JPH0352015B2 - - Google Patents
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- JPH0352015B2 JPH0352015B2 JP59143636A JP14363684A JPH0352015B2 JP H0352015 B2 JPH0352015 B2 JP H0352015B2 JP 59143636 A JP59143636 A JP 59143636A JP 14363684 A JP14363684 A JP 14363684A JP H0352015 B2 JPH0352015 B2 JP H0352015B2
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は検査される対象物体をテレビカメラ
やラインセンサなどの撮像手段を介して撮像し、
その際得られた画像を分析して対称物体の表面の
欠陥を検出する装置に関する。
やラインセンサなどの撮像手段を介して撮像し、
その際得られた画像を分析して対称物体の表面の
欠陥を検出する装置に関する。
以下各図の説明において同一の符号は同一又は
相当部分を示す。
相当部分を示す。
軸対称の外形を持ち、表面にマークや文字など
が印刷された検査対象物体（以下被検体という）
としてのカプセルや電線表面の汚れや傷などの欠
陥検出方法としては、従来よりこれらの被検体表
面を第５図、第６図に示すようにいくつかの方向
（視線Ａ１〜Ａ３）から観測することが行なわれ
ている。
が印刷された検査対象物体（以下被検体という）
としてのカプセルや電線表面の汚れや傷などの欠
陥検出方法としては、従来よりこれらの被検体表
面を第５図、第６図に示すようにいくつかの方向
（視線Ａ１〜Ａ３）から観測することが行なわれ
ている。
すなわち第５図において、１−１は被検体１と
しての電線で、軸AXを中心とする軸対称の外形
を持ち、その表面には図のように正常パターンと
しての“ABC”のようなマークＭが印刷されて
おり、搬送方向Ａ０に向かつて移動している。
２，２−１，２−２，２−３は電線１−１上の前
記欠陥を検出するためにそれぞれ異つた位置と視
線をもつように配設されたテレビカメラ（カメラ
ともいう）で、この例では各カメラの視線Ａ１〜
Ａ３がそれぞれ電線１−１の軸AXに直交し、か
つ各カメラ２−１〜２−３によつて得られた各画
像を順次隣接させると電線の搬送方向Ａ０で測つ
た同一長さ部分を軸AXを中心に隙間及び重複な
しに一周して眺めた画像が得られるように、還元
すれば電線１−１の表面の欠陥をちようど死角な
しに撮像できるように配設されている。ただし簡
単な検査装置の場合は２つのカメラ２を、電線１
−１を挾んで対向するように（すなわちそれぞれ
表側と裏側の２面を撮像するように）設ける場合
も多い。なおこの検査方法を２方向検査と呼ぶこ
ととする。
しての電線で、軸AXを中心とする軸対称の外形
を持ち、その表面には図のように正常パターンと
しての“ABC”のようなマークＭが印刷されて
おり、搬送方向Ａ０に向かつて移動している。
２，２−１，２−２，２−３は電線１−１上の前
記欠陥を検出するためにそれぞれ異つた位置と視
線をもつように配設されたテレビカメラ（カメラ
ともいう）で、この例では各カメラの視線Ａ１〜
Ａ３がそれぞれ電線１−１の軸AXに直交し、か
つ各カメラ２−１〜２−３によつて得られた各画
像を順次隣接させると電線の搬送方向Ａ０で測つ
た同一長さ部分を軸AXを中心に隙間及び重複な
しに一周して眺めた画像が得られるように、還元
すれば電線１−１の表面の欠陥をちようど死角な
しに撮像できるように配設されている。ただし簡
単な検査装置の場合は２つのカメラ２を、電線１
−１を挾んで対向するように（すなわちそれぞれ
表側と裏側の２面を撮像するように）設ける場合
も多い。なおこの検査方法を２方向検査と呼ぶこ
ととする。
また第６図は、第５図と同様に被検体１として
の薬粉充填用のカプセル１−２の表面の欠陥を検
査する場合の例を示す。このようにマークＭの位
置が、これらの被検体１，１−１，１−２の軸
AXを中心として様々な方向から観測される。
の薬粉充填用のカプセル１−２の表面の欠陥を検
査する場合の例を示す。このようにマークＭの位
置が、これらの被検体１，１−１，１−２の軸
AXを中心として様々な方向から観測される。
従つて同一のマークＭは、ひとつのカメラ２の
視野内だけで観測されたり、ふたつのカメラ２の
視野内で共に観測されたりするため、複数の観測
結果を総合して良否を判定する必要がある。
視野内だけで観測されたり、ふたつのカメラ２の
視野内で共に観測されたりするため、複数の観測
結果を総合して良否を判定する必要がある。
同一の被検体（カプセルの場合）または同一の
検査部分（電線の場合）の複数の方向（視線）か
らの観測は通常、同時には観測できないため、そ
れぞれの方向での観測結果を記憶しておいて、す
べての方向での観測を終えてから総合判定するこ
とが行われる。
検査部分（電線の場合）の複数の方向（視線）か
らの観測は通常、同時には観測できないため、そ
れぞれの方向での観測結果を記憶しておいて、す
べての方向での観測を終えてから総合判定するこ
とが行われる。
この場合、記憶しておく情報は画像情報そのも
のではデータ量が多くなるため、画像情報中の何
らかの特徴量を記憶しておくなど記憶情報量を圧
縮することが望まれている。
のではデータ量が多くなるため、画像情報中の何
らかの特徴量を記憶しておくなど記憶情報量を圧
縮することが望まれている。
この発明は前記の要望を満たすために上記の情
報量圧縮を極端に行いうるのみならず、総合判定
に要する処理量も非常に少なくてすませることが
出来る欠陥判別装置を提供することを目的とす
る。
報量圧縮を極端に行いうるのみならず、総合判定
に要する処理量も非常に少なくてすませることが
出来る欠陥判別装置を提供することを目的とす
る。
本発明の要点は軸対称の外形と、表面に印刷マ
ーク、文字などの正常パターン及び場合によつて
汚れなどの欠陥パターン（これらのパターンを一
括し被検出パターンと呼ぶ）とを持ち、かつ撮像
が完了するまでは少くとも前記軸を中心とする回
転を行うことのない被撮像物体（薬剤カプセルな
どの被検体）上の前記欠陥パターンを検出する装
置において、 前記軸に向い、この軸と直交する視線を持ち、
かつ該視線ごとに撮像された前記被撮像物体の画
像が、隣接しつつ隙間及び重複なしに被撮像物体
を１周して眺めるように配設された複数の撮像手
段（テレビカメラなど）と、 前記の各撮像手段によつて撮像された前記被撮
像物体の各画像を対応する２値化画像に変換する
２値化画像抽出手段（外形２値化回路、マーク２
値化回路など）と、 前記２値化画像ごとに、前記被撮像物体の外形
の座標データを求め、該座標データから（外形パ
ターンの中心線の座標を演算することなどによ
り）対応する前記軸の座標を抽出する軸座標抽出
手段（マイクロコンピユータなど）と、前記２値
化画像ごとに、前記被検出パターンの座標データ
を求め、該座標データから（射影データの中心線
の座標を演算することなどにより）当該被検出パ
ターンの位置を表わす代表座標を抽出するパター
ン代表座標抽出手段（マイクロコンピユータな
ど）と、 対応する前記軸の座標及び被検出パターンの代
表座標から、該代表座標が、前記軸からの所定の
１又は複数のへだたり値によつて区分される前記
外形内の領域の何れに属するかを示すコード（パ
ターン位置コードと呼ぶ）を抽出するパターン位
置コード抽出手段（マイクロコンピユータなど）
と、 前記被撮像物体上の正常パターンが前記の各撮
像手段に対して占める空間内の相対位置に対応
し、各撮像手段を介し得られる前記パターン位置
コードの組合せからなるデータ（正常パターン位
置コード組合せデータと呼ぶ）を記憶する手段
（メモリなど）と、 前記の各撮像手段を介し得られた前記被検出パ
ターンの前記パターン位置コードの組合せが、前
記正常パターン位置コード組合せデータに含まれ
るか否かに応じて、当該の被検出パターンを正常
パターンか、欠陥パターンかに区分判別する手段
（マイクロコンピユータなど）と、からなるよう
にした点にある。
ーク、文字などの正常パターン及び場合によつて
汚れなどの欠陥パターン（これらのパターンを一
括し被検出パターンと呼ぶ）とを持ち、かつ撮像
が完了するまでは少くとも前記軸を中心とする回
転を行うことのない被撮像物体（薬剤カプセルな
どの被検体）上の前記欠陥パターンを検出する装
置において、 前記軸に向い、この軸と直交する視線を持ち、
かつ該視線ごとに撮像された前記被撮像物体の画
像が、隣接しつつ隙間及び重複なしに被撮像物体
を１周して眺めるように配設された複数の撮像手
段（テレビカメラなど）と、 前記の各撮像手段によつて撮像された前記被撮
像物体の各画像を対応する２値化画像に変換する
２値化画像抽出手段（外形２値化回路、マーク２
値化回路など）と、 前記２値化画像ごとに、前記被撮像物体の外形
の座標データを求め、該座標データから（外形パ
ターンの中心線の座標を演算することなどによ
り）対応する前記軸の座標を抽出する軸座標抽出
手段（マイクロコンピユータなど）と、前記２値
化画像ごとに、前記被検出パターンの座標データ
を求め、該座標データから（射影データの中心線
の座標を演算することなどにより）当該被検出パ
ターンの位置を表わす代表座標を抽出するパター
ン代表座標抽出手段（マイクロコンピユータな
ど）と、 対応する前記軸の座標及び被検出パターンの代
表座標から、該代表座標が、前記軸からの所定の
１又は複数のへだたり値によつて区分される前記
外形内の領域の何れに属するかを示すコード（パ
ターン位置コードと呼ぶ）を抽出するパターン位
置コード抽出手段（マイクロコンピユータなど）
と、 前記被撮像物体上の正常パターンが前記の各撮
像手段に対して占める空間内の相対位置に対応
し、各撮像手段を介し得られる前記パターン位置
コードの組合せからなるデータ（正常パターン位
置コード組合せデータと呼ぶ）を記憶する手段
（メモリなど）と、 前記の各撮像手段を介し得られた前記被検出パ
ターンの前記パターン位置コードの組合せが、前
記正常パターン位置コード組合せデータに含まれ
るか否かに応じて、当該の被検出パターンを正常
パターンか、欠陥パターンかに区分判別する手段
（マイクロコンピユータなど）と、からなるよう
にした点にある。
以下第１図〜第４図に基づいて本発明を説明す
る。第１図は本発明の１実施例の構成を示すブロ
ツク図、第２図は第１図の処理動作の流れを示す
図、第３図は第１図における２つのカメラから得
られた画像とコード区分の例を示す図、第４図は
各視線に対応するコードの組合せと良否判別との
対応例を示す図である。
る。第１図は本発明の１実施例の構成を示すブロ
ツク図、第２図は第１図の処理動作の流れを示す
図、第３図は第１図における２つのカメラから得
られた画像とコード区分の例を示す図、第４図は
各視線に対応するコードの組合せと良否判別との
対応例を示す図である。
第１図において、１１はマイクロコンピユータ
（以下CPUと略す）、Ｂはバスライン、１２はメ
モリ、１３は外形画像データメモリ、１４は外形
２値化回路、１５はマーク画像射影メモリ、１６
はマーク２値化回路、SW１はスイツチである。
（以下CPUと略す）、Ｂはバスライン、１２はメ
モリ、１３は外形画像データメモリ、１４は外形
２値化回路、１５はマーク画像射影メモリ、１６
はマーク２値化回路、SW１はスイツチである。
この例は第６図におけるカプセル１−２を前記
の２方向検査で検査する例を示し、カメラ２−１
がカプセル１−２の一方向（便宜上表側と呼ぶ）
を検査するものとすると、カメラ２−２が同一の
カプセル１−２の反対方向（便宜上裏側と呼ぶ）
を検査するようになつている。カメラ２−１，２
−２により表、裏の２方向（視線）からの観測に
よつて得られた各画像信号２−１ａ，２−２ａは
各カメラ２−１，２−２から異つたタイミングで
出力され、そのタイミングに合わせてスイツチ
SW１が切換えられ、画像信号２−１ａ又は２−
２ａごとに一旦それぞれ独立に処理されたうえメ
モリ１２に取込まれる。
の２方向検査で検査する例を示し、カメラ２−１
がカプセル１−２の一方向（便宜上表側と呼ぶ）
を検査するものとすると、カメラ２−２が同一の
カプセル１−２の反対方向（便宜上裏側と呼ぶ）
を検査するようになつている。カメラ２−１，２
−２により表、裏の２方向（視線）からの観測に
よつて得られた各画像信号２−１ａ，２−２ａは
各カメラ２−１，２−２から異つたタイミングで
出力され、そのタイミングに合わせてスイツチ
SW１が切換えられ、画像信号２−１ａ又は２−
２ａごとに一旦それぞれ独立に処理されたうえメ
モリ１２に取込まれる。
すなわちスイツチSW１の選択によつて処理さ
れる側となつた画像信号２−１ａ又は２−２ａは
同時に２つの２値化回路、つまり外形２値化回路
１４とマーク２値化回路１６に入力される。これ
らの２値化回路の出力信号１４ａ，１６ａは、そ
れぞれ外形画像データメモリ１３とマーク画像射
影メモリ１５に入力され、後述する画像データと
して記憶される。CPU１１は上記画像データに
もとづいて、マークＭの位置を検出してコード化
位置情報をメモリ１２に記憶させたり、同一カプ
セルの裏側からの観測の結果が得られた時に、メ
モリ１２に記憶させておいた。先の表側の観測結
果を検索して、表、裏２方向の観測結果の総合判
定を行う。第２図は上述の画像データの抽出の流
れを示している。同図を説明すると、カメラ２
（２−１又は２−２）がとらえたカプセルの外観
の生画像（図Ａ）は画像信号２−１ａ又は２−２
ａとなつて２値化回路１４及び１６に入力されこ
れらの回路の処理によつて、それぞれカプセル１
−２の外形Ｏを示す外形２値化画像（図Ｂ）及び
そのマークＭを示すマーク２値化画像（図Ｃ）が
得られる。なお各図Ｂ，ＣにおいてＸ，Ｙはカメ
ラ２の画像掃査の方向を示す。次に図Ｂ，Ｃの２
値化画像から周知の処理方法に基づき、画像メモ
リ回路１３及び１５を介して、図Ｄのようにそれ
ぞれ外形Ｏの輪郭上の各点の座標を示す外形輪郭
データＸ１，Ｙ１，Ｘ２，Ｙ２…Xn，Ynおよび
図Ｃで得られたマークＭの２値化画像のＹ軸上へ
の射影パターン（同一のＹ座標値を持つレベル
“１”の２値化画像データの数の総和をＹ座標値
の大きさの順に配列してなるパターン）Ｐのデー
タとしての射影パターンデータが抽出される。
れる側となつた画像信号２−１ａ又は２−２ａは
同時に２つの２値化回路、つまり外形２値化回路
１４とマーク２値化回路１６に入力される。これ
らの２値化回路の出力信号１４ａ，１６ａは、そ
れぞれ外形画像データメモリ１３とマーク画像射
影メモリ１５に入力され、後述する画像データと
して記憶される。CPU１１は上記画像データに
もとづいて、マークＭの位置を検出してコード化
位置情報をメモリ１２に記憶させたり、同一カプ
セルの裏側からの観測の結果が得られた時に、メ
モリ１２に記憶させておいた。先の表側の観測結
果を検索して、表、裏２方向の観測結果の総合判
定を行う。第２図は上述の画像データの抽出の流
れを示している。同図を説明すると、カメラ２
（２−１又は２−２）がとらえたカプセルの外観
の生画像（図Ａ）は画像信号２−１ａ又は２−２
ａとなつて２値化回路１４及び１６に入力されこ
れらの回路の処理によつて、それぞれカプセル１
−２の外形Ｏを示す外形２値化画像（図Ｂ）及び
そのマークＭを示すマーク２値化画像（図Ｃ）が
得られる。なお各図Ｂ，ＣにおいてＸ，Ｙはカメ
ラ２の画像掃査の方向を示す。次に図Ｂ，Ｃの２
値化画像から周知の処理方法に基づき、画像メモ
リ回路１３及び１５を介して、図Ｄのようにそれ
ぞれ外形Ｏの輪郭上の各点の座標を示す外形輪郭
データＸ１，Ｙ１，Ｘ２，Ｙ２…Xn，Ynおよび
図Ｃで得られたマークＭの２値化画像のＹ軸上へ
の射影パターン（同一のＹ座標値を持つレベル
“１”の２値化画像データの数の総和をＹ座標値
の大きさの順に配列してなるパターン）Ｐのデー
タとしての射影パターンデータが抽出される。
従つて前記外形輪郭データから、カプセル外形
の長軸方向の中心線CL１のＹ座標Ycは、 （Y1＋Yn）／２＝Yc （ただしＹ１及びYnはそれぞれ前記輪郭データ
中の最小及び最大のＹ座標値である。） として計算される。一方、マークＭの同方向（前
記長軸方向）の中心線CL２のＹ座標YCMは、前
記射影パターンデータより、 YL＋YM／２＝YCM （ただしYL及びYMは前記パターンＰのデータ中
の最小及び最大のＹ座標値である。） として計算される。
の長軸方向の中心線CL１のＹ座標Ycは、 （Y1＋Yn）／２＝Yc （ただしＹ１及びYnはそれぞれ前記輪郭データ
中の最小及び最大のＹ座標値である。） として計算される。一方、マークＭの同方向（前
記長軸方向）の中心線CL２のＹ座標YCMは、前
記射影パターンデータより、 YL＋YM／２＝YCM （ただしYL及びYMは前記パターンＰのデータ中
の最小及び最大のＹ座標値である。） として計算される。
従つてこれらの中心線CL１とCL２間のＹ座標
におけるへだたりYHは YH＝YC−YCM と計算される。
におけるへだたりYHは YH＝YC−YCM と計算される。
いまマークＭがカプセルの外形Ｏ内のどの位置
にあるかを知るための情報として、座標値をその
まま用いることは、データの量が過大となつて判
別の処理をいたずらに繁雑にすることになるの
で、例えば外形に含まれる領域をＹ座標で区分
し、上部周辺領域、中央部領域、下部周辺領域と
いつた３領域を定義するコード１〜３を設けてマ
ークＭの位置を表わすこととする。
にあるかを知るための情報として、座標値をその
まま用いることは、データの量が過大となつて判
別の処理をいたずらに繁雑にすることになるの
で、例えば外形に含まれる領域をＹ座標で区分
し、上部周辺領域、中央部領域、下部周辺領域と
いつた３領域を定義するコード１〜３を設けてマ
ークＭの位置を表わすこととする。
すなわちコード化の区分は第３図のようにカプ
セルの半径Ｒよりも小さい一定のへだたり境界値
YTを用いて コード１（上部周辺領域）：YH＞YT＞０（外形Ｏの
中心線CL１の座標YCに対してマークＭの中心
線CL２が値YT以上のへだたりで上側にある。） コード２（中央部領域）：YT≧YH≧−YT（外形の
中心線CL１の座標YCに対し、マークの中心線
CL２の座標が上、下側とも値YTのへだたり以
内で中央部の領域にある。） コード３（下部周辺領域）：YH＜−YT（外形の中心
線CL１の座標YCに対しマークの中心線CL２が
値YT以上のへだたりで下側にある。） というように定める。
セルの半径Ｒよりも小さい一定のへだたり境界値
YTを用いて コード１（上部周辺領域）：YH＞YT＞０（外形Ｏの
中心線CL１の座標YCに対してマークＭの中心
線CL２が値YT以上のへだたりで上側にある。） コード２（中央部領域）：YT≧YH≧−YT（外形の
中心線CL１の座標YCに対し、マークの中心線
CL２の座標が上、下側とも値YTのへだたり以
内で中央部の領域にある。） コード３（下部周辺領域）：YH＜−YT（外形の中心
線CL１の座標YCに対しマークの中心線CL２が
値YT以上のへだたりで下側にある。） というように定める。
ただしマークＭがカプセル外形Ｏの上、下の端
部に来た場合などで観測されない場合にはコード
０と定義する。
部に来た場合などで観測されない場合にはコード
０と定義する。
このようにして互に視線が平行しカプセルを
表、裏２方向から観測するように配置されたカメ
ラ２−１，２−２の各画像第３図Ａ，Ｂ（ただし
図Ｂにおける点線のマークＭは反対側にあつて見
えないことを示している。）から得られた前記コ
ードの組合せによる欠陥良否判定の例を第４図に
示す。
表、裏２方向から観測するように配置されたカメ
ラ２−１，２−２の各画像第３図Ａ，Ｂ（ただし
図Ｂにおける点線のマークＭは反対側にあつて見
えないことを示している。）から得られた前記コ
ードの組合せによる欠陥良否判定の例を第４図に
示す。
第４図において、コード０〜３の区分を示すＡ
１，Ａ２は前記２つのカメラ２−１，２−２の視
線（観測方向）である。従つて、Ａ１，Ａ２を方
向とも呼ぶ。また同図内の○印は“良”の判定、
×印は“否”の判定を示す。例えば方向Ａ１側の
コード０と方向Ａ２側のコード０〜３を“良”と
判定しているのは方向Ａ１（表側とする）からは
マークＭは見えないが、方向Ａ２（裏側とする）
からは見えないか（コード０）、いずれかの領域
で見える（コード１〜３）場合は“良”としてい
る。（ただしここで方向Ａ２のコード０との組合
せはカプセルの上下の端面であつても必ずマーク
Ｍがいずれかの方向Ａ１，Ａ２から観測されねば
ならないような、マークＭの大きさ及びへだたり
値YTの組合せである場合には“否”（×印）とす
る場合もある。） 次に方向Ａ１側のコード１と方向Ａ２側のコー
ド０、１の組合せを“良”とし、方向Ａ２側のコ
ード２、３との組合せを“否”としているのは、
方向Ａ１から見てマークＭが上部周辺領域にある
場合、方向Ａ２からは見えないか（コード０）、
又は上部周辺領域に見える（コード１）を“良”
とし、それ以外を“否”としている。これは方向
Ａ２でコード２、３の領域にマーク（らしいも
の）が見えた場合、方向Ａ１の観測マークを真の
マークとすれば方向Ａ２の観測マークは同じマー
クが見える筈はないので偽のマーク（すなわち欠
陥）であり、逆に方向Ａ２の観測マークを真とす
れば、方向Ａ１の観測マークは偽となる筈だから
である。（ただしここで方向Ａ２側のコード１と
の組合せは、同じマークがＡ１，Ａ２２方向から
ともに上部周辺領域に見える筈がないようなマー
クＭの大きさ及びへだたり値YTの組合せのとき
は“否”（×印）とする場合もある。） 同様にして方向Ａ１側のコード２と方向Ａ２側
のコード０との組合せを“良”、同じく方向Ａ２
側のコード１〜３との組合せを“否”としてい
る。これは方向Ａ１で見てマークが中央部領域に
見える場合、Ｂ方向からは同じくマークが見える
筈はないからである。
１，Ａ２は前記２つのカメラ２−１，２−２の視
線（観測方向）である。従つて、Ａ１，Ａ２を方
向とも呼ぶ。また同図内の○印は“良”の判定、
×印は“否”の判定を示す。例えば方向Ａ１側の
コード０と方向Ａ２側のコード０〜３を“良”と
判定しているのは方向Ａ１（表側とする）からは
マークＭは見えないが、方向Ａ２（裏側とする）
からは見えないか（コード０）、いずれかの領域
で見える（コード１〜３）場合は“良”としてい
る。（ただしここで方向Ａ２のコード０との組合
せはカプセルの上下の端面であつても必ずマーク
Ｍがいずれかの方向Ａ１，Ａ２から観測されねば
ならないような、マークＭの大きさ及びへだたり
値YTの組合せである場合には“否”（×印）とす
る場合もある。） 次に方向Ａ１側のコード１と方向Ａ２側のコー
ド０、１の組合せを“良”とし、方向Ａ２側のコ
ード２、３との組合せを“否”としているのは、
方向Ａ１から見てマークＭが上部周辺領域にある
場合、方向Ａ２からは見えないか（コード０）、
又は上部周辺領域に見える（コード１）を“良”
とし、それ以外を“否”としている。これは方向
Ａ２でコード２、３の領域にマーク（らしいも
の）が見えた場合、方向Ａ１の観測マークを真の
マークとすれば方向Ａ２の観測マークは同じマー
クが見える筈はないので偽のマーク（すなわち欠
陥）であり、逆に方向Ａ２の観測マークを真とす
れば、方向Ａ１の観測マークは偽となる筈だから
である。（ただしここで方向Ａ２側のコード１と
の組合せは、同じマークがＡ１，Ａ２２方向から
ともに上部周辺領域に見える筈がないようなマー
クＭの大きさ及びへだたり値YTの組合せのとき
は“否”（×印）とする場合もある。） 同様にして方向Ａ１側のコード２と方向Ａ２側
のコード０との組合せを“良”、同じく方向Ａ２
側のコード１〜３との組合せを“否”としてい
る。これは方向Ａ１で見てマークが中央部領域に
見える場合、Ｂ方向からは同じくマークが見える
筈はないからである。
また同様にして方向Ａ１側のコード３と、方向
Ａ２側のコード０、３の組合せを“良”、同じく
方向Ａ２側のコード１、２との組合せを“否”と
している。（ただし前記と同様にマークＭの大き
さ及びへだたり値YTの組合せによつては方向Ａ
２側のコード３との組合せを“否”とする場合も
ある。） ただしマークＭがＡ１，Ａ２，２方向のいずれ
かからしか観測し得ない程度のマークＭの大きさ
とへだたり値YTとの組合せの場合には、前記コ
ード化区分にかかわりなく、マークＭが観測され
ればコード２、観測されなければコード０とする
ことによつて、判別処理を簡単化することができ
る。
Ａ２側のコード０、３の組合せを“良”、同じく
方向Ａ２側のコード１、２との組合せを“否”と
している。（ただし前記と同様にマークＭの大き
さ及びへだたり値YTの組合せによつては方向Ａ
２側のコード３との組合せを“否”とする場合も
ある。） ただしマークＭがＡ１，Ａ２，２方向のいずれ
かからしか観測し得ない程度のマークＭの大きさ
とへだたり値YTとの組合せの場合には、前記コ
ード化区分にかかわりなく、マークＭが観測され
ればコード２、観測されなければコード０とする
ことによつて、判別処理を簡単化することができ
る。
また第５図、第６図のように３台のカメラ２−
１，〜，２−３を用いて判別する場合には、各カ
メラ（従つて各視線の方向）に対応する０〜３の
コードからなる３つ（３方向）のコード群を考
え、各群から何れか１つづつのコードを取出して
できるコードの組合せの全てについて“良”又は
“否”の判定を対応させた判定表を設けることに
よつてより精度の高い（マークを見落す死角のな
い）判定を行うことができる。
１，〜，２−３を用いて判別する場合には、各カ
メラ（従つて各視線の方向）に対応する０〜３の
コードからなる３つ（３方向）のコード群を考
え、各群から何れか１つづつのコードを取出して
できるコードの組合せの全てについて“良”又は
“否”の判定を対応させた判定表を設けることに
よつてより精度の高い（マークを見落す死角のな
い）判定を行うことができる。
なお以上に説明した処理は実際のカプセルでは
カプセルのボデイ（薬粉を充てんするさや）側と
キヤツプ（ボデイのふた）側のそれぞれについて
実施している。
カプセルのボデイ（薬粉を充てんするさや）側と
キヤツプ（ボデイのふた）側のそれぞれについて
実施している。
以上の説明から明らかなように本発明によれ
ば、軸対称の外形を持つ被検体の軸に向い、この
軸と直交する視線を持つ複数のカメラを設け、各
カメラを、その画像て隣接しつつ、隙間や重複部
なしに同一の被検体を１周して眺めるように配設
し、各カメラの画像から得た被検体の２値化画像
から、被検体の外形内における被検出パターンの
存在領域を示すコードを抽出し、各カメラ毎のこ
のコードの組合せからその被検出パターンが正常
なものか欠陥によるものかを判別するようにした
ので、簡単な判別処理を行いつつ、従つて安価な
装置を用いて、精度の高い欠陥判別を行うことが
できる。
ば、軸対称の外形を持つ被検体の軸に向い、この
軸と直交する視線を持つ複数のカメラを設け、各
カメラを、その画像て隣接しつつ、隙間や重複部
なしに同一の被検体を１周して眺めるように配設
し、各カメラの画像から得た被検体の２値化画像
から、被検体の外形内における被検出パターンの
存在領域を示すコードを抽出し、各カメラ毎のこ
のコードの組合せからその被検出パターンが正常
なものか欠陥によるものかを判別するようにした
ので、簡単な判別処理を行いつつ、従つて安価な
装置を用いて、精度の高い欠陥判別を行うことが
できる。
従つてこの発明によれば、従来印刷マークとの
識別が困難のため検査できなかつた、印刷マーク
相当の大きさの汚れなどの欠陥も容易に検出出来
る。
識別が困難のため検査できなかつた、印刷マーク
相当の大きさの汚れなどの欠陥も容易に検出出来
る。
なお前記のコードは通常１つのカメラ（従つて
１つの視線の方向）ごとに２ビツトでコード化で
きるため、１カプセルについて、表裏２方向から
観測するときは４ビツト、１画面内には、２ケの
カプセルが同時に観測されるので、２ケ分で８ビ
ツト（１バイト）の情報記憶で、１画面分の処理
が実施できる。従つて、８ビツトパラレル処理を
行うマイクロコンピユータにより効率のよい検査
が可能となる。
１つの視線の方向）ごとに２ビツトでコード化で
きるため、１カプセルについて、表裏２方向から
観測するときは４ビツト、１画面内には、２ケの
カプセルが同時に観測されるので、２ケ分で８ビ
ツト（１バイト）の情報記憶で、１画面分の処理
が実施できる。従つて、８ビツトパラレル処理を
行うマイクロコンピユータにより効率のよい検査
が可能となる。
第１図は本発明の１実施例としての構成を示す
ブロツク図、第２図は第１図の処理動作の流れを
示す図、第３図は第１図における２つのカメラか
ら得られた画像とコード区分の例を示す図、第４
図は各視線に対応するコードの組合せと良、否判
別との反応例を示す図、第５図、第６図は従来及
び本発明における各種の被検体に対するカメラ配
置例を示す図である。 １，１−１，１−２……被検体、Ｍ……マー
ク、２，２−１〜２−３……テレビカメラ（カメ
ラ）、Ａ１〜Ａ３……視線（方向）、１１……マイ
クロコンピユータ（CPU）、１２……メモリ、１
３……外形画像データメモリ、１４……外形２値
化回路、１５……マーク画像射影メモリ、１６…
…マーク２値化回路、CL１，CL２……中心線、
YH……へだたり、YT……へだたり境界値。
ブロツク図、第２図は第１図の処理動作の流れを
示す図、第３図は第１図における２つのカメラか
ら得られた画像とコード区分の例を示す図、第４
図は各視線に対応するコードの組合せと良、否判
別との反応例を示す図、第５図、第６図は従来及
び本発明における各種の被検体に対するカメラ配
置例を示す図である。 １，１−１，１−２……被検体、Ｍ……マー
ク、２，２−１〜２−３……テレビカメラ（カメ
ラ）、Ａ１〜Ａ３……視線（方向）、１１……マイ
クロコンピユータ（CPU）、１２……メモリ、１
３……外形画像データメモリ、１４……外形２値
化回路、１５……マーク画像射影メモリ、１６…
…マーク２値化回路、CL１，CL２……中心線、
YH……へだたり、YT……へだたり境界値。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 軸対称の外形と、表面に印刷マーク、文字な
どの正常パターン及び場合によつて汚れなどの欠
陥パターン（これらのパターンを一括して被検出
パターンと呼ぶ）とを持ち、かつ撮像が完了する
までは少なくとも前記軸を中心とする回転を行う
ことのない被撮像物体上の前記欠陥パターンを検
出する装置において、 前記軸に向かい、この軸と直交する視線を持
ち、かつ該視線ごとに撮像された前記被撮像物体
の画像が隣接しつつ〓間及び重複なしに被撮像物
体を一同して眺めるように配設された複数の撮像
手段と、 前記の各撮像手段によつて撮像された前記被撮
像物体の各画面から、外形を表す２値化画像と、
被検出パターンを表す２値化画像とを抽出する２
値化画像抽出手段と、 前記被撮像物体の外形を表す各２値化画像ごと
に、前記被撮像物体の外形の座標データを求め、
該座標データから各撮像手段の視野内における被
撮像物体の中心軸の座標を抽出する軸座標抽出手
段と、 前記被撮像物体の被検出パターンを表す各２値
化画像ごとに、前記被検出パターンの座標データ
を求め、該座標データから各撮像手段の視野内に
おける被撮像物体の当該被検出パターンの位置を
表す代表座標を抽出するパターン代表座標抽出手
段と、 前記各撮像手段の視野内における被撮像物体の
中心軸の座標及び被検出パターンの代表座標か
ら、該代表座標が、前記中心軸からの所定の少な
くとも１つのへだたり値によつて複数の領域に区
分される前記外形内の領域の何れに属するかを示
すコード（パターン位置コードと呼ぶ）を抽出す
るパターン位置コード抽出手段と、 前記被撮像物体上の正常パターンが前記の各撮
像手段に対して占める空間内の相対位置に対応
し、各撮像手段を介し得られる前記パターン位置
コードの組合せからなるデータ（正常パターン位
置コード組合せデータと呼ぶ）を記憶する手段
と、 前記の各撮像手段を介し得られた前記被検出パ
ターンの前記パターン位置コードの組合せが、前
記正常パターン位置コード組合せデータに含まれ
るか否かに応じて、当該の被検出パターンを正常
パターンか欠陥パターンかに区分判別する手段
と、からなることを特徴とする欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14363684A JPS6123950A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | 欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14363684A JPS6123950A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | 欠陥検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6123950A JPS6123950A (ja) | 1986-02-01 |
| JPH0352015B2 true JPH0352015B2 (ja) | 1991-08-08 |
Family
ID=15343368
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14363684A Granted JPS6123950A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | 欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6123950A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165973A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-09 | Osaki Electric Co Ltd | 自動形状検定装置 |
| JP2506201B2 (ja) * | 1989-09-26 | 1996-06-12 | 株式会社クボタ | 物品検査装置 |
| CN103940825B (zh) * | 2014-04-14 | 2016-02-24 | 北京大恒图像视觉有限公司 | 一种全方位胶囊检测设备及相应检测方法 |
-
1984
- 1984-07-11 JP JP14363684A patent/JPS6123950A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6123950A (ja) | 1986-02-01 |
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