JPS6135481B2 - - Google Patents
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- JPS6135481B2 JPS6135481B2 JP55034328A JP3432880A JPS6135481B2 JP S6135481 B2 JPS6135481 B2 JP S6135481B2 JP 55034328 A JP55034328 A JP 55034328A JP 3432880 A JP3432880 A JP 3432880A JP S6135481 B2 JPS6135481 B2 JP S6135481B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- symbol
- ultrasonic probe
- sheet
- inspected
- Prior art date
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- Expired
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波探傷検査をおこなう際に超音波
探触子の位置を測定する方法およびこれに使用す
る位置側定用シートに関する。
探触子の位置を測定する方法およびこれに使用す
る位置側定用シートに関する。
一般に超音波探傷検査は被検査材料の表面に置
かれた超音波探触子から超音波を発信してその反
射波を検出し、この反射波をブラウン管上で観察
して欠陥を検出する方法が多くおこなわれてい
る。そして、従来はこの超音波探触子の位置を検
出するには被検査部材の表面を複数の番地に区画
し、各番地毎にその番地を特定する番地記号を附
し、超音波探触子と一体的に設けられた光学検出
器で上記の番地記号を読み取り、超音波探触子が
どの番地内にあるかを測定していた。しかし、こ
のようなものは超音波探触子がどの番地内にある
かをデジタル的に読み取るだけであり、測定精度
が低い不具合があつた。もちろん、番地を細分化
することにより測定精度を上げることはできる
が、この番地内には番地記号を附さねばならず、
番地の細分化に限界があり測定精度を向上するこ
とができなかつた。
かれた超音波探触子から超音波を発信してその反
射波を検出し、この反射波をブラウン管上で観察
して欠陥を検出する方法が多くおこなわれてい
る。そして、従来はこの超音波探触子の位置を検
出するには被検査部材の表面を複数の番地に区画
し、各番地毎にその番地を特定する番地記号を附
し、超音波探触子と一体的に設けられた光学検出
器で上記の番地記号を読み取り、超音波探触子が
どの番地内にあるかを測定していた。しかし、こ
のようなものは超音波探触子がどの番地内にある
かをデジタル的に読み取るだけであり、測定精度
が低い不具合があつた。もちろん、番地を細分化
することにより測定精度を上げることはできる
が、この番地内には番地記号を附さねばならず、
番地の細分化に限界があり測定精度を向上するこ
とができなかつた。
本発明は以上の事情にもとづいてなされたもの
で、その目的とするところは測定精度を向上する
ことができる超音波探触子の位置測定方法および
これに使用する位置側定用シートを得ることにあ
る。
で、その目的とするところは測定精度を向上する
ことができる超音波探触子の位置測定方法および
これに使用する位置側定用シートを得ることにあ
る。
以下本発明を実施例にしたがつて説明する。ま
〓〓〓
ずこの発明の方法に使用する装置等を説明する。
図中１は位置側定用シートであつて、被検査部材
２の表面上に載置または貼着され、この位置側定
用シート１を介して超音波探傷検査をおこなうよ
うに構成されている。この位置側定用シート１は
シート状体３と、このシート状体３に附された位
置側定用の記号とから構成されている。４…はそ
の番地記号であつて、これらの番地記号４…は太
線および細線の組合せからなり、シート状体３を
区画細分化する各番地５…毎にそれぞれ附されて
おり、これらの太線および細線の組合せで番地５
…のｘ座標およびｙ座標を２進法で表示し、その
番地５…を特定するように構成されている。ま
た、各番地５…内の番地記号４…の近傍には番地
内位置記号６…がそれぞれ附されている。これら
番地内位置記号６…はｙ方向に沿つてその幅が連
続的に変化するような台形状をなしている。そし
て、これら番地内位置記号６…はすべてが同形状
をなし、また同方向を向いて配列されている。な
お、上記番地５…は１辺10mmの正方形である。ま
た、７は探傷ヘツドである。そして、この探傷ヘ
ツド７は超音波探触子８とこれと一体的に設けら
れた光学検出器９とから構成されている。上記超
音波探触子８は超音波を発信し、その反射波を検
出して欠陥を検出するように構成されている。ま
た、上記光学検出器９は光源１０から上記位置側
定用シート１上に光を照射し、その反射光を反射
鏡１１，レンズ１２等を介して集光し、多数の受
光素子１３…が直線状に配列された受光部１４に
送るように構成されている。そして、この光学検
出器９につて位置側定用シート１上の長さ20mmの
線状の測定範囲（第５図にＡで示す）からの反射
光を測定し、この測定範囲Ａを横切る番地記号４
…の太線および細線の幅を判別し、またこの測定
範囲Ａを横切る番地内位置記号６…の幅l2，l3を
測定するように構成されている。また、この測定
範囲の一環から番地記号４…の最端の太線または
細線までの距離l1も測定されるように構成されて
いる。また、１５は位置解析装置であつて、上記
光学検出器９からの信号を解析して超音波探触子
８の位置を求めるように構成されている。
〓〓〓
ずこの発明の方法に使用する装置等を説明する。
図中１は位置側定用シートであつて、被検査部材
２の表面上に載置または貼着され、この位置側定
用シート１を介して超音波探傷検査をおこなうよ
うに構成されている。この位置側定用シート１は
シート状体３と、このシート状体３に附された位
置側定用の記号とから構成されている。４…はそ
の番地記号であつて、これらの番地記号４…は太
線および細線の組合せからなり、シート状体３を
区画細分化する各番地５…毎にそれぞれ附されて
おり、これらの太線および細線の組合せで番地５
…のｘ座標およびｙ座標を２進法で表示し、その
番地５…を特定するように構成されている。ま
た、各番地５…内の番地記号４…の近傍には番地
内位置記号６…がそれぞれ附されている。これら
番地内位置記号６…はｙ方向に沿つてその幅が連
続的に変化するような台形状をなしている。そし
て、これら番地内位置記号６…はすべてが同形状
をなし、また同方向を向いて配列されている。な
お、上記番地５…は１辺10mmの正方形である。ま
た、７は探傷ヘツドである。そして、この探傷ヘ
ツド７は超音波探触子８とこれと一体的に設けら
れた光学検出器９とから構成されている。上記超
音波探触子８は超音波を発信し、その反射波を検
出して欠陥を検出するように構成されている。ま
た、上記光学検出器９は光源１０から上記位置側
定用シート１上に光を照射し、その反射光を反射
鏡１１，レンズ１２等を介して集光し、多数の受
光素子１３…が直線状に配列された受光部１４に
送るように構成されている。そして、この光学検
出器９につて位置側定用シート１上の長さ20mmの
線状の測定範囲（第５図にＡで示す）からの反射
光を測定し、この測定範囲Ａを横切る番地記号４
…の太線および細線の幅を判別し、またこの測定
範囲Ａを横切る番地内位置記号６…の幅l2，l3を
測定するように構成されている。また、この測定
範囲の一環から番地記号４…の最端の太線または
細線までの距離l1も測定されるように構成されて
いる。また、１５は位置解析装置であつて、上記
光学検出器９からの信号を解析して超音波探触子
８の位置を求めるように構成されている。
次にこのような装置等を用いて被検査部材２の
超音波探傷をおこなう方法を説明する。まず被検
査部材２の表面に位置側定用シート１を載置固定
または貼着する。そして、この位置側定用シート
１の上から超音波探傷ヘツド７を接触させ、これ
を表面に沿つて移動させながら探傷をおこなう。
そして、この超音波探傷ヘツド７の光学検出器９
の測定範囲Ａを横切る番地記号４…の線幅を判別
することによつて、超音波探触子８がどの番地５
…にあるかを位置解析装置１５によつて検出す
る。また、この測定範囲Ａの一端から上記番地記
号４…の最端の線までの距離l1が測定される。そ
して、この番地５…内における番地記号４…の位
置はあらかじめ分つているものであるからこのl1
によつて超音波探触子８のその番地５…内におけ
るｘ方向の位置が判別される。また、番地内位置
記号６…は台形状をなしているので、上記測定範
囲Ａを横切る番地内位置記号６…の幅l2，l3を検
出することにより、逆にこの測定範囲Ａが番地内
位置記号６…のｙ方向のどの位置を横切つている
かが検出でき、したがつてこの番地５…内におけ
る超音波探触子８のｙ方向の位置が測定できる。
なお、実際にはこの測定範囲Ａと超音波探触子８
とはある距離だけ離れているものであるが、この
距離分の補正は位置解析装置１５で自動的に補正
されるように設定されていることはもちろんであ
る。なお、この測定範囲Ａと位置解析装置１５が
ある距離だけ離れているため、第５図に示す如く
測定範囲Ａが傾むいてる場合にはその分だけ誤差
が生じるが、測定範囲Ａが傾むいている場合には
l2とl3に差が生じるのでこの差から測定範囲Ａの
傾むきが検出され、その補正がなされる。したが
つて、番地記号４…から超音波探触子８がどの番
地５…内にあるかがデジタル的に検出でき、また
番地内位置記号６…によつて番地５…内における
超音波探触子８のｘ方向およびｙ方向の位置がア
ナログ的に検出でき、超音波探触子８の位置をき
わめて正確に測定できるものである。
超音波探傷をおこなう方法を説明する。まず被検
査部材２の表面に位置側定用シート１を載置固定
または貼着する。そして、この位置側定用シート
１の上から超音波探傷ヘツド７を接触させ、これ
を表面に沿つて移動させながら探傷をおこなう。
そして、この超音波探傷ヘツド７の光学検出器９
の測定範囲Ａを横切る番地記号４…の線幅を判別
することによつて、超音波探触子８がどの番地５
…にあるかを位置解析装置１５によつて検出す
る。また、この測定範囲Ａの一端から上記番地記
号４…の最端の線までの距離l1が測定される。そ
して、この番地５…内における番地記号４…の位
置はあらかじめ分つているものであるからこのl1
によつて超音波探触子８のその番地５…内におけ
るｘ方向の位置が判別される。また、番地内位置
記号６…は台形状をなしているので、上記測定範
囲Ａを横切る番地内位置記号６…の幅l2，l3を検
出することにより、逆にこの測定範囲Ａが番地内
位置記号６…のｙ方向のどの位置を横切つている
かが検出でき、したがつてこの番地５…内におけ
る超音波探触子８のｙ方向の位置が測定できる。
なお、実際にはこの測定範囲Ａと超音波探触子８
とはある距離だけ離れているものであるが、この
距離分の補正は位置解析装置１５で自動的に補正
されるように設定されていることはもちろんであ
る。なお、この測定範囲Ａと位置解析装置１５が
ある距離だけ離れているため、第５図に示す如く
測定範囲Ａが傾むいてる場合にはその分だけ誤差
が生じるが、測定範囲Ａが傾むいている場合には
l2とl3に差が生じるのでこの差から測定範囲Ａの
傾むきが検出され、その補正がなされる。したが
つて、番地記号４…から超音波探触子８がどの番
地５…内にあるかがデジタル的に検出でき、また
番地内位置記号６…によつて番地５…内における
超音波探触子８のｘ方向およびｙ方向の位置がア
ナログ的に検出でき、超音波探触子８の位置をき
わめて正確に測定できるものである。
なお、本発明は上記の実施例には限定されな
い。
い。
たとえば本発明の方法は必らずしも上記の如き
位置側定用シートを用いる必要はなく、被検査部
材の表面に直接番地記号、番地内位置記号を附し
てもよい。
位置側定用シートを用いる必要はなく、被検査部
材の表面に直接番地記号、番地内位置記号を附し
てもよい。
また、番地記号は必らずしも上記の如き構成で
なくてもよい。
なくてもよい。
また、番地内位置記号の形状は必らずしも台形
〓〓〓
状に限らず、要は幅が連続的に変化するような形
状のものであればどのようなものでもよい。
〓〓〓
状に限らず、要は幅が連続的に変化するような形
状のものであればどのようなものでもよい。
上述の如く本発明の方法は番地内にその番地を
特定する番地記号とこの近傍に幅が連続的に変化
する番地内位置記号をどの番地についても同様に
附し、光学検出器で上記番地記号を読み取るとと
もに番地内位置記号が光学検出器の測定範囲を横
切る幅を測定して超音波探触子の位置を求めるも
のである。したがつて超音波探触子がどの番地内
にあるかをデジタル的に測定し、さらに番地内位
置記号の幅からこの番地内における超音波探触子
の位置をアナログ的に測定でき、超音波探触子の
位置をきわめて高精度に測定することができる等
その効果は大である。
特定する番地記号とこの近傍に幅が連続的に変化
する番地内位置記号をどの番地についても同様に
附し、光学検出器で上記番地記号を読み取るとと
もに番地内位置記号が光学検出器の測定範囲を横
切る幅を測定して超音波探触子の位置を求めるも
のである。したがつて超音波探触子がどの番地内
にあるかをデジタル的に測定し、さらに番地内位
置記号の幅からこの番地内における超音波探触子
の位置をアナログ的に測定でき、超音波探触子の
位置をきわめて高精度に測定することができる等
その効果は大である。
図面は本発明の一実施例を示し、第１図は位置
側定用シートおよび超音波探傷ヘツドの斜視図、
第２図は超音波探傷ヘツドの概略図、第３図は記
号のパターン図、第４図は番地内の記号を拡大し
て示すパターン図、第５図は作用を説明するパタ
ーン図である。 １……位置側定用シート、２……被検査部材、
３……シート本体、４……番地記号、５……番
地、６……番地内位置記号、８……超音波探触
子、９……光学検出器、１５……解析装置。 〓〓〓
側定用シートおよび超音波探傷ヘツドの斜視図、
第２図は超音波探傷ヘツドの概略図、第３図は記
号のパターン図、第４図は番地内の記号を拡大し
て示すパターン図、第５図は作用を説明するパタ
ーン図である。 １……位置側定用シート、２……被検査部材、
３……シート本体、４……番地記号、５……番
地、６……番地内位置記号、８……超音波探触
子、９……光学検出器、１５……解析装置。 〓〓〓
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検査部材の表面を複数の番地に区画し、各
番地毎にその番地を特定する番地記号を附すると
ともにこれらの番地記号の近傍に幅が連続的に変
化する番地内位置記号をどの番地についても同様
に附し、超音波探触子と一体的に設けられた光学
検出器によつて上記番地記号を読み取り番地を検
出するとともに上記番地内位置記号の幅を読み取
り上記超音波探触子の番地内の位置を検出するこ
とを特徴とする超音波探触子の位置測定方法。 ２ 被検査部材の表面に載置または貼着される複
数の番地に区画されたシート状体と、このシート
状体の各番地毎に附されその番地を特定する番地
記号と、この番地記号の近傍にどの番地について
も同様に附されその幅が連続的に変化する番地内
位置記号とを具備したことを特徴とする位置側定
用シート。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3432880A JPS56130653A (en) | 1980-03-18 | 1980-03-18 | Measuring method for position of probe for ultrasonic wave and sheet for position measuring used in this method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3432880A JPS56130653A (en) | 1980-03-18 | 1980-03-18 | Measuring method for position of probe for ultrasonic wave and sheet for position measuring used in this method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56130653A JPS56130653A (en) | 1981-10-13 |
| JPS6135481B2 true JPS6135481B2 (ja) | 1986-08-13 |
Family
ID=12411080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3432880A Granted JPS56130653A (en) | 1980-03-18 | 1980-03-18 | Measuring method for position of probe for ultrasonic wave and sheet for position measuring used in this method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56130653A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5877603A (ja) * | 1981-11-02 | 1983-05-11 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 無軌道式クレ−ンの位置検出方法 |
| JPS58160802A (ja) * | 1982-03-19 | 1983-09-24 | Toshiba Corp | 移動機の停止位置検知装置 |
| JPS58162811A (ja) * | 1982-03-23 | 1983-09-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | トランスフア−クレ−ン走行位置検出方法 |
| JPH0615122B2 (ja) * | 1984-11-26 | 1994-03-02 | 松下電工株式会社 | 多層印刷配線板の孔穿設位置検出法 |
| JPS61225611A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-07 | Agency Of Ind Science & Technol | 光・超音波併用形測定用複合ヘツド |
| JPS6324110A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-02-01 | Mitsutoyo Corp | 光学式位置検出装置 |
| JPS6324109A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-02-01 | Mitsutoyo Corp | 光学式位置検出装置 |
-
1980
- 1980-03-18 JP JP3432880A patent/JPS56130653A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56130653A (en) | 1981-10-13 |
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