JPS6129439A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

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JPS6129439A
JPS6129439A JP15059584A JP15059584A JPS6129439A JP S6129439 A JPS6129439 A JP S6129439A JP 15059584 A JP15059584 A JP 15059584A JP 15059584 A JP15059584 A JP 15059584A JP S6129439 A JPS6129439 A JP S6129439A
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    • G11B11/10582Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 C産業上の利用分野) 本発明は、レーザー光を用いて情報の記録再生消去をお
こなう光磁気記録媒体に関する。
であるということから、現在の磁気ディスクメモリに代
わる新規なメモリとして考えられている。
中でも光磁気記録媒体を用いた光磁気ディスクは省き替
え性を有していることから最も注目され、近年活発に研
究開発がおこなわれている。
従来よシ知られている光磁気記録媒体の構成は、第1図
に示したように支持基板1としてガラスあるいは有機物
樹脂を用い、支持基板1上に基板に対して垂直方向に磁
化を有する垂直磁化膜から成る光磁気記録層2を形成し
たものである。光磁気記録層としてはMnB1 p M
nCuB1 t MnTiBijMnAIGe +Pt
Coなどの結晶体磁性薄膜、あるいはGdjTbjDy
jHoなどの希土類とFe s Co jNi などの
遷移金属との合金として得られるアモルファス磁性薄膜
が知られている。また、第2図に示したように、支持基
板1に深さ600〜1000X周期1.6〜2.5 A
 mの溝を同心円状もしくはうず巻き状に形成し、前記
支持基板1上に光磁気記録層2を形成した媒体構成も知
られている。ここで形成されている溝は、記録媒体への
情報の記録、あるいは再生・消去に用いるレーザー集光
ビームのトラッキングアクセスに用いられるものである
。また、第3図に示したように、第2図と同様の支持基
板1上に光磁気記録層のカー回転角増幅用に誘電体など
の干渉層3を設け、前記干渉層3の上に光磁気記録層2
を形成した媒体構成も知られている。
従来よシ知られている支持基板上への溝形成方法は、−
有機物樹脂(たとえば、ポリメチルメタクリレ−トナポ
リカーボネート、エポキシ)においては、金−金型を用
いたスタンパ成形法・インジェクション成型法が用いら
れる。また、ガラス基板を用いる場合には、第4図のよ
うに、ガラス基板4上に設けたフォトレジストなどの有
機物層5により溝を形成する方法が用いられる。
しかしながら溝が形成された有機物樹脂を基板として用
いた場合、基板の熱変形温度がポリメチルメタクリレー
トでは約80℃、ポリカーボネートでは約140℃と低
いために、光磁気記録層として、多元の希土類遷移金属
合金アモルファス薄膜を形成するときに用いるRFスパ
ッタ成膜法は使用できないという欠点がある。すなわち
、RFスパッタでは基板温度が200℃近くまで上昇す
るために成膜中に基板が変形してしまうのである。
また、他の成膜法によって光磁気記録層を形成したとし
ても有機物樹脂基板は吸水性を通気性に富むために、水
分や大気に弱い光磁気記録層に対しては保護層になシ得
ず、他に保護層が必要であるという欠点を持っている。
また、ガラス基板上に形成した有機物層による溝におい
ては、有機物樹脂の溝間様、光磁気記録層形成時の温度
上昇により変形すること、有機物層からの溶剤残留ガス
が光磁気記録層の特性劣化を早めるという欠点を有して
いる。
(発明の目的) 本発明の目的は、このような従来の欠点を除去せしめて
、光磁気記録層作成時の基板温度上昇に対して強く、ま
た光磁気記録層の経時変化を抑え、レーザー光集光ビー
ムのトラックアクセス用の溝を有しさらには光磁気記録
層のカー回転角増幅機能を持つ新規な光磁気記録媒体を
提供することにある。
(発明の構成) 本発明によれば、レーザー光を用いて情報の記録再生消
去をおこなう光磁気記録媒体において透明基板上に高屈
折率材料による干渉層を設け、前記干渉層に同心円もし
くはうず巻き状の溝を形成し、さらに前記干渉層上に光
磁気記録層を設け、さらに前記光磁気記録層上に保護層
を設けたことを特徴とする光磁気記録媒体が得られる。
(構成の詳細な説明) 本発明は上述の構成をとることによシ、従来技術の問題
点を解決した。まず、透明基板としてはガラスが望しく
、また耐熱性のある高屈折率材料による干渉層に溝を形
成していることによシ、光磁気記録層作成時の基板温度
上昇に対して強い。
また、干渉層として用いる材料は基板よシも屈折率が大
きく、干渉層上に設けた光磁気記録層のカー回転角を増
幅する機能を有する。第5図は本発明に係る光磁気記録
媒体の形成手順を示したものである。まず、第5図(a
)のように光学研摩されたガラス基板6上に干渉層7を
真空蒸着法あるいはスパッタリング法により形成する。
干渉層7としては、ガラス基板よシも屈折率の大きい8
i0 pCe02 jZrO,r TiO2jBi20
31wo、 p 8nO,jsb2o3jAl z03
 y MgOp Tha2p La20g、 In2(
、、、Nd、03すどの酸化物、AIN j8i、N4
などの窒化物、ZnS  +sb、s、l cds i
どの硫化物、ThF4 t MgF2 r LaF3 
jNdF3 s CeF3 jpbp2などのフッ化物
、8izGeなどの半導体が使用される。次に、第5図
(b)のように、干渉層7上にフォトレジスト8をスピ
ン塗布する。つづいて、第5図(c)のように、レーザ
ー光9による直接露光あるいはフォトマスクを用いたー
活露光をおこない、現像処理後、第5図(d)のような
フォトレジストパターンを形成する。次に、Arイオン
ミリング法あるいは反応性エツチング法によって干渉層
7に第5図(e)のような溝を形成し、つづいて0.ガ
ス灰化処理によシフオドレジスト8を除去する(第5図
(f))。このあと、連続の真空蒸着あるいは、スパッ
タリングによシ光磁気記録層10、保護層11を形成す
る。(第5図(g))光磁気記録層10としては既知の
MnB1 y MnCuB1 pMnTiBi p M
nAlGe jPtCoなどの結晶性磁性薄膜、あるい
はGdνTb j GYツHOなどの希土類とFeνC
apNiなどの遷移金属との合金として得られるアモル
ファス磁性薄膜が用いられ、10〜200nmの膜厚に
形成される。保護層11は光磁気記録層10の保護のた
めに積層されるものであり、たとえば5i02 jSi
Ot Al2O2jZr02 s TiO2p MgF
2あるいは8iなどが使用できる。
干渉層7に形成される溝の形状は、レジスト露光、現像
条件やArイオンミリング法あるいは反応性エツチング
法の条件設定により任意に決定できを満たすように選ば
れる。ここでλはレーザー光の波長である。まだ、溝幅
は0.8〜1.5μm1溝ピツチは1.6〜2.5μm
に選ばれる。
また、記録領域における干渉層の膜厚は光磁気記録層の
カー回転角を増幅できるように最適化される。
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。第6図は本発明の適用された光磁気記録媒体の断面図
である。第6図において6はガラス基板、7はSiから
成る干渉層、10はTbFeかも成る光磁気記録層、1
1はSiから成る保護層である。第6図に示した光磁気
記録媒体は次の手順によって形成された。まず、厚さ1
,2rrIm1直径120”mの光学研磨されたガラス
基板ディスク上に高周波スパッタ法により8iを750
X形成した。
次にフォトレジストをSi形成後のディスク全面に15
00 Xの厚さでスピン塗布しプリベーク後、Arレー
ザーカッティングシステムを用いてうず巻状の溝パター
ンを直接露光した。このときの溝幅は1.6μm1溝の
ピッチは25μmとした。つづいてレジスト現像液を用
いて現像後、ポストベークをおこなった。
次にArイオンエツチング法を用いてレジストをマスク
としてSiを350Xエツチングした。
つづいて、ディスクを02ガスプラズマアッシャ−に入
れ、レジストの剥離をおこなったのち、再びディスクを
高周波スパッタ装置に入れ、5X10−7Torr以下
に排気したあと、複合ターゲットを用いた高周波スパッ
タ法によ′#)TbFe膜をSi上に1500に形成し
、真空を破らずにつづけて高周波スパッタ法によ、!1
)Si膜を2000X形成した。
作成した光磁気記録媒体の記録再生特性は、光磁気記録
再生装置によって測定された。Si上に形成された溝か
らは良好なトラッキング信号が得られ、また、84層が
干渉層であることから、光磁気記録層のカー回転角は3
〜4倍に増幅され良好な記録再生特性が得られた。
本発明の適用された他の実施例として第6図の干渉層7
と保護層11としてAINを用いた光磁気記録媒体を作
成した。まず、厚さ1.2111+、直径120器の光
学研磨されたガラス基板ディスク上に高周波スパッタ法
によってAINを1270X形成した。次に前記レジス
トパターン形成方法と同一手法によシ、レジストパター
ンを作成した。つづいて反応性プラズマエツチング法を
用いてレジストパターンをマスクとしてAINを470
 Xエツチングした。エツチングガスとしてCCl4 
+ Nx混合ガスを使用した。
つづいて02ガスプラズマアノシヤーを用いてレジスト
を剥離したのち、再びディスクを高周波スパッタ装置に
入れ、5 X 10−7Torr  以下に排気し、ま
ず、AIN膜上に複合ターゲットを用いてTbFe膜を
1500 X形成し、つづけてAIN膜を2000X形
成した。
以上の手順によって作成した光磁気記録媒体は前記実施
例と同様良好なトラッキング特性、記録再生特性を示し
た。
(発明の効果) 以上、説明したように本発明によれば従来例と比較して
次のような効果がある。
■ また耐熱性のある高屈折率材料からなる干渉層に溝
を形成しているので、光磁気記録層成膜時の温度上昇に
対して強く、光磁気記録層成膜方法の自由度が増す。
■ 基板上に形成した高屈折材料は屈折率が基板材料に
比べて高いことから、基板側からレーザー光を入射する
方式において有効な干渉層になる。レーザ光アクセス領
域のこの干渉層の膜厚を最適化することによシ、干渉層
のない場合に比べて3〜4倍のカー回転角増幅効果が得
られ、信号再生S/Nが向上する。また記録感度も向上
する。
■ 基板、干渉層ともに気密性があシ、水分も通さない
ことから基板側から光磁気記録層が劣化することがない
このように本発明に係る光磁気記録媒体は成膜時の自由
度、記録再生特性に優れ、さらには耐候性に優れている
【図面の簡単な説明】
第1図り第2図を第3図は、従来の光磁気記録媒体の断
面図、第4図は従来の光磁気記録媒体の溝形成時の断面
図、第5図は、本発明の係る光磁気記録媒体の形成手順
を示しだ断面図、第6図は本発明の一実施例の断面図で
ある。 図中1s4j6・・・基板、2710・・・光磁気記録
層、3・・・干渉層、5・・・有機物層、7・・・干渉
層、8・・・フォトレジスト、9・・・レーザー光、1
1・・・保護層 である。 オ 1 図 オ 2 図 オ 3 図 71−4  図 オ 5 図 (C)               (d)(e) 
            (f)7I−6図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザー光を用いて情報の記録再生消去をおこな
    う光磁気記録媒体において平坦な透明基板上に高屈折率
    材料からなる干渉層が設けられ、この干渉層に同心円も
    しくはうず巻き状の溝が形成され、さらに、この干渉層
    上に光磁気記録層、保護層がこの順に設けられているこ
    とを特徴とする光磁気記録媒体。
  2. (2)透明基板はガラスであり、高屈折率材料は前記ガ
    ラス基板材料より屈折率の大きい材料である特許請求の
    範囲第1項記載の光磁気記録媒体。
JP59150595A 1984-07-20 1984-07-20 光磁気記録媒体 Expired - Fee Related JPH0664763B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61162844A (ja) * 1985-01-14 1986-07-23 Ricoh Co Ltd 光磁気記録媒体の製造方法
JPH01287848A (ja) * 1988-05-16 1989-11-20 Mitsubishi Kasei Corp 光磁気記録媒体

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60175228A (ja) * 1984-02-20 1985-09-09 Seiko Instr & Electronics Ltd 光磁気デイスク用基板

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