JPS61223024A - 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents

半導体封止用エポキシ樹脂組成物

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JPS61223024A
JPS61223024A JP60065604A JP6560485A JPS61223024A JP S61223024 A JPS61223024 A JP S61223024A JP 60065604 A JP60065604 A JP 60065604A JP 6560485 A JP6560485 A JP 6560485A JP S61223024 A JPS61223024 A JP S61223024A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
epoxy resin
novolak
type epoxy
polyurethane elastomer
Prior art date
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Pending
Application number
JP60065604A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Takigawa
幸雄 瀧川
Katsura Adachi
安達 桂
Nobuo Sato
信男 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Polyurethanes Or Polyureas (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 樹脂モールドタイプの半導体素子の外装に使用される樹
脂の必要条件は耐湿性が良(、弾性率が小さく、低応力
化されていることである。
本発明は可撓性付与剤としてポリウレタンエラストマを
使用することにより低応力化を実現するものである。
(産業上の利用分野〕 本発明は可撓性付与剤としてポリウレタンエラストマを
用いた半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関する。
トランジスタ、 ICなど半導体素子の外装として高(
t II性が必要な用途に対し、当初は金属ケースとガ
ラス端子とを使用するハーメチックシールパッケージが
、使用されていたが、封止用樹脂の改良により特性が改
良され、広い用途に使用されるようになった。
しかし、LSI、VLSIと高集積化が進み、またチッ
プサイズが大きくなるに従って、更に応力低下と耐湿性
の向上が必要になった。
すなわち封止樹脂と半導体基板との熱膨張率が違うこと
と、樹脂の弾性率が高いことが原因で半導体基板上のバ
ンシベーション層にクラックを生じて耐湿性を低下させ
るとか、半導体基板上に形成されている微細パターンを
変形させるなどの問題を生じており、また外装樹脂自体
にも微少なりラックを生ずると云う問題がある。
これを解決する方法としては樹脂の低応力化と樹脂自体
の耐湿性を更に向上することが必要であり、研究と実用
化が進められている。
〔従来の技術〕
半導体封止用エポキシ樹脂組成物はノボラック型エポキ
シ樹脂、オルソノボラック型フェノール樹脂、無機質充
填剤、−硬化促進剤、離型剤9着色剤などの混合物より
なり、低圧トランスファ成形法を用いて成形されている
ここでノボラック型エポキシ樹脂は例えばタレゾールノ
ボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポ
キシ樹脂であり、 オルソノボラック型フェノール樹脂は例えばオルソフェ
ノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂など
である。
また無機質充填剤は結晶性シリカ粉末、アルミナ粉末1
石英ガラス粉末、炭酸カルシウムなど、硬化促進剤はイ
ミダゾール類、第三級アミン、有機燐酸化合物などが用
いられている。
また離型剤としてはカルナバワックスやエステルワック
スが、また着色剤としてカーボンブラックなどの顔料が
使用されている。
また無機質充填剤と樹脂との密着性を向上するためにシ
ランカップリング剤を、また難燃化するために三酸化ア
ンチモンなどの難燃剤を加えることもある。
エポキシ樹脂組成物はこのような各種材料の混合物より
なり、これを混練した後に粉砕してタブレットを作り、
これを低圧トランスファモールドして成形体が作られて
いる。
ここで従来は低応力化を実現する方法としてブタジェン
ゴム、シリコーン樹脂などの粉末を可撓性付与剤として
樹脂組成物に添加することが行われている。
然し、このような可撓性付与剤の添加は樹脂のガラス転
移温度を下げ、そのため耐水性や耐熱性を低下すると云
う問題があり、添加量は自ずから制限されている。
そのために期待するような低応力化を実現することがで
きず、この対策が要望されている。
〔発明が解決しようとする問題点3 以上説明したように半導体素子の高集積化と大形化に伴
って基板と樹脂との熱膨張率の不一致により半導体素子
に発生する応力を緩和することが必要であり、そのため
樹脂の弾性率を低下させることが必要であるが、少ない
添加量で効率よく弾性率を下げ得る可撓性付与剤が見当
たら雇いのが問題である。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の問題はノボラック型エポキシ樹脂、オルソノボラ
ック型フェノール樹脂、無機質充填剤。
硬化促進剤を主な構成材料とするエポキシ樹脂において
、可撓性付与剤としてポリウレタンエラストマを必須構
成材料として含む半導体封止用エポキシ樹脂組成物を使
用することにより解決することができる。
〔作用〕
ポリウレタンエラストマはイソシアネート基(−NGO
)をもつ芳香族ジイソシアネートとポリエーテルグリコ
ールまたはジイソシアネートとポリエステルグリコール
とを反応させて作るもので、芳香族ジイソシアネート例
えば 2.4−)リレンジイソシアネート 2.6−)リレンジイソシアネート 4.4−ジフェニルメタンジイソシアネートとポリエー
テルグリコール例えば 1.4−ブチレンオキサイドポリエーテルグリコール ポリプロピレングリコール などの組合せにより各種のポリウレタンエラストマが作
られている。
このポリウレタンエラストマは優れた靭性をもつと共に
耐摩耗性、耐熱性、耐油性などに優れた特徴をもってい
る。
本発明は IO((CH2)go)nHで表せるポリエ
ーテルグリコールでnの値が4〜14のものを用いて作
ったポリウレタンエラストマの特性に着目し、これを可
撓性付与剤として用いるものである。
なお、先に記したように可撓性付与剤の添加は樹脂のガ
ラス転移温度を下げ、耐水性や耐熱性を低下させる。
そのためポリウレタンエラストマの添加量はノボラック
型エポキシ樹脂に対し2重量部以下が好ましい。
なお、ポリウレタンエラストマはジイソシアネートとポ
リエーテルグリコールまたはポリエステルグリコールと
を反応させて作られるが、エステル系のものは耐湿性が
あまり良くないので、エーテル系を使用するのが好まし
い。
〔実施例〕
実施例: 使用したポリウレタンエラストマは2.4−トリレンジ
イソシアネートと1.4−ブチレンオキサイドポリエー
テルグリコールよりなる液状のプレポリマを予めタレゾ
ールノボラック型エポキシ樹脂に混入したものを用いた
エポキシ樹脂組成物の構成は重量部で表して、ポリウレ
タンエラストマ  ・・・・・・   2タレゾールノ
ボラツク型エポキシ樹脂・・・100(商品名 エビク
ロン N−673) フェノールノボラック樹脂・旧・・    50(商品
名 バーカムTD−2131) 2−メチルイミダゾール(硬化促進剤)・・・2シリカ
粉末(充填剤)  ・・・・・・    400エステ
ルワツクス(離型剤)・・・・・・   2カーボンブ
ラツク(着色剤)・・・・・・   2グリシドキシプ
ロビルトリメトキシシラン(シランカップリング剤)・
・・   2からなり、この混合物を50〜60℃に加
熱したプラベンダープラスチコーダを用いて5〜1o分
間混練し、冷却後に粉砕してエポキシ樹脂組成物を作り
、これを用いて曲げ弾性率と耐熱衝撃性および耐湿性を
測定した。
まず、曲げ弾性率の測定はtox 4 xtoo wa
の試験片を金型温度170℃、成形圧力60にg/cj
+成形時間150秒の条件で成形し、これを175℃で
8時間アフタキュアした。
そして測定の結果、かかる試料の曲げ弾性率は1200
Kg/ms ”と小さかった。
次ぎに7X20X3mの金型を用い、4.5X7XO6
5のシリコン(St)チップを先と同じ成形条件で成形
し、これを150℃のシリコンオイル中に5分間、続い
て液体窒素中に5分間浸漬することを1サイクルとする
耐熱衝撃試験を行ったが300サイクル後においてもク
ラックの発生は見られなかった。
また120℃、2気圧の水蒸気中に放置し、絶縁抵抗の
変化から耐湿性を調べたが、200時間経過しても常温
常圧における成形品の絶縁抵抗値と較べ、その変化は5
%以内であった。
比較例1: 可撓性付与剤としてポリウレタンエラストマの代わりに
ブタジェンゴムを使用した他は実施例1と同一の組成9
重量比でエポキシ樹脂組成物を作り、これを用いて先と
同様に試料を作り、曲げ弾性率、熱衝撃性および耐湿性
を調べた。
その結果は耐熱衝撃性と耐湿性の試験結果は同じであっ
たが、曲げ弾性率は1340Kg/++us ”と大き
かった。
比較例2: 可撓性付与剤としてポリウレタンエラストマの代わりに
シリコーン樹脂を使用した他は実施例1と同一の組成1
重量比でエポキシ樹脂組成物を作り、これを用いて先と
同様に試料を作り、曲げ弾性率、熱衝撃性および耐湿性
を調べた。
その結果は耐湿性の試験結果は同じであったが曲げ弾性
率は1400Kg/m+s 2と高く、また耐熱衝撃性
も約250サイクルでクラックの発生が見られた。
〔発明の効果〕
以上記したように本発明の実施により、弾性率が改良さ
れ、そのため半導体チップに加わる応力を緩和すること
ができ、樹脂成形タイプ半導体素子の信鯨性を向上する
ことができる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ノボラック型エポキシ樹脂、オルソノボラック型フェ
    ノール樹脂、無機質充填剤、硬化促進剤を主な構成材料
    とするエポキシ樹脂において、可撓性付与剤としてポリ
    ウレタンエラストマを必須構成材料として含むことを特
    徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
JP60065604A 1985-03-29 1985-03-29 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 Pending JPS61223024A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5510818A (en) * 1991-01-31 1996-04-23 Canon Kabushiki Kaisha Transfer-molding resin composition for use to manufacture ink jet recording head, and ink jet recording head manufactured by using the same
KR100413358B1 (ko) * 2000-12-28 2003-12-31 제일모직주식회사 반도체 소자 밀봉용 에폭시 수지 조성물
US6787606B1 (en) * 2001-07-02 2004-09-07 Henkel Corporation Electrochromic device with composition of epoxy resin, toughener and latent curative
JP2012530815A (ja) * 2009-06-26 2012-12-06 ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー エポキシ化ノボラックを含む熱可塑性組成物
CN116606528A (zh) * 2023-07-18 2023-08-18 成都上泰科技有限公司 一种用于宽禁带半导体封装的增韧改性环氧树脂高聚物及其制备方法

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