JPS61164145A - 合わせガラスの検査装置 - Google Patents
合わせガラスの検査装置Info
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- JPS61164145A JPS61164145A JP552685A JP552685A JPS61164145A JP S61164145 A JPS61164145 A JP S61164145A JP 552685 A JP552685 A JP 552685A JP 552685 A JP552685 A JP 552685A JP S61164145 A JPS61164145 A JP S61164145A
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- glass
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
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- Joining Of Glass To Other Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、自動車のフロントガラスのような合わセガラ
ス（積層ガラス）の検査装置であって、特に仮接着工程
における中間層の気泡の残留状態を測定し仮接着状態の
良否を判別するための装置に関する。
ス（積層ガラス）の検査装置であって、特に仮接着工程
における中間層の気泡の残留状態を測定し仮接着状態の
良否を判別するための装置に関する。
自動車のフロントガラスには、複数枚のガラスを例えば
ポリビニルブチラールのような合成樹脂を介して貼合わ
せた所謂安全ガラスが用いられている。このような合わ
せ（積層）ガラスは、重ね合ね−けたガラス板を加熱し
゛（所要の形状に形成し、次に個々のガラス板に分離し
てから板間に接着中間膜を挾んで予熱し、プレスロール
で仮圧着する。
ポリビニルブチラールのような合成樹脂を介して貼合わ
せた所謂安全ガラスが用いられている。このような合わ
せ（積層）ガラスは、重ね合ね−けたガラス板を加熱し
゛（所要の形状に形成し、次に個々のガラス板に分離し
てから板間に接着中間膜を挾んで予熱し、プレスロール
で仮圧着する。
すると、摺りガラス状でなくなり透過度が増す。
仮圧着い、中間層のエンボスをつぶしガラス板間の残留
空気を追出するために行われるが、この工程が不完全で
あると、オートクレーブにおいて最終圧着して完成され
る合わせガラスに気泡が残って不良品となることがある
。
空気を追出するために行われるが、この工程が不完全で
あると、オートクレーブにおいて最終圧着して完成され
る合わせガラスに気泡が残って不良品となることがある
。
そこで従来は仮圧着工程における中間膜エンボスの潰れ
状態を官能比較検査（限界見本に基く目視検査）し、摺
りガラス状の白い不透明部分の残存量に応して仮圧着が
終了した合わせガラスの良否判定及び選別（ランク分け
）を行っていた。しかしこのような目視検査は、検査員
を必要とし、定量的な標準化が困難であり、また個人差
があって確実で安定な検査が基体できなかった。
状態を官能比較検査（限界見本に基く目視検査）し、摺
りガラス状の白い不透明部分の残存量に応して仮圧着が
終了した合わせガラスの良否判定及び選別（ランク分け
）を行っていた。しかしこのような目視検査は、検査員
を必要とし、定量的な標準化が困難であり、また個人差
があって確実で安定な検査が基体できなかった。
本発明はこの問題にかんがみ、合わせガラス中間層の空
気の抜は具合を定量的に把握でき、仮圧着状態の管理精
度が上がり、合わせガラスの歩留、品質向上に寄与し得
る検査装置を提供することを１」的とする。
気の抜は具合を定量的に把握でき、仮圧着状態の管理精
度が上がり、合わせガラスの歩留、品質向上に寄与し得
る検査装置を提供することを１」的とする。
本発明の合ね−■ガラスの検査装置は、合わせガラスの
面を撮像して映像信号を得る撮像手段（ＣＣＤカメラ２
など）と、」二記映像信号を複数の量子化レベルでディ
ジタル化する手段（実施例の画、像処理装Ｗ３）と、量
子化レベル軸に沿って区分された階級（ｘ ＋ 、ｘ
ｚ ”−”−”’−””””’−’）の夫々に属するデ
ィジタルデータの度数を調べて階級一度数のヒストグラ
ム情報を得る手段（ＣＰＵ５）と、上記しストダラム情
報の基準からのずれに基づいて合わせガラスの中間層の
気泡残留状態を判別する手段（ＣＰＵ５）とを備えてい
る。
面を撮像して映像信号を得る撮像手段（ＣＣＤカメラ２
など）と、」二記映像信号を複数の量子化レベルでディ
ジタル化する手段（実施例の画、像処理装Ｗ３）と、量
子化レベル軸に沿って区分された階級（ｘ ＋ 、ｘ
ｚ ”−”−”’−””””’−’）の夫々に属するデ
ィジタルデータの度数を調べて階級一度数のヒストグラ
ム情報を得る手段（ＣＰＵ５）と、上記しストダラム情
報の基準からのずれに基づいて合わせガラスの中間層の
気泡残留状態を判別する手段（ＣＰＵ５）とを備えてい
る。
このように構成することにより、札較的簡単にしかも精
度良く仮圧着状態の良否を判別し２得るよ゛うにしてい
る。
度良く仮圧着状態の良否を判別し２得るよ゛うにしてい
る。
第１図は本発明による合ねゼガラス検査装置の一実施例
を示す概略システム図である。第１図において、仮接着
が完了した合わせガラス１に光源１０から照明光をあて
、その反射光をＣＣＤカメラ２ （又はＴ ］” Ｖカ
メラのような撮像管）で撮像し、そのビデオ出力を画像
処理装置３でへ／Ｄ変換して、ガラス面（二次元）から
の反射光の強度についてのデータを得ている。データは
映像モニター４に送られると共に、ＣＰＵ５に送られ、
ここで後述のデータ処理手順に従って合わせガラスの仮
接着状態の評価が行われる。評価結果はディスプレイ６
、プリンタ７、磁気ディスク装置８及びフロッピーディ
スク装置９に出力される。またこの際に評価の良否を警
報にて知ら一ロることも可能である。
を示す概略システム図である。第１図において、仮接着
が完了した合わせガラス１に光源１０から照明光をあて
、その反射光をＣＣＤカメラ２ （又はＴ ］” Ｖカ
メラのような撮像管）で撮像し、そのビデオ出力を画像
処理装置３でへ／Ｄ変換して、ガラス面（二次元）から
の反射光の強度についてのデータを得ている。データは
映像モニター４に送られると共に、ＣＰＵ５に送られ、
ここで後述のデータ処理手順に従って合わせガラスの仮
接着状態の評価が行われる。評価結果はディスプレイ６
、プリンタ７、磁気ディスク装置８及びフロッピーディ
スク装置９に出力される。またこの際に評価の良否を警
報にて知ら一ロることも可能である。
なおＣＣＤカメラやＩ ＴＶカメラの分解能が低くて、
１回の撮像でガラス面全体を評価することが困難な場合
には、カメラ２又はガラス１をＸ−Ｙの二軸ロボット等
で相対的に動かして、ガラス面を縦横に分割した複数部
分ごとに撮像してからデータ処理を行うようにしてもよ
い。或いは、複数台のカメラを用いて、ガラス面の複数
部分を同時に撮像してもよい。
１回の撮像でガラス面全体を評価することが困難な場合
には、カメラ２又はガラス１をＸ−Ｙの二軸ロボット等
で相対的に動かして、ガラス面を縦横に分割した複数部
分ごとに撮像してからデータ処理を行うようにしてもよ
い。或いは、複数台のカメラを用いて、ガラス面の複数
部分を同時に撮像してもよい。
仮接着状態の評価、即ち中間層の空気の抜は具合の評価
のアルゴリズムについて説明すると、まず画像処理装置
に送られたビデオ信号は、例えば５１２Ｘ５１２の領域
に分割された各領域について２５６の量子化レベルでＡ
／Ｄ変換され、メモリーに取り込まれる。なお各領域の
面積は、ガラス内の中間層の空気の抜は具合を評価でき
る面積であればよく、分割数は５１２Ｘ５１２以上でも
以下であってもよい。また量子化数はこの場合８ビツト
であるが、１６ビ・イト（６５５３６レベル）としても
よい。
のアルゴリズムについて説明すると、まず画像処理装置
に送られたビデオ信号は、例えば５１２Ｘ５１２の領域
に分割された各領域について２５６の量子化レベルでＡ
／Ｄ変換され、メモリーに取り込まれる。なお各領域の
面積は、ガラス内の中間層の空気の抜は具合を評価でき
る面積であればよく、分割数は５１２Ｘ５１２以上でも
以下であってもよい。また量子化数はこの場合８ビツト
であるが、１６ビ・イト（６５５３６レベル）としても
よい。
次にガラス１のエツジ検出が行われる。第２図は映像信
号の波形図で、ガラスのエツジは画像の水平方向及び垂
直方向の端から内側に入って最初に急峻にレベルが立上
がった（落ち込んだ）位置Ａｌ、Ａ２としてとらえるこ
とができる。エツジ位置のアドレスが定まれば、５１２
Ｘ５ ］ ２個のデータのうちガラス部分のみのデータ
を取り出すことができる。このデータはＣＰＵ５に転送
される。
号の波形図で、ガラスのエツジは画像の水平方向及び垂
直方向の端から内側に入って最初に急峻にレベルが立上
がった（落ち込んだ）位置Ａｌ、Ａ２としてとらえるこ
とができる。エツジ位置のアドレスが定まれば、５１２
Ｘ５ ］ ２個のデータのうちガラス部分のみのデータ
を取り出すことができる。このデータはＣＰＵ５に転送
される。
ＣＰＵ５では、第３図のようなヒストグラムがメモリー
内にデータテーブルの形で形成される。
内にデータテーブルの形で形成される。
この場合、第３図の横軸の階級は例えば２５６レベルの
量子化レベルを２０レベル単位で区切ったものでよく、
また縦軸は各階級の範囲に属するデータ数、即ら度数で
ある。
量子化レベルを２０レベル単位で区切ったものでよく、
また縦軸は各階級の範囲に属するデータ数、即ら度数で
ある。
仮圧着の良否判定は、例えばヒストグラムの平均値Ｙ、
即ち総崩数（度数の累積値）を階級ｘＩ＋ｘ 、 ：−
−−−−−−−−−−−−の個数で割った値や、標準偏
差値σ、即ち分散の平方根を、標準サンプルの値と比較
することにおいて行われ、標準からのずれ量が予め設定
された許容範囲を越える場合に不良と判断する。
即ち総崩数（度数の累積値）を階級ｘＩ＋ｘ 、 ：−
−−−−−−−−−−−−の個数で割った値や、標準偏
差値σ、即ち分散の平方根を、標準サンプルの値と比較
することにおいて行われ、標準からのずれ量が予め設定
された許容範囲を越える場合に不良と判断する。
或いは、第３図に示す成る階級値ＡＩ！以下の集積（累
積）度数と標準サンプルの値とを比較してもよい。なお
階級値の低い方は第２図の映像波形の低レベル側に対応
し、これはガラス中間層の仮圧着か不完全な不透明部分
に対応する。従って、集積度数が許容範囲より多くなれ
ば不良と判定する。
積）度数と標準サンプルの値とを比較してもよい。なお
階級値の低い方は第２図の映像波形の低レベル側に対応
し、これはガラス中間層の仮圧着か不完全な不透明部分
に対応する。従って、集積度数が許容範囲より多くなれ
ば不良と判定する。
仮接着状態の評価の外に、エツジ部のシール状態の判定
も行われる。第４図のガラスの平面図に示すように、エ
ツジＥはガラス１のエツジから約２５１（第４図の点線
）入った領域であり、この部分の仮圧着が不良であると
、オートクレーブを用いた本接着工程で油浸又は空浸の
原因となるので、中央部Ｃよりも仮圧着が十分に行われ
、また中央部Ｃよりも厳しい判定基準が用いられている
。
も行われる。第４図のガラスの平面図に示すように、エ
ツジＥはガラス１のエツジから約２５１（第４図の点線
）入った領域であり、この部分の仮圧着が不良であると
、オートクレーブを用いた本接着工程で油浸又は空浸の
原因となるので、中央部Ｃよりも仮圧着が十分に行われ
、また中央部Ｃよりも厳しい判定基準が用いられている
。
エツジ部Ｅは透明度が高く、第２図の波形図に示すよう
に、映像信号のレベルが高いので、他の部分と識別して
エツジ部Ｅのデータのみを取り出すことができる。取り
出されたデータは、ＣＰＵ５に送られ、エツジのシール
状態が評価される。評価アルゴリズムは、既述と同様に
データのヒストグラ１、テーブルを作成し、その平均値
Ｘ、標準偏差σを計算し、これらの標準ザンプルからの
ずれに基づいて良否判定する方式でよい。また成る階級
以下の累積値の標準からのずれに基づいて判定してもよ
い。
に、映像信号のレベルが高いので、他の部分と識別して
エツジ部Ｅのデータのみを取り出すことができる。取り
出されたデータは、ＣＰＵ５に送られ、エツジのシール
状態が評価される。評価アルゴリズムは、既述と同様に
データのヒストグラ１、テーブルを作成し、その平均値
Ｘ、標準偏差σを計算し、これらの標準ザンプルからの
ずれに基づいて良否判定する方式でよい。また成る階級
以下の累積値の標準からのずれに基づいて判定してもよ
い。
なお、第１図の画像処理装置３ば、Ａ／Ｄ変換のみでな
く、ＣＣＤカメラ２の出力データをＣＰＵ５に送出する
前に、データに対して必要な前処理を施してＣＰＵ５で
のデータ処理をより容易にする機能を備えていてよい。
く、ＣＣＤカメラ２の出力データをＣＰＵ５に送出する
前に、データに対して必要な前処理を施してＣＰＵ５で
のデータ処理をより容易にする機能を備えていてよい。
例えば、５Ｉ２×５１２の個々の領域の映像レベルは、
その領域内の成る一点の映像データによって代表されて
いるが、一つの領域内で複数個の映像データを重ね合わ
せることにより、より濃淡のはっきりしたデータを得る
ことができる。即ち、成る領域の平面方向（Ｘ、Ｙ方向
）の測定光量を三次元で視覚化すると第５Ａ図のように
なっていて、仮圧着の不良部分は二次元の拡がりを有し
ている。Ｘ方向に連続したポイントのデータを取ると、
第５Ｂ図■〜■のように成る欠点レベルを越えるポイン
トや越えないポイントが含まれる。そこで第５Ｃ図のよ
うに成る一次元方向に連続したポイントの映像データを
重合わせることにより、レベル差がより明瞭になったデ
ータを得ることができる。
その領域内の成る一点の映像データによって代表されて
いるが、一つの領域内で複数個の映像データを重ね合わ
せることにより、より濃淡のはっきりしたデータを得る
ことができる。即ち、成る領域の平面方向（Ｘ、Ｙ方向
）の測定光量を三次元で視覚化すると第５Ａ図のように
なっていて、仮圧着の不良部分は二次元の拡がりを有し
ている。Ｘ方向に連続したポイントのデータを取ると、
第５Ｂ図■〜■のように成る欠点レベルを越えるポイン
トや越えないポイントが含まれる。そこで第５Ｃ図のよ
うに成る一次元方向に連続したポイントの映像データを
重合わせることにより、レベル差がより明瞭になったデ
ータを得ることができる。
またＣＣＤカメラ２から得られる映像信号のうち必要な
部分（ｆｉ、Ｉ域）のみを利用して良否判定を行うよう
な場合、この部分を拡大してモニターＴ■に表示するよ
うなデータ処理機能を付加してもよい。
部分（ｆｉ、Ｉ域）のみを利用して良否判定を行うよう
な場合、この部分を拡大してモニターＴ■に表示するよ
うなデータ処理機能を付加してもよい。
（発明の効果〕
本発明は上述の如く、ガラス面の撮像データのディジタ
ル値に基づいてヒストグラム情報を得て、このヒストグ
ラム情報の標準からのずれによって合わせガラスの仮圧
着状態の良否を判定するようにしたから、官能検査によ
らずに簡単な装置でもって、合わせガラスの中間層の空
気の抜は具合を定量的に把握することができ、従って仮
圧着状態の管理精度が上がり、合わせガラスの歩留及び
品質向−トを図ることができる。
ル値に基づいてヒストグラム情報を得て、このヒストグ
ラム情報の標準からのずれによって合わせガラスの仮圧
着状態の良否を判定するようにしたから、官能検査によ
らずに簡単な装置でもって、合わせガラスの中間層の空
気の抜は具合を定量的に把握することができ、従って仮
圧着状態の管理精度が上がり、合わせガラスの歩留及び
品質向−トを図ることができる。
またヒストグラム情報によって判定しているから、個々
のサンプル点において映、像レベルが不良限界値を越え
るか否かを判定するようなりリテイ力ルな検査を行わな
くて良く、ガラス面の全体についての不良を積分した総
合的なレベルで評価することができ、従って人間の官能
検査により近い検査を定量的に行うことができる。
のサンプル点において映、像レベルが不良限界値を越え
るか否かを判定するようなりリテイ力ルな検査を行わな
くて良く、ガラス面の全体についての不良を積分した総
合的なレベルで評価することができ、従って人間の官能
検査により近い検査を定量的に行うことができる。
第１図は本発明による合わせガラスの検査装置のシステ
ムブロック図、第２図はガラス面の映像データの一例を
示す波形図、第３図は合わせガラスの仮圧着状態の良否
判定に用いられる映像データのヒストグラム、第４図は
合わせガラスの正面図、第５Ａ図はガラスの平面方向（
Ｘ、Ｙ方向）に分布する映像データを三次元で視覚化し
たグラフ、第５Ｂ図は第５Ａ図の個々のポイントの映像
データのグラフ、第５Ｃ図は映像データの重ね合わせ処
理を示すグラフである。 なお図面に用いた符号において、 １−−−−−−−−−−−−・・−合わせガラス２−−
−−〜−−−−−−−−ＣＣＤカメラ３−−−−−−−
−−一画像処理装置 ５−一−−−−−−ＣＰ Ｕ である。
ムブロック図、第２図はガラス面の映像データの一例を
示す波形図、第３図は合わせガラスの仮圧着状態の良否
判定に用いられる映像データのヒストグラム、第４図は
合わせガラスの正面図、第５Ａ図はガラスの平面方向（
Ｘ、Ｙ方向）に分布する映像データを三次元で視覚化し
たグラフ、第５Ｂ図は第５Ａ図の個々のポイントの映像
データのグラフ、第５Ｃ図は映像データの重ね合わせ処
理を示すグラフである。 なお図面に用いた符号において、 １−−−−−−−−−−−−・・−合わせガラス２−−
−−〜−−−−−−−−ＣＣＤカメラ３−−−−−−−
−−一画像処理装置 ５−一−−−−−−ＣＰ Ｕ である。
Claims (1)
- 合わせガラスの面を撮像して映像信号を得る撮像手段と
、上記映像信号を複数の量子化レベルでディジタル化す
る手段と、量子化レベル軸に沿って区分された階級の夫
々に属するディジタルデータの度数を調べて階級一度数
のヒストグラム情報を得る手段と、上記ヒストグラム情
報の基準からのずれに基づいて合わせガラスの中間層の
気泡残留状態を判別する手段とを備える合わせガラスの
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP552685A JPS61164145A (ja) | 1985-01-16 | 1985-01-16 | 合わせガラスの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP552685A JPS61164145A (ja) | 1985-01-16 | 1985-01-16 | 合わせガラスの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61164145A true JPS61164145A (ja) | 1986-07-24 |
Family
ID=11613632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP552685A Pending JPS61164145A (ja) | 1985-01-16 | 1985-01-16 | 合わせガラスの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61164145A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013075340A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス板研磨装置の監視方法及び監視システム |
| JP2014163686A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Azbil Corp | 剥離検査システム、剥離検査装置および剥離検査方法 |
| CN108490003A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-09-04 | 信义节能玻璃（四川）有限公司 | 夹层玻璃拆分装置及夹层玻璃光学质量缺陷的判断方法 |
-
1985
- 1985-01-16 JP JP552685A patent/JPS61164145A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013075340A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス板研磨装置の監視方法及び監視システム |
| JP2014163686A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Azbil Corp | 剥離検査システム、剥離検査装置および剥離検査方法 |
| CN108490003A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-09-04 | 信义节能玻璃（四川）有限公司 | 夹层玻璃拆分装置及夹层玻璃光学质量缺陷的判断方法 |
| CN108490003B (zh) * | 2018-05-22 | 2024-02-02 | 信义节能玻璃（四川）有限公司 | 夹层玻璃拆分装置及夹层玻璃光学质量缺陷的判断方法 |
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