JPS61245993A - Al及びAl合金の接合用ろう材 - Google Patents
Al及びAl合金の接合用ろう材Info
- Publication number
- JPS61245993A JPS61245993A JP8642085A JP8642085A JPS61245993A JP S61245993 A JPS61245993 A JP S61245993A JP 8642085 A JP8642085 A JP 8642085A JP 8642085 A JP8642085 A JP 8642085A JP S61245993 A JPS61245993 A JP S61245993A
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- JP
- Japan
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- joining
- alloy
- bonding
- brazing
- joint
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- Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はAl及びAl合金の接合用ろう材に関する。
Al及びAl合金は、表面に酸化皮膜(Al203)を
形成しているため接合が困難である。このためA1表面
の酸化皮膜を除去するために化学処理や機械的研磨など
の手法用を用いているが、空気中に放置すると皮膜が形
成されるためあまり効果がなく、接合強度が夜弱い、こ
のため特公昭57−184574号のように脱酸剤や界
面括性剤を用いたりしている。またろう接法においても
。
形成しているため接合が困難である。このためA1表面
の酸化皮膜を除去するために化学処理や機械的研磨など
の手法用を用いているが、空気中に放置すると皮膜が形
成されるためあまり効果がなく、接合強度が夜弱い、こ
のため特公昭57−184574号のように脱酸剤や界
面括性剤を用いたりしている。またろう接法においても
。
接合強度が弱く、母材と同等の継手強度が得られない。
真空中又は不活性ガス雰囲気中でのAl及びAfi合金
の接合は、フラックスが用いられないため酸化皮膜を除
去できない、このためAM−8i−Mg合金系のろう材
が用いられている。また特公昭58−23197号のよ
うにAn−3i−Ga系合金や特公昭58−10980
号のようにAM−8i−Mg−In系合金を用いたりし
ている。しかし上記したろう材を用いた接合では、接合
温度が600℃前後と高温であるため、複雑で精密な部
品の場合、変形を生じやすく使用範囲が制限される。
の接合は、フラックスが用いられないため酸化皮膜を除
去できない、このためAM−8i−Mg合金系のろう材
が用いられている。また特公昭58−23197号のよ
うにAn−3i−Ga系合金や特公昭58−10980
号のようにAM−8i−Mg−In系合金を用いたりし
ている。しかし上記したろう材を用いた接合では、接合
温度が600℃前後と高温であるため、複雑で精密な部
品の場合、変形を生じやすく使用範囲が制限される。
本発明の目的は、酸化皮膜を除去し、真空中又は不活性
ガス雰囲気中での低温接合を可能にし。
ガス雰囲気中での低温接合を可能にし。
かつまた接合欠陥を防止し、高品質、高強度の接合部が
得られる接合用ろう材を提供することにある。
得られる接合用ろう材を提供することにある。
本発明は、あらかじめ接合面をドライエツチング処理に
より清浄化した後、スパッタ蒸着によって接合面にAl
−30〜60%Ge−3〜10%Cu合金膜を設けた後
、接合面同士を対面させ。
より清浄化した後、スパッタ蒸着によって接合面にAl
−30〜60%Ge−3〜10%Cu合金膜を設けた後
、接合面同士を対面させ。
真空中又は不括性ガス雰囲気中で接合温度450〜55
0℃で接合を行うろう材である。
0℃で接合を行うろう材である。
本発明による接合法では、Al及びへ〇表面に形成され
ている酸化皮膜(八〇203)を除去することによって
従来、困難であった接合を可能にすることができる。す
なわちAl及びA4合金の表面にドライエツチング法で
あるArイオンビームスパッタリングを行なうことによ
って酸化皮膜や付着物を除去し、清浄面を形成できる。
ている酸化皮膜(八〇203)を除去することによって
従来、困難であった接合を可能にすることができる。す
なわちAl及びA4合金の表面にドライエツチング法で
あるArイオンビームスパッタリングを行なうことによ
って酸化皮膜や付着物を除去し、清浄面を形成できる。
従来Alはフラックスを用いて接合を行っていたが、酸
化皮膜を除去することによって前処理やフラックスをい
用いないで真空又は不括性ガス雰囲気中で接合できる。
化皮膜を除去することによって前処理やフラックスをい
用いないで真空又は不括性ガス雰囲気中で接合できる。
次にAl及びA2合金の接合面を清浄化した後。
スパッタ蒸着によってAl−Ge−Cu合金膜を形成す
ることは.Al及びA2合金の低温接合を可能にし、高
品質、高強度の接合部が得られる。
ることは.Al及びA2合金の低温接合を可能にし、高
品質、高強度の接合部が得られる。
Al及びAl金合金低温接合は、省エネルギー、作業性
の向上につながり、なおかつ変形をきらう複雑な精密部
品の接合に適している。従来のJIS−Z−3263及
び各種真空用ろう材の接合温度は高温である。
の向上につながり、なおかつ変形をきらう複雑な精密部
品の接合に適している。従来のJIS−Z−3263及
び各種真空用ろう材の接合温度は高温である。
そこで本発明の接合用ろう材は、Ge30〜60%、C
u3〜lO%含むA Q −G e −Cu合金又はG
330〜60%、Cu3〜lO%、St3〜5%、Mg
0.3〜3%、ZnO,5〜1.0%含有するAffi
−Ge−Cu系合金であることを特徴とする真空中又は
不括性ガス雰囲気中での低温接合ろう材である。
u3〜lO%含むA Q −G e −Cu合金又はG
330〜60%、Cu3〜lO%、St3〜5%、Mg
0.3〜3%、ZnO,5〜1.0%含有するAffi
−Ge−Cu系合金であることを特徴とする真空中又は
不括性ガス雰囲気中での低温接合ろう材である。
次に各成分の機能について述べる
Geは接合用ろう材の溶融温度を低下させるが、30%
未満ではその効果が認められず、60%より多くなると
溶融温度が急激に高くなってろう材として使用できなく
なる。
未満ではその効果が認められず、60%より多くなると
溶融温度が急激に高くなってろう材として使用できなく
なる。
Cuは接合用ろう材の溶融温度を低下させ、流動性を高
めぬれ住改善させるが、3%未満ではその効果が認めら
れず、10%より多くなると金属間化合物が生成しやす
く、接合強度が低下する。
めぬれ住改善させるが、3%未満ではその効果が認めら
れず、10%より多くなると金属間化合物が生成しやす
く、接合強度が低下する。
Stは接合用ろう材′の溶融温度を低下させ、流動性を
高めるために3〜5%とした。Mgは接合雰囲気中でM
g蒸気を発生し、アルミナを還元し、ろう材と母材のぬ
れ性を促進するため0.3〜3%とした。Znは防食効
果が向上するため0.5〜1.0%とした。またZn及
びMnを多く含むことは蒸発量が増加し炉内を汚染して
しまうおそれがある。
高めるために3〜5%とした。Mgは接合雰囲気中でM
g蒸気を発生し、アルミナを還元し、ろう材と母材のぬ
れ性を促進するため0.3〜3%とした。Znは防食効
果が向上するため0.5〜1.0%とした。またZn及
びMnを多く含むことは蒸発量が増加し炉内を汚染して
しまうおそれがある。
本発明の接合ろう材であるAl−45%Ge−5%Cu
合金の溶融温度は445℃であり.Alの低温接合がで
きる。またAl−40%Ga−5%Cu−5%5i−1
%Mg−0,7%Zn合金の接合ろう材の溶融温度は4
86℃であり、低温接合ができ、ぬれ性が良好である。
合金の溶融温度は445℃であり.Alの低温接合がで
きる。またAl−40%Ga−5%Cu−5%5i−1
%Mg−0,7%Zn合金の接合ろう材の溶融温度は4
86℃であり、低温接合ができ、ぬれ性が良好である。
本発明の接合方法によって製作されたAl製品は、ボイ
ド及び接合不良などの欠陥の発生もなく。
ド及び接合不良などの欠陥の発生もなく。
また母材と同等の接合強度が得られる。
本発明の接合方法であるAl表面をドライエツチング処
理によって清浄化した後、接合用ろう合金膜を形成する
によってAl及びAl合金坩の低温プレージングシート
を製造することができる。
理によって清浄化した後、接合用ろう合金膜を形成する
によってAl及びAl合金坩の低温プレージングシート
を製造することができる。
以下本発明の実施例について説明する。
Al100及びA3052を用い、まずアセトン中で超
音波洗浄を約10分間行った0次にドライエツチング処
理としてArイオンビーム処理を行った0表1はArイ
オンビーム処理条件を示す。
音波洗浄を約10分間行った0次にドライエツチング処
理としてArイオンビーム処理を行った0表1はArイ
オンビーム処理条件を示す。
表1に示すような処理条件によってA2合金の接合面を
約20OA”削って酸化皮膜を除去した。
約20OA”削って酸化皮膜を除去した。
次にスパッタ蒸着法によって清浄化されたAlの接合面
に接合用ろう材としての合金膜を形成した。
に接合用ろう材としての合金膜を形成した。
表2はスパッタ蒸着条件を1表3は本発明のろう合金組
成と融点を示す0表3に示すように本発明のAl−45
%G a −5%Cuろう合金の融点は445℃であり
、接合面にろう合金膜を約11pm形成した。またAl
−40%Ge−5%Cu−5%S i −1%Mg−0
,7%Znろう合金の融点は486℃であり、接合面に
ろう合金膜10μm形成した。
成と融点を示す0表3に示すように本発明のAl−45
%G a −5%Cuろう合金の融点は445℃であり
、接合面にろう合金膜を約11pm形成した。またAl
−40%Ge−5%Cu−5%S i −1%Mg−0
,7%Znろう合金の融点は486℃であり、接合面に
ろう合金膜10μm形成した。
次にAl100及びA5052合金の接合面にスパッタ
蒸着によって本発明のろう合金膜を形成し接合を行った
0表4は接合条件を示す0本発明のAl−45%Ge−
5%Cuろう合金膜を使用した場合の接合は、接合温度
470℃、加圧力50gf/m”、接合時間15m1n
及び真空度lXl0−’Torrの条件で行った。また
AM−40Ge−5%Cu−5%5i−1%Mg−0,
7%Znろう合金膜を使用した場合の接合は、接合温度
510℃、加圧力50gf/■2.接合時間15m1n
及び真空度lXl0−’Torrの条件で行った。その
結果、ボイド及び接合不良などの欠陥の発生もなく健全
な接合部が得られた。
蒸着によって本発明のろう合金膜を形成し接合を行った
0表4は接合条件を示す0本発明のAl−45%Ge−
5%Cuろう合金膜を使用した場合の接合は、接合温度
470℃、加圧力50gf/m”、接合時間15m1n
及び真空度lXl0−’Torrの条件で行った。また
AM−40Ge−5%Cu−5%5i−1%Mg−0,
7%Znろう合金膜を使用した場合の接合は、接合温度
510℃、加圧力50gf/■2.接合時間15m1n
及び真空度lXl0−’Torrの条件で行った。その
結果、ボイド及び接合不良などの欠陥の発生もなく健全
な接合部が得られた。
表5はAl100接合部の接合強度を示す0表5に示す
ようにAl100母材と比較して.Al−45%Ga−
5%ろう青金及びAfi−40%Ge−5%Cu−5%
5i−1%Mg−0,7%Znろう合金で接合した接合
部の強さは、引張強さ約8.5%Kgf/m” 、0.
2%耐力約6.6Kgf/■2で素材強度の約80%で
あるが、破断形態はすべて母材破断である。また逆に接
合部の伸び及び絞りは増加している。接合部の強度低下
の原因は、加熱によって再結晶したためである。
ようにAl100母材と比較して.Al−45%Ga−
5%ろう青金及びAfi−40%Ge−5%Cu−5%
5i−1%Mg−0,7%Znろう合金で接合した接合
部の強さは、引張強さ約8.5%Kgf/m” 、0.
2%耐力約6.6Kgf/■2で素材強度の約80%で
あるが、破断形態はすべて母材破断である。また逆に接
合部の伸び及び絞りは増加している。接合部の強度低下
の原因は、加熱によって再結晶したためである。
表6はAs2S3接合部の接合強度を示す。As2S3
接合部の接合強度は、Al100接合部の接合強度と同
様にA3052素材強度の約80%である6以上のよう
に1本発明ろう材を用いることによって、高品質、高強
度の接合部が得ることができる。
接合部の接合強度は、Al100接合部の接合強度と同
様にA3052素材強度の約80%である6以上のよう
に1本発明ろう材を用いることによって、高品質、高強
度の接合部が得ることができる。
Claims (1)
- 1.Al及びAl合金の接合方法において、接合用ろう
材としてGe30〜60%,Cu3〜10%含むAl−
Ge−Cu合金とすることを特徴とするAl及びAl合
金の接合用ろう材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8642085A JPS61245993A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | Al及びAl合金の接合用ろう材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8642085A JPS61245993A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | Al及びAl合金の接合用ろう材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61245993A true JPS61245993A (ja) | 1986-11-01 |
Family
ID=13886391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8642085A Pending JPS61245993A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | Al及びAl合金の接合用ろう材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61245993A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63101043A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-05-06 | Mazda Motor Corp | 中子用ケレン構造 |
JPS63140794A (ja) * | 1986-12-01 | 1988-06-13 | Mitsubishi Metal Corp | 高温で高い接合強度を示すGe合金ろう材 |
US5158621A (en) * | 1991-04-29 | 1992-10-27 | Allied-Signal Inc. | Rapidly solidified aluminum-germanium base brazing alloys and method for brazing |
WO2003044872A1 (en) * | 2001-11-19 | 2003-05-30 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Compound semiconductor light emitting device and its manufacturing method |
JP2004343139A (ja) * | 2001-11-19 | 2004-12-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 化合物半導体発光素子 |
JP2005005727A (ja) * | 2001-11-19 | 2005-01-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 化合物半導体発光素子 |
-
1985
- 1985-04-24 JP JP8642085A patent/JPS61245993A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63101043A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-05-06 | Mazda Motor Corp | 中子用ケレン構造 |
JPS63140794A (ja) * | 1986-12-01 | 1988-06-13 | Mitsubishi Metal Corp | 高温で高い接合強度を示すGe合金ろう材 |
US5158621A (en) * | 1991-04-29 | 1992-10-27 | Allied-Signal Inc. | Rapidly solidified aluminum-germanium base brazing alloys and method for brazing |
US5286314A (en) * | 1991-04-29 | 1994-02-15 | Alliedsignal Inc. | Rapidly solidified aluminum-germanium base brazing alloys |
WO2003044872A1 (en) * | 2001-11-19 | 2003-05-30 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Compound semiconductor light emitting device and its manufacturing method |
JP2004343139A (ja) * | 2001-11-19 | 2004-12-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 化合物半導体発光素子 |
JP2005005727A (ja) * | 2001-11-19 | 2005-01-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 化合物半導体発光素子 |
JPWO2003044872A1 (ja) * | 2001-11-19 | 2005-03-24 | 三洋電機株式会社 | 化合物半導体発光素子 |
US7276742B2 (en) | 2001-11-19 | 2007-10-02 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Compound semiconductor light emitting device and its manufacturing method |
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