JPS61225611A - 光・超音波併用形測定用複合ヘツド - Google Patents
光・超音波併用形測定用複合ヘツドInfo
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- JPS61225611A JPS61225611A JP6742685A JP6742685A JPS61225611A JP S61225611 A JPS61225611 A JP S61225611A JP 6742685 A JP6742685 A JP 6742685A JP 6742685 A JP6742685 A JP 6742685A JP S61225611 A JPS61225611 A JP S61225611A
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- supersonic wave
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
- G01B17/06—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring contours or curvatures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野］
本発明は、光と超音波とを併用した物体観察に適用され
る測定用複合ヘッドに関するものである。
る測定用複合ヘッドに関するものである。
［従来の技術］
超音波を利用して物体の観察を行うものとして、例えば
、管内部や内臓内壁などに生じた傷や疾患を検査する超
音波探傷器や超音波層こう鏡等がある。
、管内部や内臓内壁などに生じた傷や疾患を検査する超
音波探傷器や超音波層こう鏡等がある。
これらは、狭い場所での物体の状態を超音波映像などに
よって的確に観察し、解析し得るという点で非常に有効
であるが、これに光による観察を併用すると、更にその
解析精度の向上を期待することができる。
よって的確に観察し、解析し得るという点で非常に有効
であるが、これに光による観察を併用すると、更にその
解析精度の向上を期待することができる。
この場合、超音波による測定用ヘッドと光による測定用
ヘッドとを一つの複合ヘッドとして構成するのが望まし
いが、単にそれらを並列的に組合わせただけでは、必然
的に複合ヘッド全体の径が大きくなり、管内や内臓など
のような狭い場所への挿入が困難となる。しかも、光軸
と超音波伝播軸とを観察部位で一致するようにクロスさ
せる必要があるため、測定距離が変る毎にそれらの軸合
わせを行わなければならないなど、操作上の問題もある
。
ヘッドとを一つの複合ヘッドとして構成するのが望まし
いが、単にそれらを並列的に組合わせただけでは、必然
的に複合ヘッド全体の径が大きくなり、管内や内臓など
のような狭い場所への挿入が困難となる。しかも、光軸
と超音波伝播軸とを観察部位で一致するようにクロスさ
せる必要があるため、測定距離が変る毎にそれらの軸合
わせを行わなければならないなど、操作上の問題もある
。
本発明の課題は、光と超音波との併用形の測定用複合ヘ
ッドを、小径でしかも光軸と超音波伝播軸との軸合わせ
を行う必要のないものとして構成することにある。
ッドを、小径でしかも光軸と超音波伝播軸との軸合わせ
を行う必要のないものとして構成することにある。
［問題点を解決するための手段］
上記課題を解決するため、本発明においては、超音波に
よる物体観察用の超音波変換器を、透光性を有する圧電
体の表面に透光性を有する電極を取付けることにより形
成し、この超音波変換器を、物体の光学的観察を行うた
めのヘッドの先端に、光軸と超音波伝播軸とを一致させ
て取付けたことを特徴とするものである。
よる物体観察用の超音波変換器を、透光性を有する圧電
体の表面に透光性を有する電極を取付けることにより形
成し、この超音波変換器を、物体の光学的観察を行うた
めのヘッドの先端に、光軸と超音波伝播軸とを一致させ
て取付けたことを特徴とするものである。
［作 用］
上記構成を有する複合ヘッドは、超音波の送受波の制御
や受波された超音波の映像による１分析処理等を行う超
音波制御・処理装置と、光の投受光の制御や受光された
光の映像による分析処理等を行う光制御・処理装置とに
同時に接続し、超音波と光とを併用して物体の観察を行
うものである。
や受波された超音波の映像による１分析処理等を行う超
音波制御・処理装置と、光の投受光の制御や受光された
光の映像による分析処理等を行う光制御・処理装置とに
同時に接続し、超音波と光とを併用して物体の観察を行
うものである。
而して、物体に対する超音波の送受波は、複合ヘッド成
端の超音波変換器によって行われ、光の投受光は、透光
性を有する上記超音波変換器を通して行われる。その場
合、光軸と超音波伝播軸とを一致させであるので、超音
波と光とによって同一視野を同時に観察することができ
、しかも、物体との間の測定距離が変化しても、光軸と
超音波伝播軸とを軸合わせする必要がない。
端の超音波変換器によって行われ、光の投受光は、透光
性を有する上記超音波変換器を通して行われる。その場
合、光軸と超音波伝播軸とを一致させであるので、超音
波と光とによって同一視野を同時に観察することができ
、しかも、物体との間の測定距離が変化しても、光軸と
超音波伝播軸とを軸合わせする必要がない。
［実施例］
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳述
する。
する。
第１図に示す複合ヘッドｌは、光フアイバースコープな
ど、物体３の光学的観察を行う場合のフレキシブルな光
学ヘッド２の先端に、超音波による物体観察に使用され
る超音波変換器４を取付けることによって構成したもの
である。
ど、物体３の光学的観察を行う場合のフレキシブルな光
学ヘッド２の先端に、超音波による物体観察に使用され
る超音波変換器４を取付けることによって構成したもの
である。
上記超音波変換器４は、ニオブ酸リチウムやＰＬＺ↑、
ＰＶＤＦなどからなる可視光や赤外線、紫外線等に対し
て透光性を有する圧電体５の表面に、同様に可視光や赤
外線、紫外線等に対して透光性を有する電極６．７を取
付けてなり、この超音波変換器４を、光軸と超音波伝播
軸とを一致させて上記光学へラド２に取付けている。
ＰＶＤＦなどからなる可視光や赤外線、紫外線等に対し
て透光性を有する圧電体５の表面に、同様に可視光や赤
外線、紫外線等に対して透光性を有する電極６．７を取
付けてなり、この超音波変換器４を、光軸と超音波伝播
軸とを一致させて上記光学へラド２に取付けている。
上記電極８．７は、それ自体を透明体として形成しても
よいが、不透明体として形成し、それをメツシュなどの
多孔状に形成することによって透光性を保持させること
もできる。
よいが、不透明体として形成し、それをメツシュなどの
多孔状に形成することによって透光性を保持させること
もできる。
上記構成を有する複合へラド１は、超音波の送受波の制
御や、受波された超音波の映像化による分析処理等を行
う超音波制御−処理装置１０と、光の投受光の制御や、
受光された光の映像化による分析処理等を行う光制御・
処理装置１１とに同時に接続し、超音波と光とを併用し
て物体の観察を行うものである。
御や、受波された超音波の映像化による分析処理等を行
う超音波制御−処理装置１０と、光の投受光の制御や、
受光された光の映像化による分析処理等を行う光制御・
処理装置１１とに同時に接続し、超音波と光とを併用し
て物体の観察を行うものである。
即ち、超音波変換器４から物体３に超音波を送波し、そ
の反射波を再び超音波変換器４で受波して超音波制御・
処理装置ｌＯでその解析を行い、同時に、複合へラド１
の先端から光を物体３に投射し、その反射光をこの複合
へラドｌで受光して光制御拳処理装置１１により解析す
る。この場合、物体に対する光の投受光は、透光性ある
超音波変換器４を通して行われることになる。
の反射波を再び超音波変換器４で受波して超音波制御・
処理装置ｌＯでその解析を行い、同時に、複合へラド１
の先端から光を物体３に投射し、その反射光をこの複合
へラドｌで受光して光制御拳処理装置１１により解析す
る。この場合、物体に対する光の投受光は、透光性ある
超音波変換器４を通して行われることになる。
上記観察において、光軸と超音波伝播軸とが一致してい
ることから、超音波と光とによって同一視野を同時に比
較観察することが可能であり、しかも、物体３との間の
測定距離に拘らず、両観察系の軸合わせを何等行うこと
なくその観察を行うことができる。
ることから、超音波と光とによって同一視野を同時に比
較観察することが可能であり、しかも、物体３との間の
測定距離に拘らず、両観察系の軸合わせを何等行うこと
なくその観察を行うことができる。
また、本発明の複合ヘッドｌは、上述したような超音波
と光とを互いに独立に送受する内視鏡的な観察だけでな
く、超音波変換器４からの超音波を物体３に当てた場合
の物体３の機械的振動による発熱を、超音波変換器４を
通して光学的に受光し、これによって物体の粘性を測定
する場合のように、超音波と光との間に関連をもたせた
測定や観察等にも適用することができる。
と光とを互いに独立に送受する内視鏡的な観察だけでな
く、超音波変換器４からの超音波を物体３に当てた場合
の物体３の機械的振動による発熱を、超音波変換器４を
通して光学的に受光し、これによって物体の粘性を測定
する場合のように、超音波と光との間に関連をもたせた
測定や観察等にも適用することができる。
さらに、上記光学へラド２としては、上述したような光
ファイバーに限らず、レンズ等を備えたその他の測定用
光学ヘッドを使用し得ることはいうまでもない。
ファイバーに限らず、レンズ等を備えたその他の測定用
光学ヘッドを使用し得ることはいうまでもない。
［発明の効果３
このように、本発明によれば、超音波変換器を透光性を
有するものに形成し、これを光学ヘッドの先端に光軸と
超音波伝播軸とを一致させて取付けたので、光・超音波
併用形の複合ヘッドを、直径の増加を招くことなく構成
することができ、しかも、光と超音波とによる同一視野
同時観察が可能になり、これによって、物体の解析精度
を向上させることができるばかりでなく、時間的に変動
する物体の光学的性質と音響的性質の相関の解析等を容
易に精度良く行うことができる。
有するものに形成し、これを光学ヘッドの先端に光軸と
超音波伝播軸とを一致させて取付けたので、光・超音波
併用形の複合ヘッドを、直径の増加を招くことなく構成
することができ、しかも、光と超音波とによる同一視野
同時観察が可能になり、これによって、物体の解析精度
を向上させることができるばかりでなく、時間的に変動
する物体の光学的性質と音響的性質の相関の解析等を容
易に精度良く行うことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す要部正面図である。
１ φ・複合ヘッド、 ２・―光学ヘッド、３・ψ物体
、 ４・番超音波変換器４５・ｅ圧電体、
８，７ ・・電極。
、 ４・番超音波変換器４５・ｅ圧電体、
８，７ ・・電極。
Claims (1)
- １、超音波による物体観察用の超音波変換器を、透光性
を有する圧電体の表面に透光性を有する電極を取付ける
ことにより形成し、この超音波変換器を、物体の光学的
観察を行うための光学ヘッドの先端に、光軸と超音波伝
播軸とを一致させて取付けたことを特徴とする光・超音
波併用形測定用複合ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6742685A JPS61225611A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 光・超音波併用形測定用複合ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6742685A JPS61225611A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 光・超音波併用形測定用複合ヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61225611A true JPS61225611A (ja) | 1986-10-07 |
| JPH0464402B2 JPH0464402B2 (ja) | 1992-10-14 |
Family
ID=13344573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6742685A Granted JPS61225611A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 光・超音波併用形測定用複合ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61225611A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0241109U (ja) * | 1988-09-12 | 1990-03-22 | ||
| EP2042828A1 (de) * | 2007-09-29 | 2009-04-01 | Leuze electronic GmbH + Co. KG | Sensoranordnung zur Erfassung von Objekten |
| EP2434255A1 (de) * | 2010-09-25 | 2012-03-28 | Leuze electronic GmbH + Co. KG | Sensoranordnung |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6429751B2 (ja) * | 2015-08-31 | 2018-11-28 | 三菱電機株式会社 | 障害物検知装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4910064A (ja) * | 1972-05-24 | 1974-01-29 | ||
| JPS56130653A (en) * | 1980-03-18 | 1981-10-13 | Toshiba Corp | Measuring method for position of probe for ultrasonic wave and sheet for position measuring used in this method |
| JPS58213205A (ja) * | 1983-05-16 | 1983-12-12 | Hitachi Ltd | 微小寸法測定装置 |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6742685A patent/JPS61225611A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4910064A (ja) * | 1972-05-24 | 1974-01-29 | ||
| JPS56130653A (en) * | 1980-03-18 | 1981-10-13 | Toshiba Corp | Measuring method for position of probe for ultrasonic wave and sheet for position measuring used in this method |
| JPS58213205A (ja) * | 1983-05-16 | 1983-12-12 | Hitachi Ltd | 微小寸法測定装置 |
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| EP2434255A1 (de) * | 2010-09-25 | 2012-03-28 | Leuze electronic GmbH + Co. KG | Sensoranordnung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0464402B2 (ja) | 1992-10-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |