JPS61259152A - 透明電極の検査方法 - Google Patents
透明電極の検査方法Info
- Publication number
- JPS61259152A JPS61259152A JP60102321A JP10232185A JPS61259152A JP S61259152 A JPS61259152 A JP S61259152A JP 60102321 A JP60102321 A JP 60102321A JP 10232185 A JP10232185 A JP 10232185A JP S61259152 A JPS61259152 A JP S61259152A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transparent electrode
- substrate
- liquid crystal
- temp
- shortcircuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は５通常の目視検査では察知することが困難な透
明電極の断線や短絡などを、容易かつ確実に知る方法に
関するものである。
明電極の断線や短絡などを、容易かつ確実に知る方法に
関するものである。
（従来の技術）
現在、液晶表示装置などの表示素子関係を中心として幅
広く使用されている透明電極において。
広く使用されている透明電極において。
断線や短絡などをチェックする方法としては、目視又は
テスター等の測定機器を用いるのが一般的である、 （発明が解決しようとする問題点） しかし、目視による検査は透明電極の特性上困難を極め
、又測定機器を用いる場合には、グローブの確実な接触
あるいはプローブによる透明電極の損傷などが問題とな
ってくる。
テスター等の測定機器を用いるのが一般的である、 （発明が解決しようとする問題点） しかし、目視による検査は透明電極の特性上困難を極め
、又測定機器を用いる場合には、グローブの確実な接触
あるいはプローブによる透明電極の損傷などが問題とな
ってくる。
さらに近年、表示素子等の小壁化に伴って、透明電極パ
ターンの微細化ｂ′−進展し、確実な導通検査を行なう
ことは、ますます難しくなってぎている。
ターンの微細化ｂ′−進展し、確実な導通検査を行なう
ことは、ますます難しくなってぎている。
そこで本発明では、温度による色変化特性を有する液晶
を用いることにより、透明電極パターン上の短絡あるい
は断線などを視覚的に容易に察知することを目的として
いる。
を用いることにより、透明電極パターン上の短絡あるい
は断線などを視覚的に容易に察知することを目的として
いる。
（問題点を解決するための手段）
すなわち１本発明は、基板に形成された透明電極に近接
もしくは密着して、温度による色変化特性を有する液晶
層を配置し、前記透明電極に通電することにより生じる
温度変化を該液晶層の色変検知するものである。
もしくは密着して、温度による色変化特性を有する液晶
層を配置し、前記透明電極に通電することにより生じる
温度変化を該液晶層の色変検知するものである。
（発明の詳述）
以下図を参照して本発明を説明する。第１図は本発明方
法の一実施例を示すものであり、第２図は基板１の横断
面を示すものである。第１図及び第２図において、電源
３．接続コード４、導電性ゴムを装着したクリップ２．
透明電極６は電気的な閉回路を形作るため、透明電極６
の抵抗直によって主に決定される適定な電流が流れる。
法の一実施例を示すものであり、第２図は基板１の横断
面を示すものである。第１図及び第２図において、電源
３．接続コード４、導電性ゴムを装着したクリップ２．
透明電極６は電気的な閉回路を形作るため、透明電極６
の抵抗直によって主に決定される適定な電流が流れる。
これにより透明電極６の部分で発熱がおこり、基板の温
度分布が変化する。そこで第２図のように前記液晶層を
表面に配置したごく薄いフィルム７を基板１の表面に緊
密に接触させることにより、基板１の温度分布及びその
変化を、液晶の色変化として視覚的に知ることができる
。仮に透明電極の一部が断線しているとすれば、その部
分ないしは断線しているライン部分の温度は上昇しない
ため、基板１内の相対的な色分布より断線ｂ’−判明す
る、逆に短絡の場合には、短絡個所の温度が上昇するた
めやはり色分布から判明−する。
度分布が変化する。そこで第２図のように前記液晶層を
表面に配置したごく薄いフィルム７を基板１の表面に緊
密に接触させることにより、基板１の温度分布及びその
変化を、液晶の色変化として視覚的に知ることができる
。仮に透明電極の一部が断線しているとすれば、その部
分ないしは断線しているライン部分の温度は上昇しない
ため、基板１内の相対的な色分布より断線ｂ’−判明す
る、逆に短絡の場合には、短絡個所の温度が上昇するた
めやはり色分布から判明−する。
本発明において前記液晶層を形成する液晶、ないし液晶
含有物は以下の要件を満足していることが望ましい。
含有物は以下の要件を満足していることが望ましい。
（イ） 温度変化に対する応答性が優れている（口）
印刷塗布特性が優れていて薄膜やフィルム化しやすい ヒ→ 使用温度帯及び呈色温度帯を比較的自由に設定で
きる に）安定性が良い このような特徴を有する液晶ないし液晶含有物としては
、カイラルネマチック液晶やコレステリック液晶をブイ
クロカプセル化し、適当ナバインダ等を配合してインキ
化したものが例として上げられる。具体的な列としては
、製品として、イギリスのＢＤＨＣｈｅｍｉｃａｌｓ
Ｌｔｄ製サーすクロミックキラルネマチック液晶イン
キが上げられる。
印刷塗布特性が優れていて薄膜やフィルム化しやすい ヒ→ 使用温度帯及び呈色温度帯を比較的自由に設定で
きる に）安定性が良い このような特徴を有する液晶ないし液晶含有物としては
、カイラルネマチック液晶やコレステリック液晶をブイ
クロカプセル化し、適当ナバインダ等を配合してインキ
化したものが例として上げられる。具体的な列としては
、製品として、イギリスのＢＤＨＣｈｅｍｉｃａｌｓ
Ｌｔｄ製サーすクロミックキラルネマチック液晶イン
キが上げられる。
液晶の列としては以下に示す組成のもの及びこれらの混
合物等が考えられる。
合物等が考えられる。
（但しＲはＣＨ５ＣＨ，ＣＨＣＨ２−）Ｈ３
なお先の実施列においては、検査法の一例にすぎす、こ
れにとられれることなく、たとえをイ、前記液晶層を直
接基板に形成して、温度変化カーより直接的に伝わるよ
うにする。また、有色のフィルムへの該液晶ｌ−の配置
により、色の変化をより良好にとらえられるようにする
などがある。
れにとられれることなく、たとえをイ、前記液晶層を直
接基板に形成して、温度変化カーより直接的に伝わるよ
うにする。また、有色のフィルムへの該液晶ｌ−の配置
により、色の変化をより良好にとらえられるようにする
などがある。
さらに回路構成などにおいても、クリップの大きさを変
えることにより、検査に位置的な重点性をもたせる、基
板の特性などにより、交流あるいはパルス状の電圧、電
流をかけることなどが考えられる。
えることにより、検査に位置的な重点性をもたせる、基
板の特性などにより、交流あるいはパルス状の電圧、電
流をかけることなどが考えられる。
（発明の効果）
本発明によれば、グローブの接触等による透明電極及び
基板などの損傷もなく、簡単な作業で透明゛成極や基板
などの短絡や断線を視覚的に容易に検知でき、さらに１
度に広い範囲の検査が行なえるなど１本来、困難かつ繁
雑であった透明電極の検査が、確実かつ簡便に行なえる
。
基板などの損傷もなく、簡単な作業で透明゛成極や基板
などの短絡や断線を視覚的に容易に検知でき、さらに１
度に広い範囲の検査が行なえるなど１本来、困難かつ繁
雑であった透明電極の検査が、確実かつ簡便に行なえる
。
第１図は１本発明方法の一実施例を示す説明図であり、
第２図は本発明方法の実施時における主要部を示す断面
図である。
第２図は本発明方法の実施時における主要部を示す断面
図である。
Claims (1)
- 基板に形成された透明電極に近接もしくは密着して、温
度による色変化特性を有する液晶層を配置し、前記透明
電極に通電することにより生じる温度変化を該液晶層の
色変化に変換し、該透明電極の断線や短絡等の欠陥を検
知することを特徴とする透明電極の検査法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60102321A JPS61259152A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 透明電極の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60102321A JPS61259152A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 透明電極の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61259152A true JPS61259152A (ja) | 1986-11-17 |
Family
ID=14324299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60102321A Pending JPS61259152A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 透明電極の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61259152A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS648950A (en) * | 1987-07-01 | 1989-01-12 | Yamaguchi Yakuhin Shokai Kk | Temperature-sensitive nostril draft degree plate |
| JPH04309853A (ja) * | 1991-04-05 | 1992-11-02 | Shikoku Sogo Kenkyusho:Kk | 故障検出方法 |
| JP2002189050A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-05 | Oht Inc | 検査方法及び検査装置 |
| WO2014059627A1 (zh) * | 2012-10-17 | 2014-04-24 | Zhao Lin | 一种液晶屏质检设备的连接装置 |
-
1985
- 1985-05-14 JP JP60102321A patent/JPS61259152A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS648950A (en) * | 1987-07-01 | 1989-01-12 | Yamaguchi Yakuhin Shokai Kk | Temperature-sensitive nostril draft degree plate |
| JPH04309853A (ja) * | 1991-04-05 | 1992-11-02 | Shikoku Sogo Kenkyusho:Kk | 故障検出方法 |
| JP2002189050A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-05 | Oht Inc | 検査方法及び検査装置 |
| JP4512264B2 (ja) * | 2000-12-21 | 2010-07-28 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 検査方法及び検査装置 |
| WO2014059627A1 (zh) * | 2012-10-17 | 2014-04-24 | Zhao Lin | 一种液晶屏质检设备的连接装置 |
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