JPS61262366A - 光ビ−ム照射装置 - Google Patents
光ビ−ム照射装置Info
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- JPS61262366A JPS61262366A JP60104206A JP10420685A JPS61262366A JP S61262366 A JPS61262366 A JP S61262366A JP 60104206 A JP60104206 A JP 60104206A JP 10420685 A JP10420685 A JP 10420685A JP S61262366 A JPS61262366 A JP S61262366A
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- Japan
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- density
- light beam
- density level
- pixel
- circuit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はディジタル画像信号によシ変調された光ビーム
を感光体上に走査して画像を記録する光ビーム照射装置
に関するものである。
を感光体上に走査して画像を記録する光ビーム照射装置
に関するものである。
従来の技術
近年、イメージセンサを用いた読取装置等からのディジ
タル画像信号により光ビームを変調し、 −感光体上に
走査して画像を記憶する光ビーム照射装置がレーザ、プ
リンタ等に広く利用されている。
タル画像信号により光ビームを変調し、 −感光体上に
走査して画像を記憶する光ビーム照射装置がレーザ、プ
リンタ等に広く利用されている。
以下図面を参照しながら、上述した従来の光ビーム照射
装置の一例について説明する。
装置の一例について説明する。
第１０図は従来の光ビーム照射装置の概略構成図を示す
ものである。第１０図において、６１はは半導体レーザ
、６２はポリゴン偏向器、６３は結像レンズ、６４は感
光体、６ｏは半導体レーザ６１の駆動回路でありレーザ
による光ビーム照射装置を構成している。また６６は画
像原稿、６６は原稿６６の照明光源、６７は集束性ファ
イバープレイ、５８はイメージセンサ、６９はイメージ
センサ６８の読取回路、６０は読取回路６９の画像信号
の白黒を判定する比較回路であり画像読取装置を構成し
ている。
ものである。第１０図において、６１はは半導体レーザ
、６２はポリゴン偏向器、６３は結像レンズ、６４は感
光体、６ｏは半導体レーザ６１の駆動回路でありレーザ
による光ビーム照射装置を構成している。また６６は画
像原稿、６６は原稿６６の照明光源、６７は集束性ファ
イバープレイ、５８はイメージセンサ、６９はイメージ
センサ６８の読取回路、６０は読取回路６９の画像信号
の白黒を判定する比較回路であり画像読取装置を構成し
ている。
以上の様に構成された従来の光ビーム照射装置について
以下にその動作を説明する。イメージセフサ６８等から
構成される装置 られた画像信号は、白部又は黒部を判定する比較回路６
０により白又は黒のディジタル画像信号に変換される。
以下にその動作を説明する。イメージセフサ６８等から
構成される装置 られた画像信号は、白部又は黒部を判定する比較回路６
０により白又は黒のディジタル画像信号に変換される。
この画像信号により半導体レーザ６１は駆動回路６ｏに
より光強度変調される。変調された半導体レーザ６１の
レーザビームはポリゴン偏向器６２で感光体６４上に走
査される。結像レンズ６３はレーザビームを感光体６４
上で規定のビーム径に集束するレンズである。以上の様
な動作によりイメージセンサ６８から読取られた信号は
白黒のディジタル画素信号に変換され、半導体レーザ６
１により感光体６４に画像として記録される。 ・ 発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記の様な構成では記録する画像が白黒
のディジタル画素信号に変換されるため。
より光強度変調される。変調された半導体レーザ６１の
レーザビームはポリゴン偏向器６２で感光体６４上に走
査される。結像レンズ６３はレーザビームを感光体６４
上で規定のビーム径に集束するレンズである。以上の様
な動作によりイメージセンサ６８から読取られた信号は
白黒のディジタル画素信号に変換され、半導体レーザ６
１により感光体６４に画像として記録される。 ・ 発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記の様な構成では記録する画像が白黒
のディジタル画素信号に変換されるため。
写真等の中間調をもった画像は再現する事ができない欠
点があった。さらに従来の方法では記録する画像の解像
度は、イメージセンサ６８の画素密度により決まり、イ
メージセンサ６８の一画像が変化する場合、白又は黒に
まるめられるので記録画像の解像度が悪くなってしまう
。
点があった。さらに従来の方法では記録する画像の解像
度は、イメージセンサ６８の画素密度により決まり、イ
メージセンサ６８の一画像が変化する場合、白又は黒に
まるめられるので記録画像の解像度が悪くなってしまう
。
第１１図及び第１２図で解像度劣化について説明する。
第１１図において、原稿Ａの黒部（像部）と白部の境界
領域をイメージセンサの１画素ａで読取ったとき、読取
回路６９の読取出力Ｂは判定レベル以下の出力ｂとなる
。そして比較回路６０で白黒判定されたときにレーザ駆
動信号Ｃでは白と判定されて信号出力せず、記録画像Ｄ
ｄ１画素画素全Ｃ全体となる。従って元の黒部は１画素
分の約１／３（図示の画素）が白となるため、白の凹部
が形成されてしまう。
領域をイメージセンサの１画素ａで読取ったとき、読取
回路６９の読取出力Ｂは判定レベル以下の出力ｂとなる
。そして比較回路６０で白黒判定されたときにレーザ駆
動信号Ｃでは白と判定されて信号出力せず、記録画像Ｄ
ｄ１画素画素全Ｃ全体となる。従って元の黒部は１画素
分の約１／３（図示の画素）が白となるため、白の凹部
が形成されてしまう。
逆に第１２図に示すような状態で原稿Ａの白黒の境界領
域を１画素ａ，が読取ったときは、読取回路６９の読取
出力Ｂは判定レベル以上の出力ｂ。
域を１画素ａ，が読取ったときは、読取回路６９の読取
出力Ｂは判定レベル以上の出力ｂ。
となり比較回路で黒と判定されてレーザ駆動信号Ｃが出
力される。従って記録画像Ｄは１画素分Ｃ。
力される。従って記録画像Ｄは１画素分Ｃ。
全体が黒となって元の黒部に凸部が形成された状態に記
録されてしまう。
録されてしまう。
このような状態で繰返しディジタル化されて行くと記録
文字や線等が凹凸のあるギザギザとした画像となってし
まうと云った問題点があった。
文字や線等が凹凸のあるギザギザとした画像となってし
まうと云った問題点があった。
一方、ディジタル画像の中間調再現方法としてディザ法
が良く知られているが、ディザ法では中間調の再現はよ
いが、文字等の線画の解像度は悪くなってしまう。
が良く知られているが、ディザ法では中間調の再現はよ
いが、文字等の線画の解像度は悪くなってしまう。
中間調を再現する一方法として，光ビームを濃度に比例
したパルス幅で変調して記録する方法がある。すなわち
、第１３図Ａに示す中間調の原稿を読み取り、この中間
調に比例した第１３図Ｂに示す駆動パルスで記録を行な
うと、その画像は第１３図Ｃに示すように、中間調画像
が同じ周期的なパルス幅で変調されるため、モアレが発
生しゃすい欠点があった。
したパルス幅で変調して記録する方法がある。すなわち
、第１３図Ａに示す中間調の原稿を読み取り、この中間
調に比例した第１３図Ｂに示す駆動パルスで記録を行な
うと、その画像は第１３図Ｃに示すように、中間調画像
が同じ周期的なパルス幅で変調されるため、モアレが発
生しゃすい欠点があった。
本発明は上記問題点に鑑み、文字画像の解像度を向上さ
せると共に、中間調をもった画像を再現できる光ビーム
照射装置を提供するものである。
せると共に、中間調をもった画像を再現できる光ビーム
照射装置を提供するものである。
問題点を解決するための手段
上記問題を解決するために本発明の光ビーム照射装置は
、現在光ビーム照射中の画素領域に隣接する画素の濃度
レベルを記憶するメモリと、隣接する濃度レベルが異な
る場合は濃度の大きい方の隣接画素に接する様に、濃度
レベルに比例したパルス幅で光ビームを照射する手段と
、隣接する画素濃度レベルが等しい場合は，濃度パター
ン表と比較対応して，少なくとも光ビーム照射パルス幅
又は光ビームスポット径を変える手段とを備えたもので
ある。
、現在光ビーム照射中の画素領域に隣接する画素の濃度
レベルを記憶するメモリと、隣接する濃度レベルが異な
る場合は濃度の大きい方の隣接画素に接する様に、濃度
レベルに比例したパルス幅で光ビームを照射する手段と
、隣接する画素濃度レベルが等しい場合は，濃度パター
ン表と比較対応して，少なくとも光ビーム照射パルス幅
又は光ビームスポット径を変える手段とを備えたもので
ある。
作 用
本発明は上記の構成によって、隣接する画素濃度の大き
い方に接する様に，濃度レベルに比例したパルス幅で光
ビームを照射する事により、文字画像の白黒の境界の解
像度を向上させると共に、隣接画素濃度レベルが等しい
場合は，濃度パターン表によって光ビーム照射幅をラン
ダムに変える事により中間調濃度の画像をモアレの少な
い良好な画像で記録できることになる。
い方に接する様に，濃度レベルに比例したパルス幅で光
ビームを照射する事により、文字画像の白黒の境界の解
像度を向上させると共に、隣接画素濃度レベルが等しい
場合は，濃度パターン表によって光ビーム照射幅をラン
ダムに変える事により中間調濃度の画像をモアレの少な
い良好な画像で記録できることになる。
実施例
以下本発明の一実施例の光ビーム照射装置について、図
面を参照しながら説明する。第１図は本発明の一実施例
における光ビーム照射装置の概略構成図を示すものであ
る。第１図において、１は半導体レーザ、２はポリゴン
偏向器、３は結像レンズ、４は感光体、６は画素濃度レ
ベルを記憶するシフトメモリ、７は濃度レベルの比較回
路、１１は濃度パターン表、８は濃度パターン表１１に
より変換された濃度レベルに比例したパルス幅でレーザ
駆動パルスを発生する変調回路、９は前記パルスの開始
時間を制御する回路、１ｏは半導体レーザの駆動回路で
ある。
面を参照しながら説明する。第１図は本発明の一実施例
における光ビーム照射装置の概略構成図を示すものであ
る。第１図において、１は半導体レーザ、２はポリゴン
偏向器、３は結像レンズ、４は感光体、６は画素濃度レ
ベルを記憶するシフトメモリ、７は濃度レベルの比較回
路、１１は濃度パターン表、８は濃度パターン表１１に
より変換された濃度レベルに比例したパルス幅でレーザ
駆動パルスを発生する変調回路、９は前記パルスの開始
時間を制御する回路、１ｏは半導体レーザの駆動回路で
ある。
以上の様に構成された光ビーム照射装置について、以下
第１図を用いてその動作を説明する。イ入る。シフトメ
モリ６の現在照射中の画素に隣接する画素の濃度レベル
を比較する比較回路７により、照射中の濃度レベルは濃
度パターン表１１と比較変換される。半導体レーザ１は
変調回路８により、前記変換された濃度レベルに比例し
たノ々ルス幅で駆動される。比較回路７で隣接する画素
濃度レベルが異なる時は、濃度レベルの大きい画素に接
する様に、駆動パルスの開始時間を制御回路９により決
めている０ パルス幅変調された半導体レーザ１のレーザ光は、ポリ
ゴン偏向器２により感光体４上を走査される。３はレー
ザビームを感光体４上に規定のスポット径に集束する結
像レンズである０感光体４で結像されたレーザビームス
ポットの形状は走査方向の幅は短かく、走査方向に直交
する方向が長い形状６としパルス幅変調が記録画像に有
効となる様にしている。
第１図を用いてその動作を説明する。イ入る。シフトメ
モリ６の現在照射中の画素に隣接する画素の濃度レベル
を比較する比較回路７により、照射中の濃度レベルは濃
度パターン表１１と比較変換される。半導体レーザ１は
変調回路８により、前記変換された濃度レベルに比例し
たノ々ルス幅で駆動される。比較回路７で隣接する画素
濃度レベルが異なる時は、濃度レベルの大きい画素に接
する様に、駆動パルスの開始時間を制御回路９により決
めている０ パルス幅変調された半導体レーザ１のレーザ光は、ポリ
ゴン偏向器２により感光体４上を走査される。３はレー
ザビームを感光体４上に規定のスポット径に集束する結
像レンズである０感光体４で結像されたレーザビームス
ポットの形状は走査方向の幅は短かく、走査方向に直交
する方向が長い形状６としパルス幅変調が記録画像に有
効となる様にしている。
第２図には本発明の光ビーム照射装置の具体的な回路構
成の一実施例を示す。第２図において。
成の一実施例を示す。第２図において。
１６はディジタル化された画像濃度レベルを記憶するシ
フトレジスタ、１７は濃度レベル比較回路、１ａは濃度
レベルカウンタ、１９はパルススタートカウンタ、２０
は半導体レーザ駆動回路、２１は濃度パターン表、１４
は加算回路、１５は一画素内を濃度レベルで細分割する
のに必要な周波数をもったクロック発振器である。
フトレジスタ、１７は濃度レベル比較回路、１ａは濃度
レベルカウンタ、１９はパルススタートカウンタ、２０
は半導体レーザ駆動回路、２１は濃度パターン表、１４
は加算回路、１５は一画素内を濃度レベルで細分割する
のに必要な周波数をもったクロック発振器である。
以上の様に構成された光ビーム照射装置について、以下
その動作を説明する。第２図において各画素の濃度レベ
ルがディジタル化された画像信号はシフトレジスタ１６
に入る。シフトレジスタ１６は各画素の濃度レベルを記
憶するのに必要なビット数をもったシフトメモリである
。比較回路１７は現在照射中の画素に隣接する画素の温
度レベル！１１ｄ−１＋及びｎｄ＋、を比較し、ノ（ル
ススタートカウンタ１９へ次の条件でカウンタ値を設定
する０ｎｄ−１≧”ｄｏ、Ｏとき０ ”ｄ−１＜ ”ｄｏ１のとき”ｍ −”ｄただし輻は最
大濃度レベルである。
その動作を説明する。第２図において各画素の濃度レベ
ルがディジタル化された画像信号はシフトレジスタ１６
に入る。シフトレジスタ１６は各画素の濃度レベルを記
憶するのに必要なビット数をもったシフトメモリである
。比較回路１７は現在照射中の画素に隣接する画素の温
度レベル！１１ｄ−１＋及びｎｄ＋、を比較し、ノ（ル
ススタートカウンタ１９へ次の条件でカウンタ値を設定
する０ｎｄ−１≧”ｄｏ、Ｏとき０ ”ｄ−１＜ ”ｄｏ１のとき”ｍ −”ｄただし輻は最
大濃度レベルである。
一方濃度レベルカウンタ１８には、隣接画素濃度レベル
が等しい場合、ゲート回路１２全通して現在照射しよう
とする画素の濃度レベルｎｄ と、これに対応する濃度
パターン表２１の濃度値を加算回路１４に通した結束が
設定される０隣接画素濃度レベルが異なる場合はｎｄが
設定される。クロック発振器１６にエリパルススタート
カウンタ１９が動作した後、駆動）くルス開始信号によ
りゲート回路１３が開いて、濃度レベルカウンタ１８が
動作し駆動回路２０にパルス信号が送られる。
が等しい場合、ゲート回路１２全通して現在照射しよう
とする画素の濃度レベルｎｄ と、これに対応する濃度
パターン表２１の濃度値を加算回路１４に通した結束が
設定される０隣接画素濃度レベルが異なる場合はｎｄが
設定される。クロック発振器１６にエリパルススタート
カウンタ１９が動作した後、駆動）くルス開始信号によ
りゲート回路１３が開いて、濃度レベルカウンタ１８が
動作し駆動回路２０にパルス信号が送られる。
第３図及び第４図はレーザ駆動パルスの状態を説明する
図である。両図Ａに示す原稿を読み取る場合（ｐは読取
り画素）両図において、シフトレジスタ１６の濃度レベ
ルをＢとすると、レーザ駆動信号はＣとなり、隣接する
画素濃度レベルの大きい方の画素に接する様に、かつ濃
度レベルに比例したパルス幅で駆動される。この結果記
録画像はＤとなり、原稿Ａに近い画像となって解像度が
向上している。
図である。両図Ａに示す原稿を読み取る場合（ｐは読取
り画素）両図において、シフトレジスタ１６の濃度レベ
ルをＢとすると、レーザ駆動信号はＣとなり、隣接する
画素濃度レベルの大きい方の画素に接する様に、かつ濃
度レベルに比例したパルス幅で駆動される。この結果記
録画像はＤとなり、原稿Ａに近い画像となって解像度が
向上している。
第６図は隣接する画素濃度レベルが同じ場合”ｄ−１＝
”ｄｏ、の動作を説明する図である。この場合画素濃
度レベルＡと濃度パターン表Ｂの中の値が加算された結
果Ｃに比例する駆動パルスＤが半導体レーザに加えられ
る結果、記録画像はＥの様になる。濃度パターン表Ｂは
記録画像に周期性がなくなる様にランダムに配置された
濃度レベルの表であり、かつ全濃度レベルの和が０とな
る様に設定する事により、同一濃度レベルに対応する記
録画像の黒の面積の平均値は、はぼ読取画像の濃度レベ
ルと一致する様になっている。
”ｄｏ、の動作を説明する図である。この場合画素濃
度レベルＡと濃度パターン表Ｂの中の値が加算された結
果Ｃに比例する駆動パルスＤが半導体レーザに加えられ
る結果、記録画像はＥの様になる。濃度パターン表Ｂは
記録画像に周期性がなくなる様にランダムに配置された
濃度レベルの表であり、かつ全濃度レベルの和が０とな
る様に設定する事により、同一濃度レベルに対応する記
録画像の黒の面積の平均値は、はぼ読取画像の濃度レベ
ルと一致する様になっている。
第６図は本発明の光ビーム照射装置の他の一実施例の概
略構成図を示すものである。第６図において、２６は３
ラインの画像に対応する濃度レベルを記憶するシフトレ
ジスタ、２７は濃度比較回路、２８は濃度レベルカウン
タ、２９はパルススタートカウンタ、３ｏは半導体レー
ザの駆動回路、３１は濃度パターン表、３２は第２の濃
度７２１７表、３３は光ビームスポット径の変換回路で
ある。
略構成図を示すものである。第６図において、２６は３
ラインの画像に対応する濃度レベルを記憶するシフトレ
ジスタ、２７は濃度比較回路、２８は濃度レベルカウン
タ、２９はパルススタートカウンタ、３ｏは半導体レー
ザの駆動回路、３１は濃度パターン表、３２は第２の濃
度７２１７表、３３は光ビームスポット径の変換回路で
ある。
以上の様に構成された光ビーム照射装置について、その
動作を説明する。第６図において画像濃度信号は３ライ
ンのシフトレジスタ２６に記憶され、現在照射中の画素
濃度レベルｎｄに隣接する画素濃度レベルが比較回路２
７で比較される。隣接する画素と濃度レベルの値の関係
を第７図に示す。走査方向及びこれに直角な方向で隣接
する画素濃度レベルが等しい時（（”’）ｄ＝”ｄ−１
＝”ｄ＋４＝（ｎ＋１）ａ）濃度パターン表３１により
、現在照射中の濃度レベルが変換されパルス幅が設定さ
れるのは第２図の回路と同様である。ここでさらに第２
の濃度パターン表と比較され、変換回路３３により現在
照射する光ビームスポット径の大きさが変わる。２２．
２３は隣接する画素濃度レベルが等しい時に動作するゲ
ート回路である。
動作を説明する。第６図において画像濃度信号は３ライ
ンのシフトレジスタ２６に記憶され、現在照射中の画素
濃度レベルｎｄに隣接する画素濃度レベルが比較回路２
７で比較される。隣接する画素と濃度レベルの値の関係
を第７図に示す。走査方向及びこれに直角な方向で隣接
する画素濃度レベルが等しい時（（”’）ｄ＝”ｄ−１
＝”ｄ＋４＝（ｎ＋１）ａ）濃度パターン表３１により
、現在照射中の濃度レベルが変換されパルス幅が設定さ
れるのは第２図の回路と同様である。ここでさらに第２
の濃度パターン表と比較され、変換回路３３により現在
照射する光ビームスポット径の大きさが変わる。２２．
２３は隣接する画素濃度レベルが等しい時に動作するゲ
ート回路である。
第８図に光ビームスポット径の大きさを変換する回路の
一実施例を示す。光ビームスポット径変換信号が与えら
れると、スポット径変換回路４４が動作して、Ｔ ｒ
、＋ Ｔ ｒ ２がＯＮとなり、抵抗Ｒ１，Ｒ２に電流
が流れる。この結果、半導体レーザ４１に流れる電流が
増加し、記録されたスポット径は増大する。（例えば米
国特許第４，３６１．３９４号明細書を参照） 第９図は第７図の回路の動作を説明する図である。第９
図において、各画素の画素濃度レベルＡは濃度パターン
表Ｂと加算されＣ，パルス幅が設定される８０次に第２
濃度パターン表によシ光ビームスポット径の大きさを変
える信号により、半導体レイは！の様に駆動される。こ
の結束、記録画像はＧとなる。濃度パターンＢ及び第２
濃度パターン表りは記録画像Ｇの黒部の面積の平均値は
、読取画像の濃度レベルの値にほぼ等しくなる様に設定
されている。
一実施例を示す。光ビームスポット径変換信号が与えら
れると、スポット径変換回路４４が動作して、Ｔ ｒ
、＋ Ｔ ｒ ２がＯＮとなり、抵抗Ｒ１，Ｒ２に電流
が流れる。この結果、半導体レーザ４１に流れる電流が
増加し、記録されたスポット径は増大する。（例えば米
国特許第４，３６１．３９４号明細書を参照） 第９図は第７図の回路の動作を説明する図である。第９
図において、各画素の画素濃度レベルＡは濃度パターン
表Ｂと加算されＣ，パルス幅が設定される８０次に第２
濃度パターン表によシ光ビームスポット径の大きさを変
える信号により、半導体レイは！の様に駆動される。こ
の結束、記録画像はＧとなる。濃度パターンＢ及び第２
濃度パターン表りは記録画像Ｇの黒部の面積の平均値は
、読取画像の濃度レベルの値にほぼ等しくなる様に設定
されている。
なお１以上の実施例では光ビームの照射された部分を顕
像化する場合を説明したが、光ビームの照射されない部
分を顕像化するポジ現像の場合も同様の方法を用いる事
ができる。
像化する場合を説明したが、光ビームの照射されない部
分を顕像化するポジ現像の場合も同様の方法を用いる事
ができる。
発明の効果
以上の様に本発明は、現在照射中の画素に隣接する画素
の濃度レベルを記憶するメモリと、隣接画素濃度レベル
を比較判定する手段と、隣接画素濃度レベルが等しい場
合は濃度パターン表により、照射中の光ビームのパルス
幅又はスポット径を変換して記録する事により、中間調
の濃度をもった画像を良好に記録できる。また隣接画素
濃度レベルが異なる場合は、現在照射中の光ビームが濃
度レベルの大きい方の画素に接する様に、かつ濃度字画
像の解像度を向上させた記ぼ像を得る事ができる。
の濃度レベルを記憶するメモリと、隣接画素濃度レベル
を比較判定する手段と、隣接画素濃度レベルが等しい場
合は濃度パターン表により、照射中の光ビームのパルス
幅又はスポット径を変換して記録する事により、中間調
の濃度をもった画像を良好に記録できる。また隣接画素
濃度レベルが異なる場合は、現在照射中の光ビームが濃
度レベルの大きい方の画素に接する様に、かつ濃度字画
像の解像度を向上させた記ぼ像を得る事ができる。
第１図は本発明の一実施例における光ビーム照射装置の
概略構成図、第２図はその具体的な回路の概略構成図、
第３図、第４図及び第６図は本発明の光ビーム照射装置
における画像記録の状態を説明する説明図、第６図及び
第８図は本発明の他の実施例における光ビーム照射装置
の具体的な回 −路の概略構成図、第７図及び第９図
はその動作を説明する説明図、第１０図は従来の光ビー
ム照射装置の概略構成図、第１１図及び第１２図はその
画像記録の状態を説明する図、第１３図は中間調を記録
する従来の一方法を示す図である。 １．６１・・・・・・半導体レーザ、２，５２・・・・
・・ポリゴン偏向器、３，５３・・・・・・結像レンズ
、４，６４・・・・・・感光体、６，１６．２６・・・
・・・シフトレジスタ、７．１７．２７・・・・・・濃
度比較回路、１８．２８・・・・・・濃度レベルカウン
タ、１９．２９・・・・・・パルススタートカウンタ、
１ｏ、２０．３０・・・・・・半導体レーザ駆動回路、
１１．２１．３１・・・・・・濃度パターン表、３２・
・・・・・第２濃度パターン表、３３・・・・・・ビー
ムスポット径変換回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１１
．・ 羊キオ本し−ｉ− ５・・・レーす″ビームカド・外 ６・・・シフトメモリ ベ 第 ２ｒｌｌ ？２．．．： 量大う１長レジ゛ル 第３図 第５図 く（ ↑ ↑ １７ 図 第 ９ 図 ６６１．東１日月ヅ乙魂 第１１図 Ｘ 自 第１３区
概略構成図、第２図はその具体的な回路の概略構成図、
第３図、第４図及び第６図は本発明の光ビーム照射装置
における画像記録の状態を説明する説明図、第６図及び
第８図は本発明の他の実施例における光ビーム照射装置
の具体的な回 −路の概略構成図、第７図及び第９図
はその動作を説明する説明図、第１０図は従来の光ビー
ム照射装置の概略構成図、第１１図及び第１２図はその
画像記録の状態を説明する図、第１３図は中間調を記録
する従来の一方法を示す図である。 １．６１・・・・・・半導体レーザ、２，５２・・・・
・・ポリゴン偏向器、３，５３・・・・・・結像レンズ
、４，６４・・・・・・感光体、６，１６．２６・・・
・・・シフトレジスタ、７．１７．２７・・・・・・濃
度比較回路、１８．２８・・・・・・濃度レベルカウン
タ、１９．２９・・・・・・パルススタートカウンタ、
１ｏ、２０．３０・・・・・・半導体レーザ駆動回路、
１１．２１．３１・・・・・・濃度パターン表、３２・
・・・・・第２濃度パターン表、３３・・・・・・ビー
ムスポット径変換回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１１
．・ 羊キオ本し−ｉ− ５・・・レーす″ビームカド・外 ６・・・シフトメモリ ベ 第 ２ｒｌｌ ？２．．．： 量大う１長レジ゛ル 第３図 第５図 く（ ↑ ↑ １７ 図 第 ９ 図 ６６１．東１日月ヅ乙魂 第１１図 Ｘ 自 第１３区
Claims (1)
- 少なくとも現在光ビーム照射する画素に隣接する画素の
濃度情報を記憶するメモリと、現在光ビーム照射中の画
素濃度レベルに応じて光ビーム照射パルス幅を変える手
段と、前記隣接する画素の濃度情報レベルを比較判定す
る手段と、前記判定手段の内容により前記照射中の光ビ
ームの照射パルスの開始時間を変える手段と、ランダム
濃度パターンを記憶する手段と、前記ランダム濃度パタ
ーンを記憶する手段を参照して少なくとも光ビーム照射
パルス幅又はビームスポット径を変える手段とを備えた
事を特徴とする光ビーム照射装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60104206A JPH06105947B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | 光ビ−ム照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60104206A JPH06105947B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | 光ビ−ム照射装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61262366A true JPS61262366A (ja) | 1986-11-20 |
| JPH06105947B2 JPH06105947B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=14374497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60104206A Expired - Fee Related JPH06105947B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | 光ビ−ム照射装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06105947B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0630248A (ja) * | 1992-07-13 | 1994-02-04 | Mita Ind Co Ltd | 画像信号補正回路 |
| WO2002019694A1 (fr) * | 2000-08-31 | 2002-03-07 | Ricoh Company, Limited | Dispositif imageur |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53138630A (en) * | 1977-05-10 | 1978-12-04 | Ricoh Co Ltd | Picture processing method |
-
1985
- 1985-05-16 JP JP60104206A patent/JPH06105947B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53138630A (en) * | 1977-05-10 | 1978-12-04 | Ricoh Co Ltd | Picture processing method |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0630248A (ja) * | 1992-07-13 | 1994-02-04 | Mita Ind Co Ltd | 画像信号補正回路 |
| WO2002019694A1 (fr) * | 2000-08-31 | 2002-03-07 | Ricoh Company, Limited | Dispositif imageur |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06105947B2 (ja) | 1994-12-21 |
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|---|---|---|---|
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