction thermal converters
US5287081A (en) * 1993-01-13 1994-02-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Multilayer thin film multijunction integrated micropotentiometers
US5695283A (en) * 1994-07-01 1997-12-09 Wahl Instruments, Inc. Compensating infrared thermopile detector
CA2163682A1 (en) 1995-11-24 1997-05-25 Arun Kumar Chattopadhyay Microemulsion and oil soluble gassing system
US5965606A (en) * 1995-12-29 1999-10-12 Allergan Sales, Inc. Methods of treatment with compounds having RAR.sub.α receptor specific or selective activity
US5982014A (en) * 1997-05-30 1999-11-09 Thermalytics, Inc. Microfabricated silicon thermopile sensor
DE19843984B4 (de) * 1998-09-25 2013-10-24 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung von Strahlungssensoren
DE69811890T2 (de) * 1998-10-01 2003-11-06 Mettler Toledo Gmbh Einzellenkalorimeter
US6238085B1 (en) * 1998-12-31 2001-05-29 Honeywell International Inc. Differential thermal analysis sensor
DE60044383D1 (de) 1999-03-24 2010-06-24 Ishizuka Electronics Corp Thermosäulenartiger Infrarotsensor und Vorrichtung zu seiner Herstellung
JP2001349787A (ja) * 2000-06-06 2001-12-21 Seiko Epson Corp 赤外線検出素子および測温計
US6670538B2 (en) 2001-01-05 2003-12-30 Endevco Corporation Thermal radiation sensor
JP2002340668A (ja) * 2001-05-18 2002-11-27 Denso Corp サーモパイル式赤外線センサおよびその検査方法
JP4144204B2 (ja) * 2001-09-20 2008-09-03 日産自動車株式会社 光吸収膜およびその製造方法
US6987223B2 (en) * 2002-08-28 2006-01-17 Delphi Technologies, Inc. Heat sink for silicon thermopile
US8497757B2 (en) * 2006-04-26 2013-07-30 Kulite Semiconductor Products, Inc. Method and apparatus for preventing catastrophic contact failure in ultra high temperature piezoresistive sensors and transducers
US20070254796A1 (en) * 2006-04-26 2007-11-01 Kurtz Anthony D Method and apparatus for preventing catastrophic contact failure in ultra high temperature piezoresistive sensors and transducers
US20100258726A1 (en) * 2009-04-08 2010-10-14 Honeywell International Inc. Radiation power detector
US20110094556A1 (en) * 2009-10-25 2011-04-28 Digital Angel Corporation Planar thermoelectric generator
US20150296622A1 (en) * 2014-04-11 2015-10-15 Apple Inc. Flexible Printed Circuit With Semiconductor Strain Gauge
US20150296607A1 (en) * 2014-04-11 2015-10-15 Apple Inc. Electronic Device With Flexible Printed Circuit Strain Gauge Sensor
KR20170024456A (ko) * 2015-08-25 2017-03-07 삼성전기주식회사 적외선 검출기 및 이를 포함한 온도 센서
GB2551397B (en) 2016-06-17 2020-03-25 X Fab Semiconductor Foundries Gmbh Thermopile Test Structure And Methods Employing Same
CN111207828A (zh) * 2019-12-31 2020-05-29 中国科学院微电子研究所 一种热电堆及其制备方法、探测器
RU2752728C1 (ru) * 2021-01-18 2021-07-30 Федеральное государственное казенное учреждение "12 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации Устройство для измерения энергетических параметров светового излучения
RU2761119C1 (ru) * 2021-05-07 2021-12-06 Федеральное государственное казенное учреждение "12 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации Устройство для исследования энергетических и временных параметров светового излучения

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3424624A (en) * 1965-05-25 1969-01-28 Barnes Eng Co Thermopile radiation detector system
US3405271A (en) * 1966-05-02 1968-10-08 Santa Barbara Res Ct Detector having radiation collector supported on electrically insulating thermally conducting film

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6339653A (ja) * 1986-08-02 1988-02-20 Akira Fujii シヤワ−ヘツド

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5412578A (en) 1979-01-30
GB1603363A (en) 1981-11-25
IT1097131B (it) 1985-08-26
IT7825077A0 (it) 1978-06-28
GB1603364A (en) 1981-11-25
US4111717A (en) 1978-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6140154B2 (ja)
US5393351A (en) Multilayer film multijunction thermal converters
JP4814429B2 (ja) 集積回路製造ツール基板上で温度を検出する装置
US5589688A (en) Infrared radiation sensor
JP3315730B2 (ja) ピエゾ抵抗半導体センサ・ゲージ及びこれを作る方法
US3820401A (en) Piezoresistive bridge transducer
US4383174A (en) Pyroelectric detector and method for manufacturing the same
JPS6212454B2 (ja)
JPH0231121A (ja) 熱画像作成装置およびその製造方法
JP5406082B2 (ja) サーモパイル型赤外線センサおよびその製造方法
JPH02215583A (ja) 熱画像形成装置およびその製造方法
JP5406083B2 (ja) サーモパイル型赤外線センサおよびその製造方法
JPH05167105A (ja) 半導体熱電装置
JPS6186267A (ja) サ−マルヘツド及びその製造方法
JPH02165025A (ja) サーモパイル
JPH11258055A (ja) サーモパイル型温度センサ
GB2061616A (en) Pyroelectric detector
JPH1090076A (ja) 表面温度分布測定装置
JPS6140929B2 (ja)
JPH02206733A (ja) 赤外線センサ
JP3612067B2 (ja) センサ素子とその製造方法
CN210040257U (zh) 一种热电堆传感器芯片
JPH02236129A (ja) 熱画像作成装置
TW406446B (en) Thermopile infrared sensor and manufacture method thereof
JPH01138429A (ja) サ−モパイル