JPS6128921B2

JPS6128921B2 -

Info

Publication number: JPS6128921B2
Application number: JP55109350A
Authority: JP
Inventors: Shuteruki Arumin; Rooberuto Zomumaa Geruto
Original assignee: MAAKU TSUAANREEDAA UNTO MASHIINEN AG
Current assignee: MAAKU TSUAANREEDAA UNTO MASHIINEN AG
Priority date: 1979-08-13
Filing date: 1980-08-11
Publication date: 1986-07-03
Also published as: GB2057133B; IT8023507A0; SU1025340A3; DE2952497A1; IT1131705B; US4285133A; GB2057133A; DE2952497C2; EP0026274B1; DE3068023D1; JPS5630605A; EP0026274A1

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、歯切盤のベツドまたは同等物上に載
置可能なハウジングを有し、該ハウジングには関
連の駆動装置および行程測定装置を備えた２つの
交差配設されているキヤリツジにより被検体の軸
線と交差する２つの座標軸に沿つて測定センサが
移動可能に配設されており、さらに被検体の歯面
に沿つて上記測定センサを案内し、該測定センサ
の実際位置を予め定められた目標位置と比較する
ための制御評価回路を備えている歯面検査装置に
よる検査方法及び装置に関する。

ここで本発明と関連して術語「歯切盤」とは、
例えば歯車またはセクタ歯車状の工作物の加工に
適した任意の工作機械、例えば歯車形削り盤また
は歯車研削盤のような工作機械であつて、典型的
には工作物がそれ自身の軸を中心に工作機械のベ
ツド、スタンド等に対してゆつくりと回転するこ
とができるような工作機械であると理解された
い。

歯切盤のベツド等の上に歯面検査装置のハウジ
ングを載置可能にすべきであると言う理由は、次
のような事情による。即ち、歯面検査装置の全て
の構成要素を無条件的に歯切盤に取付けるべきで
はなく、制御評価回路は分離して歯切盤から任意
適当な間隔で離間して収容できるようにするのが
望ましいこと、ならびにハウジングを必ずしも常
時同一の歯切盤に設置しなければならないという
ことはなく、多数の歯切盤のうちの１つに選択的
にかつ互換的に設置できるようにして、被検体を
関連の歯切盤に締着して該被検体の歯の測定を行
ない、測定後に被検体を新たに心出しする必要な
く、続けて加工できるようにしたいと言う事情に
よる。

また、測定センサを、被検体の軸線と交差する
２つの座標軸に沿つて２つの交差配列されたキヤ
リツジ（往復台）により移動可能にすべきである
と言う要件を満たすことによつて、測定センサを
第３の座標軸に沿つて第３のキヤリツジにより、
したがつて、全体的には好ましくは直角の空間座
標系内で移動可能にすると言う構成が排斥される
ようなことがあつてはならない。しかしながら、
このような追加の運動は一般に歯面検査装置が歯
面輪郭もしくは歯面プロフイルの検査だけではな
く、歯の傾斜の検査にも用いたい場合にのみ必要
とされるものである。

ここで測定センサの「実際位置」とは速定中に
測定センサがとる実際の位置を意味し、そして、
これに対し目標位置とは測定された歯面に誤りも
しくは誤差がない場合に、測定センサがとるであ
ろうところの位置を表わす。

各検査は２つの過程、即ち実際状態の検出と該
実際状態と目標状態との比較と言う２つの過程を
含む。したがつて、歯面検査装置は、例えば実際
の輪郭を決定するばかりではなく、この実際の輪
郭と目標輪郭とを比較できねばならない。このよ
うな理由から歯面の検査には、寸法が全く未知で
ある工作物の輪郭を２つまたは３つ以上の次元で
測定するように適応されている従来の方法および
装置（例えばDE―OS2654839）は歯面の検査に
とつて満足なものではない。したがつて、本発明
は冒頭に述べた型の歯面検査装置、即ち測定セン
サを被検体の歯面に沿つて案内し、かつ測定セン
サの実際位置を予め定められた目標位置と比較す
るための制御評価回路を備えた装置から出発す
る。歯面プロフイルの検査に適しているばかりで
はなく、歯の傾斜角の検査にも適しており、した
がつてこの目的で空間座標系の３つの軸に沿つて
移動可能である測定センサを有しているこの種の
周知の歯面検査装置（DE―OS2364916参照）に
おいては、制御評価回路は次のように構成されて
いる。即ち、被検体が静止状態ある場合に測定セ
ンサを予め定められた被検体の目標輪郭もしくは
目標傾斜に対応する路上で移動し、その際に現わ
れる測定センサの振れを誤差として記録するよう
に構成されている。このような測定センサ制御方
式には測定センサの全運動軌跡データを前以つて
コーデイネイトして記憶しておくばかりではな
く、このような軌跡データを第１番目の測定結果
に基づいて、被検体に対する歯面検査装置のハウ
ジングのそれ以前に固定されていない空間的配置
に対応するように処理することが必要とされる。
従がつて、これに要する計算機容量およびプログ
ラミングの費用は非常に大きくなる。

また、被検体が適当な駆動装置によりその軸線
を中心に回転され、そして測定センサは予め定め
られた軌跡に沿つて移動されず、サーボモータに
より該センサで走査される歯面に沿つて案内さ
れ、その場合被検体の回転が運動過程全体の指導
量となる歯面検査装置も既に提案されている（米
国特許第3741659号明細書）。この場合、歯面の検
査に必要とされる目標データに対する現在データ
の相関には、被検体の軸線と測定センサを担持す
る交差配設されたキヤリツジのための案内との間
に予め定められた空間的相関々係が存在すると共
に、他方また被検体の回転駆動部に測定装置を相
関し、該測定装置はいかなる時点においても被検
体の回転角度位置をできるだけ正確に表示可能で
あることが前提要件となつている。従来の歯切盤
においては、このような測定装置は存在せず、し
かも被検体の回転軸線と過渡的に歯切盤上に載置
可能な歯面検査装置のハウジングとの間に予め定
められた相関も設定されていない。

よつて、本発明の課題は、冒頭に述べた型の歯
面検査装置を従来の装置と比較して計算機容量お
よび計算機プロラミングに要する費用を少なくし
て実現することができ、しかも歯面検査装置の試
験または試験シーケンスのためにのみ歯切盤上に
載置されるハウジングを歯切盤上に締着されてい
る被検体に対し空間的に相関位置設定すると共に
この位置設定を検査過程に連続的に適合するよう
に構成することにある。

本発明の課題は、上記ハウジングで、上記測定
センサから離間して上記被検体の２つの互いに隣
接する歯面に圧接可能な接触ピンを上記２つの座
標軸（Ｘ，Ｙ）に対し平行に、２つの追加の交差
配設されたキヤリツジによつて自由に移動可能な
ように案内し、そして上記キヤリツジの各々にも
上記制御評価回路に接続された行程測定装置を組
合わせて設けることにより解決する。

上述のように配置された接触ピンと測定センサ
との位置関係は歯面検査装置自体によつて何時で
も補捉決定され得る。この接触ピンによつて次の
２つのことが可能になる。

まず、１つの測定または測定シーケンスを開始
する前に位置整定過程を実施する、つまり、歯面
検査装置のハウジングと被検体の軸線との間の所
定の位置関係を捕捉決定することができる。もう
１つは、歯面検査を行つている間に、歯面検査装
置に対する被検体の回転角度を連続的に検出でき
る。従つて、歯面検査装置のハウジングに対して
被検体を相対運動させる駆動部に専用の測定装置
を設ける必要はないし、また駆動部の遊びを特別
に小さくし、かつ動作を一様にする必要もない。
つまり、駆動部の動作が不正確であつても、本発
明の接触ピンは常に正確に被検体の実際の回転角
度位置を検出できる。

本発明の歯面検査装置では、上述の位置整定過
程を行う前にセンタリング（心出し）過程を実行
すれば、計算機の容量およびプログラミングに要
する費用を低く抑えることがでる。センタリング
（心出し）過程とは、交差する２つの座標軸から
成る平面を被検体の軸線に対して直角に延在させ
ること、軸線が鉛直方向を向いている場合は座標
面を水平に位置させることである。

本発明の実施例によれば、このセンタリング過
程は次のようにして極めて簡単に実行される。ま
ず、２つ平らな基準面を相互に垂直でかつ接触ピ
ンの運動平面にも垂直になるように、歯面検査装
置のハウジングに配置する。また、ハウジングの
傾斜を測定するために、それぞれの基準面と同一
平面に位置するように、２つの傾斜測定装置をハ
ウジングに配置する。そして、それぞれの傾斜測
定装置を平衡回路を介して別の傾斜測定装置と接
触し、この別の傾斜測定装置を前述の基準面また
は被検体に選択的に固定する。そしてさらに、調
節可能な２つの足部をハウジングに設け、これら
の足部ともう１つの足部とで３角形の頂点を形成
するのである。

本発明による装置を用いて歯面または歯面列の
検査は次のように行なうのが好ましい。

接触ピンの運動面が被検体の軸線に対し直角に
延在しかつ該接触ピンが被検体の２つの互いに隣
接する歯面に当接するようにハウジングを被検体
に対して設定し、被検体をその軸線を中心に回転
し、それによつて惹起される接触ピンの２つの座
標軸線に対し平行な運動を測定し、その測定結果
から被検体の軸線からの接触ピンの間隔ならびに
該軸線の位置を求め、次いで被検体を、さらに続
けてまたは新たに、その軸線を中心に回転し、そ
の間上記接触ピンから間隔を置いて歯面輪郭（プ
ロフイルまたは傾斜）を測定するための測定セン
サを歯面に沿つて移動し、同時に上記被検体の回
転により惹起される上記２つの座標軸線に対し平
行な運動を再び測定し、それから得られる上記被
検体の回転角を基礎に歯面の目標輪郭を決定し、
該目標輪郭と上記測定センサで検出される実際の
輪郭とを比較する。

次に本発明による歯面検査装置ならびにこの装
置を用いて歯形および歯の傾き測定に関する実施
例について添付図面を参照し説明する。

第１図は、被検体１２を検査する歯面検査装置
１０を示している。なお、被検体１２は、歯切盤
１４で現在歯切りされている平歯車として示され
ている。被検体１２の端面で２つの互いに直角に
交わる軸線を以後Ｘ軸線およびＹ軸線と称する。
またこれら両軸線に対し直角、即ち垂直に延びる
被検体１２の回転軸線をＺ軸線と称することにす
る。

第１図には通常の構造の歯車研削盤である歯切
盤１４のうち、歯面検査装置１０と関連して興味
のある部分だけ、即ち位置固定のベツド１６と、
該ベツド１６上にＺ軸線を中心に回転自在に支承
されている円形テーブルと、該円形テーブル１８
をウオム伝動装置１２を介して歯面検査に適した
速度で駆動するモータ２０だけが示されている。
歯面検査装置１０はハウジング２４を有し、この
ハウジング２４は被検体１２の検査期間中または
一連の被検体の検査中、ベツド１６上に載置され
る。被検体１２は歯切盤１４の円形テーブル１８
上に心出しして、締着されている。

略示した歯切盤１４には位置固定のスタンド
（図示せず）が設けられており、該スタンド上で
は被検体１２の歯の長さ方向に加工工具を往復動
させるために、例えばといし車のような１つまた
は複数個の加工工具を備えた往復台が上下方向に
案内されるように取り付けられている。しかしな
がら、歯切盤上の被検体１２を検査する場合に、
歯列を形成するのに必要とされるＺ軸線を中心と
しての回転が、被検体によつてではなく、回転自
在に支承されたスタンド側から行なわれる場合で
も、以下に述べる歯面検査装置１０の構造形態な
らびに動作態様は変更を要しない。回転がスタン
ドによつて行なわれる場合には、歯面検査装置１
０のハウジング２４をスタンドに載置して、それ
により（原理的には第１図に示した配列と同様あ
るが）被検体１２とハウジング２４との間にＺ軸
線を中心とする相対回転を可能にするようにす
る。

ハウジング１４は第２図示すように、２つの高
さが調節可能な足部２６ａおよび２６ｂを有して
おり、これら足部は直角三角形の各隅に互いに間
隔をおいてつ固定の足部２８から間隔をおいて設
けられており、そしてこの場合固定の足部２８は
直角三角形の直角の隅に設けられている。ハウジ
ング２４はその上部領域に２つの偏平な基準面３
０ａおよび３０ｂを有しており、これら基準面は
互いに直角に交差している。ハウジング２４内に
は２つの位置固定の傾斜もしくは傾き測定装置３
２ａおよび３２ｂが組み込まれており、そのうち
第１の傾き測定装置３２ａは垂線からの第１の基
準面３０ａの偏差を測定し、他方第１の傾き測定
装置３２ｂは垂線からの第２の基準面３０ｂの偏
差を測定するように適応されている。

２つの位置固定の傾き測定装置３２ａおよび３
２ｂは第３ａ図および第３ｂ図に示すように、各
導体３４ａおよび３４ｂを介してハウジング２４
の外側に移動可能に設けられている傾き測定装置
３６ａおよび３６ｂにそれぞれ接続されている。

ハウジング２４には３つの座標軸Ｘ，Ｙおよび
Ｚに沿つて位置調節可能なように測定センサ３８
が案内されるようになつている。Ｘ軸線に沿つて
の位置調節はＸ方向サーボ駆動部４２ｘによりＸ
方向案内４４ｘに沿つて変位可能であるＸ方向キ
ヤリツジ（往復台）４０ｘ測定センサ３８を配設
することにより可能である。Ｘ方向案内４４ｘに
はＸ方向目盛４６ｘが設けられており、このＸ方
向目盛と、Ｘ方向キヤリツジ４０ｘ取り付けられ
ているＸ方向読取りヘツド４８ｘとの共働作用に
よりあらゆる時点でＸ方向案内４４ｘに対するこ
のキヤリツジの位置を読み取ることができる。

Ｘ方向案内４４ｘは、Ｙ方向キヤリツジ（往復
台）４０ｙに形成されており、そしてこのＹ方向
キヤリツジはＹ方向サーボ駆動部４２ｙによりＹ
方向案内４４ｙに沿つて変位可能である。内４４
ｘおよび４４ｙは互いに直角に延びておつて、ハ
ウジング２４の通常位置において水平となる平面
を画定する。Ｙ方向案内４４ｙにはＹ方向目盛４
６ｙが設けられておつて、この目盛とＹ方向読取
りヘツド（図示せず）との共働作用により、Ｚ方
向キヤリツジ４０ｚに対するＹ方向キヤリツジ４
０ｙの位置を読み取ることができる。

Ｚ方向キヤリツジ４０ｚはＺ方向サーボ駆動部
４２ｚによりＺ方向案内４４ｚに沿つて変位可能
である。該Ｚ方向案内４４ｚは、Ｘ―Ｙ平面に対
して直角に延びており、Ｚ方向目盛４６ｚを有す
るハウジング２４に直接形成されている。該Ｚ方
向目盛４６ｚはＺ方向キヤリツジ４０ｚに取り付
けられているＺ方向読取りヘツド４８ｚと共働す
る。

ハウジング２４には、さらに、Ｘ方向案内４４
ｘに対し平行に延びＵ方向キヤリツジ５２ｕを案
内するＵ方向案内５０ｕが形成されている。Ｕ方
向キヤリツジの位置は該キヤリツジに取り付けら
れてるＵ方向読取りヘツド５６ｕによりＵ方向目
盛５４ｕから読み取ることができる。

Ｕ方向キヤリツジ５２ｕにはＹ方向案内４４ｙ
に対して平行なＶ方向案内５０ｖが形成されてお
り、この案内でＶ方向キヤリツジ５２ｖが変位可
能に案内される。Ｖ方向キヤリツジ５２ｖの位置
は該キヤリツジに形成されたＶ方向目盛５４ｖか
らＵ方向キヤリツジ５２ｕに取り付けられたＶ方
向読取りヘツド５６ｖによつて読み取ることがで
きる。Ｖ方向キヤリツジ５２ｖは第２図に−Ｖで
示されている方向に、バネ５８によりＵ方向キヤ
リツジ５２ｕに対しバイアス（偏倚）されてる。
Ｖ方向キヤリツジ５２ｙには接触ピン６０が交換
可能なように取り付けられている。なおＶ方向キ
ヤリツジ５２ｖへの接触ピン６０の取付けは固定
式のものであつて、従つて接触ピン６０は外部か
ら該接触ピン６０に加えられる運動をキヤリツジ
５２ｕおよび／または５２ｖの対応の方向に変換
する。即ち接触ピン６０は該ピンを直接坦持する
キヤリツジ５２ｖに対して揺動可能ではなく、即
ちそれ自体としては測定ピンとして形成されてい
るのではない。これと逆に測定センサ３８はＸ方
向キヤリツジ４０ｘに対しＸ軸線の方向に揺動可
能であつて、各揺動もしくは振れに際し信号を発
生する。

第１図に示すように、測定センサ３８ならびに
サーボ駆動部４２ｘ，４２ｙおよび４２ｚの各々
は制御評価回路６２に接続されている。この回路
装置６２は歯切盤１４から若干の間隔をもつて別
に設けられているハウジング内に収容することが
できる。サーボ駆動部４２ｘ，４２ｙおよび４２
ｚの各々と制御評価回路６２との間には直接ハウ
ジング２４に、または該ハウジング２４内に位置
コントローラを設けることができる。第１図には
Ｚ方向サーボ駆動部４２ｚに対するこのような位
置コントローラ６１しか示されていない。この位
置コントローラ６１は被検体１２の歯の傾きの検
査に際してＺ方向キヤリツジ４０ｚの運動を次の
ように制御する。即ち、測定センサ３８が移動す
る際にそれに接触する歯面によつて、予め定めら
れた量だけ振れるように制御する。

第３ａ図および第３ｂ図に示すように、位置調
節可能な足部２６ａおよび２６ｂの各々にはそれ
に関してサーボ・モータ６６ａおよび６６ｂが設
けられており、これらサーボ・モータは切換スイ
ツチ６８を介してそれぞれ平衡回路７０ａおよび
７０ｂに接続可能である。平衡回路７０ａは傾き
測定装置３２ａおよび３６ｂ間の導体３４ａに設
けられている。同様にして平衡回路７０ｂは傾き
測定装置３２ｂおよび３６ｂ間の導体３４ｂに設
けられている。平衡回路７０ａおよび７０ｂの
各々にはポテンシヨメータ７２ａおよび７２ｂが
それぞれ相関して設けられている。

Ｘ方向、Ｙ方向、Ｚ方向キヤリツジ配列４０
ｘ，４０ｙおよび４０ｚは第１図および第２図に
示すように測定センサ３８から見て、このような
アルフアベツト順のキヤリツジ配列順序を有して
いる。しかしながら他の任意の配列順序をも同様
に用いることができる。例えば測定センサ３８を
第６ａ図ないし第８ｂ図に示すように、Ｙ軸線方
向に沿つてＺ方向キヤリツジ４０ｚ上で変位可能
に案内されるＹ方向キヤリツジ４０ｙに取り付け
ることができる。この場合、Ｚ方向キヤリツジ４
０ｚ上でＺ軸線方向に沿つて変位可能に案内され
る。そしてこのＸ方向キヤリツジ４０ｘは直接ハ
ウジング２４上でＸ軸線方向に沿つて案内され
る。またＵ方向、Ｖ方向キヤリツジ配列５２ｕ，
５２ｖも別の配列順序を有することができるが、
しかしながら第２図に対応して第４図ないし第７
ｂ図に示した配列が一般には好ましい。

接触ピン６０は交換可能な球状のヘツド７４を
有しており、その直径は被検体１２の歯隙間幅に
対応して、その都度次のように選択される。即ち
第４図ないし第７ｂ図に示すように、球状ヘツド
が被検体１２の２つの隣接する歯面７６および
７０ｒに当接できるように選択される。

ここで述べている歯面検査装置１０は被検体１
２の歯面、歯形および／または歯の傾斜もしくは
傾きの検査に当つて次のように予備調整されて使
用される。

第１図に示す歯面検査装置１０のハウジング２
４をホブ盤１４のヘツド１６上に載置した時、Ｚ
方向案内４４ｘの縦軸線方向はＺ軸線に対して正
確に平行に、従つて被検体１２の回転軸線に対し
て正確に平行に延在する。このためには、ハウジ
ング２４を相応にセンタリング（心出し）するこ
とが必要である。このセンタリングのための予備
段階として、第３ａ図に示す可動傾斜測定装置３
６ａおよび３６ｂの各々を、最も簡単な手段とし
ては、これら傾斜測定装置に組み込まれている永
久磁石の磁力を用いて、関連の基準面３０ａおよ
び３０ｂに取り付ける。このようにすれば、可動
傾斜測定装置３６ａおよび３６ｂの各々は、ハウ
ジング２４に関して、対応する固定傾斜装置３２
ａおよび３２ｂと同じ位置をとる。２つの傾斜測
定装置３２ａおよび３６ａによつて発生される信
号ｆ_anおよびｆ_arは、ポテンシヨメータ７２ａの
調節によつて等しい値にされる。同様に傾斜測定
装置３０ｂおよび３６ｂから発生される信号ｆ_bn
およびｆ_brも、ポテンシヨメータ７２ｂの調節で
等しい値になる。それに続いて、第３ｂ図に示す
可動の傾斜測定装置３６ａおよび３６ｂを互いに
90゜の角度をなすように被検体１２に取付ける。
そこで、信号ｆ_anとｆ_arとの間および信号ｆ_bnと
ｆ_brとの間に偏差が生じた場合、この別差はハウ
ジング２４が被検体１２に対して正しくセンタリ
ングされていないことを表わす。従つて、上記信
号が同じ値になるまで、調節可能な足部２６ａお
よび／または調節可能な足部２６ｂを調節しなけ
ればならない。足部２６ａおよび２６ｂの調節は
平衡回路７０ａ，７０ｂからサーボ・モータ６６
ａまたは６６ｂを介して自動的に行なわれる。以
上の操作によつてセンタリング過程は完了し、Ｚ
方向案内４４ｘの縦軸線はＺ軸および被検体の回
転軸に対して平行になる。

次にハウジングの位置整定過程について説明す
る。まず、Ｚ方向案内４４ｚがＺ軸線に対して平
行に延在し、接触ピン６０の球状ヘツド７４はバ
ネ５８の力で隣接する２つの歯面７６および７
６ｒに当接し、かつＹ軸線から成る距離だけ離間
しているものとする。接触ピン６０の出発位置は
第４図に実線で示されている。ここで、被検体１
２を第４図の矢印７８で示す方向に回転させて、
接触ピン６０が第４図に破線で示した終位置に到
達させる。この出発位置および終位置の選択は比
較的大きな限界範囲内で任意に行なうことができ
るが、一方の位置はＹ軸線の一方の側に取り、他
方の位置はＹ軸線のもう一方の側に選ぶ。矢印７
８の方向に被検体１２が回転している間に、接触
ピン６０の球状ヘツド７４は第４図に破線の円で
示した頂点位置Ｋを通る。この頂点位置Ｋとは、
ヘツド７４の中心点がＹ軸線上にある位置であ
る。頂点位置Ｋに接近するまで、接触ピン６０は
Ｖ方向キヤリツジ５２ｖを＋Ｖ方向に変位し、Ｕ
方向キヤリツジ５２ｕを−Ｕ方向に変位する。従
つてこの頂点位置ＫとはＶ方向キヤリツジ５２ｖ
の運動が＋Ｖ方向から−Ｖ方向に変化する位置で
あるとも言える。この正負符号の変化は、Ｖ方向
読取りヘツド５６ｖから発生される信号に基づい
て制御評価回路６２により高い精度で検出され
る。このようにして、歯面検査装置１０に対する
Ｙ軸線の位置は既知の量となる。

出発位置から頂点位置までの間に、第４図に示
すヘツド７４は区間ｕ_kおよびｖ_kだけ移動する。
これら区間長に対しては、次式が当で嵌まる。

ｕ_k ^２＋（ｒ―ｖ_k）^２＝r² 上式から単純な変換で次式が得られる。

ｒ＝ｕ_ｋ ^２＋ｖ_ｋ ^２／２ｖ_ｋ上式中ｒは、Ｘ，Ｙ，Ｚ―座標系の原点から測
定した半径であつて、この半径上に球状のヘツド
７４の中心点が位置する。従つて、接触ピン６０
が任意の出発位置から頂点位置Ｋを越えて任意の
終位置へ運動する間に、それぞれ１つの測定値対
ｕ_k，ｖ_kから半径ｒを２回計算することができ
る。他方、被検体１２の歯隙間幅内にあるヘツド
７４の直径は既知なので、歯面検査装置１０は上
記のようにして求められた半径ｒから簡単な仕方
でＸ，Ｙ，Ｚ―座標系の原点位置を正確に計算す
る。このようにして、被検体１２に対する歯面検
査装置１０の位置整定過程が完了する。

そこで歯形検査を行ないたい場合には、例えば
第６ａ図に示すような測定センサ３８を歯面８０
の歯素の出発位置に設定し、他方球状ヘツド７４
を有する接触ピン６０は該歯素から離間して、２
つの互いに隣接する歯面７６および７６ｒに当
接する。そこで被検体１２を矢印８２の方向に角
度だけ回転すると、測定センサ３８は歯面８０
に沿つて歯さき迄移動し、他方第６ｂ図に示す接
触ピン６０は区間ｕおよびｖだけ戻る。読取りヘ
ツド５６ｕおよび５６ｖはこのような区間に対応
する信号を制御評価回路６２に対して発生し、そ
して該制御評価回路６２はこれら信号から次式に
従つて角度を計算する。

上式は第５図から容易に理解されるであろう。

このようにして歯切盤１４自体に角度測定装置
を設ける必要なく、接触ピン６０ならびに関連の
目盛５４ｕおよび５４ｖおよび読取りヘツド５６
ｕおよび５６ｖによつて各歯面検査中に行なわれ
る回転の角度を求めることができる。なお歯切
盤に属する回転駆動部の不正確さにより測定結果
に誤りが生じないようにするために、被検体によ
り実際に行なわれる戻り回転角度が測定される。

第７ａ図、第７ｂ図および第８ａ図、第８ｂ図
に示すようにして被検体１２の歯の傾きを検査す
る場合にも上の説明が当て嵌まる。

【図面の簡単な説明】

第１図は部分的に示した歯切盤に配設されてい
る被検体ならびに歯面検査装置の機械的部分を斜
視図で略示すると共に、その制御評価回路をブロ
ツク・ダイヤグラムで示し、第２図は別の角度か
らみた拡大斜視図で歯面検査装置の機械的部分を
示し、第３ａ図は被検体に対する歯面検査装置の
機械的部分の配位における第１の段階もしくはス
テツプを図解し、第３ｂ図は上記配位における第
２のステツプを図解し、第４図は被検体に対する
歯面検査装置の機械的部分の位置を画定する配位
過程を図解し、第５図は配位において適用される
幾何学的法則を図解し、第６ａ図は歯形検査の出
発位置を示し、第６ｂ図は歯形検査の終位置を示
し、第７ａ図は被検体の端面図で歯の傾きもしく
は傾斜検査の出発位置を示し、第７ｂ図はその終
位置を示し、第８ａ図は被検体を斜視図で示した
場合に、第７ａ図に対応する出発位置を示し、そ
して第８ｂ図は被検体を斜視図で示した場合に第
７ｂ図に対応する終位置を示す。１０……歯面検査装置、１２……被検体、１４
……歯切盤、１６……ベツド、１８……テーブ
ル、２０……モータ、２４……ハウジング、２６
……足部、３０……基準面、３２，３６……傾斜
測定装置、３４……導体、３８……測定センサ、
４２……Ｘ（Ｙ，Ｚ）方向サーボ駆動部、４４…
…Ｘ（Ｙ，Ｚ）方向案内、４０，５２……キヤリ
ツジ、４６……Ｘ（Ｙ，Ｚ）方向目盛、４８……
読取りヘツド、５４……Ｕ方向目盛、５６……Ｕ
方向読取りヘツド、５８……バネ、６０……接触
ピン、６１……位置コントローラ、６２……制御
評価回路、６６……サーボモータ、６８……切換
スイツチ、７０……平衡回路、７２……ポテンシ
ヨメータ、７４……ヘツド、７６，８０……歯
面。

Claims

【特許請求の範囲】１歯切盤のベツドまたは同等物上に載置可能な
ハウジングを有し、該ハウジングには、所属の駆
動装置および行程測定装置を備えた２つの交差配
設されているキヤリツジにより、被検体の軸線と
交差する２つの座標軸に沿つて測定センサが移動
可能に配設されており、さらに被検体の歯面に沿
つて前記測定センサを案内し、該測定センサの実
際位置を予め定められた目標位置と比較するため
の制御評価回路を備えている歯面検査装置により
歯面検査を行なう方法において、測定センサ３８
から離間して被検体１２の２つの互いに隣接する
歯面７６，ｒに押圧当接可能な接触ピン６０の
運動平面が被検体１２の軸線ｚに対し直角に延在
しかつ該接触ピン６０が被検体１２の２つの互い
に隣接する歯面７６，７６ｒに当接するように
ハウジング２４を被検体に対して設定し、前記被
検体をその軸線ｚを中心に回転し、それによつて
惹起される前記接触ピン６０の２つの座標軸線
Ｘ，Ｙに対し平行な運動を測定し、その測定結果
から、前記被検体１２の軸線ｚからの接触ピン６
０の間隔ｒならびに該軸線Ｚの位置を求め、次い
で前記被検体１２を、さらに続けてまたは新た
に、その軸線Ｚを中心に回転し、その間前記接触
ピン６０から間隔を置いて歯面輪郭（プロフイル
または傾斜）を測定するための測定センサ３８を
歯面８０に沿つて移動し、同時に前記被検体１２
の回転により惹起される前記２つの座標軸線Ｘ，
Ｙに対し平行な運動を再び測定し、それから得ら
れる前記被検体２の回転角ψを基礎に歯車８０の
目標輪郭を決定し、該目標輪郭と前記測定センサ
３８で検出される実際の輪郭とを比較することを
特徴とする歯面の検査方法。２歯切盤のベツドまたは同等物上に載置可能な
ハウジングを有し、該ハウジングには、所属の駆
動装置および行程測定装置を備えた２つの交差配
設されているキヤリツジにより、被検体の軸線と
交差する２つの座標軸に沿つて測定センサが移動
可能に配設されており、さらに被検体の歯面に沿
つて前記測定センサを案内し、該測定センサの実
際位置を予め定められた目標位置と比較するため
の制御評価回路を備えている歯面検査装置におい
て、前記ハウジング２４で、前記測定センサ３８
から離間して前記被検体１２の２つの互いに隣接
する歯面７６，７６ｒに押圧当接可能な接触ピ
ン６０を前記２つの座標軸Ｘ，Ｙに対し平行に、
２つの追加の交差配設されたキヤリツジによつて
自由に移動可能なように案内し、そして前記キヤ
リツジ５２ｕ，５２ｖの各々にも前記制御評価回
路に接続された行程測定装置５４ｕ，５４ｖ；５
６ｕ，５６ｖを組合わせて設けたことを特徴とす
る歯面検査装置。３ハウジング２４に２つの偏平な基準面３０
ａ，３０ｂが互いにかつ接触ピン６０の運動面に
対して垂直に配設され、前記ハウジング２４に、
２つの基準平面３０ａ，３０ｂのそれぞれの面内
に前記ハウジング２４の傾きを測定するための２
つの傾き測定装置３２ａ，３２ｂが設けられ、前
記傾き測定装置３２ａ，３２ｂはそれぞれ平衡回
路７０ａ，７０ｂを介してそれぞれ別の傾き測定
装置３６ａ，３６ｂに接続されており、該別の傾
き測定装置３６ａ，３６ｂは選択的に関連の基準
平面３０ａ，３０ｂおよび被検体１２に取付け可
能であり、前記ハウジング２４は２つの調節可能
な足部２６ａ，２６ｂを有しており、該足部は別
の足部２８と共に三角形の角を形成している特許
請求の範囲第２項記載の歯面検査装置。