JPS61220292A - 薄膜el素子とその製造方法 - Google Patents
薄膜el素子とその製造方法Info
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- JPS61220292A JPS61220292A JP60061674A JP6167485A JPS61220292A JP S61220292 A JPS61220292 A JP S61220292A JP 60061674 A JP60061674 A JP 60061674A JP 6167485 A JP6167485 A JP 6167485A JP S61220292 A JPS61220292 A JP S61220292A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、平面薄型ディスプレイ・デバイスとして文字
、記号及び図形等を含むコンピュータの出力表示端末機
器、その他種々の表示装置に文字、記号及び図形等の静
止画像や動画像の表示手段として利用される薄膜lEL
素子に関し、詳しくはコントラストを向上させる薄膜E
L素子に関するものである。
、記号及び図形等を含むコンピュータの出力表示端末機
器、その他種々の表示装置に文字、記号及び図形等の静
止画像や動画像の表示手段として利用される薄膜lEL
素子に関し、詳しくはコントラストを向上させる薄膜E
L素子に関するものである。
従来、この種の薄膜EL素子としては、第6図(a)及
び(b)に示すものが紹介されており、同図において、
1はガラス基板、2はxn2o3゜Sn 02等から成
る透明電極、3はY2O3゜Ta2 o5等から成る
第1誘電体層、4は発光中心として0.1〜2.Owt
%Hn(又はTb、 S−、Cu、 At 。
び(b)に示すものが紹介されており、同図において、
1はガラス基板、2はxn2o3゜Sn 02等から成
る透明電極、3はY2O3゜Ta2 o5等から成る
第1誘電体層、4は発光中心として0.1〜2.Owt
%Hn(又はTb、 S−、Cu、 At 。
B「等)をドープしたZnS (又はZn5e等)の
EL発光層、5はY2 03 、 Ta2 05等から
成る第2誘電体層、6はA4等からなる背面電極、7は
V2 0s 、 8C4等からなる光吸収層、及び8は
A1低級酸化物とA1との多層膜からなる複合電極であ
る。ここで、透明電極2はガラス基板1上に複数帯状に
平行配列され、背面電極6と複合電極8は透明電極2と
直交する方向に複数帯状に平行配列されており、透明電
極2と背面電極6又は複合電極8とが平面図的に見て交
叉した位置がパネルの1絵素に相当する。そして、電極
2.6(又は8)間にAC電極を印加することにより、
EL発光1f4内に発生した電界によって伝導帯に励起
され、且加速されて充分なエネルギーを得た電子が、直
接Mn発光中心を励起し、この励起されたMn発光中心
が基底状態に戻る際に黄色の発光を呈する。その際、光
吸収層7は、ガラス基板1側から入射した外部光を吸収
して、EL素子のコントラストを高くすることができる
。
EL発光層、5はY2 03 、 Ta2 05等から
成る第2誘電体層、6はA4等からなる背面電極、7は
V2 0s 、 8C4等からなる光吸収層、及び8は
A1低級酸化物とA1との多層膜からなる複合電極であ
る。ここで、透明電極2はガラス基板1上に複数帯状に
平行配列され、背面電極6と複合電極8は透明電極2と
直交する方向に複数帯状に平行配列されており、透明電
極2と背面電極6又は複合電極8とが平面図的に見て交
叉した位置がパネルの1絵素に相当する。そして、電極
2.6(又は8)間にAC電極を印加することにより、
EL発光1f4内に発生した電界によって伝導帯に励起
され、且加速されて充分なエネルギーを得た電子が、直
接Mn発光中心を励起し、この励起されたMn発光中心
が基底状態に戻る際に黄色の発光を呈する。その際、光
吸収層7は、ガラス基板1側から入射した外部光を吸収
して、EL素子のコントラストを高くすることができる
。
しかし、第6図(a)による薄膜EL素子は、印加電圧
に対する発光輝度の立ち上りがゆるやかであり、発光輝
・度を高くするためには、印加電圧を相当高くしなけれ
ばならず、高電圧の印加に伴って絶縁破壊を起こしやす
い欠点があった。ここで、印加電圧に対する発光輝度の
立ち上りを急峻にするために、第6図(a)の光吸収層
7と第2誘電体層とを逆にして形成する。すなわちEL
発光層4上に、第2誘電体層5を積層し、次に光吸収層
7を積層することも考えられているが、前述したV2
03 、 BC4等からなる光吸収層は光吸収効果が十
分でないと共に、比低抗十分に大きくないため、マトリ
ックス型のS膜EL素子においてはクロストークが発生
する欠点があった。さらに、前述した第6図(b)の薄
膜EL素子においては、単に背面電極をAiにしたとき
よりも光吸収効果はあるが、前述した同図(a)の薄膜
EL素子と比較してコントラストは劣化する欠点があっ
た。
に対する発光輝度の立ち上りがゆるやかであり、発光輝
・度を高くするためには、印加電圧を相当高くしなけれ
ばならず、高電圧の印加に伴って絶縁破壊を起こしやす
い欠点があった。ここで、印加電圧に対する発光輝度の
立ち上りを急峻にするために、第6図(a)の光吸収層
7と第2誘電体層とを逆にして形成する。すなわちEL
発光層4上に、第2誘電体層5を積層し、次に光吸収層
7を積層することも考えられているが、前述したV2
03 、 BC4等からなる光吸収層は光吸収効果が十
分でないと共に、比低抗十分に大きくないため、マトリ
ックス型のS膜EL素子においてはクロストークが発生
する欠点があった。さらに、前述した第6図(b)の薄
膜EL素子においては、単に背面電極をAiにしたとき
よりも光吸収効果はあるが、前述した同図(a)の薄膜
EL素子と比較してコントラストは劣化する欠点があっ
た。
本発明は、前記の事情に鑑みてなされたもので、その目
的は、コントラストを向上させ、印加電圧−発光輝度特
性を良好に維持し、クロストークを防止する薄膜EL素
子を提供することである。
的は、コントラストを向上させ、印加電圧−発光輝度特
性を良好に維持し、クロストークを防止する薄膜EL素
子を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕 。
前記の目的を達成するために、第1の発明は、透光性基
板と、該透光性基板上の透明電極と背面電極との間に、
EL発光層、M電体層及び光吸収層を設け、かつ前記光
吸収層を、前記EL発光層と前記透明電極又は前記背面
電極との間に設けている薄膜EL素子において、前記光
吸収層がタンタル窒化物からなることを特徴とする薄膜
EL素子であり、第2の発明は、透光性基板と、該透光
性基板上の透明電極と背面電極との間に、EL発光層、
誘電体層及びタンタル窒化物からなる光吸収層を設け、
かつ前記光吸収層を、前記EL発光層と前記透明電極又
は前記背面電極との間にスパッタリング法によって形成
したことを特徴とする薄膜EL素子の製造方法である。
板と、該透光性基板上の透明電極と背面電極との間に、
EL発光層、M電体層及び光吸収層を設け、かつ前記光
吸収層を、前記EL発光層と前記透明電極又は前記背面
電極との間に設けている薄膜EL素子において、前記光
吸収層がタンタル窒化物からなることを特徴とする薄膜
EL素子であり、第2の発明は、透光性基板と、該透光
性基板上の透明電極と背面電極との間に、EL発光層、
誘電体層及びタンタル窒化物からなる光吸収層を設け、
かつ前記光吸収層を、前記EL発光層と前記透明電極又
は前記背面電極との間にスパッタリング法によって形成
したことを特徴とする薄膜EL素子の製造方法である。
また、本発明の態様としては、前記EL発光層と前記背
面電極との間に、前記誘電体層と前記タンタル窒化物か
らなる光吸収層とを当接して設けたこと、前記EL発光
層と前記背面電極との間の誘電体層がタンタル酸化物で
あること、前記タンタル窒化物からな、る光吸収層の比
低抗1040・α以上であること、及び前記タンタル窒
化物からなる光吸収層を、タンタルをターゲットとし、
窒素含有雰囲気中において、反応性スパッタリング法に
より形成すること等がある。
面電極との間に、前記誘電体層と前記タンタル窒化物か
らなる光吸収層とを当接して設けたこと、前記EL発光
層と前記背面電極との間の誘電体層がタンタル酸化物で
あること、前記タンタル窒化物からな、る光吸収層の比
低抗1040・α以上であること、及び前記タンタル窒
化物からなる光吸収層を、タンタルをターゲットとし、
窒素含有雰囲気中において、反応性スパッタリング法に
より形成すること等がある。
以下、本発明の実施例を図に基づき詳細に説明する。
(実施例1〕
第1図は、本例を示す断面図である。
先ず、アルミノシリケートガラス(例えば、N0VA■
製のNA40 )からなる透光性基板1上に、真空蒸着
法により、スズ酸化物を混入した酸化インジウムからな
る透明電極2(膜厚: 2000人)と、Y2O3から
なる第1誘電体層3(膜厚: 3000人)と、活性物
質として0.5重量%のHnをlnS中に添加したZn
S:Hn焼結ペレットを蒸着源にしてZnS :Hnか
らなるEL発光層4(膜Jj : 6GGOA > ト
、Y2O3からなる第2誘電体層5(膜厚: 3G00
人)とを順次成膜した。次に、スパッタリング法により
、金属タンタルをスパッタターゲットとして、窒素ガス
(分圧: 6 x 1O−1Pa)をスバッ°り装置に
導入し、反応性スバヱタを行い、タンタル窒化物からな
る光吸収[19(膜厚: 1200人、比抵抗:約10
50・α)を前記第2誘電体層5上に成膜した。
製のNA40 )からなる透光性基板1上に、真空蒸着
法により、スズ酸化物を混入した酸化インジウムからな
る透明電極2(膜厚: 2000人)と、Y2O3から
なる第1誘電体層3(膜厚: 3000人)と、活性物
質として0.5重量%のHnをlnS中に添加したZn
S:Hn焼結ペレットを蒸着源にしてZnS :Hnか
らなるEL発光層4(膜Jj : 6GGOA > ト
、Y2O3からなる第2誘電体層5(膜厚: 3G00
人)とを順次成膜した。次に、スパッタリング法により
、金属タンタルをスパッタターゲットとして、窒素ガス
(分圧: 6 x 1O−1Pa)をスバッ°り装置に
導入し、反応性スバヱタを行い、タンタル窒化物からな
る光吸収[19(膜厚: 1200人、比抵抗:約10
50・α)を前記第2誘電体層5上に成膜した。
さらに、前記光吸収層9上にAiからなる背面電極6(
膜厚: 3G00人)を真空蒸着法により成膜した。な
お、透明電極2と背面電極6とは、従来と同様に互いに
直交するように複数帯状に配列している。
膜厚: 3G00人)を真空蒸着法により成膜した。な
お、透明電極2と背面電極6とは、従来と同様に互いに
直交するように複数帯状に配列している。
本例によれば、透光性基板1側から本例の5siEL素
子に入射した外部光が、光吸収層9によって、Aiから
なる背面電極6に到達することが防止され、一部到達し
て背面電極6から反射した戻り光があっても同様に吸収
され、第3図の曲線Aに示すような低い反射率特性が得
られる。その結果、コントラスト比C=(1・r+8)
/(1・r)(ただし、■は外部光の強度、rは薄膜E
L素子の反射率及びBは発光輝度である。)であるから
、第4図の曲線Cに示すように良好なコントラスト比が
得られる。なお、従来からある光吸収層を設けていない
薄膜EL素子のコントラスト比を比較例として曲線りに
示す。
子に入射した外部光が、光吸収層9によって、Aiから
なる背面電極6に到達することが防止され、一部到達し
て背面電極6から反射した戻り光があっても同様に吸収
され、第3図の曲線Aに示すような低い反射率特性が得
られる。その結果、コントラスト比C=(1・r+8)
/(1・r)(ただし、■は外部光の強度、rは薄膜E
L素子の反射率及びBは発光輝度である。)であるから
、第4図の曲線Cに示すように良好なコントラスト比が
得られる。なお、従来からある光吸収層を設けていない
薄膜EL素子のコントラスト比を比較例として曲線りに
示す。
また、本例は、第2iW電°体層5と背面電極6との間
に光吸収層9を設けているので、第5図の曲線Fで示す
ように(比較例として前述の第6図(a)で示したMl
lEL素子の曲線をGで示す。)発光輝度の立ち上りが
急峻となり、所望する発光輝度(例えば、周波数100
H2正弦波の交流電圧では、ピーク、波長580rvの
橙黄色を発光するときの発光輝度は100Cd/Wi)
に対する発光開始電圧も低く抑えることができ、絶縁破
壊をも防止することができる。さらに、本例の光吸収層
9は、窒化度の高いタンタル窒化物(比抵抗:約105
Ω・1)であるから、クロストークも十分に防止するこ
とができる。なお、本例では、光吸収層の比低抗約10
50・αであるが、約1040・α以上であれば同様な
効果がある。
に光吸収層9を設けているので、第5図の曲線Fで示す
ように(比較例として前述の第6図(a)で示したMl
lEL素子の曲線をGで示す。)発光輝度の立ち上りが
急峻となり、所望する発光輝度(例えば、周波数100
H2正弦波の交流電圧では、ピーク、波長580rvの
橙黄色を発光するときの発光輝度は100Cd/Wi)
に対する発光開始電圧も低く抑えることができ、絶縁破
壊をも防止することができる。さらに、本例の光吸収層
9は、窒化度の高いタンタル窒化物(比抵抗:約105
Ω・1)であるから、クロストークも十分に防止するこ
とができる。なお、本例では、光吸収層の比低抗約10
50・αであるが、約1040・α以上であれば同様な
効果がある。
一方、本例では、スパッタリング法によりタンタル窒化
物からなる光吸収層を形成しているので、真空蒸着法に
よって形成された光吸収層よりも、絶縁性が高く、かつ
経時変化も抑えることができるので、本例による薄膜E
L素子を長期に使用することができ、また光吸収層の窒
化度を高くする効果もある。
物からなる光吸収層を形成しているので、真空蒸着法に
よって形成された光吸収層よりも、絶縁性が高く、かつ
経時変化も抑えることができるので、本例による薄膜E
L素子を長期に使用することができ、また光吸収層の窒
化度を高くする効果もある。
〔実施例2〕
第2図は、本例を示すi面図である。
、先ず、前述したアルミノシリケートガラスの透光性部
材11の観測表面12上に、真空蒸着法によりHQ F
2からなる反射防止層13(膜厚: 1000人)を成
膜し、透光性基板10を製作する。次に、この基板10
の観測表面12と対向する表面14上に、スズ酸化物を
混入した酸化インジウムからなる透明電極2(膜厚:
2000人)を真空蒸着法により成膜し、次に、金属タ
ンタルをスパッタターゲットとして、02ガスを30%
混入した計ガス(分圧:5X10−1Pa)をスパッタ
装置内に導入し、反応性スパッタリングし、Ta2
o5からなる第1誘電体層3(膜厚: 4000人)を
成膜した。次に、前記第1誘電体層3上に、前記実施例
1と同様にZnS:HnからなるEL発光層4(II!
厚: 6000人)を成膜した。次に、前記第1誘電体
層と同様にスパッタリング法により、Ta2 o5か
らなる第2誘電体層5(m厚:3000人)を成膜し、
引き続き、02ガス及びA「ガスを排気し、N2ガス(
分圧: 6 x 1G−1Pa)を導入し、反応性スパ
ッタを行い、タンタル窒化物からなる光吸収層9(薄膜
厚: 1000人)を成膜した。
材11の観測表面12上に、真空蒸着法によりHQ F
2からなる反射防止層13(膜厚: 1000人)を成
膜し、透光性基板10を製作する。次に、この基板10
の観測表面12と対向する表面14上に、スズ酸化物を
混入した酸化インジウムからなる透明電極2(膜厚:
2000人)を真空蒸着法により成膜し、次に、金属タ
ンタルをスパッタターゲットとして、02ガスを30%
混入した計ガス(分圧:5X10−1Pa)をスパッタ
装置内に導入し、反応性スパッタリングし、Ta2
o5からなる第1誘電体層3(膜厚: 4000人)を
成膜した。次に、前記第1誘電体層3上に、前記実施例
1と同様にZnS:HnからなるEL発光層4(II!
厚: 6000人)を成膜した。次に、前記第1誘電体
層と同様にスパッタリング法により、Ta2 o5か
らなる第2誘電体層5(m厚:3000人)を成膜し、
引き続き、02ガス及びA「ガスを排気し、N2ガス(
分圧: 6 x 1G−1Pa)を導入し、反応性スパ
ッタを行い、タンタル窒化物からなる光吸収層9(薄膜
厚: 1000人)を成膜した。
そして、前記光吸収19上に、前記実施例1と同様にA
Lからなる背面電極6(膜厚: 3G00人)を積層す
る。なお、透明電極2と背面電極6との位@関係及び構
造は前述したとおりである。
Lからなる背面電極6(膜厚: 3G00人)を積層す
る。なお、透明電極2と背面電極6との位@関係及び構
造は前述したとおりである。
本例によれば、前記実施例1と同様に、外部光の反射を
防止することができ、さらに、反射防止膜13を観測表
面12上に被覆していることから、この面からの反射を
ほとんど防止することができ、第3図の曲線日で示すよ
うに、平均反射率7%程 ′度(波長: 400〜
700nm )とすることができた。
防止することができ、さらに、反射防止膜13を観測表
面12上に被覆していることから、この面からの反射を
ほとんど防止することができ、第3図の曲線日で示すよ
うに、平均反射率7%程 ′度(波長: 400〜
700nm )とすることができた。
この結果、第4図の曲線Eに示すように前記実施例1の
ものよりも良好なコントラスト比を得ることができた。
ものよりも良好なコントラスト比を得ることができた。
さらに、本例では、金属タンタルをスパッタターゲット
とし、Ta2 05膜からなる第2誘電体層5を成膜し
、引き続き同一の金属タンタルをスパッタターゲットと
して、タンタル窒化物からなる光吸収層9を成膜するこ
とができるので、第2誘電体層及び光吸収層ともTaを
含んでいるものであることから互いの付着力が強く、ま
た、光吸収層内にゴミ等の異物を混入させることもない
ことから、光吸収層の絶縁破壊を防止することができ、
かつ作業性もよくなる。
とし、Ta2 05膜からなる第2誘電体層5を成膜し
、引き続き同一の金属タンタルをスパッタターゲットと
して、タンタル窒化物からなる光吸収層9を成膜するこ
とができるので、第2誘電体層及び光吸収層ともTaを
含んでいるものであることから互いの付着力が強く、ま
た、光吸収層内にゴミ等の異物を混入させることもない
ことから、光吸収層の絶縁破壊を防止することができ、
かつ作業性もよくなる。
また、本例によれば、前記実施例1と同様に、印加電圧
−発光輝度特性も良好で、クロストークも防止すること
ができる。なお、本例も光吸収層の比低抗約1040・
a11以上あればよい。
−発光輝度特性も良好で、クロストークも防止すること
ができる。なお、本例も光吸収層の比低抗約1040・
a11以上あればよい。
さらに、本例でもスパッタリング法によって光吸収層を
成膜しているので前記実施例1と同様の効果がある。
成膜しているので前記実施例1と同様の効果がある。
以上、前記実施例1及び2においては、EL発光層上に
順次第2誘電体層、光吸収肩及び背面電極を積層した構
成となっているが、EL発光層−光吸収層一第2誘電体
層−背面電極の構成であってもよい。この構成において
、発光輝度の立ち上りは、前記実施例1及び−2と比較
して実用上問題とならない程度にゆるやかにはなるが、
コントラスト比の向上及びクロストークの防止に対して
は同様の効果があり、さらに、光吸収層の比低抗約10
4Ω・α未満であってもクロストークは発生しない効果
がある。また、光吸収層の膜厚は、光吸収量と光吸収層
の製造上からみて、1000Å以上で5000Å以下が
望ましい。
順次第2誘電体層、光吸収肩及び背面電極を積層した構
成となっているが、EL発光層−光吸収層一第2誘電体
層−背面電極の構成であってもよい。この構成において
、発光輝度の立ち上りは、前記実施例1及び−2と比較
して実用上問題とならない程度にゆるやかにはなるが、
コントラスト比の向上及びクロストークの防止に対して
は同様の効果があり、さらに、光吸収層の比低抗約10
4Ω・α未満であってもクロストークは発生しない効果
がある。また、光吸収層の膜厚は、光吸収量と光吸収層
の製造上からみて、1000Å以上で5000Å以下が
望ましい。
次に、前記実施例1,2の反応性スパッタリング法にお
いてはN2ガス雰囲気中で行ったが、N2ガスと^rガ
ス等の不活性ガスとの混合雰囲気中で行っても同様の効
果がある。さらに、前記実施例では、スパッタリング法
、により光吸収層を成膜したが、真空蒸着法であっても
よい。しかし、スパッタリング法の方が、光吸収層の窒
化度を高めるのに効果がある。
いてはN2ガス雰囲気中で行ったが、N2ガスと^rガ
ス等の不活性ガスとの混合雰囲気中で行っても同様の効
果がある。さらに、前記実施例では、スパッタリング法
、により光吸収層を成膜したが、真空蒸着法であっても
よい。しかし、スパッタリング法の方が、光吸収層の窒
化度を高めるのに効果がある。
本発明は、以上の実施例に使用した各物質以外に、ガラ
ス基板についてはソーダライムガラス等の多成分系ガラ
ス又は石英ガラス、透明電極についてはIn2 03若
しくはこれにWを添加したもの又はSn 02にsb、
F等を添加したもの、゛第1誘電体層及び第2誘電体
層については、A1.203゜Hf 02等の酸化物、
Si3 N4等の窒化物又はこれらの混合物、発光層
についてはZnS : cu、 zns :At (何
れも黄緑色発光) 、 Zn(S −Se) : Cu
。
ス基板についてはソーダライムガラス等の多成分系ガラ
ス又は石英ガラス、透明電極についてはIn2 03若
しくはこれにWを添加したもの又はSn 02にsb、
F等を添加したもの、゛第1誘電体層及び第2誘電体
層については、A1.203゜Hf 02等の酸化物、
Si3 N4等の窒化物又はこれらの混合物、発光層
についてはZnS : cu、 zns :At (何
れも黄緑色発光) 、 Zn(S −Se) : Cu
。
Zn(S −8) :Br(何れも緑色発光)、ZnS
:Sm(赤色発光) 、 ZnS : Tb(緑色発光
)、ZnS:Tl1(青色発光)、背面電極については
Ta、 No、 Fe。
:Sm(赤色発光) 、 ZnS : Tb(緑色発光
)、ZnS:Tl1(青色発光)、背面電極については
Ta、 No、 Fe。
旧、 NiCr等の金属をそれぞれ使用してもよい。
以上のとおり、本発明によれば、コントラストを向上さ
せることができ、印加電圧−発光輝度特性を良好に保つ
ことができ、またクロストークも防止することができる
。さらに、タンタル窒化物からなる光吸収層は、塩酸、
硝酸、硫酸等の酸に対して耐久性があるので、へ1等の
金属からなる背面電極の直下に前記光吸収層を設けてい
る構造であって、この背面電極を、前記酸のエツチング
液でエツチングして帯状に形成するときでも、エツチン
グ液に光吸収層が侵されることなく良好な薄膜EL素子
が得゛られる効果がある。
せることができ、印加電圧−発光輝度特性を良好に保つ
ことができ、またクロストークも防止することができる
。さらに、タンタル窒化物からなる光吸収層は、塩酸、
硝酸、硫酸等の酸に対して耐久性があるので、へ1等の
金属からなる背面電極の直下に前記光吸収層を設けてい
る構造であって、この背面電極を、前記酸のエツチング
液でエツチングして帯状に形成するときでも、エツチン
グ液に光吸収層が侵されることなく良好な薄膜EL素子
が得゛られる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は本発
明の他の実施例を示す断面図、第3図は本発明の薄膜E
L素子における反射率特性図、第4図は本発明の薄膜E
L素子におけるコントラスト特性図、第5図は本発明の
薄膜EL素子の印加電圧−発光輝度特性図、及び第6図
(a) 、 (b)は従来の薄膜EL素子を示す断面図
である。 1.10・・・透光性基板、2・・・透明電極、3・・
・第1誘電体層、4・・・EL発光層、5・・・第2誘
電体層、6・・・背面電極、9・・・タンタル窒化物か
らなる光吸収層、11・・・透光性部材、13・・・反
射防止膜 第1図 第3図 第4図 。 λStL強L<cvmす
明の他の実施例を示す断面図、第3図は本発明の薄膜E
L素子における反射率特性図、第4図は本発明の薄膜E
L素子におけるコントラスト特性図、第5図は本発明の
薄膜EL素子の印加電圧−発光輝度特性図、及び第6図
(a) 、 (b)は従来の薄膜EL素子を示す断面図
である。 1.10・・・透光性基板、2・・・透明電極、3・・
・第1誘電体層、4・・・EL発光層、5・・・第2誘
電体層、6・・・背面電極、9・・・タンタル窒化物か
らなる光吸収層、11・・・透光性部材、13・・・反
射防止膜 第1図 第3図 第4図 。 λStL強L<cvmす
Claims (9)
- (1)透光性基板と、該透光牲基板上の透明電極と背面
電極との間に、EL発光層、誘電体層及び光吸収層を設
け、かつ前記光吸収層を、前記EL発光層と前記透明電
極又は前記背面電極との間に設けている薄膜EL素子に
おいて、前記光吸収層がタンタル窒化物からなることを
特徴とする薄膜EL素子。 - (2)前記EL発光層と前記背面電極との間に、前記誘
電体層と前記タンタル窒化物からなる光吸収層とを当接
して設けたことを特徴とする特許請求の範囲(1)項記
載の薄膜EL素子。 - (3)前記EL発光層、前記誘電体層、前記タンタル窒
化物からなる光吸収肩及び前記背面電極を順次設けたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第(2)項記載の薄膜E
L素子。 - (4)前記EL発光層と前記背面電極との間の誘電体層
が、タンタル酸化物からなることを特徴とする特許請求
の範囲第(2)項又は第(3)項記載の簿膜EL素子。 - (5)前記タンタル窒化物からなる光吸収層の比低抗1
0^4Ω・cm以上であることを特徴とする特許請求の
範囲第(3)項又は第(4)項記載の薄膜EL素子。 - (6)前記透光牲基板が、透光性部材と反射防止膜とか
らなり、前記透光性部材の前記透明電極を被覆した面と
対向する面に、前記反射防止膜を被覆していることを特
徴とする特許請求の範(1)項、第(2)項、第(3)
項、第(4)項又は第(5)項記載の薄膜EL素子。 - (7)透光性基板と、該透光性基板上の透明電極と背面
電極との間に、EL発光層、誘電体層及びタンタル窒化
物からなる光吸収層を設け、かつ前記光吸収層を、前記
EL発光層と前記透明電極又は前記背面電極との間にス
パッタリング法によって形成したことを特徴とする薄膜
EL素子の製造方法。 - (8)前記光吸収層を、タンタルをターゲットとし、窒
素含有雰囲気中において、反応性スパツタリング法によ
り形成することを特徴とする特許請求の範囲第(7)項
記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (9)前記EL発光層、タンタル酸化物からなる誘電体
層、前記光吸収及び背面電極を順次積層し、かつタンタ
ルをターゲットとして酸素含有雰囲気中において、反応
性スパッタリング法により前記誘電体層を形成し、次に
タンタルをターゲツトとして窒素含有雰囲気中において
、反応性スパツタリング法により前記光吸収層を形成す
ることを特徴とする特特許請求の範囲第(7)項記載の
薄膜EL素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60061674A JPS61220292A (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 薄膜el素子とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60061674A JPS61220292A (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 薄膜el素子とその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61220292A true JPS61220292A (ja) | 1986-09-30 |
JPH0460317B2 JPH0460317B2 (ja) | 1992-09-25 |
Family
ID=13178027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60061674A Granted JPS61220292A (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 薄膜el素子とその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61220292A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1988000382A1 (en) * | 1986-07-03 | 1988-01-14 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Color display device |
CN111217342A (zh) * | 2020-03-11 | 2020-06-02 | 华北理工大学 | 一种多孔氮化铌粉体微波吸收材料的制备方法 |
JP2021012886A (ja) * | 2019-07-26 | 2021-02-04 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59146193A (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-21 | 日産自動車株式会社 | 表示装置 |
-
1985
- 1985-03-26 JP JP60061674A patent/JPS61220292A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59146193A (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-21 | 日産自動車株式会社 | 表示装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1988000382A1 (en) * | 1986-07-03 | 1988-01-14 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Color display device |
JP2021012886A (ja) * | 2019-07-26 | 2021-02-04 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
CN111217342A (zh) * | 2020-03-11 | 2020-06-02 | 华北理工大学 | 一种多孔氮化铌粉体微波吸收材料的制备方法 |
CN111217342B (zh) * | 2020-03-11 | 2021-10-22 | 华北理工大学 | 一种多孔氮化铌粉体微波吸收材料的制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0460317B2 (ja) | 1992-09-25 |
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