JPS6123950A - 欠陥検出装置 - Google Patents
欠陥検出装置Info
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- JPS6123950A JPS6123950A JP14363684A JP14363684A JPS6123950A JP S6123950 A JPS6123950 A JP S6123950A JP 14363684 A JP14363684 A JP 14363684A JP 14363684 A JP14363684 A JP 14363684A JP S6123950 A JPS6123950 A JP S6123950A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発゛明の属する技術分野〕
この発明は検査される対象物体をテレビカメラやライン
センサなどの撮像手段を介して撮像し、その際得られた
画像を分析して対象物体の表面の欠陥を検出する装置に
関する。
センサなどの撮像手段を介して撮像し、その際得られた
画像を分析して対象物体の表面の欠陥を検出する装置に
関する。
以下各図の説明において同一の符号は同−又は相当部分
を示す。
を示す。
軸対称の外形を持ち、表面にマークや文字などが印刷さ
れた検査対象物体（以下被検体という）としてのカプセ
ルや電線表面の汚れや傷などの欠陥検出方法としては、
従来よりこれらの被検体表面を第５図、第６図に示すよ
うにいくつかの方向（視線Ａ１〜Ａ３）から観測するこ
とが行なわれている。
れた検査対象物体（以下被検体という）としてのカプセ
ルや電線表面の汚れや傷などの欠陥検出方法としては、
従来よりこれらの被検体表面を第５図、第６図に示すよ
うにいくつかの方向（視線Ａ１〜Ａ３）から観測するこ
とが行なわれている。
すなわち第４図において、（１−１）は被検体１として
の電線で、軸ＡＸを中心とする軸対称の外形を持ち、そ
の表面には図のように正常パタ−ンとしての“ＡＢＣ“
のようなマークＭが印刷されており、搬送方向ＡＯに向
かって移動している。２（２−１，２−２，２−３）は
電線１−１上の前記欠陥を検出するためにそれぞれ異っ
た位置と視線をもつように配設されたテレビカメラ（カ
メラともいう）で、この例では各カメラの視線Ａ１〜Ａ
３がそれぞれ電線１−１の軸ＡＸに直交し、かつ各カメ
ラ２−１〜２−３によって得られた各画像を順次隣接さ
せると電線の搬送方向ＡＯで測った同一長さ部分を軸Ａ
Ｘを中心に隙間及び重複なしに一周して眺めた画像が得
られるように、換言すれば電線１−１の表面の欠陥をち
ょうど死角なしに撮像できるように配設されている。た
だし簡第な検査装置の場合は２つのカメラ２を、電線１
−１を挾んで対向するように（すなわちそれぞれ表側と
裏側の２面を撮像するように）設ける場合も多い。なお
この検査方法を２方向検査と呼ぶこととする。
の電線で、軸ＡＸを中心とする軸対称の外形を持ち、そ
の表面には図のように正常パタ−ンとしての“ＡＢＣ“
のようなマークＭが印刷されており、搬送方向ＡＯに向
かって移動している。２（２−１，２−２，２−３）は
電線１−１上の前記欠陥を検出するためにそれぞれ異っ
た位置と視線をもつように配設されたテレビカメラ（カ
メラともいう）で、この例では各カメラの視線Ａ１〜Ａ
３がそれぞれ電線１−１の軸ＡＸに直交し、かつ各カメ
ラ２−１〜２−３によって得られた各画像を順次隣接さ
せると電線の搬送方向ＡＯで測った同一長さ部分を軸Ａ
Ｘを中心に隙間及び重複なしに一周して眺めた画像が得
られるように、換言すれば電線１−１の表面の欠陥をち
ょうど死角なしに撮像できるように配設されている。た
だし簡第な検査装置の場合は２つのカメラ２を、電線１
−１を挾んで対向するように（すなわちそれぞれ表側と
裏側の２面を撮像するように）設ける場合も多い。なお
この検査方法を２方向検査と呼ぶこととする。
また第６図は、第５図と同様に被検体１としての薬粉充
填用のカプセル１−２の表面の欠陥を検査する場合の例
を示す。このようにマークＭの位従って同一のマークＭ
は、ひとつのカメラ２の視野内だけで観測されたり、ふ
たつのカメラ２の視野内で共に観測されたりするため、
複数の観測結果を総合して良否を判定する必要がある。
填用のカプセル１−２の表面の欠陥を検査する場合の例
を示す。このようにマークＭの位従って同一のマークＭ
は、ひとつのカメラ２の視野内だけで観測されたり、ふ
たつのカメラ２の視野内で共に観測されたりするため、
複数の観測結果を総合して良否を判定する必要がある。
同一の被検体（カプセルの場合）または同一の検査部分
（電線の場合）の複数の方向（視線）からの観測は通常
、同時には観測できないため、それぞれの方向での観測
結果を記憶しておいて、すべての方向での観測を終えて
から総合判定するこ七が行われる。
（電線の場合）の複数の方向（視線）からの観測は通常
、同時には観測できないため、それぞれの方向での観測
結果を記憶しておいて、すべての方向での観測を終えて
から総合判定するこ七が行われる。
ヤ
この場合、記憶しておく情報は画像情報とのものではデ
ータ量が多くなるため、画像情報中の何らかの特徴量を
記憶しておくなど記憶情報量を示縮 看することが望まれている。
ータ量が多くなるため、画像情報中の何らかの特徴量を
記憶しておくなど記憶情報量を示縮 看することが望まれている。
この発明は前記の要望を満たすために上記の情報量圧縮
を極端に行いつるのみならず、総合判定に要する処理量
も非常に少なくてすませることが出来る欠陥判別装置を
提供することを目的とする。
を極端に行いつるのみならず、総合判定に要する処理量
も非常に少なくてすませることが出来る欠陥判別装置を
提供することを目的とする。
本発明の要点は軸対称の外形と、表面に印刷７−キ、文
字などの正常パターン及び場合によって汚れなどの欠陥
パターン（これらのパターンを一括し被検出パターンと
呼ぶ）とを持ち、かつ撮像が完了ず゛るまでは少くとも
前記軸を中心とする回転を行うことのない被撮像物体（
薬剤カプセルなどの被検体）上の前記欠陥パターンを検
出する装置において、 前記軸に向い、この軸と直交する視線を持ち、かつ該視
線ごとに撮像された前記被撮像物体の画像が、隣接しつ
つ隙間及び重複なしに被撮像物体を１周し〜眺めるよう
に配設された複数の撮像手段（テレビカメラなど）と、 前記の各撮像手段によって撮像された前記被撮像物体の
各画像を対応する２値化画像に変換する２値化画像抽出
手段（外形２値化回路、マーク２値化回路など）と、 前記２値化画像ごとに、前記被撮像物体の外形の座標デ
ータを求め、該座標データから（外形パターンの中心線
の座標を演算することなどにより）対応する前記軸の座
標を抽出する軸座標抽出手段（マイクロコンピュータな
ど）と、前記２値化画像ごとに、前記被検出パターンの
座標データを求め、該座標データから（射影データの中
心線の座標を演算することなどにより）当該被検出パタ
ーンの位置を表わす代表座標を抽出するパターン代表座
標抽出手段（マイクロコンピュータなど）と、対応する
前記軸の座標及び被検出パターンの代表座標から、該代
表座標が、前記軸からの所定の１又は複数のへだたり値
によって区分される前記外形内の領域の何れに属するか
を示すコード（パターン位置コードと呼ぶ）を抽出する
パターン位置コード抽出手段（マイクロコンピュータな
ど）と、 前記被撮像物体上の正常パターンが前記の各撮像手段に
対して占める空間内の相対位置に対応し各撮像手段を介
し得られる前記パターン位置コードの組合せからなるデ
ータ（正常パターン位−置コード組合せデータと呼ぶ）
を記憶する手段（メモリなど）と、 前記の各撮像手段を介し得られた前記被検出パターンの
前記パターン位置コードの組合せが、前記正常パターン
位置コード組合せデータに含まれるか否かに応じて、当
該の被検出パターンを正常パターンか、欠陥パターンか
に区分判別する手段（マイクロコンピュータなど）と、
からなるようにした点にある。
字などの正常パターン及び場合によって汚れなどの欠陥
パターン（これらのパターンを一括し被検出パターンと
呼ぶ）とを持ち、かつ撮像が完了ず゛るまでは少くとも
前記軸を中心とする回転を行うことのない被撮像物体（
薬剤カプセルなどの被検体）上の前記欠陥パターンを検
出する装置において、 前記軸に向い、この軸と直交する視線を持ち、かつ該視
線ごとに撮像された前記被撮像物体の画像が、隣接しつ
つ隙間及び重複なしに被撮像物体を１周し〜眺めるよう
に配設された複数の撮像手段（テレビカメラなど）と、 前記の各撮像手段によって撮像された前記被撮像物体の
各画像を対応する２値化画像に変換する２値化画像抽出
手段（外形２値化回路、マーク２値化回路など）と、 前記２値化画像ごとに、前記被撮像物体の外形の座標デ
ータを求め、該座標データから（外形パターンの中心線
の座標を演算することなどにより）対応する前記軸の座
標を抽出する軸座標抽出手段（マイクロコンピュータな
ど）と、前記２値化画像ごとに、前記被検出パターンの
座標データを求め、該座標データから（射影データの中
心線の座標を演算することなどにより）当該被検出パタ
ーンの位置を表わす代表座標を抽出するパターン代表座
標抽出手段（マイクロコンピュータなど）と、対応する
前記軸の座標及び被検出パターンの代表座標から、該代
表座標が、前記軸からの所定の１又は複数のへだたり値
によって区分される前記外形内の領域の何れに属するか
を示すコード（パターン位置コードと呼ぶ）を抽出する
パターン位置コード抽出手段（マイクロコンピュータな
ど）と、 前記被撮像物体上の正常パターンが前記の各撮像手段に
対して占める空間内の相対位置に対応し各撮像手段を介
し得られる前記パターン位置コードの組合せからなるデ
ータ（正常パターン位−置コード組合せデータと呼ぶ）
を記憶する手段（メモリなど）と、 前記の各撮像手段を介し得られた前記被検出パターンの
前記パターン位置コードの組合せが、前記正常パターン
位置コード組合せデータに含まれるか否かに応じて、当
該の被検出パターンを正常パターンか、欠陥パターンか
に区分判別する手段（マイクロコンピュータなど）と、
からなるようにした点にある。
以下第１図〜第４図に基づいて本発明を説明する。第１
図は本発明の１実施例の構成を示すブロック図、第２図
は第１図の処理動作の流れを示す図、第３図は第１図に
おける２つのカメラから得られた画像とコード区分の例
を示す図、第４図は各視線に対応するコードの組合せと
良否判別きの対応例を示す図である。
図は本発明の１実施例の構成を示すブロック図、第２図
は第１図の処理動作の流れを示す図、第３図は第１図に
おける２つのカメラから得られた画像とコード区分の例
を示す図、第４図は各視線に対応するコードの組合せと
良否判別きの対応例を示す図である。
第１図において、１１はマイクロコンピュータ（以下Ｃ
ＰＵ（！：略す）、Ｂはパスライン、１２はメモリ、１
３は外形画像データメモリ、１４は外形２値化回路、１
５はマーク画像射影メモリ、１６はマーク２値化回路、
ＳＷｌはスイッチである。
ＰＵ（！：略す）、Ｂはパスライン、１２はメモリ、１
３は外形画像データメモリ、１４は外形２値化回路、１
５はマーク画像射影メモリ、１６はマーク２値化回路、
ＳＷｌはスイッチである。
この例は第６図（Ｃおけるカプセル１−２を前記の２方
向検査で検査する例を示し、カメラ２−１がカプセル１
−２の一方向（便宜上表側と呼ぶ）を検査するものとす
ると、カメラ２−２が同一のカプセル１−２の反対方向
（便宜上裏側と呼ぶ）を検査するようになっている。カ
メラ２−１．２−２により表、裏の２方向（視線）から
の観測によって得られた各画像信号２−１ａ、２−２ａ
は各カメラ２−１．２−２から異ったタイミングで出力
され、そのタイミングに合せてスイッチＳＷ１が切換え
られ、画像信号２−１ａ又は２−２ａごとに一旦それぞ
れ独立に処理されたうえメモリ１２に取込まれる。
向検査で検査する例を示し、カメラ２−１がカプセル１
−２の一方向（便宜上表側と呼ぶ）を検査するものとす
ると、カメラ２−２が同一のカプセル１−２の反対方向
（便宜上裏側と呼ぶ）を検査するようになっている。カ
メラ２−１．２−２により表、裏の２方向（視線）から
の観測によって得られた各画像信号２−１ａ、２−２ａ
は各カメラ２−１．２−２から異ったタイミングで出力
され、そのタイミングに合せてスイッチＳＷ１が切換え
られ、画像信号２−１ａ又は２−２ａごとに一旦それぞ
れ独立に処理されたうえメモリ１２に取込まれる。
すなわちスイッチＳＷ１の選択によって処理される側と
なった画像信号２−１ａ又は２−２ａは同時に２つの２
値化回路、つまり外形２値化回路１４とマーク２値化回
路１６に入力される。これらの２値化回路の出力信号１
４ａ、１６ａは、それぞれ外形画像データメモリ１３と
マーク画像射影メモリ１５に入力され、後述する画像デ
ータとして記憶される。ＣＰＵ１１は上記画像データに
もとづいて、マークＭの位置を検出してコード化位置情
報をメモリ１２に記憶させたり、同一カプセルのＺ４
（ｆｌａｔからの観測の結果が得られた時に、メモリ１
２に記憶させておいた、先の表側の観測結果を検索して
、表、裏２方向の観測結果の総合判定を行う。第２図は
上述の画像データの抽出の流れを示している。同図を説
明すると、カメラ２（２−１又は２−２）がとらえたカ
プセルの外観の生画イ象（図（５））は画像信号２−１
ａ又は２−２ａとなって２値化回路１４及び１６に入力
されこれらの回路の処理によって、それぞれカプセル１
−２の外形Ｏを示す外形２値化画晶１及びそのマークＭ
を示すマーク２値化画像（図（Ｃ） ）が得られる。
なった画像信号２−１ａ又は２−２ａは同時に２つの２
値化回路、つまり外形２値化回路１４とマーク２値化回
路１６に入力される。これらの２値化回路の出力信号１
４ａ、１６ａは、それぞれ外形画像データメモリ１３と
マーク画像射影メモリ１５に入力され、後述する画像デ
ータとして記憶される。ＣＰＵ１１は上記画像データに
もとづいて、マークＭの位置を検出してコード化位置情
報をメモリ１２に記憶させたり、同一カプセルのＺ４
（ｆｌａｔからの観測の結果が得られた時に、メモリ１
２に記憶させておいた、先の表側の観測結果を検索して
、表、裏２方向の観測結果の総合判定を行う。第２図は
上述の画像データの抽出の流れを示している。同図を説
明すると、カメラ２（２−１又は２−２）がとらえたカ
プセルの外観の生画イ象（図（５））は画像信号２−１
ａ又は２−２ａとなって２値化回路１４及び１６に入力
されこれらの回路の処理によって、それぞれカプセル１
−２の外形Ｏを示す外形２値化画晶１及びそのマークＭ
を示すマーク２値化画像（図（Ｃ） ）が得られる。
なお各図（Ｂ） 、 （Ｃ１においてＸ、Ｙはカメラ２
の画像掃査の方向を示す。次に図（Ｂ） 、 （Ｃ）の
２画化画像から周知の処理方法に基づき、画像メモリ回
路１３及び１５を介して、図０のようにそれぞれ外形Ｏ
の輪郭上の各点の座標を示す外形輪郭データ（Ｘｌ、Ｙ
ｌ）、（Ｘ２．Ｙ２）−−（Ｘｎ、Ｙｎ）および図（Ｃ
）で得られたマークＭの２値化画像のＹ軸上への射影パ
ターン（同一のＹ座標値を持つレベル“１“の２値化画
像データの数の総和をＹ座標値の大きさの順に配列して
なるパターン）Ｐのデータとしての射影パターンデータ
が抽出される。
の画像掃査の方向を示す。次に図（Ｂ） 、 （Ｃ）の
２画化画像から周知の処理方法に基づき、画像メモリ回
路１３及び１５を介して、図０のようにそれぞれ外形Ｏ
の輪郭上の各点の座標を示す外形輪郭データ（Ｘｌ、Ｙ
ｌ）、（Ｘ２．Ｙ２）−−（Ｘｎ、Ｙｎ）および図（Ｃ
）で得られたマークＭの２値化画像のＹ軸上への射影パ
ターン（同一のＹ座標値を持つレベル“１“の２値化画
像データの数の総和をＹ座標値の大きさの順に配列して
なるパターン）Ｐのデータとしての射影パターンデータ
が抽出される。
従って前記外形輪郭データから、カプセル外形の長軸方
向の中心（Ｉ ＣＬ １のＹ座標Ｙｃは、（Ｙ１＋Ｙｎ
）／２＝Ｙｃ （ただしＹｌ及びＹｎはそれぞれ前記輪郭データ中の最
小及び最大のＹ座標値である。）として計算される。一
方、マークＭの同方向（前記長軸方向）の中心線ＣＬ２
のＹ座標ＹＣＭは、前記射影パターンデータより、 （ＹＬ＋ＹＭ）／２＝ＹＣＭ （ただしＹＬ及びＹＭは前記パターンＰのデータ中の最
小及び最大のＹ座標値である。）として計算される。
向の中心（Ｉ ＣＬ １のＹ座標Ｙｃは、（Ｙ１＋Ｙｎ
）／２＝Ｙｃ （ただしＹｌ及びＹｎはそれぞれ前記輪郭データ中の最
小及び最大のＹ座標値である。）として計算される。一
方、マークＭの同方向（前記長軸方向）の中心線ＣＬ２
のＹ座標ＹＣＭは、前記射影パターンデータより、 （ＹＬ＋ＹＭ）／２＝ＹＣＭ （ただしＹＬ及びＹＭは前記パターンＰのデータ中の最
小及び最大のＹ座標値である。）として計算される。
従ってこれらの中心線ＣＬＩとＣＬＺ間のＹ座標におけ
るへだたりＹＨは Ｙｌ（＝ＹＣ−ＹＣＭ と計算される。
るへだたりＹＨは Ｙｌ（＝ＹＣ−ＹＣＭ と計算される。
いまマークＭがカプセルの外形０内のどの位置にあるか
を知るための情報として、座標値をそのまま用いること
は、データの量が過大となって判別の処理をいたずらに
繁雑にすることになるので、例えば外形に含まれる領域
４ｙ座標で区分し、上部周辺領域、中央部領域、下部周
辺領域といった３領域を定義するコード１〜３を設けて
マークＭの位置を表わすこととする。
を知るための情報として、座標値をそのまま用いること
は、データの量が過大となって判別の処理をいたずらに
繁雑にすることになるので、例えば外形に含まれる領域
４ｙ座標で区分し、上部周辺領域、中央部領域、下部周
辺領域といった３領域を定義するコード１〜３を設けて
マークＭの位置を表わすこととする。
すなわちコード化の区分は第３図のようにカプセルの半
径Ｒよりも小さい一定のへだたり境界値ＹＴを用いて コード１（上部周辺領域）： ＹＨ＞ＹＴ＞Ｏ（外形Ｏ
の中心絆ＣＬ １の座標Ｙｃに対してマークＭの中心線
ＣＬ２が値ＹＴ以上のへだたりで上側にあ４）コード２
（中央部領域）：ＹＴ≧ＹＨ≧−ＹＴ（外形の中心線Ｃ
Ｌ１の座標Ｙｃに対し、マークの中心線ＣＬ２−の座標
が上、下側とも値ＹＴのへだたり以内で中央部の領域に
ある。） コード３（下部周辺領域）：ＹＨ＜−ＹＴ（外形の中心
ｇｃＬ：ｔの座標Ｙｃに対しマークの中心線ＣＬ２が値
ＹＴ以上のへだたりで下側にある。）というように定め
る。
径Ｒよりも小さい一定のへだたり境界値ＹＴを用いて コード１（上部周辺領域）： ＹＨ＞ＹＴ＞Ｏ（外形Ｏ
の中心絆ＣＬ １の座標Ｙｃに対してマークＭの中心線
ＣＬ２が値ＹＴ以上のへだたりで上側にあ４）コード２
（中央部領域）：ＹＴ≧ＹＨ≧−ＹＴ（外形の中心線Ｃ
Ｌ１の座標Ｙｃに対し、マークの中心線ＣＬ２−の座標
が上、下側とも値ＹＴのへだたり以内で中央部の領域に
ある。） コード３（下部周辺領域）：ＹＨ＜−ＹＴ（外形の中心
ｇｃＬ：ｔの座標Ｙｃに対しマークの中心線ＣＬ２が値
ＹＴ以上のへだたりで下側にある。）というように定め
る。
ただしマークＭがカプセル外形Ｏの上、下の端部に来た
場合などで観測されない場合にはコード０と定義する。
場合などで観測されない場合にはコード０と定義する。
このようにして互に視線が平行しカプセルを表。
裏２方向から観測するように配置されたカメラ２−１．
２−２の各画像第３区内、（Ｂｌ（ただし図Ｂにおける
点線のマークＭは反対側にあって見えないこ吉を示して
いる。）から得られた前記コードの組合せによる欠陥良
否判定の例を第、４図に示す。
２−２の各画像第３区内、（Ｂｌ（ただし図Ｂにおける
点線のマークＭは反対側にあって見えないこ吉を示して
いる。）から得られた前記コードの組合せによる欠陥良
否判定の例を第、４図に示す。
第４図において、コードθ〜３の区分を示すＡ１、Ａ２
は前記２つのカメラ２−１．２−２の視線（観測方向）
である。従ってＡＩ、Ａ２を方向とも呼ぶ。また同図内
の○印は“ｌの判定、×印は”否”の判定を示す。例え
ば方向Ａｌ側のコード０と方向Ａ２側のコードＯ〜３を
良と判定しているのは方向ＡＩ（表側とする）からはマ
ークＭは見えないが、方向Ａ２ （ｉ側とする）からは
見えないか（コード０）、いずれかの領域で見える（コ
ード１〜３）場合は 良としている。（ただしここで方
向Ａ２０コード０との組合せはカプセルの」三下の端面
にあっても′必ずマークＭがいずれかの方向Ａ、１．Ａ
２から観測さね７ねばならないような、マークＭの大き
さ及びへだたり値ＹＴの組合せである場合には“否″（
×印）とする場合もある。） 次に方向Ａｌ側のコード１と方向Ａ、 ２側のコード０
，１の組合せを 良とし、方向Ａ２側のコード２，３と
の組合せを否としているのは、方向Ａ１から見てマーク
Ｍが上部周辺領域にある場合、方向Ａ２からは見えない
か（コードＯ）、又は上部周辺領域に見える（コードｌ
）を 良とし、それ以外を“否“とじている。これは方
向Ａ２でコード２，３の領域にマーク（らしいもの）が
見えた場合、方向Ａ１の観測マークを真のマークとすれ
ば方向Ａ２の観測マークは同じマークが見える筈はない
ので偽のマーク（すなわち欠陥）であり、逆に方向Ａ２
ρ観測マークを真とすれば、方向Ａ１の観測マークは偽
となる筈だからである。（ただしここで方向Ａ２側のコ
ード１との組合せは、同じマークがＡ１．Ａ２２方向か
らともに上部周辺領域に見える筈がないようなマークＭ
の大きさ及びへだたり値ＹＴの組合せのときは 否（×
印）とする場合もある。） 同様にして方向Ａｌ側のコード２と方向Ａ２側のコード
０との組合せを“良“、同じく方向Ａ２側のコード１〜
３との組合せを否としている。これは方向Ａ１で見てマ
ークが中央部領域に見える場合、Ｂ方向からは同じくマ
ークが見える筈・はないからである。
は前記２つのカメラ２−１．２−２の視線（観測方向）
である。従ってＡＩ、Ａ２を方向とも呼ぶ。また同図内
の○印は“ｌの判定、×印は”否”の判定を示す。例え
ば方向Ａｌ側のコード０と方向Ａ２側のコードＯ〜３を
良と判定しているのは方向ＡＩ（表側とする）からはマ
ークＭは見えないが、方向Ａ２ （ｉ側とする）からは
見えないか（コード０）、いずれかの領域で見える（コ
ード１〜３）場合は 良としている。（ただしここで方
向Ａ２０コード０との組合せはカプセルの」三下の端面
にあっても′必ずマークＭがいずれかの方向Ａ、１．Ａ
２から観測さね７ねばならないような、マークＭの大き
さ及びへだたり値ＹＴの組合せである場合には“否″（
×印）とする場合もある。） 次に方向Ａｌ側のコード１と方向Ａ、 ２側のコード０
，１の組合せを 良とし、方向Ａ２側のコード２，３と
の組合せを否としているのは、方向Ａ１から見てマーク
Ｍが上部周辺領域にある場合、方向Ａ２からは見えない
か（コードＯ）、又は上部周辺領域に見える（コードｌ
）を 良とし、それ以外を“否“とじている。これは方
向Ａ２でコード２，３の領域にマーク（らしいもの）が
見えた場合、方向Ａ１の観測マークを真のマークとすれ
ば方向Ａ２の観測マークは同じマークが見える筈はない
ので偽のマーク（すなわち欠陥）であり、逆に方向Ａ２
ρ観測マークを真とすれば、方向Ａ１の観測マークは偽
となる筈だからである。（ただしここで方向Ａ２側のコ
ード１との組合せは、同じマークがＡ１．Ａ２２方向か
らともに上部周辺領域に見える筈がないようなマークＭ
の大きさ及びへだたり値ＹＴの組合せのときは 否（×
印）とする場合もある。） 同様にして方向Ａｌ側のコード２と方向Ａ２側のコード
０との組合せを“良“、同じく方向Ａ２側のコード１〜
３との組合せを否としている。これは方向Ａ１で見てマ
ークが中央部領域に見える場合、Ｂ方向からは同じくマ
ークが見える筈・はないからである。
また同様にして方向Ａ１側のコード３と、方向Ａ２側の
コード０．３の組合せを 良、同じく方向Ａ２側のコー
ド１，２との組合せを否としている。（ただし前記と同
様にマークＭの大きさ及びへだたり値ＹＴの組合せによ
っては方向大２側のコード３との組合せを否とする場合
もある。）ただしマークＭがＡｌ、Ａ２，２方向のいず
れかからしか観測し得ない程度のマークＭの大きさとへ
だたり値ＹＴとの組合せの場合には、前記コード化区分
にかかわりなく、マークＭが観測されればコード２、観
測されなければコードＯとすることによって、判別処理
を簡単化することができる。
コード０．３の組合せを 良、同じく方向Ａ２側のコー
ド１，２との組合せを否としている。（ただし前記と同
様にマークＭの大きさ及びへだたり値ＹＴの組合せによ
っては方向大２側のコード３との組合せを否とする場合
もある。）ただしマークＭがＡｌ、Ａ２，２方向のいず
れかからしか観測し得ない程度のマークＭの大きさとへ
だたり値ＹＴとの組合せの場合には、前記コード化区分
にかかわりなく、マークＭが観測されればコード２、観
測されなければコードＯとすることによって、判別処理
を簡単化することができる。
また第５図、第６図のように３台のカメラ２−１、〜，
２−３を用いて判別する場合には、各カメラ（従って各
視線の方向）に対応するＯ〜３のコードからなる３つ（
３方向）のコード群を考え、各群から何れか１つづつの
コードを取出してできるコードの組合せの全てについて
良又は 否の判定を対応させた判定表を設けることに
よってより精度の高い（マークを見落す死角のない）判
定を行うことかできる。
２−３を用いて判別する場合には、各カメラ（従って各
視線の方向）に対応するＯ〜３のコードからなる３つ（
３方向）のコード群を考え、各群から何れか１つづつの
コードを取出してできるコードの組合せの全てについて
良又は 否の判定を対応させた判定表を設けることに
よってより精度の高い（マークを見落す死角のない）判
定を行うことかできる。
なお以上に説明した処理は実際のカプセルではカプセル
のボディ（薬粉を充てんするさや）側とキャップ（ボデ
ィのふた）側のそれぞれについて実施している。
のボディ（薬粉を充てんするさや）側とキャップ（ボデ
ィのふた）側のそれぞれについて実施している。
以上の説明から明らかなように本発明によれば、軸対称
の外形を持つ被検体の軸に向い、この軸と直交する視線
を持つ複数のカメラを設け、各カメラを、その画像て隣
接しつつ、隙間や重複部なしに同一の被検体を１周して
眺めるように配設し、各カメラの画像から得た被検体の
２値化画像から、被検体の外形内における被検出パター
ンの存在領域ヲ示すコードを抽出し、各カメラ毎のこの
コードの組合せからその被検出パターンが正常なものか
欠陥によるものかを判別するようにしたので、簡単な判
別処理を行いつつ、従って安価な装置を用いて、精度の
高い欠陥判別を行うことができる。
の外形を持つ被検体の軸に向い、この軸と直交する視線
を持つ複数のカメラを設け、各カメラを、その画像て隣
接しつつ、隙間や重複部なしに同一の被検体を１周して
眺めるように配設し、各カメラの画像から得た被検体の
２値化画像から、被検体の外形内における被検出パター
ンの存在領域ヲ示すコードを抽出し、各カメラ毎のこの
コードの組合せからその被検出パターンが正常なものか
欠陥によるものかを判別するようにしたので、簡単な判
別処理を行いつつ、従って安価な装置を用いて、精度の
高い欠陥判別を行うことができる。
従ってこの発明によれば、従来印刷マークとの識別が困
難のため検査できなかった、印刷マーク相当の大きさの
汚れなどの欠陥も容易に検出出来る。
難のため検査できなかった、印刷マーク相当の大きさの
汚れなどの欠陥も容易に検出出来る。
なお前記のコードは通常１つのカメラ（従って１つの視
線の方向）ごとに２ビツトでコード化できるため、１カ
プセルについて、表裏２方向から観測するときは４ビツ
ト、１画面内には、２りのカプセルが同時に観測される
ので、２ヶ分で８ビツト（１バイト）の情報記憶で、１
画面分の処理が実存施できる。従って、８ビツトパラレ
ル処理を行うマイクロコンピュータにより効率のよい検
査が可能となる。
線の方向）ごとに２ビツトでコード化できるため、１カ
プセルについて、表裏２方向から観測するときは４ビツ
ト、１画面内には、２りのカプセルが同時に観測される
ので、２ヶ分で８ビツト（１バイト）の情報記憶で、１
画面分の処理が実存施できる。従って、８ビツトパラレ
ル処理を行うマイクロコンピュータにより効率のよい検
査が可能となる。
第１図は本発明の１実施例としての構成を示すブロック
図、第２図は第１図の処理動作の流れを示す図、第３図
は第１図における２つのカメラから得られた画像とコー
ド区分の例を示す図、第４図は各視線に対応するコード
の組合せと良、否判別との対応例を示す図、第５図、第
６図は従来及び本発明における各種の被検体に対するカ
メラ配置４例を示す図である。 １（］−］１’、１−２ 被検体、Ｍ マーク、２（
２−１窒２−３）・テレビカメラ（カメラ）、Ａ１−Ａ
３ 視線（方向）、１１ マイクロコンピュータ（ＣＰ
Ｕ）、１２・・・メモリ、１３・・外形画像データメモ
リ、１４・・・外形２値化回路、１５・マーク画像射影
メモリ、１６・・マーク２値化回路、ＣＬＩ 、ＣＬ２
中心線、ＹＨ・・へだたり、ＹＴ・・へだたり境界
値。 ２ｉ−１図 （Ａ） 第２図 Ｉｌ）・）°゛ フ （Ａ） （Ｂ） 第３図 第４図
図、第２図は第１図の処理動作の流れを示す図、第３図
は第１図における２つのカメラから得られた画像とコー
ド区分の例を示す図、第４図は各視線に対応するコード
の組合せと良、否判別との対応例を示す図、第５図、第
６図は従来及び本発明における各種の被検体に対するカ
メラ配置４例を示す図である。 １（］−］１’、１−２ 被検体、Ｍ マーク、２（
２−１窒２−３）・テレビカメラ（カメラ）、Ａ１−Ａ
３ 視線（方向）、１１ マイクロコンピュータ（ＣＰ
Ｕ）、１２・・・メモリ、１３・・外形画像データメモ
リ、１４・・・外形２値化回路、１５・マーク画像射影
メモリ、１６・・マーク２値化回路、ＣＬＩ 、ＣＬ２
中心線、ＹＨ・・へだたり、ＹＴ・・へだたり境界
値。 ２ｉ−１図 （Ａ） 第２図 Ｉｌ）・）°゛ フ （Ａ） （Ｂ） 第３図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）軸対称の外形と、表面に印刷マーク、文字などの正
常パターン及び場合によつて汚れなどの欠陥パターン（
これらのパターンを一括し被検出パターンと呼ぶ）とを
持ち、かつ撮像が完了するまでは少くとも前記軸を中心
とする回転を行うことのない被撮像物体上の前記欠陥パ
ターンを検出する装置において、 前記軸に向い、この軸と直交する視線を持ち、かつ該視
線ごとに撮像された前記被撮像物体の画像が隣接しつつ
隙間及び重複なしに被撮像物体を一同して眺めるように
配設された複数の撮像手段と、 前記の各撮像手段によつて撮像された前記被撮像物体の
各画像を対応する２値化画像に変換する２値化画像抽出
手段と、 前記２値化画像ごとに、前記被撮像物体の外形の座標デ
ータを求め、該座標データから対応する前記軸の座標を
抽出する軸座標抽出手段と、前記２値化画像ごとに、前
記被検出パターンの座標データを求め、該座標データか
ら当該被検出パターンの位置を表わす代表座標を抽出す
るパターン代表座標抽出手段と、 対応する前記軸の座標及び被検出パターンの代表座標か
ら、該代表座標が、前記軸からの所定の１又は複数のへ
だたり値によつて区分される前記外形内の領域の何れに
属するかを示すコード（パターン位置コードと呼ぶ）を
抽出するパターン位置コード抽出手段と、 前記被撮像物体上の正常パターンが前記の各撮像手段に
対して占める空間内の相対位置に対応し、各撮像手段を
介し得られる前記パターン位置コードの組合せからなる
データ（正常パターン位置コード組合せデータと呼ぶ）
を記憶する手段と、前記の各撮像手段を介し得られた前
記被検出パターンの前記パターン位置コードの組合せが
、前記正常パターン位置コード組合せデータに含まれる
か否かに応じて、当該の被検出パターンを正常パターン
か欠陥パターンかに区分判別する手段と、からなること
を特徴とする欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14363684A JPS6123950A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | 欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14363684A JPS6123950A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | 欠陥検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6123950A true JPS6123950A (ja) | 1986-02-01 |
| JPH0352015B2 JPH0352015B2 (ja) | 1991-08-08 |
Family
ID=15343368
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14363684A Granted JPS6123950A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | 欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6123950A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165973A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-09 | Osaki Electric Co Ltd | 自動形状検定装置 |
| JPH03111705A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-05-13 | Kubota Corp | 物品検査装置 |
| CN103940825A (zh) * | 2014-04-14 | 2014-07-23 | 北京大恒图像视觉有限公司 | 一种全方位胶囊检测设备及相应检测方法 |
-
1984
- 1984-07-11 JP JP14363684A patent/JPS6123950A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165973A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-09 | Osaki Electric Co Ltd | 自動形状検定装置 |
| JPH03111705A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-05-13 | Kubota Corp | 物品検査装置 |
| CN103940825A (zh) * | 2014-04-14 | 2014-07-23 | 北京大恒图像视觉有限公司 | 一种全方位胶囊检测设备及相应检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0352015B2 (ja) | 1991-08-08 |
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