JPS61235770A - 装置試験情報生成処理方法 - Google Patents

装置試験情報生成処理方法

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Publication number
JPS61235770A
JPS61235770A JP60075463A JP7546385A JPS61235770A JP S61235770 A JPS61235770 A JP S61235770A JP 60075463 A JP60075463 A JP 60075463A JP 7546385 A JP7546385 A JP 7546385A JP S61235770 A JPS61235770 A JP S61235770A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
execution
procedure
routine
generation processing
Prior art date
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Pending
Application number
JP60075463A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Iwasaki
誠 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60075463A priority Critical patent/JPS61235770A/ja
Publication of JPS61235770A publication Critical patent/JPS61235770A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318307Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は装置試験情報生成処理方法、特に複数の試験命
令語および試験制御語からなる試験手順語を順次翻訳、
登録および実行することにより装置試験調整者の必要と
する装置試験手段を提供することを可能とする装置試験
情報生成処理方法に関するものである。
〔従来の技術〕
装置試験の如き試験処理システムは、送出データ抽出・
設定、応答受信、受信データ分析・照合、入力、出力か
らなる試験制御処理ならびに試験データ群から構成され
ており、順次試験データを読み込んだ後に送出データ抽
出・設定部に設定し、被試験装置へ送出後、被試験装置
からの応答受信、分析・照合の一連の処理を最終データ
処理終了まで繰り返し行う。
第2図は、従来の装置試験情報生成処理方法の一例を説
明するための系統図である。第2図において、1は試験
装置、2は被試験装置であり、11は試験手順語が入力
される入力部、12は試験データを抽出する送出データ
抽出・設定部、13は被試験袋?!f2ヘデータを送出
する送出部、14は被試験装置2からのデータを受信す
る応答受信待ち部、15は受信データ分析・照合部、1
6は外部装置へデータを出力するための出力部、21は
送出部13からの試験データを受は取る受信部、22は
応答受信待ち部14へ試験データを送信する送信部であ
る。
次にこのように構成された装置の動作について説明する
。まず送出データ抽出・設定12にて試験データ部Tよ
り一試験データtを抽出する。次に送出部13により上
記データを被試験装置2へ送出すると応答受信待ち部1
4は受信待ちとなる。
応答受信待ち部14にて被試験装置2からの応答受信を
終了すると、受信データ分析・照合部15にて分析・照
合を行い、照合一致時には、試験制御情報Eにより最終
データ処理済み時は正常終了゛とし、他の場合は送出デ
ータ抽出・設定部12へ処理が移行する。また照合不一
致時は、照合不一致結果を出力部16へ送出後、試験制
御情報Eにより、処理を中断するか又は送出データ抽出
・設定12へ移行するかして順次継続する。
従って、試験データは予め設定された順序に配列されて
いるため、その試験データの配列に誤りがあった場合、
あるいは、試験データの修正が必要となった場合、一般
的な試験情報生成処理においては、試験情報生成処理装
置により試験情報を別途更新処理後、試験情報の再生成
を必要とする。
試験情報生成処理装置としては、CPU、外部記憶装置
等により構成される一般的なコンピュータシステムを使
用する。この試験情報生成処理装置により作成された試
験データを記憶する外部記憶媒体を入力部11から入力
することにより試験情報を再作成する。従って、試験デ
ータ群の生成あるいは更新は試験装置1とは別のシステ
ムにより行われるため、新たにデータの生成あるいは更
新されるのを待つことになり、その間、被試験装置2の
調整業務の一時中断が発生する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の試験情報生成処理方法によれば、目的と
する処理、すなわち、試験手順の実行は予め生成された
試験データ群により行われるため、試験データ群の意味
する被試験装置2の状態設定情報、応答期待情報等を含
む試験手順に誤りがあれば、別途、試験情報生成処理装
置による試験情報の修正、改良を必要とし、その間、試
験調整者は装置の試験調整の一時中断を余技なくされる
た、め、試験調整作業を効果的に遂行することが極めて
難しくなる。また、試験データ設定は一試験データ毎に
処理実行されるため、連続的な実時間での試験実行を困
難としている。
〔問題点を解決するための手段〕
このような問題点を解決するために本発明は、複数の試
験手順語を順次読み込み、予め規定した規則に従って翻
訳し装置試験情報を生成し、試験実行テーブルへの登録
、試験実行、実行結果の出力、試験の続行・中断・終了
等の制御機能により装置試験調整者自ら試験制御手順の
設定、実行。
実行の変更を行うようにしたものである。
〔作用〕
本発明においては、装置試験手順の変更に対して極めて
柔軟に対応できる。
〔実施例〕
第1図は本発明に係わる試験情報生成処理方法の一実施
例を説明するための系統図である。第1図において、3
はこの試験情報生成処理方法を行う試験装置、4は試験
手順語Nを格納するフロンビー等の外部記憶媒体、5は
試験手順語Nを手操作で入力するための操作ボード等の
操作盤、6は生成した実行ルーチンを格納するフロッピ
ー等の外部記憶媒体、7および8は実行ルーチンを表示
するプリンタ等のハードコピー装置およびCRT等の表
示器であり、31は初期設定部、32は試験手順語が入
力される入力部、33は試験手順語を分析する分析部、
34は実行ルーチンの抽出。
挿入を行う生成部、35は試験を実行する実行部、36
は外部記憶媒体6等へ試験情報を出力する出力部である
。第1図において第2図と同一部分又は相当部分には同
一符号が付しである。
次にこのように構成された装置の動作について説明する
。初期設定部31で初期設定後、出力部36へ行番号j
を表示すると、入力部32は、外部記憶媒体4又は操作
盤5から出力される操作mおよび複数の副操作nからな
る試験手順語Nの受信待ちとなる。分析部33は入力部
32から試験手順語Nを受信すると、試験手順語Nの操
作mにより、生成処理か実行処理かを判定する。
判定の結果が生成処理の時は、生成部34は、操作mを
キーとして装置言語(マシン語)からなる基本実行ルー
チンを格納する基本実行ルーチン部りを検索して該当す
る実行ルーチンlを抽出し、さらに複数の副操作nを編
集して先に抽出した実行ルーチン!へ挿入し、実行ルー
チンXを生成して実行テーブル部Xに登録後、行番号j
を歩進することにより、−試験情報が生成される。上記
一連の処理を順次実行することにより、装置試験に必要
な試験情報の生成を可能とする。また、すでに生成され
た試験情報に対する修正、追加、削除は、行番号jをキ
ーに試験手順語Nにより同様に処理することにより実行
可能となる。
試験手順語Nの操作mを判定した結果が実行の時は、す
でに生成された実行テーブル部X内の実行ルーチンXを
実行部35が逐次実行することにより、データの送出、
応答情報受信および受信データ分析を行い、被試験装置
2の具備する機能動作を実行する。また、出力部36に
より、すでに生成された実行ルーチンXを外部記憶媒体
6に格納し、逆に外部記憶媒体6に格納された実行ルー
チンXを試験装置3内の実行テーブル部Xへ復旧するこ
とができる。さらに、実行テーブル部Xに格納された実
行ルーチンXに対応する試験手順語Nを、出力部7を介
して、ハードコピー装置7゜表示器8へ表示することも
できる。
以上述べたように、試験装置3は被試験装置2を試験す
るのに最適な試験手順を構築することができるので、被
試験装置2の完成度に応じた試験情報の生成を容易に行
うことができ、また装置試験を実時間で行うことができ
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、複数の試験手順語を順次
読み込み、予め規定した規則に従って翻訳し装置試験情
報を生成し、試験実行テーブルへの登録、試験実行、実
行結果の出力、試験の続行・中断・終了等の制御機能に
より装置試験調整者自ら試験制御手順の設定、実行、実
行の変更を行うことにより、被試験装置における機能追
加、設計変更等による装置試験手順への影響に対して極
めて柔軟に対応することができる効果がある。
換言すれば、装置試験手順設計者をわずられせることな
く、装置試験調整担当者により即時に試験手順の修正、
改良および実行を可能とし、試験調整作業の即時性、柔
軟性ひいては経済性を促進する効果を持つ。
また、ベーシック等で用いられているインタプリタのよ
うにコマンドを1行毎に翻訳、実行せずに、試験手順語
入力受信時にすぐ実行ルーチン(マシン語)に翻訳し、
実行はすべての入力完了時に一括して行われるため、装
置試験処理時間はほぼ実時間で動作可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる装置試験情報生成処理方法の一
実施例を説明するための系統図、第2図は従来の方法を
説明するための系統図である。 2・・・・被試験装置、3・・・・試験装置、4.6・
・・・外部記憶媒体、5・・・・操作盤、7・・・・ハ
ードコピー装置、8・・・・表示器、21・・・・受信
部、22・・・・送信部、31・・・・初期設定部、3
2・・・・入力部、33・・・・分析部、34・・・・
生成部、35・・・・実行部、36・・・・出力部、L
・・・・基本実行ルーチン部、X・・・・実行テーブル
部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の試験手順語を順次読み込み、予め規定した規則に
    従って翻訳し装置試験情報を生成し、被試験装置状態に
    最適な試験手順を提供するために試験実行テーブルへの
    登録、試験実行、実行結果の出力、試験の続行・中断・
    終了等の制御機能により装置試験調整者自ら試験制御手
    順の設定、実行、実行の変更を行うことを特徴とする装
    置試験情報生成処理方法。
JP60075463A 1985-04-11 1985-04-11 装置試験情報生成処理方法 Pending JPS61235770A (ja)

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JPS61235770A true JPS61235770A (ja) 1986-10-21

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ID=13577023

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JP60075463A Pending JPS61235770A (ja) 1985-04-11 1985-04-11 装置試験情報生成処理方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011059109A (ja) * 2009-09-10 2011-03-24 Advantest Corp 試験装置、同期モジュールおよび同期方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011059109A (ja) * 2009-09-10 2011-03-24 Advantest Corp 試験装置、同期モジュールおよび同期方法
US8405415B2 (en) 2009-09-10 2013-03-26 Advantest Corporation Test apparatus synchronous module and synchronous method

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