CN106154596A - 光电显示装置、检测装置及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光电显示装置、检测装置及其检测方法，属于电路检测技术领域。该光电显示装置包括：一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；一对置基板，与该基板对向设置；以及一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间。该检测装置光电显示装置。该检测方法是通过对光电显示装置和电路基板施加电压后，使光电显示装置实现电控光阀的作用，从而在光电显示装置上显示出线路电气特征，最终能准确、直观地判断电路的短路和断路情况，可用于表面贴装电路板的质量控制。

Description

光电显示装置、检测装置及其方法

技术领域

本发明涉及一种检测技术领域，尤其是涉及表面贴装电路基板检测用的光电显示装置、检测装置及其方法。

背景技术

近年来，液晶显示技术快速发展。液晶显示技术是一种电光转换技术，即根据加在液晶两侧的电场大小，改变液晶的排列状态，从而改变经过液晶层的光路方向，最终改变液晶显示装置的出光效果。

如图1A、1B所示，一种检测电路基板电学特性的检测装置，采用一块如PDLC型光电显示装置10悬空在电路基板14上，该液晶显示面板10包括对置基板11，液晶层12，反射层13。其中，图1A为该光电显示装置10处于电压关断状态，液晶未发生光学变化。而图1B为该光电显示装置10处于加电压状态。通过在光电显示装置10的对置基板11和电路基板14之间施加电压产生电场15，使电路基板14对应电极上方的液晶12的状态发生改变，根据光电显示装置的出光效果判断电路基板上各个电极的电学特性，电极导通处的液晶光学发生正常的变化，而电极不导通出的液晶光学未发生变化。

相比其他电路测试方法，如飞针测试，用液晶显示装置检测电路基板的电学特性，更加直观形象。并且，没有外加的机械力，不会造成线路板的表面损伤。但是，在图1B中，液晶面板的基板作为绝缘层，会消弱加载到液晶上的电场强度。所以，基板必须做到微米级的厚度。然而越是薄的基板频繁接触到电路基板就越容易被电路基板磨损，因此显示屏需要与电路基板保持一定的距离，但该距离的存在也会消弱加载到液晶上的电场强度。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的就是针对现有技术存在的问题，提供一种可降低检测电压，增强装置可靠性和耐久性，增加光电显示装置的可应用范围的用于电路检测的光电显示装置及其用于检测的方法。

为达上述或其它目的，本发明一方面一实施例提出了一种光电显示装置，包括：一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；一对置基板，与该基板对向设置；以及一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间。

为达上述或其它目的，本发明另一实施例提出了一种光电显示装置，包括：一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；一对置基板，其上配置有透明导电层，与该基板对向设置；以及一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间。

为达上述或其它目的，本发明又一实施例提出了一种光电显示装置，包括：一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；一对置基板，其上配置有透明导电层，与该基板对向设置；以及一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间；其中，所述基板与所述对置基板上分别覆盖有配向膜。

为达上述或其它目的，本发明再一实施例提出了一种光电显示装置，包括：一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；一对置基板，与该基板对向设置；以及一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间；其中，所述基板与所述对置基板上分别覆盖有配向膜。

进一步地，所述基板还包括绝缘层，配置于所述基板的所述一侧表面上，覆盖所述第一电极片。

进一步地，所述对置基板的靠近所述显示介质的一侧配置有彩膜层。

进一步地，所述第一、二电极片为任意形状，且一所述第一电极片的面积比与其对应一所述第二电极片的面积大。

为达上述或其它目的，本发明另一方面提出了一种检测装置，用于检测电路基板的电路特性，包括：如上述各实施例所述的光电显示装置，贴置在所述检测电路基板的一侧表面；导电板，贴置在所述检测电路基板的另一侧表面，用于为所述电路基板和所述光电显示装置提供电源。

为达上述或其它目的，本发明另一方面提出了一种检测方法，用于检测电路基板的电路特性，所述电路基板具有两侧电路图案，通过导电过孔导通，包括：提供上述实施例中垂直电场切换型光电显示装置，贴置在所述检测电路基板的一侧表面；提供一导电板，贴置在所述检测电路基板的另一侧表面，用于为所述电路基板和所述光电显示装置提供电源；在所述对置基板上的所述导电层和所述导电板之间施加一检测电压，施加在所述导电板上的电压通过所述电路基板的所述导电过孔传导到所述基板的所述第二电极片，再通过所述导电孔传导到所述基板的所述第一电极片；根据所述光电显示装置的显示结果，判断所述电路基板的电路特性情况。

为达上述或其它目的，本发明再一方面提出了一种检测方法，用于检测电路基板的电路特性，所述电路基板具有两侧电路图案，通过导电过孔导通，包括：提供上述实施例中共面电场切换型光电显示装置，贴置在所述检测电路基板的一侧表面；提供一导电板，具有多个导电图案单元，贴置在所述检测电路基板的另一侧表面，一所述导电图案单元与所述第二电极片对应，用于为所述电路基板和所述光电显示装置提供电源；通过对所述导电板上两相邻的所述导电图案单元施加检测电压，施加在所述导电板上的所述检测电压通过所述电路基板上对应的多个所述导电过孔传导到所述基板上对应的多个所述第二电极片，再通过对应的多个所述导电孔传导到对应的多个所述第一电极片；根据所述光电显示装置的显示结果，判断所述电路基板的电路特性情况。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

本发明通过将待检测电路基板的一侧和光电显示装置一侧分别作为液晶的两个电极，或者通过将待检测电路基板的一侧的两个相邻电极分别作为液晶的两个电极，对光电显示装置和/或电路基板施加电压后，使光电显示装置实现电控光阀的作用，从而在光电显示装置上显示出线路电气特征，最终能准确、直观地判断电路的短路和断路情况。可降低检测电压，增强装置可靠性和耐久性。

附图说明

图1A、1B为本发明现有技术的液晶显示装置的剖面示意图；

图2A为示意性示出本发明光电显示装置一实施例的剖面示意图；

图2B为示意性示出本发明光电显示装置另一实施例的剖面示意图；

图3A为示意性示出本发明光电显示装置又一实施例的剖面示意图；

图3B为示意性示出本发明光电显示装置再一实施例的剖面示意图；

图4A为示意性示出本发明检测装置一实施例的剖面示意图；

图4B为示意性示出本发明检测装置又一实施例的剖面示意图；

图5A为示意性示出本发明正常电路基板中导电过孔矩阵的平面示意图；

图5B为示意性示出本发明检测图5A所示正常电路基板的检测装置显示画面示意图；

图6为示意性示出本发明检测存在导电过孔断路的电路基板的光电显示装置剖面示意图；

图7A为示意性示出本发明检测图6所示电路基板中导电过孔矩阵的平面示意图；

图7B为示意性示出本发明检测图6所示电路基板的光电显示装置显示平面示意图；

图8为示意性示出本发明检测存在相邻导电过孔短路的电路基板的光电显示装置剖面示意图；

图9A示意性示出为本发明检测图8所示电路基板中导电过孔矩阵的平面示意图；

图9B示意性示出为本发明检测图8所示电路基板的光电显示装置显示平面示意图。

具体实施方式

图2A为本发明光电显示装置一实施例的剖面示意图。如图2A所示，本发明提供一种光电显示装置，包括：一基板230、一与所述基板230对向设置的对置基板210，以及夹在基板230与所述对置基板210之间的液晶层220。所述对置基板210和基板230可以为玻璃基板或树脂基板(PET)等。

其中，所述对置基板210在靠近所述液晶层220一侧可选择地覆盖彩膜层(CF)(图未示)，可以实现彩色显示画面。

所述基板230具有两侧表面，在所述基板230的一侧表面的所述显示区域内布置多个第一电极片231形成的矩阵，在所述基板230的另一侧表面布置多个第二电极片233形成的矩阵，一所述第一电极片231与一所述第二电极片233上下垂直对应，且一所述第一电极片231与一所述第二电极片233之间通过导电孔232实现电学导通连接。且所述基板230靠近液晶层220的表面覆盖有透明绝缘层235。

在一具体的实现中，所述第一电极片231与所述第二电极片233可以为金属、合金、复合金属或金属氧化物等材料，其可以通过喷墨印刷、丝网印刷或贴片等制作工艺形成在上述光电显示装置的基板230上，所述第一、二电极片231、233可选择为任意形状。优选地，一所述第一电极片231的形状与光电显示装置显示区域内一所述像素单元的形状相同，所述一第一电极片231的面积比与其对应一所述第二电极片233的面积大，所述一第一电极片231面积较大以使光电显示装置显示结果的缺陷便于被人眼识别，所述显示缺陷包括点缺陷、线缺陷和/或面缺陷等电路电气异常的情况。所述一第二电极片233面积较小以提高被测试电路基板上测试点的精细度。

在图2A所示的光电显示装置中，所述液晶层220中的材料优选地为采用蓝相(BluePhase，BP)液晶等。采用该类型的显示介质，光电显示装置的所述对置基板无需设置导电层，两侧基板不用涂布配向膜。该光电显示装置为共面电场切换型液晶显示装置，通过在任意两第二电极片或任意两第二电极片区域之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

图2B为本发明光电显示装置另一实施例的剖面示意图。如图2B所示，本发明提供一种光电显示装置，包括：一基板230’、一与所述基板230’对向设置的对置基板210’，以及夹在基板230’与所述对置基板210’之间的液晶层220’。所述对置基板210’和基板230’可以为玻璃基板或树脂基板(PET)等,其中，所述基板与所述对置基板上分别覆盖有配向膜229’。

其中，所述对置基板210’在靠近所述液晶层220’一侧可选择地覆盖彩膜层(CF)(图未示)，可以实现彩色显示画面，其上配置有所述配向膜229’。

所述基板230’具有两侧表面，在所述基板230’的一侧表面的所述显示区域内布置多个第一电极片231’形成的矩阵，在所述基板230’的另一侧表面布置多个第二电极片233’形成的矩阵，一所述第一电极片231’与一所述第二电极片233’上下垂直对应，且一所述第一电极片231’与一所述第二电极片233’之间通过导电孔232’实现电学导通连接。且所述基板230’靠近液晶层220’的表面覆盖有透明绝缘层235’。

在一具体的实现中，所述第一电极片231’与所述第二电极片233’可以为金属、合金、复合金属或金属氧化物等材料，其可以通过喷墨印刷、丝网印刷或贴片等制作工艺形成在上述光电显示装置的基板230’上，所述第一、二电极片231’、233’可选择为任意形状。优选地，一所述第一电极片231’的形状与光电显示装置显示区域内一所述像素单元的形状相同，所述一第一电极片231’的面积比与其对应一所述第二电极片233’的面积大，所述一第一电极片231’面积较大以使光电显示装置显示结果的缺陷便于被人眼识别，所述显示缺陷包括点缺陷、线缺陷和/或面缺陷等电路电气异常的情况。所述一第二电极片233’面积较小以提高被测试电路基板上测试点的精细度。

在图2B所示的光电显示装置中，所述液晶层220’中的材料优选地为采用平面转换(In Plane Switching，IPS)型液晶等。采用该类型的显示介质，光电显示装置的所述对置基板无需设置导电层。该光电显示装置为共面电场切换型液晶显示装置，通过在任意两第二电极片或任意两第二电极片区域之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

图3A为本发明光电显示装置又一实施例的剖面示意图。如图3A所示，本发明提供一种光电显示装置，包括：一基板330、一与所述基板330对向的对置基板310，以及夹在基板330与所述对置基板310之间的液晶层320。所述对置基板310靠近液晶层320一侧覆盖导电层324。所述导电层324常用的材料为氧化铟锡(ITO)或掺杂氧化铝，优选地为氧化铟锡(ITO)材料。所述对置基板310和基板330可以为玻璃基板或树脂基板(PET)等。

其中，所述对置基板310在靠近所述液晶层320一侧可选择地覆盖彩膜层(CF)(图未示)，可以实现彩色显示画面。

所述基板330具有两侧表面，在所述基板330的一侧表面的所述显示区域内布置多个第一电极片331形成的矩阵，在所述基板330的另一侧表面布置多个第二电极片233形成的矩阵，一所述第一电极片331与一所述第二电极片333上下垂直对应，且一所述第一电极片331与一所述第二电极片333之间通过导电孔232实现电学导通连接。且所述基板330靠近液晶层320的表面覆盖有透明绝缘层335。

在一具体的实现中，所述第一电极片331与所述第二电极片333可以为金属、合金、复合金属或金属氧化物等材料，其可以通过喷墨印刷、丝网印刷或贴片等制作工艺形成在上述光电显示装置的基板330上，所述第一、二电极片331、333可选择为任意形状。优选地，所述一第一电极片331的面积比与其对应一所述第二电极片333的面积大，所述一第一电极片331面积较大以使光电显示装置显示结果的缺陷便于被人眼识别，所述显示缺陷包括点缺陷、线缺陷和/或面缺陷等电路电气异常的情况。所述一第二电极片333面积较小以提高被测试电路基板上测试点的精细度。

在图3A所示的光电显示装置中，所述液晶层320中的材料优选地为表面稳定铁电液晶(Surface Stabilized Ferroelectric Liquid Crystal，SSFLC)或者胆甾相液晶(Cholesteric Liquid Crystal)或者聚合物分散液晶(Polymer Dispersed LiquidCrystal，PDLC)或等液晶材料。采用该类型的显示介质，光电显示装置的两侧基板无需涂布配向膜。该光电显示装置为垂直电场切换型液晶显示装置，通过在所述对置基板的所述导电层324与所述第二电极片333之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

图3B为本发明光电显示装置再一实施例的剖面示意图。如图3B所示，本发明提供一种光电显示装置，包括：一基板330’、一与所述基板330’对向设置的对置基板310’，以及夹在基板330’与所述对置基板310’之间的液晶层320’。所述对置基板310’靠近液晶层320’一侧覆盖导电层324’，配向膜329’覆盖所述导电层324’。所述导电层324’常用的材料为氧化铟锡(ITO)或掺杂氧化铝，优选地为氧化铟锡(ITO)材料。所述对置基板310’和基板330’可以为玻璃基板或树脂基板(PET)等,其中，所述基板与所述对置基板上分别覆盖有配向膜329’。

其中，所述对置基板310’在靠近所述液晶层320’一侧可选择地覆盖彩膜层(CF)(图未示)，相应地所述导电层324’可选择地覆盖所述彩膜层,可以实现彩色显示画面，所述上导电层324’配置有所述配向膜329’。

所述基板330’具有两侧表面，在所述基板330’的一侧表面的所述显示区域内布置多个第一电极片331’形成的矩阵，在所述基板330’的另一侧表面布置多个第二电极片333’形成的矩阵，一所述第一电极片331’与一所述第二电极片333’上下垂直对应，且一所述第一电极片331’与一所述第二电极片333’之间通过导电孔332’实现电学导通连接。且所述基板330’靠近液晶层320’的表面覆盖有透明绝缘层335’,配向膜329’可选择地覆盖所述透明绝缘层325’。

在一具体的实现中，所述第一电极片331’与所述第二电极片333’可以为金属、合金、复合金属或金属氧化物等材料，其可以通过喷墨印刷、丝网印刷或贴片等制作工艺形成在上述光电显示装置的基板330’上，所述第一、二电极片331’、333’可选择为任意形状。优选地，所述一第一电极片331’的面积比与其对应一所述第二电极片333’的面积大，所述一第一电极片331’面积较大以使光电显示装置显示结果的缺陷便于被人眼识别，所述显示缺陷包括点缺陷、线缺陷和/或面缺陷等电路电气异常的情况。所述一第二电极片333’面积较小以提高被测试电路基板上测试点的精细度。

在图3B所示的光电显示装置中，所述液晶层320’中的材料优选地为采用扭曲向列(Twisted Nematic，TN)型液晶，或者垂直取向(Vertical Alignment，VA)型液晶等。采用该类型的显示介质，光电显示装置的所述对置基板需要在所述对置基板一侧设置导电层以及在两侧基板涂布配向膜。该光电显示装置为垂直电场切换型液晶显示装置，通过在所述对置基板的所述导电层324’与所述第二电极片333’之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

本发明提供的光电显示装置，根据上述实施例提供的不同结构和对应的显示介质，可以相应地施加水平电场或垂直电场，使光电显示装置实现电控光阀的作用，从而在光电显示装置上显示出线路电气特征，最终能准确、直观地判断电路异常情况，如短路和断路。可降低检测电压，增强装置可靠性和耐久性，增加光电显示装置的可应用范围的用于电路检测的光电显示装置及其用于检测的方法。

本发明还提供了包括上述各实施例光电显示装置的检测装置，用于电路检测，下面进一步结合附图描述如下。

图4A为本发明检测装置一实施例的剖面示意图。如图4A所示，本发明提供一种检测装置，用于检测电路电气特性，具体例如检测电路板，优选地，所述电路板具有两侧电路图案，且所述两侧电路图案通过导电过孔510实现电气导通。所述检测装置包括：光电显示装置400，贴置在所述检测电路基板500的一侧表面；导电板600，贴置在所述检测电路基板500的另一侧表面，用于为所述电路基板500和所述光电显示装置400提供电源。

提供上述光电显示装置400，包括：一基板430、一与所述基板430对向设置的对置基板410，以及夹在基板430与所述对置基板410之间的液晶层420。所述对置基板410和基板430可以为玻璃基板或树脂基板(PET)等。

其中，所述对置基板410在靠近所述液晶层420一侧可选择地覆盖彩膜层(CF)(图未示)，可以实现彩色显示画面。

所述基板430具有两侧表面，在所述基板430的一侧表面的所述显示区域内布置多个第一电极片431形成的矩阵，在所述基板430的另一侧表面布置多个第二电极片433形成的矩阵，一所述第一电极片431与一所述第二电极片433上下垂直对应，且一所述第一电极片431与一所述第二电极片433之间通过导电孔432实现电学导通连接。且所述基板430靠近液晶层420的表面覆盖有透明绝缘层435。

在一具体的实现中，所述第一电极片431与所述第二电极片433可以为金属、合金、复合金属或金属氧化物等材料，其可以通过喷墨印刷、丝网印刷或贴片等制作工艺形成在上述光电显示装置的基板430上，所述第一、二电极片431、433可选择为任意形状。优选地，所述一第一电极片431的面积比与其对应一所述第二电极片433的面积大，所述一第一电极片431面积较大以使光电显示装置显示结果的缺陷便于被人眼识别，所述显示缺陷包括点缺陷、线缺陷和/或面缺陷等电路电气异常的情况。所述一第二电极片433面积较小以提高被测试电路基板上测试点的精细度。

在图4A所示的光电显示装置400中，所述液晶层420中的材料优选地为采用蓝相(Blue Phase，BP)型液晶等。采用该类型的显示介质，光电显示装置的所述对置基板无需设置导电层，两侧基板不用涂布配向膜。该光电显示装置为共面电场切换型液晶显示装置，通过在任意两第二电极片或任意两第二电极片区域之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

可选择地，在光电显示装置400的基板430和对置基板410的对向两侧各涂布有配向膜429，所述液晶层420中的材料优选地为采用平面转换(In Plane Switching，IPS)型液晶等。采用该类型的显示介质，光电显示装置的所述对置基板无需设置导电层。该光电显示装置为共面电场切换型液晶显示装置，通过在任意两第二电极片或任意两第二电极片区域之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

具体地，一导电板600，其上形成有导电图案，包括多个导电图案单元，一该导电图案单元与光电显示装置400的基板430上的一第二电极片433的图案相对应，在光电显示装置400的导电板600的两相邻的导电图案单元上施加电压Vc，施加在所述导电板600上的所述检测电压通过所述电路基板500对应的所述导电过孔510A和510B分别传导到相应地所述第二电极片433A和433B，再分别通过所述基板430的所述导电孔432A和432B分别传导到所述基板430的所述第一电极片431A和431B；在第一电极片431A和431B之间就形成一个由电压Vc形成的横向电场。其中，两相邻的导电图案单元不限于图4A所示的点图案，也可以是两相邻区域的其他图案。

图4B为本发明又一实施例的光电显示装置的剖面示意图。如图4B所示，本发明提供一种检测装置，其结构与前述实施例相同的部分不再赘述，不同在于本实施例中，在光电显示装置400’的对置基板410’靠近显示介质420’的一侧配置有透明导电层424，且采用的显示介质材料不同。

具体地，该光电显示装置400’所述液晶层420’中的材料优选地为表面稳定铁电液晶(Surface Stabilized Ferroelectric Liquid Crystal，SSFLC)或者胆甾相液晶(Cholesteric Liquid Crystal)或者聚合物分散液晶(Polymer Dispersed LiquidCrystal，PDLC)或等液晶材料。采用该类型的显示介质，光电显示装置的两侧基板无需涂布配向膜。该光电显示装置为垂直电场切换型液晶显示装置，通过在所述对置基板的所述导电层424’与所述第二电极片433’之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

可选择地，在光电显示装置400’的基板430’和对置基板410’的对向两侧各涂布有配向膜429’。所述液晶层420’中的材料优选地为采用扭曲向列(Twisted Nematic，TN)型液晶，或者垂直取向(Vertical Alignment，VA)型液晶等。采用该类型的显示介质，光电显示装置的所述对置基板需要在所述对置基板一侧设置导电层以及在两侧基板涂布配向膜。该光电显示装置为垂直电场切换型液晶显示装置，通过在所述对置基板的所述导电层424’与所述第二电极片433’之间施加电压，即可实现电光转换显示画面的效果。

具体地，导电板600沿着电路基板500的导电过孔(THROUGH VIA)510、光电显示装置400的所述基板的第二电极片433、导电孔432、第一电极片431，形成一个导电通道。通过在光电显示装置400在对置基板410的透明导电层424与导电板600之间施加电压，所述导电板600将与所述光电显示装置400的基板430的第一电极片431形成等电位，从而把导电板600与所述光电显示装置400的对置基板410之间的电位直接施加到液晶层420上，其中，导电过孔510表示从电路基板500的一个表层延展到另一个表层的导通孔。

本发明各实施例提供的检测装置的说明中，光电显示装置的内部结构只是举例说明，不限于此，还可以是PDLC型液晶显示装置等其它光电显示装置的结构。

图5A是本发明正常电路基板中导电过孔矩阵的平面示意图。如图5A所示，电路基板500中的多个导电过孔510呈现点阵图案440分布，一所述导电过孔510连接所述电路基板500两侧的各一电路图案，所述电路基板500两侧的电路图案为与所述导电过孔510数量对应的多个，且形状不限。

图5B是本发明检测图5A所示正常电路基板的光电显示装置显示平面示意图。光电显示装置400显示图案画面440’与基板430一侧的第一电极片的形状图案对应。

本发明另一实施例还提供了一种检测方法。参考图4A和图5A、5B，使用图4A实施例提供的检测装置进行电路特性检测的方法步骤如下：

a、提供一导电板600，其上形成有导电图案，包括多个导电图案单元，一该导电图案单元与光电显示装置400的基板430上的一第二电极片433的图案相对应，在光电显示装置400的导电板600的两相邻的导电图案单元上施加电压Vc，施加在所述导电板600上的所述检测电压通过所述电路基板500对应的所述导电过孔510A和510B分别传导到相应地所述第二电极片433A和433B，再通过所述基板430的所述导电孔432A和432B传导到所述基板430的所述第一电极片431A和431B；在第一电极片431A和431B之间就形成一个由电压Vc形成的横向电场。其中，两相邻的导电图案单元不限于图4A所示的点图案，也可以是两相邻区域图案。

b、根据如图5B所示的光电显示装置400的显示图案画面440，判断如图5A所示的电路基板导电过孔的电路特性。

本发明一实施例还提供了一种检测方法。参考图4B和图5A、5B，使用图4B实施例提供的检测装置进行电路特性检测的方法步骤如下：

a、在光电显示装置400的导电层424和导电板600之间施加电压Vc，施加在所述导电板600上的所述检测电压通过所述电路基板的所述导电过孔510传导到所述基板430的所述第二电极片433，再通过所述基板430的所述导电孔432传导到所述基板430的所述第一电极片431；

b、根据如图5B所示的光电显示装置400的显示图案画面440’，判断如图5A所示的电路基板导电过孔的电路特性。

在上述各检测方法的实施例的具体的实现中，图5B所示光电显示装置500显示的像素矩阵中每一像素的位置与图5A所示电路基板如电路基板中的导电过孔矩阵中每一导电过孔的位置一一对应。

在上述各检测方法的实施例的具体的实现中，在所述对置基板410和所述导电板600之间施加检测电压Vc时，所述第一电极片431与所述对置基板410的导电层424之间形成电场使液晶层422发生转动，改变第一电极片431正上方区域的液晶的光学特性，产生液晶发生变化的区域A。

在上述各检测方法的实施例的具体的实现中，所述显示结果为待检测的所述电路基板的光电显示效果与图5所示正常的所述电路基板的光电显示效果对比，根据显示缺陷的位置再判定所述电路基板上短路或断路导电过孔的位置。例如，所述显示缺陷为液晶显示装置400施加电压Vc后，所述液晶显示装置400中液晶层422不发生变化的点或区域，其包括点缺陷、线缺陷和/或面缺陷等电气。

针对本发明的检测方法，以采用垂直电场切换型液晶显示装置应用于图4B实施例对应检测装置的检测方法为例，为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合附图作详细说明如下：

实施例1

图6是本发明检测存在导电过孔断路的电路基板的光电显示装置剖面示意图；图7A是本发明检测图6所示电路基板中导电过孔矩阵的平面示意图；图7B是本发明检测图6所示电路基板的光电显示装置显示平面示意图。结合参考图6、图7A、7B，实施例1中的光电显示装置的主要构件以及其对应的连接关系与上述实施相类似，本发明的电路特性检测装置，检测如图6所示的存在导电过孔断路的电路基板时，具体检测方案如下：

a、提供一如上述各实施例说明的光电显示装置400’，将光电显示装置400’、电路基板500’、导电板600’依次紧密贴合；

b、在所述光电显示装置400’的对置基板410’的导电层424’和导电板600’之间施加检测电压Vc；

c、施加在导电板600’上的电压通过电路基板500’的导电过孔510’传导到光电显示装置400基板430’一侧表面的第二电极片433’，再通过光电显示装置400基板430’上的导电孔432传导到第一电极片431’，第一电极片431’与导电层424’之间形成电场促使液晶发生转动，改变第一电极片431’正上方区域的液晶的光学特性，产生液晶发生变化的区域A，例如电路基板中导电过孔断路C，其对应的第一电极片431’正上方区域A’的液晶状态则不发生变化。

d、对比图7B所示的光学显示效果与图5所示的正常电路基板的显示效果，判定断路导电过孔510’的位置。例如，图7B所示光电显示装置中像素矩阵显示缺陷C1的阵列位置对应图7A所示电路基板如电路板所示导电过孔矩阵中断路导电过孔C1’的阵列位置，其中，单个导电过孔C1断路时上述显示缺陷一般为点缺陷。

实施例2

图8是本发明检测存在相邻导电过孔短路的电路基板的光电显示装置剖面示意图；图9A是本发明检测图8所示电路基板中导电过孔矩阵的平面示意图；图9B是本发明检测图8所示电路基板的光电显示装置显示平面示意图。结合参考图8、图9A、9B，实施例2中的光电显示装置和光电显示装置的主要构件以及其对应的连接关系与上述实施相类似，本发明的电路特性检测装置，检测如图8所示的存在相邻导电过孔短路的电路基板时，具体检测方案如下：

a、提供一如上述各实施例说明的光电显示装置400’，其包括将光电显示装置400’、电路基板500’、导电板600’上下紧密贴合；

b、在光电显示装置400’中对置基板410’的导电层424’和导电板600’之间施加检测电压Vc；

c、施加在导电板600’上的电压Vc通过电路基板500’的导电过孔510’传导到光电显示装置基板400’的第二电极片433’，再通过光电显示装置400’基板410’的导电孔432’传导到第一电极431’，该第一电极片431’与导电层424’之间形成电场促使液晶发生转动，改变第一电极片431’正上方区域的液晶层的光学特性，产生液晶发生变化的区域A，例如电路基板中导电过孔短路S，其对应的第一电极片正上方区域C的液晶状态则不发生变化。

d、对比图9B所示的光学显示效果与图5所示的正常电路基板的显示效果，判定短路导电过孔的位置。例如，图9B所示光电显示装置中像素矩阵显示缺陷S1的阵列位置对应图9A所示电路基板如PCB板所示导电过孔矩阵中短路导电过孔S1’的阵列位置，其中，两个导电过孔S’短路时上述显示缺陷一般为两个邻接点缺陷。

以上详细描述了本发明的优选实施方式，但是，本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种等同变换，这些等同变换均属于本发明的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。

Claims (10)

1.一种光电显示装置，包括：

一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；

一对置基板，与该基板对向设置；以及

一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间。

2.一种光电显示装置，包括：

一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；

一对置基板，其上配置有透明导电层，与该基板对向设置；以及

一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间。

3.一种光电显示装置，包括：

一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；

一对置基板，其上配置有透明导电层，与该基板对向设置；以及

一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间；

其中，所述基板与所述对置基板上分别覆盖有配向膜。

4.一种光电显示装置，包括：

一基板，具有两侧表面，一侧表面上配置有多个第一电极片，另一侧表面上对应配置有多个第二电极片，一所述第一电极片与一所述第二电极片通过导电孔实现电气连接；

一对置基板，与该基板对向设置；以及

一显示介质，设置于该基板与该对置基板之间；

其中，所述基板与所述对置基板上分别覆盖有配向膜。

5.如权利要求1-4任一项所述的光电显示装置，其特征在于：所述基板还包括绝缘层，配置于所述基板的所述一侧表面上，覆盖所述第一电极片。

6.如权利要求5所述的光电显示装置，其特征在于：所述对置基板的靠近所述显示介质的一侧配置有彩膜层。

7.如权利要求1-6任一项所述的光电显示装置，其特征在于：所述第一、二电极片为任意形状，且一所述第一电极片的面积比与其对应一所述第二电极片的面积大。

8.一种检测装置，用于检测电路基板的电路特性，包括：如权利要求1-7任一项所述的光电显示装置，贴置在所述检测电路基板的一侧表面；导电板，贴置在所述检测电路基板的另一侧表面，用于为所述电路基板和所述光电显示装置提供电源。

9.一种检测方法，用于检测电路基板的电路特性，所述电路基板具有两侧电路图案，通过导电过孔导通，包括：

提供如权利要求2、3、4-7任一项所述的光电显示装置，贴置在所述检测电路基板的一侧表面；

提供一导电板，贴置在所述检测电路基板的另一侧表面，用于为所述电路基板和所述光电显示装置提供电源；

在所述对置基板上的所述导电层和所述导电板之间施加一检测电压，施加在所述导电板上的电压通过所述电路基板的所述导电过孔传导到所述基板的所述第二电极片，再通过所述导电孔传导到所述基板的所述第一电极片；

根据所述光电显示装置的显示结果，判断所述电路基板的电路特性情况。

10.一种检测方法，用于检测电路基板的电路特性，所述电路基板具有两侧电路图案，通过导电过孔导通，包括：

提供如权利要求1、4、4-7任一项所述的光电显示装置，贴置在所述检测电路基板的一侧表面；

提供一导电板，具有多个导电图案单元，贴置在所述检测电路基板的另一侧表面，一所述导电图案单元与所述第二电极片对应，用于为所述电路基板和所述光电显示装置提供电源；

通过对所述导电板上两相邻的所述导电图案单元施加检测电压，施加在所述导电板上的所述检测电压通过所述电路基板上对应的多个所述导电过孔传导到所述基板上对应的多个所述第二电极片，再通过对应的多个所述导电孔传导到对应的多个所述第一电极片；

根据所述光电显示装置的显示结果，判断所述电路基板的电路特性情况。