JPS6124088A - 磁気バブルメモリ試験機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は欠陥ループを摘出するのに好適な磁気バブルメ
モリ試験機に関するものである。

〔発明の背景〕

磁気バブルメモリは、メジャ・マイナループ構成に於て
、生産性向上の為にマイナループに冗長ループを設け、
マイナルーズに欠陥があるとこの欠陥を含むループ（欠
陥ループと呼ぶ）を冗長ループと置換えて使用している
Ｏ 欠陥ループには、主欠陥ループと呼ばれる全く動作し表
いもの、動作マージンが少なくて欠陥ループとして扱わ
れるもの、及び初期動作で異常は発見されないが、動作
時間の経過と共に確率的にエラーが発生する欠陥ループ
がある。最初の２つのモードの欠隔ループは容易に検出
できるが、最後の欠、陥ループは長時間の動作によって
検出できるものである。

しかし、磁気バブルメモリの品質保証をするためには、
この種の欠陥ループも摘出して欠陥ループとして登録し
ておくことが必要である。

欠陥ループは、マイナループの転送ノくタン上の欠陥に
よるものと、メジャラインとマイナループ間の転送バタ
ン上の欠陥によるものとが考えられる。マイナループの
転送バタン上の欠陥による欠陥ループは、マイナループ
上をバブルを転送することによって検出できる。一方、
メジャラインとマイナループ間の転送バタン上の欠陥は
、読み出し動作や書込み動作を実行させてジェネレータ
。

レプリケータ、スワップなどの７ア／クシヨンを動作さ
せることにより検出できる。

一般にマイナループ内の転送パタ／の薮は、メジヤシイ
ンとマイナループ間の転送バタンに比べ〉て１．０００
倍以上も多い為、欠陥ループの摘出に際しては、マイナ
ループ内の転送動作をメジヤシインとマイナループ間の
転送動作の１．０００倍以上にすることが合理的かつ効
率的である〇 従来、時間に依存する欠陥ループの摘出は、長時間動作
させて実施してきたが、通常の書込み、読み出し動作を
実施するのみで、転送バタ／の数に依存した合理的試験
方法とはいえなかった。

第１図は磁気バブルメモリ試験機のブロック図である。

同図において、１は試験全体の制御と試験結果の処理を
行なう制御部、２社バブルメモリの動作を制御するコン
トロール部、３はバブルメモリの動作に必要なタイミン
グを供給するタイミング発生器、４はバブルメモリに回
転磁界を供給する回転磁界駆動部、５はバブルメモリへ
書込みデータを供給する書込みデータ作成部、６はバブ
ルメモリの各ファンクションにパルス電流を供給するフ
ァンクション駆動部、Ｔは被テスト部である磁気バブル
メモリ、８は磁気バブルメモリからの出力信号を増幅し
“１”、０”の弁別を行うセンスアンプ部、９は書込み
データと読み出しデータを比較判定するデータ比較部を
示す。

このような構成において、試験は制御部１からの指令に
よシコントロール部２およびタイミング発生器３が動作
し所定のタイミングを書き込みデータ作成部５２回転磁
界駆動部４およびセンスアンプ部８等に供給する。一方
、書き込みデータは制御部１の指令によシ書き込みデー
タ作成部５で作成される。磁気バブルメモリＴはファン
クション駆動部６および回転磁界駆動部４によって駆動
され所定の動作が実行される。一方、磁気バプルメ毒り
Ｔからの読み出しデータはセンスアンプ部８で増幅され
て′１″、″′０″の弁別を行ないデータ比較部９へ送
られる。このデータ比較部９では書き込みデータ作成部
５で作成された書き込み時のデータとセンスアンプ部８
から送られてきた読み出し時のデータとが比較され、一
致しないときはエラーとして工２−情報を制御部１へ送
る。そして、制御部１では工２−情報によシ欠陥ループ
か否かの判定、処理を行なう０ 第２図は従来から実施されてきた欠陥ループ摘出のため
の磁気バブルメモリ試験機の構成を示したもので、ｍｘ
ｎ個の磁気バブルメモＩＪ　７の試験を実施することが
できる０ しかしながら、このように構成される磁気バブルメモリ
試験機では、ｍ個の磁気バブルメモｙ７は同時に動作す
るが、残りのｍＸ（ｎ−１）個の磁気バブルメモリは停
止しており、試験はシリーズに実行することに女シ、試
験効率が悪いという問題があった。

〔発明の目的〕

したがって本発明は、前述した従来の問題に鑑みてなさ
れたものであシ、その目的とするところは、従来の欠点
を補って欠陥ループを合理的かつ能率的に試験を行なう
ことのできる磁気バブルメモリ試験機を提供することに
おる０ 〔発明の概要〕 このような目的を達成するために本発明は、ｍ個の磁気
バブルメモリのデータチェックを実行すると同時に残シ
のｍｘ（ｎ　　１）個の磁気バブルメモリの転送動作を
行なうタイミングコン）Ｉ＝−ル部を設け、試験効率を
向上させるようにしたものである。

〔発明の実施例〕 次に図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。

第３図は本発明による磁気バブルメモリ試験機の一例を
示す構成ブロック図であシ、前述の図と同一部分は同一
符号を付す。同図において、タイミング発生器３と回転
磁界駆動部４との間には、この回転磁界駆動部４の列方
向１〜ｎ列目の動作をコントロールするタイミングコン
トロール部１０が設けられている。

このような構成によれば、同じ列の１〜ｍ行目までのｍ
個の磁気バブルメモリＴは磁気パブルメモ１コントロー
ル部２．タイミング発生器３の制御の下に通常の書き込
み、読み出し動作を実行する。したがってこの列の磁気
バブルメモリＴはデータのチェックと７ア／クション動
作のチェックとが実施される。

一方、残シの列の動作は、マイナループ内の転送動作の
みを実施する。勿論この場合、転送動作の、前に全ての
磁気バブルメモリ７には所定のデータパタンを書き込ん
でおく。

次に、この列のｍ個のデータチェックが終了すると、次
の列のｍ個の磁気バブルメモリ１に磁気バブルメモリコ
ントロール部２．タイミング発生器３の制御が移シ、所
定のデータチェックが実行され、残シの列のｍＸ（ｎ−
１）個の磁気バブルメモリ７はマイナループ内の転送動
作を実行する。

このようにｍ×ｎ個の磁気バブルメモリＴ中の１列のｍ
個の磁気バブルメモリ７がファンクション動作も含めた
データチェックを行なうと同時に残シのｍＸ（ｎ−１）
の磁気バブルメモリγは転送動作を実行させ、データチ
ェックを実施するｍ個の列を順次移動させる。

このようにすると、ｍ×ｎ個の磁気バブルメモ１．１７
は、常に試験を実行していることになシ、特に転送時間
が増加し、試験の効率向上がはかられ、短時間で高品質
の磁気バブルメモリ７が得られることになる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、マイナループの欠
陥ループを合理的かつ能率的に試験を行なうことが可能
となるなどの極めて優れた効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気バブルメモリ試験機の構成を示すブロック
図、第２図はｍ×ｎ個の磁気バブルメモリの欠陥ループ
を摘出する磁気バブルメモリ試験機の構成ブロック図、
第３図は本発明による磁気バブルメモリ試験機の構成を
示すブロック図である０ １・・・・制御部、２拳・・・磁気バブルメモリコント
ロール部、３・・・・ファンクションタイミング発生器
、４，４１１〜４ｍｎ・・ａｍ回転磁界駆動部、Ｓ、−
ＳＸ−５ｍ・・・・書き込みデータ作成部、６，６１〜
６ｍ・・拳・ファンクション電流駆動部、７，７１１〜
７ｍｎ・・・・磁気バブルメモリ、８．８１〜８ｍ・・
・・センスアンプ部、９，９１〜９ｍ−・ｅ・データ比
較部、１０・・・・タイミングコントロール部。 代理人　弁理士　高　橋　明　夫 □ 第１＠ 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 磁気バブルメモリコントローラ、タイミング発生器、デ
   ータ作成部、データ比較判定部、回転磁界駆動部、ファ
   ンクション電流駆動部およびセンスアンプ部からなるｍ
   ×ｎ個の磁気バブルメモリを試験する磁気バブルメモリ
   試験機において、前記ｍ個の磁気バブルメモリのデータ
   をチェックしかつ残りのｍ×（ｎ−１）個の磁気バブル
   メモリの転送動作を行なうタイミングコントロール部を
   設けたことを特徴とする磁気バブルメモリ試験機。