JPS61224125A - 磁気記録媒体 - Google Patents

磁気記録媒体

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Publication number
JPS61224125A
JPS61224125A JP6553685A JP6553685A JPS61224125A JP S61224125 A JPS61224125 A JP S61224125A JP 6553685 A JP6553685 A JP 6553685A JP 6553685 A JP6553685 A JP 6553685A JP S61224125 A JPS61224125 A JP S61224125A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
alloy
recording medium
magnetic thin
magnetic recording
Prior art date
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Pending
Application number
JP6553685A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Fujii
重男 藤井
Koji Ichikawa
耕司 市川
Shiro Murakami
志郎 村上
Shigeo Endo
遠藤 重郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
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Publication of JPS61224125A publication Critical patent/JPS61224125A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は合金磁性薄膜を有する磁気記録媒体に係るもの
であり、特に、この合金磁性薄膜がバナジウム(V)、
モリブデン(MO)、タングステン(W)、マンガン(
Mn )のうちのいずれか1種以上を含有するコバルト
基合金からなる磁気記録媒体に関する。
[従来の技術] 記録密度の高い合金磁性薄膜を有する磁気記録媒体の研
究開発が近年大いに推進されているが、その一つとして
無電解メッキ法によるコバルト(CO)−ニッケル(N
i )−リン(P)合金磁性@膜を用いたものがある。
しかしながらCoo −N1−P合金は耐食性に問題が
あり、該合金磁性薄膜を用いた記録媒体は、永年使用し
た際の記録エラー等信頼性の点で劣っていた。例えば、
該合金磁性薄膜を温度57℃、湿度85%の条件下にて
2週間放置した場合には飽和磁化の劣化が30%であり
、また、純水中に1週間放置した場合のそれは40%に
も達する。このような特性の劣化は実機使用した際の出
力低下を招き、また腐蝕部の存在はエラーの増大を引き
起こすという問題がある。
[発明が解決しようとする問題点] このように、無電解メッキ法によるGo −Ni−P合
金磁性薄膜は、出力低下やエラーの増大などといった信
頼性の低下に帰結する耐食性・耐候性の問題があった。
[問題点を解決するための手段] 本発明者らは上記不具合を解決するために様々な観点か
ら検討を加え、V、Mo 、W、Mnのうちのいずれか
1種以上を添加したCo基合金磁性薄膜が極めて優れた
耐食性・耐候性を有することを見い出した。
即ち、本発明は、基板上に形成された合金磁性薄膜を有
する磁気記録媒体において、上記合金磁性薄膜をV、M
o 、W、Mnのうちのいずれか1種以上2〜12原子
%と、0.2〜5原子%の窒素とを含有するCo基合金
で構成したことを特徴とするものである。
以下本発明の構成について更に詳細に説明する。
本発明において用いられる磁性薄膜はV、Mo 。
W、Mnのうちのいずれか1一種以上を2〜12原子%
と、Nを0.5〜5原子%含むCo基合金からなるもの
である。
これら添加物の含有量を2〜12原子%とした理由は、
その含有量が2原子%未満では耐食性が低下するように
なるからである。一方、その含有量が12原子%を越え
るときは飽和磁化が低くなりすぎ、薄層化という高密度
記録に適った合金磁性薄膜の特長が活かし得ないためで
ある。
また、Nを0.2〜5原子%とした理由は、主として製
造上の関係によるものであり、゛例えば、後述する本発
明に係る製造法では0.2原子%以上のNが残存してし
まうためである。一方、5原子%を越えるようになると
磁気特性のうち角型比Sと称されているものが低下する
ようになるからである。通常、磁気記録媒体の角型比S
は0.7以上であることが要求されているが、本発明に
おいて、特に好ましいNの含有量は0.2〜3原子%で
ある。
本発明においてV、Mo 、W、Mnなとの添加物及び
N以外の組成としては、 (イ)Coのみ (ロ)Coの一部をN1及び/又はl”eで置換したも
の であってもよい、(ロ)の組成の場合、Coの一部をN
i及び/又はFeで置換するときの置換比率はCoの2
5原子%以下とするのが好ましい。置換比率が25原子
%を越えるとhap母結晶中にfcc相が出現し、膜面
内の磁気特性の低下をもたらす。
また、Fe置換の場合には、その置換比率が25原子%
を越えると薄膜の耐食性、耐候性も低下させるようにな
る。
本発明の磁気記録媒体は、例えば次のようにして製造す
ることができる。即ち、N2を含むArガス雰囲気中で
スパッタリング等の真空蒸着法によってV、Mo 、W
、Mnのうちの1種以上と、CO及びN(及び所望によ
り、更にNi及び/又は)l)を含む合金薄膜を基板上
に形成し、然る後熱処理し、Nを放出させてN含有率を
0.2〜5原子%とするものである。
この製造方法において、基板上にまず形成される薄膜は
アモルファス状又は粒径50〜100A程度の微結晶体
より成り、後工程の熱処理で結晶化又は粒径100〜4
00A程度の結晶粒に成長し、適度なHcを有しかつ高
角形比の磁気記録媒体を形成するようになる。
この熱処理の温度としては280℃以上が好ましく、熱
処理の温度が280℃を下回る場合は脱Nの活性点にな
っておらず脱Nが進行しない。また、熱処理温度があま
り高温の場合には結晶粒が異常成長し保磁力HCの低下
を招く。従って好ましい熱処理温度は280〜500℃
である。
また、本発明において用いられる基板としては、非磁性
基板であるならば従来から用いられている各種のものが
採用でき、合金系基板(例えばA1に数%以下程度のマ
グネシウムを添加した合金やチタン合金の基板)、各種
のセラミックス、又はガラス基板などが用いられる。ま
た、基板と磁性fill!との間にクロムやチタンある
いはアルマイト、N1−P等から成る硬質な下地層の他
、磁性薄膜の付着強度を増大させる各種の非磁性中間層
などを設けてもよい。また、磁性M膜上に非磁性金属中
間層及び/又は炭素、ポリ珪酸等の保護膜を設けてもよ
い。さらに、この保護股上に&J滑剤を塗布しても良い
[作用] V、MO、W、Mnのうちのいずれか1種以上を2〜1
2原子%含有し、N含有量が0.2〜5原子%であるC
O基合金磁性薄膜は適当な磁気特性を有し、後述の実施
例などに示す如く耐食性・耐候性に優れる。
[実施例J 以下、本発明を具体的実施例によって詳細に説明する。
なお、以下に述べる実施例は、rJ、マグネトロンスパ
ッタ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言え
るイオンビームスパッタリング等によっても本発明の効
果を得ることが可能であることは勿論である。
実施例1 rJ、プレーナーマグネトロンスパッタ装置を用い、下
記条件にて、ガラス基板上に様々な組成のCO基合金磁
性薄膜を形成した。
初期排気   1〜2x10−’ Torr全雰囲気圧
(A r + N 2 )  10〜20 mTorr
(全圧に対するN2分圧の%)50〜80%投入電力 
     1  kW ターゲット組成   CO (目標とする薄膜の組成に一致させる場合は、各添加物
のチップを適当にターゲット上に配置させることにより
行なう。) 極lSI!隔       108mm膜厚(スパッタ
時)      700A薄膜形成速度    250
〜500A/1n基板温度         200℃ スパッタ膜形成後、10−’ Torr以下の真空中に
て300〜450″CX 1〜5hrの熱処理を行ない
、膜を結晶化させるとともに、膜中に含有された窒素を
放出させた。その後耐食性及び耐候性の検討を行なった
。ここに、耐蝕性の評価は3MΩ・cmの純水中に1週
間浸すことにより、また耐候性の評価は温度57℃、湿
度80%の条件下に2週間放置することにより行なった
この結果を、第1表に示す。
比較例1 下記条件により、適宜に表面処理されたガラス基板上に
Co −Ni−P合金磁性膜を作成し、その後耐食性、
耐候性の評価を行なった。その結果を第1表に示す。
メッキ浴 硫酸コバルト    0.06 mol /
 1硫酸ニツケル    0.04 次亜リン酸      0.2 硫酸アンモニウム  0.1 マロン酸ナトリウム  0.3 リンゴ酸ナトリウム 0.4 コハク酸ナトリウム 0.5 DH=8.9〜9.3  温度75〜85℃ 膜厚70
0A比較例2 スパッタリング時の雰囲気をAr  ioo%とじたこ
と以外は実施例1と同様にして、N含有率0%の薄膜を
作成した。また、残存N1度が5原子%を越える場合、
 N、i 11度が25原子%を越える場合、及び規定
量を越える量の添加物を含む場合の合金薄膜も同様に実
施例1の条件下で作成した。
その磁気特性を第1表に示す。
第1表より、本発明によるV、Mo 、W、Mnなどを
含むCO基合金磁性薄膜は、従来のCO−Ni−P無電
解メッキ磁性薄膜に比較し、遥かに優れた耐食性・耐候
性を示すことが認められる。
また、磁気記録媒体としての特性を満足するためには、
アルゴンと窒素の混合雰囲気下で膜が形成されなければ
ならないことも認められる。
実施例2 表面研磨されたアルミ合金上にアルマイト処理を施して
成る基板上に、第2表に示すような所望の組成となるよ
うに、実施例1に記したと同様の条件下にて51/4“
φディスクを作成し、真空中350℃x 3hr熱処理
を施した後、r、「、プレーナーマグネトロン装置にて
400Aのアモルファス状カーボン膜を形成した。
次に、これらのディスクを用い耐食性、耐候性の評価を
行なった。その結果を第2表に示す。なお、磁気記録媒
体の電磁変換特性の評価は、下記の如き条件で行なった
使用ヘッド Mn−2nフエライトヘツド(トラック幅
16μm、ギャップ長1.1μm1ギャップ深さ20μ
m1巻数19TX 2)浮上量 0.34μm 書き込み周波数 1 F ;  1.25 MH22F
:  2.5  MHz ディスク回転数 3600rpn+ 測定箇所 ディスク中心よりの距離R= 30mm比較
例3、 表面研磨されたアルミニウム合金上にNi −Pメッキ
下地層が施された51/4″φデイスク基板上に、比較
例1と同様の条件下でGo −Jli −P合金磁性膜
を形成し、その後実施例2と同様に40OAのアモルフ
ァス状カーボン膜を形成した。
次に、これらを耐食性及び耐候性の評価に用いた。
その結果を第2表に示す。電磁変換緒特性の評価は実施
例2と全く同様の条件下で行なった。
以上のことから、本発明における磁気記録媒体は耐食性
・耐候性に優れた媒体であることが証明された。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に形成された合金磁性薄膜を有する磁気記
    録体において、該合金磁性薄膜がバナジウム、モリブデ
    ン、タングステン、マンガンのうちのいずれか1種以上
    を2〜12原子%含むコバルト基合金からなることを特
    徴とする磁気記録媒体。
  2. (2)上記合金磁性薄膜は、基板上にスパッタリングさ
    れ、かつ熱処理されて形成されたものであることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。
  3. (3)上記合金磁性薄膜が、バナジウム、モリブデン、
    タングステン、マンガンのうちのいずれか1種以上を2
    〜12原子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部コ
    バルトからなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    又は第2項に記載の磁気記録媒体。
  4. (4)上記合金磁性薄膜が、バナジウム、モリブデン、
    タングステン、マンガンのうちのいずれか1種以上を2
    〜12原子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部が
    コバルトとニッケル及び/又は鉄とから成り、ニッケル
    及び/又は鉄の含有量は、コバルトの25原子%以下を
    置換した量であることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項又は第2項に記載の磁気記録媒体。
JP6553685A 1985-03-29 1985-03-29 磁気記録媒体 Pending JPS61224125A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63273208A (ja) * 1987-04-30 1988-11-10 Hoya Corp 磁気記録媒体

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