JPS612190A - デ−タ表示方法及び装置 - Google Patents

デ−タ表示方法及び装置

Info

Publication number
JPS612190A
JPS612190A JP60043563A JP4356385A JPS612190A JP S612190 A JPS612190 A JP S612190A JP 60043563 A JP60043563 A JP 60043563A JP 4356385 A JP4356385 A JP 4356385A JP S612190 A JPS612190 A JP S612190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
values
data display
file
display device
digital
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60043563A
Other languages
English (en)
Inventor
フランシス・マイケル・パワー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU
SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU KEI Ltd
Original Assignee
SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU
SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU KEI Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU, SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU KEI Ltd filed Critical SHIYURANBAAGAA ELECTONICS YUU
Publication of JPS612190A publication Critical patent/JPS612190A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Recording Measured Values (AREA)
  • Digital Computer Display Output (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、一連のデジタル測定を行う種々の装置と連係
し一ζ使用されるデータ表示方法及びそのための装置に
係るものである。
〔従来の技術〕
このような装置の例としては、データロガ−及び周波数
応答分・析器、そして特に有益なものとしては、テシタ
ル電圧計(DVM)及びデジタルマルチメータ(1)M
M)のようなデジタルメータがある。呼出し及び分析の
だめの十分な数の過去の測定値を記憶するR A Mの
ブロックで構成されに゛ヒストリーファイル”を与える
マイクロプロセノリを使用したデジタルメータかすてに
知られている。
〔発明が解決すべき問題点〕
本発明は、テシタル装置の郵−ザに、例えは測定の仰向
または測定に混入している周JjJl的成分等の測定の
ルW2を瞬時に視覚的に示′づごとか−Cきイ)装置及
び方法を提供゛Jるごとを1−1的と′づる。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明に、1、トI、し、1、ブ1」セソリの制御の下
Gこ作動し7(連′h′こし7に測定を行・)テソタル
装置と、前記プ冒1−ノリC1二、1、−、 C11i
i記4川定から導かれ人二データを記・1だずイ、記憶
場所のブ1」ツクを包含する1?ΔMと、IJΔ変換器
と、前記1)A変換器の出力に前記連続した測定6.1
関する時間情報のアナ1」り関数を表す1言号を供給J
るために、前記記憶場所を周期的順序で前記D△変換器
に読出ず手段とをそれぞれ置部fしたことを1、lf徴
とするデータ表示装置を提供することかできる。
D−A変換器の出力信月は、オシロスコープへの入力か
予定されている。
もし、データ表示装置かRA Mにおけるヒストリーフ
ァイルを使用するなら、このヒストリーファイル又はそ
の一部は、記憶場所の+tii記ブロノブロックし得る
。しかしなから、画面ファイルと呼ひ得る第2のファイ
ルでこのフIJツクを構成した方か好ましい。何故なら
、画面ファイルはオシロス−!−1の人力信号が作り出
されるデータを記41づろからである。画面ファイル6
、二お1.Jるサンプルは、所定のアルゴリズムにjt
っでヒストリーファイルGこ才dノる4ノ°ンプルから
勇−か才する。なお、多くの代替IiJ能ム了ルゴリス
ムが嵩えられる。以下に記述する実施例においては、2
個のファイルは同数のサンプルを有し、且つ画面ファイ
ルのサンプルの各々は、う〜−夕をまるめることによっ
て実質的に分解能をFげる(6ハイトに対して1ハイド
)とともに、線形処理によってレンツスケール化を11
って対応するヒストリーファイルの′リンプルから傅か
れる。この目的は、測定されたサンプルの17〉・シに
無関係る二r)A変換器に対する標準テシタル入力レン
ジを確立することである。
2個のファイルは必ずしも同数の43−ンプルを有″づ
るとは限らない、、最近の仰向とし−Cは、例゛えば5
00個のリーンプルを有する大きなヒストリーファイル
が存在する。画面ファイルは、例えば100個くらいの
小数のサンプルを有するファイルてあ。
□り得る。そして、これらのり゛ンプルは、ヒストリー
ファイルにおける連続的なサンプルのブロック(このブ
ロックはヒストリーファイル中をウィンドとして移動し
得る)から導かれ得る。この代案として、画面ファイ)
しのシンプルはヒストリーファイルのn番毎のサンプル
から導き出されても良い。なお、nは4.10又は前も
って設定され得る数のような一定の数で有り得る。画面
ファイルのサンプルの各々は、ヒストリーファイルのn
個のシンプルのm純平均又は他の関数で有り得る。
画面ファイルのサンプル数かヒストリーファイルのそれ
よりも少数又は同数又は多数であっても、両面ファイル
はヒストリーファイルよりも履歴においてより遠く渕る
ことができる。この−例は、50.0個のサンプルを有
するヒストリーファイルと、ヒストリーファイルの10
番目毎のサンプルから導かれた100個のサンプルを有
する画面ファイルにおいて起こる。このような例は、測
定値の長期ドリフトを研究する上て有用てあろう。
今まで述へたように、画面ファイルのサンプルは線形操
作及び抽出操作によって導かれる。しかし、上述の2種
の操作以外によって導がれてもがまわない。画面ファイ
ルの各記憶場所は、例えは度数分布値を保持している。
そしてヒストリーファイルの個々のサンプルは1つのレ
ンジ片に割当てられ、それにイ3′って該当レンジ片の
属する画面ファイルの記1.a場所のアドレスが増加さ
れる。結果として、オシし1スコープの表示は、測定値
の発生の分布を示すヒストクラム表示となる。
後述する実施例においては、画面ファイルの変新は、ヒ
ストリーファイルにおける4(1j定の取込み及び記憶
とともに実時間動作で行われる。また、1jホ以外での
仕方で、画面ファイルの更新を行い得る。もし、画面フ
ァイルがヒストリーファイル自体よりも長い履歴記録を
イ1する必要のない場合Q目よ、画面ファイルは要求に
応して作ることができ、7〜−り堪:L画面ファイル導
出のために種々のプルZリソ、)1、の中から選択する
便宜を−(jえられ得る。
例え&J、レンジスケールを修正する機能、又は−リン
プルの値のアナ1)グ表示ルび度数分布のヒスト・り−
)J−1表示なとをIガ択することが可能である。DM
Mは′11・通は、人力信号の最大値及び最小(1rj
のピーク値を検出及び表示するMAXMINi能を什す
る。、これらのビークイ直は、オシ1:Iスー2−)゛
の最大l]盛りの振れに対りもしたD Al換器の人カ
レンシにレンジスケール化ず/・きレンジの境界値とし
て使用−づることが可能である。
本発明の特徴及び本発明による方法の、これ以トの態様
番よイ」加された特許請求の範囲において明僅にされる
、 実施例 第1図Gこおいで示される装置シ、)、データバス11
によって複数の装置に接続されているC P Uloと
、−rすし】クハス12と制611ハス13とをそれぞ
れ有する標準的なマイクロブI」セ、ザの機器構成を用
いている。なお、制御ハス13は、1木1す)−のシス
テムクロック線と、読取り選択綿及び書込み選択線と、
1木以十の割込−7)綿と、CPU10の要求事項によ
って指示された他の線とをそれぞれ有する。CV LI
 I Oは広範囲にわたって入ゴージ得る8ヒメl−’
(16ヒノト又は32ヒツト)のマイクミー1プロセソ
ザナノブの−ってよい。本願用1t0人は、6801マ
イクロプロセッサチツプ(6800系列)を使用した。
データバス11は8ヒノ1〜ハスでよい。またアドレス
バスは16ヒノトハスでよい。
CP U I Oに接続されている装置は、R・AM1
4と、CV IJに要求された機能を実行可能にするた
めのルーチンを記憶するためのROM15と、実開11
時416とをそれぞれ有U7ている。なお、実時間時計
161J: CP LJ 10 に割込むことによって
、前記に記述するように゛、CP U l Oに、要求
された間隔で主な入力及び出力のスケジj、−ルを実行
可能にする。
1−述以外の周辺装置は、/ID変換器17と、1) 
−A変換器18及びトリカーl−ライフ\−19(、−
れらの機能に一])いては以十で説明する)と、ソl」
ントパイ、ル20吉をそれくれ有する。なお、ソIJン
トバネル20は、装置のモート、読取りのL−1及び人
出力し・ンジ等のセットをユーザに可能心こ′4く1ス
イツナ及び/又は;1−一・パットを有する。ン1、人
トニ、二には、ツクされていないが、典型的な周辺装置
は、・ノ゛7・ノηノ1−読取り用及び平均読取り用等
の表iド装置点、バー1” IIピーを取り得るプリン
タとをそれぞれまた包含する。本発明はこれらの従来の
機能とは無関係である。
ユーリ゛のパラメータ人力(典型的なマイクロコンビフ
、−夕に使用されるキーボー1からの割込みと同様の方
法で行う)時に、CPUl0は、−次的にはり1jツク
1〔;からの規則的な割込めによって、二次的にはフロ
ントパネル20からの割込みによって、割込み駆動され
る。
操作の基本を以下に示す。端子21のテスト電圧が八−
り変換器17に印加される。そしてA −D変換器17
は測定周期毎にサンプリングされて、この結果として、
RAM14における゛ヒストリーファイル゛に、記憶さ
れる・\き新しい測定値が得られる。ヒス1〜リーフア
イルは、サンプル毎に6ハイトを使用して、最新の例え
は100〜500個のサンプルを記憶可能にしなRΔM
記憶場所の−)じ1ツクである。これは、十分な測定精
度で、例えば浮動小数点表現で行われる。後で、データ
はスゲール化された表示を行うためにサンプル毎に1ハ
イドに圧縮される。考え易くするために、100個のナ
ンプルのみが記憶され、且つRAMのフロックのアドレ
スは0から始まるものとする。
ずなわら、アドレス0から始まり、アドレス599て終
わるものとする。jkうアドレスから始めた時には、必
要なオフセットを単に上記のずべてのアドレスtこ加算
す丑ば良い。従っ′ζ、サンプルは連続的にアト−レス
0.6.l 2.   −−−588゜59.1.0,
6雪に周期的順序で書込まれる。
ゾロツク0〜・599に記載される100個の・す・ン
ゾルは前G、二説明したように処理されると共に、11
囚ノ1ナンブルにつきlハイドがそれに続り記1登場所
のブ1−1ツク、つまり実際的には150ハイドのkさ
のフし1ツク600〜749に記4.aされる。
このゾlIツクは、読出し周期が例えば200.175
ec−ζI〕 △変換器18に繰返し読出される。また
、この時の電圧し」オシロスコープに印加するのに1分
な電圧にしく出力端子22に出力される。1〜リガート
ライム−19は、オシ1コスコープの外部1〜リ力−人
力に供給するもっとも古い読出しサンプルを示すパルス
を与えるために使用される。従って、オノl」スニS−
ブの図形は、最後の100個の711す定を表ずもので
ある。そして、ニー4ノ゛はこの図形から、う−ス1〜
信号中の主ノざ干渉成分及びテスト信−;の傾向等の’
ti’? iThを見ることができろ。
、:f述されノこ実施例は、ヒストリーファイル0〜5
1)9から取出された値に線形操作を族11ζ第2のフ
ァイル600〜749に記憶する値の導出を伴・)連続
した入力の下で作動することが前提であることを強調し
ておく。既に示したように、データを導出するため他の
モードか可能であり得る。
そして、第2のファイルの値は各々の測定の標本値でよ
く、多数の測定の標本値を最新に記憶して維持する。こ
のようなオシロスコープのサイクルは、第2のファイル
の一定の読出しサイクルと同期し、そし−(ヒストクラ
ム形の表示がなされる。
この例とし7ては、抵抗器を測定するのに使用される装
置゛か考えられる。第2のファイルのアドレスの各々は
、例えは0.0001 Kきさみの0.950K。
0.951に1.449に、  1.500にの値を代
表することか”ζきる。公称lKオームの一束の抵(〕
“L器の測定は、このレンツ内での対応する測定値を止
しさせる。そして各レンジことに、その内に入る各測定
値の個数をファイルの対応ア)レスに保存さ一ヒるごと
か可能である。ファイルがオシロスコープにクロックに
よって送り出された肋、装置のヒストグラム機能によ、
って分散は明白に表示される。
ヒス1−リーフアイルと、画面ファイルとも呼ばれるそ
れに続くブロックのとのそれぞれのアドレス指定をより
詳細に考えてみる。ヒストリーファイルのアドレス指定
は簡mである。C,PLJloは、モノ1フ100のn
を記号化した(N)Cをカラン[−ツるザイクルカウン
クとして、RAM14におけるアドレスを使用する。測
定の周期毎に、最新の測定値は記憶場所6 (N) c
から6 INN) c−1−5に書込まれ、そしてNが
増加させられる。測定周期は、画面ファイルからの読出
し周期と全く関連性がない。測定周期はフロントパネル
からセソ1−される。
最新の測定値は、いわゆる縮小サンプルと呼ばれる対応
するlハイドのサンプルを与えるために処理される。こ
の縮小サンプルは、記憶場所600+〔S−100〕c
L(ここで、(Sectは、モソフ、う150のSを記
号化している)に書込まれ、アドレス記1.1場所60
0 + (S−100) ctハ4F、’を念的にクリ
アされ、そしてSは増加される。Sはも−)−・”つの
RA Mのアドレスの計数値である。このアドレス指定
方法では、画面ファイルは常に、画面ファイルの150
個のアドレス中を累進的にンノトする100個のアドレ
スのフロック内に最新の100個の縮小サンプルを保持
している。S−〇の空状態から、画面ファイルを充填す
ることを考えてみる。縮小サンプルは記す1g場所60
0゜601 、 602 、  −−−−−698 、
 699に記憶される。次のサンプルは記4.a場所7
00に記憶され、記憶場所600は概念的にクリアされ
、その結果としてサンプルが記4.1されているブロッ
クはアドレス601 (最も古いサンプル)からアドレ
ス700にわたる。次のサンプルか記憶場所701に記
憶され、記憶場所601かクリアされ、その結果として
サンプルか記憶されるブロックはアドレス602 (最
も古いサンプル)からアドレス701にわたる。
実際には、記憶場所600+(S  100)cLはク
リアされない。第2の画面ファイルは、実際としては最
新の・150個の縮小測定値を保持しているが、最新の
100個しか表示されない。オシロス−J−1のタイム
ヘースは、第2のファイルの読出し周期において、トリ
カーパルスによっ一ζ示される記41場所から、その次
の99個の記1q場所にまたかる。他の50個のサンプ
ルはスクリーン1 (、、i 4;l呪れない。
画1f+1−17ア・イルの読出し周期は、他のモノニ
ラI50の′1′をlit故46カランクによ−、て読
込み周期と全く独)fして設>jlされる。従−1て、
読出しアlL、・スは600−l  r′l’) c−
?l’4えられる。読出しか行われ、そして′「は20
0μSeC,勿に増加さセ−られる。100個のアドレ
スが、活性状態の200m5ec  (100X200
/1sec )の波形に対応4−る表示さ独aニデータ
を容求1ており、ごの波形に番、1、表示されない50
個のアドレスに対応する10mr、e、c、  < 5
0 X 200 I!set、)のフランキンク区間が
続いている。このブランキンク間隔中に、オシ1−Iス
コープは次のトリガーパルスに錨えて、フライハック及
びリセットを行う。
トリガーパルスは、両面ファイルからの最も舊いサンプ
ルの読出しと同時に発生り−る必要があり5、これは1
= −S−100の11.ljに発生ずる。この瞬間に
、I−リガードライバー19 u、ハードウェア又はソ
フトウェアで制御された+l+で[リガーパルスを供給
可能である。
測定されたリンプルを処理し7て縮小づンブ′ルに供給
するごとは、データを1ハイ1−に圧縮する基本的なレ
ンノスゲール化の操作である。D−Δ変換器は、テンタ
ル人カレンシが0〜255て、それに対応4−るアナロ
ク出力しンンが0〜2.55ボルト又は0〜lOボルト
のレンジの典型的な重版の入子可能なデバイスである。
前述の他の手段とじ−では、以下のものも使用しても良
い。128の1直−(1,28) Vは、プラス マイ
ナス100ポイン1の分解能をもつ、負の最大の振れ2
8及び正の最大の振れ228のレンジの中間点を作り出
すAフセノト0として使用される。
表ホされた測定値のスパンは、−J−4Jによってフロ
ントパネル上で選択された任意の2個の値のあいたにま
たかり、これらの値は、指定されたRAMの記憶場所に
MAX及びMINとして記・1.aされる。i;(:っ
て、表示された測定値のスパンはMAX−MINで、こ
ればr)−へ変換器の出力スパン228〜28に写像さ
れる。測定サンプル及び縮小−リンゾルをそれぞれM及
びRとする。
標〈賃しンシスゲール化方程式は、 R= a  + b M そして、これはM=MAX及びM−MINの時、それぞ
れ 228= a −L b ・M A X28 = L3
+ b−M I N となる。
連立方程式は容易に解けて、ス))−ルファクタb−2
0(1/ (MAX−MIN)及ヒオ’l/ セ・i 
1、J228−200 tvi△×/(MAX−MIN
)の解か得られる。(ILっで、実(膣に適用されるレ
ンソスノノ゛−ルIL方稈」−い、I R=228−1−200 (M−MAX)/ (MAX
−441N) となる。
この方程式の適用とずれは、緩和サンプルRは1ハイド
にまるめられる。
オシロスコープば、2.5Vのビーク−ピークが垂直表
示のフルスケールになるようにセットされる。一方、タ
イムヘースは約20m5ec  (+ 00X20’0
μsec )かスクリーンの水平方向のフルスう−ルと
なるように七ノ1−される。
MΔX以上の任意の人力値はR=255として記憶され
、MIN以下の任意の入力値は0として記1.1される
。この結果、レンジ外の値はオシロスコ−プの表示には
っきり示される。その例として、第2図はMAX近くの
定常型n−Qこ間欠的にMΔX電圧を越える周期的な成
分か混入したテスト電圧の表示の一例である。
オノし!スコープを容易Gこ始動さセるために、電源投
入時にナス1−パターンを生成するようにマイクロブじ
2セノ→ノをプログラムしでおくと便利である。例えは
、データは画面ファイルに以下のようQこ入力してよい
。MAXを表すサンプル20個と、255 (正の過電
圧を表す)に等しいサンプル20個と、スパンの中点を
表すサンプル20個と、0(負の過電圧を表す)を表す
サンプル20個と、最後にMINを表すサンプル20個
とそれぞれ人力゛づイ、。このよ・うにすれば、出力電
圧のすべてのレンジ及びずべてのタイム−・−スにまた
がるスデソプ状のテストパターンを作り出すことができ
る。
そして、オシロスコープの言周整を、すべてのパルスが
表示され、かつスパンの中点を表すステップが例えば特
別な経緯線網上に位置(ツげられるようにセノ1−する
ごとかできる。その後、キーホー1−から入力される適
当なコマンドが、マイクロプロセノリに正常な操作を開
始さセる。
ト述の操作の実行は第3図〜第5図の)Ul−チ中−1
−で説明される。第3図はソフトウlアの!L本的な構
造を示す。モニタールーチンは()k綿30の左Gご示
されて才?す、連続的に実行される。ハウスキーピンク
ルーチン31はa11定か完了したかと゛)か]]イ;
!査−4るJ: ’Iなタスクを実行−4る。そして、
t)シフ′−℃rしているならば、ヒストリーファイル
及び画面ファイルを既述の仕方で更新するタスクを実行
Jる。プリンタ等の周辺装置への出力がもしあるなqλ
、それはハウスキーピンクルーチン31によって供給さ
れる。
ハウスキーピンクルーチン31の完了に続いて、4個の
テスト4a、4b、4c及び4dが実行される。先ず、
CP IJは、キーボードのキーが操作されているさと
を示すキーボードフラッグが後述する0力てセットされ
たかとうか決定する。[肯定Iなら、キーボードからの
人力を読取って入力し、そして、それに応しるように、
入力ルーチン33 aか実行される。
もし、キーボードフラッグかセットされていないならC
PUはインターフェース(例えは、標阜的なRS 23
2インターフエースで有り得る)におけるイヘントの発
生をテスト32bで検査し、[↑1定1なら、インター
フェースを可動にし、且つイヘントに応じるようにルー
チン33bを実行する。次いで、ルーチンはハウスキー
ピンクルーチン31へ戻る。
インターフェースにイヘントか存在しないなら、CP 
LJはバッファ(例えば、標(11−的なGPIBハ・
ソファで有り得る)におGするイヘントの発生をテスh
 32 c−(検査し7.111定」ならば、う−スト
3.1 t(・・、ソファをi′If動にし、イヘン1
(こ応答し、そしこいハウスキーピングルーチン31に
戻る。
2個の異なったタイプのイヘンl−4こ応しる別々のル
ーチンをff1I IJiffしているのは、岸なる1
つの実際的な実行の便宜のためである。インターフェー
スのイヘントとハンファイヘントとの間6.二は根本的
な違いはない。
もし、3個のテスト32a、  32))、32cかす
べて1−否定−1なら、CP Uは、測定の開始を要求
するためGこ、テスト32dてフランクがイ?71−さ
れているかをチェックする。もし、フラ、りがセットさ
れているなら、測定はルーチン33clで開始される。
測定の開始後、又はフランクがセットされていないなら
、モニタールーチンはハウスキーピングルーチン31で
再開される。
ルーチン33a、33b、33c及び34dのいずれの
実行も要求されないなら、モニタールーチンの周期は、
ハウスキーピンクルーチン31と、4個のテスト322
 、 32 b 、  :(2c及び32dより成るの
で、きわめて短くなる。
例えは、特定のフラッグか七ノドされていないなら、こ
の操作か要求されているごとをCl) Uに警告するキ
ーボードからの入力の読取りに時間を費やす必要はない
破線30の右側に示されるクロック16は3個のカウン
タ35a、35b及び35Cにクロックパルスを供給す
る。カウンタ35aが所定の計数に達した時、割込めル
ーチン36が、測定の開始を要求するフランクを七ノド
するため乙こ実行される。フランクをセットするルーチ
ンは非常に短く、11つ迅速に実行される。第3図の左
側のモニタールーチンLJ、例えルーチン33;1.3
3b、33c及び3;3dの実行中でも、ルーチン36
の実行を許すために、いっても割込み可能である。・こ
れは、ボックス36からモニタールーチンの幾つかの部
分に向いている破線の矢印によって示される。これらの
破綻の矢印は、割込み信月の送信を示すものであり、流
れ図中のフローパスを示すものてはない。カウンタ35
aはルーチン36によってセIllこリイご・ノドされ
る。
J^J l!71的な1jll定か要求される時ζこの
め、カウンタ35a及びルーチン3Gが使用され、コン
ピュータは、これを実行するために割込み駆動される。
周抑的または間欠的な測定の要求は、外部制御装置24
の制御のトに、等し7く行い得る。なお、外部制御装置
24は、コンピュータ1oに△−D変換器17の出力の
現在のデジタル測定値を取扱うように要求リーる割込み
を44成する。
第2のカウンタ35 bは、キーボードのキーの1ヤ1
1をイ、1受りる第2の割込めルーチン37の実行を規
則的に開始さ−Uる。この場合、ルーチン33 aの実
fiを要ニドづるフランクが(三)卜される。割込+7
1ルー−y−ン37はキーボードからの人力を読取らず
に、1r、にキーボードが使用されているがを決定する
だb)−ζある。、従って、割込みルーチン37は、短
く、且つ迅速に実行される。割込めルーチン37は、い
つでもモニタールーチンに割込み可能であり、またルー
チン36に割込み可能である。
従って、キーボードの走査に対する要求の登録は、測定
の開始に対する要求の登録よりも高い優先順位を佇する
。カウンタ35t)はiFQ込Jjルーチン37によっ
て0にす七ノドされる。
3番目のカウンタ35cは2、読出しのためにD−A変
換器にデータを転送する第3の割込みルーチン38の実
行を規則的にトリカーする。更に、ルーチン38は、短
く、且つ迅速に実行される。
ルーチン38は、いってもモニタールーチンに割込み可
能であり、ルーチン36又は37の何れがか実行されて
いる場合、またそれらに割込み可能である。従−2゛ζ
、ルーチン38は、3個の割込みルーチン36.37及
び38の中−(最も高い優先順位を有する。ルーチン3
8は、カウンタ35 r。
をOにリセットする。
入力ルーチン33aは、すべてのパラメータを固定する
ことができるために、本発明の動作に関して木質的なも
のではない。しかしながら、人力ルーチン33aLよ、
ソロントバ不ルがう選択すれるMAX及びMIN等のパ
ラメータを可能にするので望ましい。このようなパラメ
ータの各々は、1個用−Lの特定なアドレス位置に記憶
される。そして、人力ルーチンは、マイクロプロセッサ
又はマイクロプロセッサを使用した機器において良く知
られているー)−−ボード入ノjの標準タイプのもので
ある。
読出しルーチン38は、第4図に示されている。
読出しルーチン38はアドレス600+”rの読出し、
 (4o>により開始される。次に、D−A変換器t 
8は作動可能(41)になる。I〕−A変換器] 8 
It、新しいう一シタル値をう、チし、対応するアーノ
ーIJり出力を端子22に導出する。1゛は増加(4?
)され、T’−150になると0にリセットさ旧る。テ
ス1,44は、”I゛−(S−100) c+か2二)
かを面認するために行われる。IF5定」なら、1〜リ
カートシイハー19は、オシ[1スコープに1−リカー
パルスを供給することが可能(45)になる。
測定ルーチン(第5図)は、ルーチン33d(第3図)
において、A−D変換器17を可能(50)にすること
によって開始される。この八−■)変換器17は、本願
出願人の英国特許第1434414号に記載されたタイ
プの、高精度の6ハイトのテジタル測定結果をもたらす
ように構成された変換器であることが好ましい。411
定が完了した時、各ハイドは8ビツトのデータバス11
上で、記1.a場所6 (N)cから6 (N) C+
5に1個ずつ読込まれる(51)。次に、Nの値ば52
において(Nll)cに増加される。そして、Sの値は
53において(S+1)ctに増力口される。次にレン
ジスケール化方程式が、MからRを計算するために適用
される(54)。決定55及び56と、操作57及び5
8とは、レンジ値外のRを処理する。そして、Rは記憶
場所60 D + Sに書込まれる(54)。実際問題
として必要ないが、必要なら、記憶場所600+ (S
−100)、、に1lJ7’し得る。
ファイルの更新は、割込み駆動D−A変換器の読出しル
ーチン°38の一部として実行されるものと考えてよい
。これは連続した入力の下では便利であるが、木質的な
ものではない。更新は、例えばもう−・つのプlノセソ
ザによってアクセスし得るダイレクト・メモリー・アク
セスを使用して、読出しとは独立して行い得る。
以1−1本発明の実施例を要約すると、1つのデソクル
装置が、規則的な間陥での測定を行うためにCPUl0
によって制御されるA−p変換器17で代表されている
。デンタル測定値は、RΔMI4におL)るヒス1−リ
ーフアイルに、例えは最新の100又は500個が記憶
される。測定値はまた、まるめ及びレンジスケール化に
よって、RAM1ll内の第2のファイルに記憶される
100個の211小測定416を構成するために線形処
理される。
この第2のファイルは、周期的に1.) −A変換器に
読出され、オシロスコープの入力用の端子に電圧が作り
出される。オンロスコープは、測定値の特(枚(例えば
、傾向又は周期成分)を示す表示を与える。フライバッ
クとりセントを行うために、100個の縮小測定値は、
周期的に読出される容甲のより大きい(例えば、130
〜150個の測定M1)ファイルに保持される。100
個の測定値の最も古い測定か3ツ5取られる1際、I・
リガードライバー19はオシ1コスコープの外部トリガ
ー入力端子にトリカーパルスを供給する。ヒストリーフ
ァイルから第2のファイルを導く種々の線形又は非線形
のアルコリスムが記載されている。
〔発明の効果〕
本発明は上述の如く構成したので、4j11定値の傾向
または測定値の順歴を瞬時に視覚的に示すごとかできる
【図面の簡単な説明】
第1閏は本発明を実施することかできる装置の7112
9図、第2図は第1図における装置を使用−づろごとに
よって提供し得る表示の種類を示す図、第3図は装置の
操作を示JフローチャーI−である。 なお1図面に用いられた符号において、10     
 CPU 14     RAM 15  ’     ROM 17 −  A−D変換器 18  −−−−、 D −A変換器 である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、プロセッサの制御の下の作動して一連の測定値を与
    えるデジタル装置と、前記プロセッサによって前記測定
    値から導かれたデータを記憶する記憶場所のブロックを
    包含するRAMと、D−A変換器と、前記一連の測定値
    に関係した時間情報のアナログ関数を表す信号を前記D
    −A変換器の出力に導出するために、前記記憶場所を周
    期的順序で前記D−A変換器に読出す手段とをそれぞれ
    具備したことを特徴とするデータ表示装置。 2、前記メモリが前記デジタル装置からの複数の測定値
    を記憶するヒストリーファイルを有し、メモリ記憶場所
    の前記ブロックが、所定のアルゴリズムによって前記ヒ
    ストリーファイルにおける前記測定値から導かれた値を
    記憶する第2のファイルであることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載のデータ表示装置。 3、所定のアルゴリズムが前記第2のファイルの値を前
    記ヒストリーファイルの値から線形操作及び/又は値の
    選択によって導くことを特徴とする特許請求の範囲第2
    項に記載のデータ表示装置。 4、所定のアルゴリズムが前記ヒストリーファイルの値
    から度数分布関数を作り出すことを特徴とする特許請求
    の範囲第2項に記載のデータ表示装置。 5、前記第2のファイルの値が各々の測定値の標本値を
    代表し、且つ多数の測定値の標本値を最新に記憶して保
    存することを特徴とする特許請求の範囲第1項、第2項
    又は第3項のいずれかに記載のデータ表示装置。 6、記憶場所の前記ブロックにおける前記データが中央
    処理装置によって順次に導かれ且つアドレスの周期的順
    序に従って前記記憶場所に書込まれる値より成ることを
    特徴とする特許請求の範囲に記載の第1項、第2項又は
    第3項のいずれかに記載のデータ表示装置。 7、前記プロセッサが、各読出し周期中に、記憶場所の
    前記ブロックからの最も古い値の読出しを指示する1つ
    のトリガー信号を発生させるように構成されたことを特
    徴とする特許請求の範囲第6項に記載のデータ表示装置
    。 8、前記指示された最も古い値から前記最も新しく書込
    まれた値までのアドレスが、記憶場所の前記ブロック全
    体の一部分のみを分担していることを特徴とする特許請
    求の範囲第7項に記載のデータ表示装置。 9、データ表示装置が、デジタルボルトメータ又はデジ
    タルマルチメータであることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項から第8項に記載のデータ表示装置。 10、デジタル装置から導かれたデータを表示するデー
    タ表示方法において、前記デジタル装置によって供給さ
    れた第1の一連のデジタル値が1つのメモリにおけるヒ
    ストリーファイルにおいて記憶され、前記第1のデジタ
    ル値が所定のアルゴリズムによって処理されて前記メモ
    リにおける第2のファイルに記憶される複数の第2のデ
    ジタル値を導き、記憶された第2のデジタル値が周期的
    順序で前記メモリからD−A変換器に読出され、前記V
    −A変換器の出力がオシロスコープ又は他の走査表示装
    置に印加されることを特徴とするデータ表示方法。 11、前記第1のデジタル値の準備と、これらの値を処
    理して第2のデジタル値を導くことと、前記第2のデー
    タ値の周期的に読出しとのそれぞれが中央処理装置の制
    御の下に実時間操作で同時に実行されることを特徴とす
    る特許請求の範囲第10項に記載のデータ表示方法。
JP60043563A 1984-03-05 1985-03-05 デ−タ表示方法及び装置 Pending JPS612190A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB848405709A GB8405709D0 (en) 1984-03-05 1984-03-05 Data display method
GB8405709 1984-03-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS612190A true JPS612190A (ja) 1986-01-08

Family

ID=10557599

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60043563A Pending JPS612190A (ja) 1984-03-05 1985-03-05 デ−タ表示方法及び装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4736327A (ja)
EP (1) EP0156548B1 (ja)
JP (1) JPS612190A (ja)
DE (1) DE3583167D1 (ja)
GB (2) GB8405709D0 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8503867D0 (en) * 1985-02-15 1985-03-20 Delta Technical Services Ltd Data loggers
JPH0772707B2 (ja) * 1986-04-03 1995-08-02 日産自動車株式会社 信号記憶装置
DE3709805A1 (de) * 1987-03-25 1988-10-13 Kloeckner Moeller Elektrizit Verarbeitungsmodul zur erfassung analoger eingangsgroessen, insbesondere fuer mikroprozessorsysteme und speicherprogrammierbare steuerungen
DE3834962A1 (de) * 1988-10-13 1990-04-19 Siemens Ag Digitales programmiergeraet fuer hoergeraete
US5396168A (en) * 1992-03-27 1995-03-07 Tandy Corporation Digital multimeter with microprocessor control
US5373410A (en) * 1992-03-27 1994-12-13 Tandy Corporation Single string resistive divider network for a digital multimeter
US5355082A (en) * 1992-03-27 1994-10-11 Tandy Corporation Automatic transistor checker
US5294889A (en) * 1992-03-27 1994-03-15 Tandy Corporation Battery operated capacitance measurement circuit
US5898890A (en) * 1992-03-27 1999-04-27 Ast Research, Inc. Method for transferring data between devices by generating a strobe pulse and clamping a clock line
US5606481A (en) * 1992-03-27 1997-02-25 Tandy Corporation Overvoltage protection for battery powered equipment
US5684507A (en) * 1994-09-07 1997-11-04 Fluke Corporation Method of displaying continuously acquired data on a fixed length display
EP0702235A1 (en) * 1994-09-15 1996-03-20 Fluke Corporation Graphical trend display methods and apparatus in a test instrument
US6151010A (en) * 1996-05-24 2000-11-21 Lecroy, S.A. Digital oscilloscope display and method therefor
US9347975B2 (en) 2007-08-14 2016-05-24 Fluke Corporation Auto-numbering of measurements in digital multimeter
US8456152B2 (en) * 2007-08-14 2013-06-04 Fluke Corporation Digital multimeter with context-sensitive explanatory information
US8198884B2 (en) * 2007-08-14 2012-06-12 Fluke Corporation Mini-measurement display for digital multimeter
US8456153B2 (en) * 2007-08-14 2013-06-04 Fluke Corporation Digital multimeter having improved recording functionality
US8076926B2 (en) * 2007-08-14 2011-12-13 Fluke Corporation Rotary switch memory for digital multimeter
US8269481B2 (en) * 2007-08-14 2012-09-18 Fluke Corporation Automatic capture and storage of measurements in digital multimeter
DE102009037578A1 (de) * 2009-08-14 2011-02-24 Abb Technology Ag Verfahren zur Visualisierung von Änderungen von Parameterwerten
TW201226917A (en) * 2010-12-29 2012-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method for processing data of a oscillograph

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4053831A (en) * 1975-03-30 1977-10-11 Ricoh Co., Ltd. Waveform analysis system
US4034291A (en) * 1975-04-14 1977-07-05 Tektronix, Inc. Electronic measuring instrument combining an oscilloscope and a digital multimeter
US4038668A (en) * 1975-10-31 1977-07-26 Honeywell Inc. Apparatus for producing smooth and continuous graphic displays from intermittently sampled data
US4072851A (en) * 1976-03-26 1978-02-07 Norland Corporation Waveform measuring instrument with resident programmed processor for controlled waveform display and waveform data reduction and calculation
US4198683A (en) * 1978-05-01 1980-04-15 Tektronix, Inc. Multiple waveform storage system
US4181943A (en) * 1978-05-22 1980-01-01 Hugg Steven B Speed control device for trains
FR2430635A1 (fr) * 1978-07-04 1980-02-01 Ebauches Sa Dispositif enregistreur electronique
US4280196A (en) * 1979-11-14 1981-07-21 Hewlett-Packard Company Correction of zero drift, gain drift, and distortion errors in analog storage devices
GB2099648B (en) * 1981-05-11 1985-02-27 Ross Douglas Arthur A signal processing system
US4507740A (en) * 1981-09-08 1985-03-26 Grumman Aerospace Corporation Programmable signal analyzer
JPS5876997A (ja) * 1981-10-22 1983-05-10 テクトロニクス・インコ−ポレイテツド 信号測定装置
JPS58140899A (ja) * 1982-02-16 1983-08-20 ソニ−・テクトロニクス株式会社 ロジツク信号表示方法
GB2124457A (en) * 1982-05-10 1984-02-15 Gould Advance Ltd Improved data display apparatus
US4507735A (en) * 1982-06-21 1985-03-26 Trans-Texas Energy, Inc. Method and apparatus for monitoring and controlling well drilling parameters
JPS5975156A (ja) * 1982-10-21 1984-04-27 テクトロニクス・インコ−ポレイテツド デジタル・ストレ−ジ・オシロスコ−プ
US4540938A (en) * 1983-01-21 1985-09-10 Tektronix, Inc. Displaying waveforms
US4553091A (en) * 1983-02-07 1985-11-12 Tektronix, Inc. Automatic vertical calibration method and system for an oscilloscope
US4574278A (en) * 1983-05-19 1986-03-04 Ragen Data Systems, Inc. Video synthesizer

Also Published As

Publication number Publication date
GB2155288A (en) 1985-09-18
GB8505688D0 (en) 1985-04-03
GB2155288B (en) 1988-04-27
US4736327A (en) 1988-04-05
DE3583167D1 (de) 1991-07-18
EP0156548A1 (en) 1985-10-02
EP0156548B1 (en) 1991-06-12
GB8405709D0 (en) 1984-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS612190A (ja) デ−タ表示方法及び装置
US5081592A (en) Test system for acquiring, calculating and displaying representations of data sequences
US6985819B2 (en) DMM module for portable electronic device
JP2794172B2 (ja) オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ及び波形表示方法
US5684508A (en) Method of displaying continuously acquired data as multiple traces on a fixed length display
US5684507A (en) Method of displaying continuously acquired data on a fixed length display
US20030034767A1 (en) Oscilloscope module for portable electronic device
US4825392A (en) Dual function DMM display
US4317199A (en) Diagnostic extender test apparatus
JPH0557673U (ja) プログラマブル信号解析器
US20020193961A1 (en) Impulsive transient hardware simulation
EP0702235A1 (en) Graphical trend display methods and apparatus in a test instrument
US4161029A (en) Automatic transient response analyzer system
JPH0212079A (ja) 試験方法
CN112526363B (zh) 设备工作时间的检测方法、检测装置、终端及存储介质
CN213302357U (zh) 一种新型测试电压的监控装置
JP3102153B2 (ja) 測定器のスケーリング方法
JPH08262071A (ja) 実効値測定方法
JPH02128167A (ja) 電流計
CN118293966A (zh) 自动计量检定系统不确定度的计算方法及计算机设备
JPH0371669B2 (ja)
JP2000187087A (ja) 測定装置
JPS5833117A (ja) 確度表示を具えた電子測定器
CN111398653A (zh) 一种三相交流电幅值波动分析方法及系统
Black et al. Computerised assessment of cardiac pacemaker performance