JPS61224125A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS61224125A JPS61224125A JP6553685A JP6553685A JPS61224125A JP S61224125 A JPS61224125 A JP S61224125A JP 6553685 A JP6553685 A JP 6553685A JP 6553685 A JP6553685 A JP 6553685A JP S61224125 A JPS61224125 A JP S61224125A
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- Japan
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- thin film
- alloy
- recording medium
- magnetic thin
- magnetic recording
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は合金磁性薄膜を有する磁気記録媒体に係るもの
であり、特に、この合金磁性薄膜がバナジウム(V)、
モリブデン(MO)、タングステン(W)、マンガン(
Mn )のうちのいずれか1種以上を含有するコバルト
基合金からなる磁気記録媒体に関する。
であり、特に、この合金磁性薄膜がバナジウム(V)、
モリブデン(MO)、タングステン(W)、マンガン(
Mn )のうちのいずれか1種以上を含有するコバルト
基合金からなる磁気記録媒体に関する。
[従来の技術]
記録密度の高い合金磁性薄膜を有する磁気記録媒体の研
究開発が近年大いに推進されているが、その一つとして
無電解メッキ法によるコバルト(CO)−ニッケル(N
i )−リン(P)合金磁性@膜を用いたものがある。
究開発が近年大いに推進されているが、その一つとして
無電解メッキ法によるコバルト(CO)−ニッケル(N
i )−リン(P)合金磁性@膜を用いたものがある。
しかしながらCoo −N1−P合金は耐食性に問題が
あり、該合金磁性薄膜を用いた記録媒体は、永年使用し
た際の記録エラー等信頼性の点で劣っていた。例えば、
該合金磁性薄膜を温度57℃、湿度85%の条件下にて
2週間放置した場合には飽和磁化の劣化が30%であり
、また、純水中に1週間放置した場合のそれは40%に
も達する。このような特性の劣化は実機使用した際の出
力低下を招き、また腐蝕部の存在はエラーの増大を引き
起こすという問題がある。
あり、該合金磁性薄膜を用いた記録媒体は、永年使用し
た際の記録エラー等信頼性の点で劣っていた。例えば、
該合金磁性薄膜を温度57℃、湿度85%の条件下にて
2週間放置した場合には飽和磁化の劣化が30%であり
、また、純水中に1週間放置した場合のそれは40%に
も達する。このような特性の劣化は実機使用した際の出
力低下を招き、また腐蝕部の存在はエラーの増大を引き
起こすという問題がある。
[発明が解決しようとする問題点]
このように、無電解メッキ法によるGo −Ni−P合
金磁性薄膜は、出力低下やエラーの増大などといった信
頼性の低下に帰結する耐食性・耐候性の問題があった。
金磁性薄膜は、出力低下やエラーの増大などといった信
頼性の低下に帰結する耐食性・耐候性の問題があった。
[問題点を解決するための手段]
本発明者らは上記不具合を解決するために様々な観点か
ら検討を加え、V、Mo 、W、Mnのうちのいずれか
1種以上を添加したCo基合金磁性薄膜が極めて優れた
耐食性・耐候性を有することを見い出した。
ら検討を加え、V、Mo 、W、Mnのうちのいずれか
1種以上を添加したCo基合金磁性薄膜が極めて優れた
耐食性・耐候性を有することを見い出した。
即ち、本発明は、基板上に形成された合金磁性薄膜を有
する磁気記録媒体において、上記合金磁性薄膜をV、M
o 、W、Mnのうちのいずれか1種以上2〜12原子
%と、0.2〜5原子%の窒素とを含有するCo基合金
で構成したことを特徴とするものである。
する磁気記録媒体において、上記合金磁性薄膜をV、M
o 、W、Mnのうちのいずれか1種以上2〜12原子
%と、0.2〜5原子%の窒素とを含有するCo基合金
で構成したことを特徴とするものである。
以下本発明の構成について更に詳細に説明する。
本発明において用いられる磁性薄膜はV、Mo 。
W、Mnのうちのいずれか1一種以上を2〜12原子%
と、Nを0.5〜5原子%含むCo基合金からなるもの
である。
と、Nを0.5〜5原子%含むCo基合金からなるもの
である。
これら添加物の含有量を2〜12原子%とした理由は、
その含有量が2原子%未満では耐食性が低下するように
なるからである。一方、その含有量が12原子%を越え
るときは飽和磁化が低くなりすぎ、薄層化という高密度
記録に適った合金磁性薄膜の特長が活かし得ないためで
ある。
その含有量が2原子%未満では耐食性が低下するように
なるからである。一方、その含有量が12原子%を越え
るときは飽和磁化が低くなりすぎ、薄層化という高密度
記録に適った合金磁性薄膜の特長が活かし得ないためで
ある。
また、Nを0.2〜5原子%とした理由は、主として製
造上の関係によるものであり、゛例えば、後述する本発
明に係る製造法では0.2原子%以上のNが残存してし
まうためである。一方、5原子%を越えるようになると
磁気特性のうち角型比Sと称されているものが低下する
ようになるからである。通常、磁気記録媒体の角型比S
は0.7以上であることが要求されているが、本発明に
おいて、特に好ましいNの含有量は0.2〜3原子%で
ある。
造上の関係によるものであり、゛例えば、後述する本発
明に係る製造法では0.2原子%以上のNが残存してし
まうためである。一方、5原子%を越えるようになると
磁気特性のうち角型比Sと称されているものが低下する
ようになるからである。通常、磁気記録媒体の角型比S
は0.7以上であることが要求されているが、本発明に
おいて、特に好ましいNの含有量は0.2〜3原子%で
ある。
本発明においてV、Mo 、W、Mnなとの添加物及び
N以外の組成としては、 (イ)Coのみ (ロ)Coの一部をN1及び/又はl”eで置換したも
の であってもよい、(ロ)の組成の場合、Coの一部をN
i及び/又はFeで置換するときの置換比率はCoの2
5原子%以下とするのが好ましい。置換比率が25原子
%を越えるとhap母結晶中にfcc相が出現し、膜面
内の磁気特性の低下をもたらす。
N以外の組成としては、 (イ)Coのみ (ロ)Coの一部をN1及び/又はl”eで置換したも
の であってもよい、(ロ)の組成の場合、Coの一部をN
i及び/又はFeで置換するときの置換比率はCoの2
5原子%以下とするのが好ましい。置換比率が25原子
%を越えるとhap母結晶中にfcc相が出現し、膜面
内の磁気特性の低下をもたらす。
また、Fe置換の場合には、その置換比率が25原子%
を越えると薄膜の耐食性、耐候性も低下させるようにな
る。
を越えると薄膜の耐食性、耐候性も低下させるようにな
る。
本発明の磁気記録媒体は、例えば次のようにして製造す
ることができる。即ち、N2を含むArガス雰囲気中で
スパッタリング等の真空蒸着法によってV、Mo 、W
、Mnのうちの1種以上と、CO及びN(及び所望によ
り、更にNi及び/又は)l)を含む合金薄膜を基板上
に形成し、然る後熱処理し、Nを放出させてN含有率を
0.2〜5原子%とするものである。
ることができる。即ち、N2を含むArガス雰囲気中で
スパッタリング等の真空蒸着法によってV、Mo 、W
、Mnのうちの1種以上と、CO及びN(及び所望によ
り、更にNi及び/又は)l)を含む合金薄膜を基板上
に形成し、然る後熱処理し、Nを放出させてN含有率を
0.2〜5原子%とするものである。
この製造方法において、基板上にまず形成される薄膜は
アモルファス状又は粒径50〜100A程度の微結晶体
より成り、後工程の熱処理で結晶化又は粒径100〜4
00A程度の結晶粒に成長し、適度なHcを有しかつ高
角形比の磁気記録媒体を形成するようになる。
アモルファス状又は粒径50〜100A程度の微結晶体
より成り、後工程の熱処理で結晶化又は粒径100〜4
00A程度の結晶粒に成長し、適度なHcを有しかつ高
角形比の磁気記録媒体を形成するようになる。
この熱処理の温度としては280℃以上が好ましく、熱
処理の温度が280℃を下回る場合は脱Nの活性点にな
っておらず脱Nが進行しない。また、熱処理温度があま
り高温の場合には結晶粒が異常成長し保磁力HCの低下
を招く。従って好ましい熱処理温度は280〜500℃
である。
処理の温度が280℃を下回る場合は脱Nの活性点にな
っておらず脱Nが進行しない。また、熱処理温度があま
り高温の場合には結晶粒が異常成長し保磁力HCの低下
を招く。従って好ましい熱処理温度は280〜500℃
である。
また、本発明において用いられる基板としては、非磁性
基板であるならば従来から用いられている各種のものが
採用でき、合金系基板(例えばA1に数%以下程度のマ
グネシウムを添加した合金やチタン合金の基板)、各種
のセラミックス、又はガラス基板などが用いられる。ま
た、基板と磁性fill!との間にクロムやチタンある
いはアルマイト、N1−P等から成る硬質な下地層の他
、磁性薄膜の付着強度を増大させる各種の非磁性中間層
などを設けてもよい。また、磁性M膜上に非磁性金属中
間層及び/又は炭素、ポリ珪酸等の保護膜を設けてもよ
い。さらに、この保護股上に&J滑剤を塗布しても良い
。
基板であるならば従来から用いられている各種のものが
採用でき、合金系基板(例えばA1に数%以下程度のマ
グネシウムを添加した合金やチタン合金の基板)、各種
のセラミックス、又はガラス基板などが用いられる。ま
た、基板と磁性fill!との間にクロムやチタンある
いはアルマイト、N1−P等から成る硬質な下地層の他
、磁性薄膜の付着強度を増大させる各種の非磁性中間層
などを設けてもよい。また、磁性M膜上に非磁性金属中
間層及び/又は炭素、ポリ珪酸等の保護膜を設けてもよ
い。さらに、この保護股上に&J滑剤を塗布しても良い
。
[作用]
V、MO、W、Mnのうちのいずれか1種以上を2〜1
2原子%含有し、N含有量が0.2〜5原子%であるC
O基合金磁性薄膜は適当な磁気特性を有し、後述の実施
例などに示す如く耐食性・耐候性に優れる。
2原子%含有し、N含有量が0.2〜5原子%であるC
O基合金磁性薄膜は適当な磁気特性を有し、後述の実施
例などに示す如く耐食性・耐候性に優れる。
[実施例J
以下、本発明を具体的実施例によって詳細に説明する。
なお、以下に述べる実施例は、rJ、マグネトロンスパ
ッタ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言え
るイオンビームスパッタリング等によっても本発明の効
果を得ることが可能であることは勿論である。
ッタ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言え
るイオンビームスパッタリング等によっても本発明の効
果を得ることが可能であることは勿論である。
実施例1
rJ、プレーナーマグネトロンスパッタ装置を用い、下
記条件にて、ガラス基板上に様々な組成のCO基合金磁
性薄膜を形成した。
記条件にて、ガラス基板上に様々な組成のCO基合金磁
性薄膜を形成した。
初期排気 1〜2x10−’ Torr全雰囲気圧
(A r + N 2 ) 10〜20 mTorr
(全圧に対するN2分圧の%)50〜80%投入電力
1 kW ターゲット組成 CO (目標とする薄膜の組成に一致させる場合は、各添加物
のチップを適当にターゲット上に配置させることにより
行なう。) 極lSI!隔 108mm膜厚(スパッタ
時) 700A薄膜形成速度 250
〜500A/1n基板温度 200℃ スパッタ膜形成後、10−’ Torr以下の真空中に
て300〜450″CX 1〜5hrの熱処理を行ない
、膜を結晶化させるとともに、膜中に含有された窒素を
放出させた。その後耐食性及び耐候性の検討を行なった
。ここに、耐蝕性の評価は3MΩ・cmの純水中に1週
間浸すことにより、また耐候性の評価は温度57℃、湿
度80%の条件下に2週間放置することにより行なった
。
(A r + N 2 ) 10〜20 mTorr
(全圧に対するN2分圧の%)50〜80%投入電力
1 kW ターゲット組成 CO (目標とする薄膜の組成に一致させる場合は、各添加物
のチップを適当にターゲット上に配置させることにより
行なう。) 極lSI!隔 108mm膜厚(スパッタ
時) 700A薄膜形成速度 250
〜500A/1n基板温度 200℃ スパッタ膜形成後、10−’ Torr以下の真空中に
て300〜450″CX 1〜5hrの熱処理を行ない
、膜を結晶化させるとともに、膜中に含有された窒素を
放出させた。その後耐食性及び耐候性の検討を行なった
。ここに、耐蝕性の評価は3MΩ・cmの純水中に1週
間浸すことにより、また耐候性の評価は温度57℃、湿
度80%の条件下に2週間放置することにより行なった
。
この結果を、第1表に示す。
比較例1
下記条件により、適宜に表面処理されたガラス基板上に
Co −Ni−P合金磁性膜を作成し、その後耐食性、
耐候性の評価を行なった。その結果を第1表に示す。
Co −Ni−P合金磁性膜を作成し、その後耐食性、
耐候性の評価を行なった。その結果を第1表に示す。
メッキ浴 硫酸コバルト 0.06 mol /
1硫酸ニツケル 0.04 次亜リン酸 0.2 硫酸アンモニウム 0.1 マロン酸ナトリウム 0.3 リンゴ酸ナトリウム 0.4 コハク酸ナトリウム 0.5 DH=8.9〜9.3 温度75〜85℃ 膜厚70
0A比較例2 スパッタリング時の雰囲気をAr ioo%とじたこ
と以外は実施例1と同様にして、N含有率0%の薄膜を
作成した。また、残存N1度が5原子%を越える場合、
N、i 11度が25原子%を越える場合、及び規定
量を越える量の添加物を含む場合の合金薄膜も同様に実
施例1の条件下で作成した。
1硫酸ニツケル 0.04 次亜リン酸 0.2 硫酸アンモニウム 0.1 マロン酸ナトリウム 0.3 リンゴ酸ナトリウム 0.4 コハク酸ナトリウム 0.5 DH=8.9〜9.3 温度75〜85℃ 膜厚70
0A比較例2 スパッタリング時の雰囲気をAr ioo%とじたこ
と以外は実施例1と同様にして、N含有率0%の薄膜を
作成した。また、残存N1度が5原子%を越える場合、
N、i 11度が25原子%を越える場合、及び規定
量を越える量の添加物を含む場合の合金薄膜も同様に実
施例1の条件下で作成した。
その磁気特性を第1表に示す。
第1表より、本発明によるV、Mo 、W、Mnなどを
含むCO基合金磁性薄膜は、従来のCO−Ni−P無電
解メッキ磁性薄膜に比較し、遥かに優れた耐食性・耐候
性を示すことが認められる。
含むCO基合金磁性薄膜は、従来のCO−Ni−P無電
解メッキ磁性薄膜に比較し、遥かに優れた耐食性・耐候
性を示すことが認められる。
また、磁気記録媒体としての特性を満足するためには、
アルゴンと窒素の混合雰囲気下で膜が形成されなければ
ならないことも認められる。
アルゴンと窒素の混合雰囲気下で膜が形成されなければ
ならないことも認められる。
実施例2
表面研磨されたアルミ合金上にアルマイト処理を施して
成る基板上に、第2表に示すような所望の組成となるよ
うに、実施例1に記したと同様の条件下にて51/4“
φディスクを作成し、真空中350℃x 3hr熱処理
を施した後、r、「、プレーナーマグネトロン装置にて
400Aのアモルファス状カーボン膜を形成した。
成る基板上に、第2表に示すような所望の組成となるよ
うに、実施例1に記したと同様の条件下にて51/4“
φディスクを作成し、真空中350℃x 3hr熱処理
を施した後、r、「、プレーナーマグネトロン装置にて
400Aのアモルファス状カーボン膜を形成した。
次に、これらのディスクを用い耐食性、耐候性の評価を
行なった。その結果を第2表に示す。なお、磁気記録媒
体の電磁変換特性の評価は、下記の如き条件で行なった
。
行なった。その結果を第2表に示す。なお、磁気記録媒
体の電磁変換特性の評価は、下記の如き条件で行なった
。
使用ヘッド Mn−2nフエライトヘツド(トラック幅
16μm、ギャップ長1.1μm1ギャップ深さ20μ
m1巻数19TX 2)浮上量 0.34μm 書き込み周波数 1 F ; 1.25 MH22F
: 2.5 MHz ディスク回転数 3600rpn+ 測定箇所 ディスク中心よりの距離R= 30mm比較
例3、 表面研磨されたアルミニウム合金上にNi −Pメッキ
下地層が施された51/4″φデイスク基板上に、比較
例1と同様の条件下でGo −Jli −P合金磁性膜
を形成し、その後実施例2と同様に40OAのアモルフ
ァス状カーボン膜を形成した。
16μm、ギャップ長1.1μm1ギャップ深さ20μ
m1巻数19TX 2)浮上量 0.34μm 書き込み周波数 1 F ; 1.25 MH22F
: 2.5 MHz ディスク回転数 3600rpn+ 測定箇所 ディスク中心よりの距離R= 30mm比較
例3、 表面研磨されたアルミニウム合金上にNi −Pメッキ
下地層が施された51/4″φデイスク基板上に、比較
例1と同様の条件下でGo −Jli −P合金磁性膜
を形成し、その後実施例2と同様に40OAのアモルフ
ァス状カーボン膜を形成した。
次に、これらを耐食性及び耐候性の評価に用いた。
その結果を第2表に示す。電磁変換緒特性の評価は実施
例2と全く同様の条件下で行なった。
例2と全く同様の条件下で行なった。
以上のことから、本発明における磁気記録媒体は耐食性
・耐候性に優れた媒体であることが証明された。
・耐候性に優れた媒体であることが証明された。
Claims (4)
- (1)基板上に形成された合金磁性薄膜を有する磁気記
録体において、該合金磁性薄膜がバナジウム、モリブデ
ン、タングステン、マンガンのうちのいずれか1種以上
を2〜12原子%含むコバルト基合金からなることを特
徴とする磁気記録媒体。 - (2)上記合金磁性薄膜は、基板上にスパッタリングさ
れ、かつ熱処理されて形成されたものであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 - (3)上記合金磁性薄膜が、バナジウム、モリブデン、
タングステン、マンガンのうちのいずれか1種以上を2
〜12原子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部コ
バルトからなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
又は第2項に記載の磁気記録媒体。 - (4)上記合金磁性薄膜が、バナジウム、モリブデン、
タングステン、マンガンのうちのいずれか1種以上を2
〜12原子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部が
コバルトとニッケル及び/又は鉄とから成り、ニッケル
及び/又は鉄の含有量は、コバルトの25原子%以下を
置換した量であることを特徴とする特許請求の範囲第1
項又は第2項に記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6553685A JPS61224125A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6553685A JPS61224125A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61224125A true JPS61224125A (ja) | 1986-10-04 |
Family
ID=13289832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6553685A Pending JPS61224125A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61224125A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63273208A (ja) * | 1987-04-30 | 1988-11-10 | Hoya Corp | 磁気記録媒体 |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6553685A patent/JPS61224125A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63273208A (ja) * | 1987-04-30 | 1988-11-10 | Hoya Corp | 磁気記録媒体 |
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