JP2794172B2 - オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ及び波形表示方法 - Google Patents
オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ及び波形表示方法Info
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、波形デー
タを取り込み表示する方法、特に、オプティカル・タイ
ム・ドメイン・リフレクトメータの如き測定試験機器を
用いて取り込まれ、サンプル間隔が異なる複数のセグメ
ントを有する波形データを表示する装置及び方法に関す
る。
タを取り込み表示する方法、特に、オプティカル・タイ
ム・ドメイン・リフレクトメータの如き測定試験機器を
用いて取り込まれ、サンプル間隔が異なる複数のセグメ
ントを有する波形データを表示する装置及び方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のオプティカル・タイム・ドメイン
・リフレクトメータ（光の時間領域での反射率を測定す
る機器：ＯＴＤＲ）は、被試験ファイバに光パルスを供
給し、その反射である単一の波形を取り込み、この被試
験ファイバの表示トレース全体を表すことによりファイ
バの試験を行っている。操作者の制御により、ＯＴＤＲ
は、審査する試験（被試験）ファイバの部分、試験ファ
イバに発射すべき光パルスのパルス幅、取り込むデータ
点間のサンプル密度又は間隔、取り込んだデータ点の各
々の平均値等を決める。次に、一連の光パルスを試験フ
ァイバに発射する。各試験パルスの期間中、戻りの反射
光信号を受けて、電気信号に変換し、所定のサンプル密
度に応じてサンプルする。取り込んだ波形データをメモ
リ内に蓄積し、更に処理して、試験ファイバでのイベン
ト（事象）を探し、測定する。この技術を用いる際、分
解能及びダイナミック・レンジとの間で条件を調整しな
ければならない。その結果により取り込まれた波形は、
一連で、均一の間隔で、一定のサンプル間隔のデータ点
から構成されるが、これらデータ点は、ＯＴＤＲの表示
スクリーン上に容易に表示される。この表示スクリーン
上に表示された取り込みデータの各データ点を、表示の
ｘ及びｙ座標にマッピングする。一般に、取り込みデー
タ点の数は、表示スクリーン上に表示できる数よりも非
常に多い。表示スクリーン上に表示された波形トレース
は、デシメーションのある形式により発生する。なお、
デシメーションでは、データ点の一定数が、表示された
各データ点間でスキップされる。本明細書の目的によ
り、波形は、単一の取り込みから集めたデータとする。
このデータは、単一のサンプル密度と、平均数とを有す
る（即ち、平均数と、サンプル間の距離とは、波形にお
ける各データ点に対して同じである）。トレースは、Ｏ
ＴＤＲのユーザに示すために行うファイバ特性の従来表
現（即ち、フレネル反射による後方散乱及び他のイベン
トであり、ＯＴＤＲ表示器又はハードコピーにより現れ
る表現）である。
・リフレクトメータ（光の時間領域での反射率を測定す
る機器：ＯＴＤＲ）は、被試験ファイバに光パルスを供
給し、その反射である単一の波形を取り込み、この被試
験ファイバの表示トレース全体を表すことによりファイ
バの試験を行っている。操作者の制御により、ＯＴＤＲ
は、審査する試験（被試験）ファイバの部分、試験ファ
イバに発射すべき光パルスのパルス幅、取り込むデータ
点間のサンプル密度又は間隔、取り込んだデータ点の各
々の平均値等を決める。次に、一連の光パルスを試験フ
ァイバに発射する。各試験パルスの期間中、戻りの反射
光信号を受けて、電気信号に変換し、所定のサンプル密
度に応じてサンプルする。取り込んだ波形データをメモ
リ内に蓄積し、更に処理して、試験ファイバでのイベン
ト（事象）を探し、測定する。この技術を用いる際、分
解能及びダイナミック・レンジとの間で条件を調整しな
ければならない。その結果により取り込まれた波形は、
一連で、均一の間隔で、一定のサンプル間隔のデータ点
から構成されるが、これらデータ点は、ＯＴＤＲの表示
スクリーン上に容易に表示される。この表示スクリーン
上に表示された取り込みデータの各データ点を、表示の
ｘ及びｙ座標にマッピングする。一般に、取り込みデー
タ点の数は、表示スクリーン上に表示できる数よりも非
常に多い。表示スクリーン上に表示された波形トレース
は、デシメーションのある形式により発生する。なお、
デシメーションでは、データ点の一定数が、表示された
各データ点間でスキップされる。本明細書の目的によ
り、波形は、単一の取り込みから集めたデータとする。
このデータは、単一のサンプル密度と、平均数とを有す
る（即ち、平均数と、サンプル間の距離とは、波形にお
ける各データ点に対して同じである）。トレースは、Ｏ
ＴＤＲのユーザに示すために行うファイバ特性の従来表
現（即ち、フレネル反射による後方散乱及び他のイベン
トであり、ＯＴＤＲ表示器又はハードコピーにより現れ
る表現）である。
【０００３】上述のオプティカル・タイム・ドメイン・
リフレクトメータ（ＯＴＤＲ）の一例は、本願出願人の
米国オレゴン州ウイルソンビルのテクトロニクス・イン
コーポレイテッド製ＴＦＰ２型オプティカル・タイム・
ドメイン・リフレクトメータである。このＴＦＰ２型Ｏ
ＴＤＲの１つの特徴は、米国特許第５１２９７２２号に
記載された拡大ウインドウ・システムである。この拡大
ウインドウ・システムは、第１及び第２ビューポートを
有し、第１ビューポートがＯＴＤＲの表示領域内に波形
トレースを表示し、第２ビューポートが第１ビューポー
トから波形トレースの一部を拡大形式で表示する。第２
ビューポートとは、表示領域内の可動カーソルに応じて
第２ビューポート内を移動可能である。なお、この可動
カーソルは、波形トレースと交差する。第１ビューポー
トが表示領域内にあるときに、カーソル／波形の交差の
周囲の第２ビューポートの寸法を可変する手段を設け
る。上述の如く、取り込みデータ点の数は、表示スクリ
ーン上に表示できるデータ点の数よりも非常に多い。こ
の拡大ウインドウ・システムには、第１ビューポート内
の波形トレースの一部を拡大でき、表示スクリーンにマ
ッピングされるデータ点間のわずかなデータ点をスキッ
プして、トレースの一部を第２ビューポート内により詳
細に表示できるという利点がある。
リフレクトメータ（ＯＴＤＲ）の一例は、本願出願人の
米国オレゴン州ウイルソンビルのテクトロニクス・イン
コーポレイテッド製ＴＦＰ２型オプティカル・タイム・
ドメイン・リフレクトメータである。このＴＦＰ２型Ｏ
ＴＤＲの１つの特徴は、米国特許第５１２９７２２号に
記載された拡大ウインドウ・システムである。この拡大
ウインドウ・システムは、第１及び第２ビューポートを
有し、第１ビューポートがＯＴＤＲの表示領域内に波形
トレースを表示し、第２ビューポートが第１ビューポー
トから波形トレースの一部を拡大形式で表示する。第２
ビューポートとは、表示領域内の可動カーソルに応じて
第２ビューポート内を移動可能である。なお、この可動
カーソルは、波形トレースと交差する。第１ビューポー
トが表示領域内にあるときに、カーソル／波形の交差の
周囲の第２ビューポートの寸法を可変する手段を設け
る。上述の如く、取り込みデータ点の数は、表示スクリ
ーン上に表示できるデータ点の数よりも非常に多い。こ
の拡大ウインドウ・システムには、第１ビューポート内
の波形トレースの一部を拡大でき、表示スクリーンにマ
ッピングされるデータ点間のわずかなデータ点をスキッ
プして、トレースの一部を第２ビューポート内により詳
細に表示できるという利点がある。
【０００４】ＯＴＤＲ形式の測定機器にて波形データを
取り込む別の方法が、本願出願人に譲渡された米国特許
第５１５５４３９号に記載されている。光学欠陥検索器
が、第１パルス幅の光パルスを試験ファイバに発射す
る。戻りの光反射信号を電気信号に変換し、デジタル化
し、蓄積し、処理して、ファイバ内の異常イベントを探
す。異常イベントのある試験ファイバの任意の領域を、
そのファイバ領域に最適化されたパルス幅の光パルスを
用いて、再試験する。従来の波形トレースの代わりに、
シンボルによる表示を用いて、ファイバ内に見つかった
イベントの位置及び形式を指示する。
取り込む別の方法が、本願出願人に譲渡された米国特許
第５１５５４３９号に記載されている。光学欠陥検索器
が、第１パルス幅の光パルスを試験ファイバに発射す
る。戻りの光反射信号を電気信号に変換し、デジタル化
し、蓄積し、処理して、ファイバ内の異常イベントを探
す。異常イベントのある試験ファイバの任意の領域を、
そのファイバ領域に最適化されたパルス幅の光パルスを
用いて、再試験する。従来の波形トレースの代わりに、
シンボルによる表示を用いて、ファイバ内に見つかった
イベントの位置及び形式を指示する。
【０００５】本願出願人の米国オレゴン州ウイルソンビ
ルのテクトロニクス・インコーポレイテッド製ＴＦＳ３
０３０Ｍｉｎｉ−ＯＴＤＲにおいては、ＯＴＤＲ分解能
及びダイナミック・レンジ間の条件を最適化している。
ＴＦＳ３０３０は、異なるパルス幅でいくつかの波形を
取り込んで、被試験ファイバを分析する。各波形は、フ
ァイバの異なるセグメントを表し、ファイバのセグメン
トがスパンした距離を試験できる最小パルス幅を用いて
各波形を取り込む。さらに、パルス幅に基づいた異なる
サンプル密度を用いて、各波形を取り込む。これら波形
を取り込みながら取り込んだ波形を独立に分析し、その
結果を用いてファイバのイベント表を作成する。更に、
取り込みパラメータ、即ち、ファイバの次のセグメント
にわたる次の波形を取り込むためのパルス幅及びサンプ
ル密度を求める。その後の各波形セグメント取り込み
は、前に取り込んだ波形セグメント・データを重ね書き
する。その結果による種々のファイバ・セグメント用の
イベントの表は、表示スクリーン上に表示されるか、将
来の基準データとして蓄積される。このファイバ試験方
法は、ファイバ上のイベントを探すのが非常に正確であ
り効果的であることが照明された。しかし、ＴＦＳ３０
３０は、取り込んだ波形セグメントを用いて、被試験フ
ァイバを表すトレースを表示スクリーン上に表示しな
い。
ルのテクトロニクス・インコーポレイテッド製ＴＦＳ３
０３０Ｍｉｎｉ−ＯＴＤＲにおいては、ＯＴＤＲ分解能
及びダイナミック・レンジ間の条件を最適化している。
ＴＦＳ３０３０は、異なるパルス幅でいくつかの波形を
取り込んで、被試験ファイバを分析する。各波形は、フ
ァイバの異なるセグメントを表し、ファイバのセグメン
トがスパンした距離を試験できる最小パルス幅を用いて
各波形を取り込む。さらに、パルス幅に基づいた異なる
サンプル密度を用いて、各波形を取り込む。これら波形
を取り込みながら取り込んだ波形を独立に分析し、その
結果を用いてファイバのイベント表を作成する。更に、
取り込みパラメータ、即ち、ファイバの次のセグメント
にわたる次の波形を取り込むためのパルス幅及びサンプ
ル密度を求める。その後の各波形セグメント取り込み
は、前に取り込んだ波形セグメント・データを重ね書き
する。その結果による種々のファイバ・セグメント用の
イベントの表は、表示スクリーン上に表示されるか、将
来の基準データとして蓄積される。このファイバ試験方
法は、ファイバ上のイベントを探すのが非常に正確であ
り効果的であることが照明された。しかし、ＴＦＳ３０
３０は、取り込んだ波形セグメントを用いて、被試験フ
ァイバを表すトレースを表示スクリーン上に表示しな
い。
【０００６】イベント表に沿って波形トレースを発生す
る１つの方法は、ＴＦＰ２型ＯＴＤＲで上述したよう
に、ファイバ全体にわたってスパンした波形を取り込む
ように、付加的な取り込みを行うことである。これは、
表に沿ってファイバのトレースを発生するが、ユーザに
表示されたデータは、表を発生するのに用いたのと同じ
データでない。また、トレース全体を取り込むには、長
いパルス幅を必要とするので、個々の波形セグメント・
トレース程正確ではない。この付加的な取り込みにより
ファイバを試験する時間が延び、波形データを蓄積する
のに必要とするメモリ量も増える。
る１つの方法は、ＴＦＰ２型ＯＴＤＲで上述したよう
に、ファイバ全体にわたってスパンした波形を取り込む
ように、付加的な取り込みを行うことである。これは、
表に沿ってファイバのトレースを発生するが、ユーザに
表示されたデータは、表を発生するのに用いたのと同じ
データでない。また、トレース全体を取り込むには、長
いパルス幅を必要とするので、個々の波形セグメント・
トレース程正確ではない。この付加的な取り込みにより
ファイバを試験する時間が延び、波形データを蓄積する
のに必要とするメモリ量も増える。
【０００７】ＯＴＤＲの好適な形式は、ＴＦＳ３０３０
型の波形セグメント取り込み技術と、ＴＦＰ２型の波形
表示能力との利点を組み合わせたものである。かかるＯ
ＴＤＲは、８５０ｎｍ及び１３００ｎｍのマルチモード
光ファイバと、１３１０ｎｍ及び１５５０ｎｍのシング
ルモード光ファイバを試験できなければならない。以下
の表１は、この組み合わせ技術を用いてシングルモード
波形セグメントを取り込む代表的なパラメータを示す。
型の波形セグメント取り込み技術と、ＴＦＰ２型の波形
表示能力との利点を組み合わせたものである。かかるＯ
ＴＤＲは、８５０ｎｍ及び１３００ｎｍのマルチモード
光ファイバと、１３１０ｎｍ及び１５５０ｎｍのシング
ルモード光ファイバを試験できなければならない。以下
の表１は、この組み合わせ技術を用いてシングルモード
波形セグメントを取り込む代表的なパラメータを示す。
【表１】
【０００８】表１から判る如く、セグメント６の５０メ
ートルのサンプル密度は、セグメント１の０．５メート
ルの場合の１００倍である。ＴＦＰ２型ＯＴＤＲと同じ
サンプル間隔を用いて操作し表示できるようにこれらセ
グメントを組み合わせる１つの方法は、大きなサンプル
間隔のセグメントを補間することである。例えば、デー
タ点間を補間し、存在するサンプル間にデータ点を付加
して、１メートルのサンプル間隔のセグメントを、０．
５メートルのサンプル間隔にする。５メートルのサンプ
ル間隔のセグメントにとって、この補間は、サンプル間
に、１０データ点を付加しなければならない。以下の表
２は、シングルモードの場合のセグメントの補間結果を
示す。
ートルのサンプル密度は、セグメント１の０．５メート
ルの場合の１００倍である。ＴＦＰ２型ＯＴＤＲと同じ
サンプル間隔を用いて操作し表示できるようにこれらセ
グメントを組み合わせる１つの方法は、大きなサンプル
間隔のセグメントを補間することである。例えば、デー
タ点間を補間し、存在するサンプル間にデータ点を付加
して、１メートルのサンプル間隔のセグメントを、０．
５メートルのサンプル間隔にする。５メートルのサンプ
ル間隔のセグメントにとって、この補間は、サンプル間
に、１０データ点を付加しなければならない。以下の表
２は、シングルモードの場合のセグメントの補間結果を
示す。
【表２】
【０００９】この表２から判るように、波形セグメント
の補間の結果、非常に多くのデータ点数が生じ、これら
データを蓄積するのに、より多くのメモリを必要とす
る。これは、測定機器の価格を高価にする。また、測定
機器の速度が低下し、データを補間し、蓄積し、処理し
て、表示トレースを発生するのに長い時間がかかる。
の補間の結果、非常に多くのデータ点数が生じ、これら
データを蓄積するのに、より多くのメモリを必要とす
る。これは、測定機器の価格を高価にする。また、測定
機器の速度が低下し、データを補間し、蓄積し、処理し
て、表示トレースを発生するのに長い時間がかかる。
【００１０】セグメントを操作し表示できるようにこれ
らセグメントを組み合わせる別の方法は、セグメントを
デシメーションすることである。これにより、サンプル
間隔が短くなり、総てのセグメントが同じサンプル間隔
になる。例えば、１０メートルのサンプル間隔のセグメ
ントは、総ての他のサンプルを除去することにより、２
０メートルのサンプル間隔になる。次の表３は、シング
ルモードの場合のセグメントをデシメーションした結果
を示す。
らセグメントを組み合わせる別の方法は、セグメントを
デシメーションすることである。これにより、サンプル
間隔が短くなり、総てのセグメントが同じサンプル間隔
になる。例えば、１０メートルのサンプル間隔のセグメ
ントは、総ての他のサンプルを除去することにより、２
０メートルのサンプル間隔になる。次の表３は、シング
ルモードの場合のセグメントをデシメーションした結果
を示す。
【表３】
【００１１】この場合、データ点の総数は問題にならな
い。しかし、波形デシメーションの結果により、第１波
形セグメントが、２キロメートルのスパンをカバーする
わずか４０データ点までとなる。これは、領域における
分解能を大幅に減らして、この分解能により顕著な利
点、例えば、ＯＴＤＲを被試験ファイバに接続する際に
用いるジャンパーを認識できる。分解能が低下するばか
りでなく、デシメーション処理期間中に、データから反
射イベントを除去できる。さらに、何らかの重要な意味
を与える拡大波形を与える最初の２つのセグメントに充
分なデータ点がない。よって、このデシメーション処理
は、望ましい結果が得られない。
い。しかし、波形デシメーションの結果により、第１波
形セグメントが、２キロメートルのスパンをカバーする
わずか４０データ点までとなる。これは、領域における
分解能を大幅に減らして、この分解能により顕著な利
点、例えば、ＯＴＤＲを被試験ファイバに接続する際に
用いるジャンパーを認識できる。分解能が低下するばか
りでなく、デシメーション処理期間中に、データから反
射イベントを除去できる。さらに、何らかの重要な意味
を与える拡大波形を与える最初の２つのセグメントに充
分なデータ点がない。よって、このデシメーション処理
は、望ましい結果が得られない。
【００１２】デシメーション処理において情報を失うの
を避けるために、デシメーション及び補間の組み合わせ
を用いることができる。この技術を用いると、デシメー
ション処理において情報を失わないようにターゲットの
サンプル密度を選択する。上述のシングルモードの場
合、少なくとも１個のデータ点が、最短パルス幅セグメ
ントの各パルス幅に対して存在するように、２メートル
のサンプル密度を選択する。次に、残りのセグメントを
デシメーション又は補間して、このサンプル密度に合わ
せる。シングルモードの場合のこの技術の結果を次の表
４に示す。
を避けるために、デシメーション及び補間の組み合わせ
を用いることができる。この技術を用いると、デシメー
ション処理において情報を失わないようにターゲットの
サンプル密度を選択する。上述のシングルモードの場
合、少なくとも１個のデータ点が、最短パルス幅セグメ
ントの各パルス幅に対して存在するように、２メートル
のサンプル密度を選択する。次に、残りのセグメントを
デシメーション又は補間して、このサンプル密度に合わ
せる。シングルモードの場合のこの技術の結果を次の表
４に示す。
【表４】 この結果は、依然としてデータ点数が非常に多く、より
多くのメモリを必要とした。また、測定機器の速度も遅
くなり、データを補間且つデシメーションする処理、蓄
積及び表示トレースの発生処理に余分な時間がかかっ
た。
多くのメモリを必要とした。また、測定機器の速度も遅
くなり、データを補間且つデシメーションする処理、蓄
積及び表示トレースの発生処理に余分な時間がかかっ
た。
【００１３】ＯＴＤＲにおいて波形データを組み合わせ
る点は、本願出願人に譲渡され１９９４年３月１８日に
出願した米国特許出願ｄａｉ０８／２１０８２０号「光
学測定機器及びそこに用いる広ダイナミック・レンジ光
受信機」に記載されている。波形を組み合わせること
は、低感度及び高感度のチャンネルに入力する異なる光
パワー・レベルを用いて、被試験の総てのファイバにわ
たって取り込み波形データを設定した結果である。さら
に、高感度チャンネルの感光素子の利得を可変する。こ
れにより波形データ・セットが発生し、低信号レベルに
対して低感度であるか、光受信機を飽和させる。低感度
信号チャンネルは、戻り光信号の１〜１０パーセント範
囲で受け、高感度信号チャンネルは、光戻り信号の役９
０〜９９パーセントを受ける。低感度及び高感度のチャ
ンネルからの波形データのセットを、同じパルス幅及び
サンプル間隔を用いて取り込み、垂直及び水平の両方向
で関連（相関）させ、組み合わせて、複合波形を発生さ
せる。なお、各データ・セットからの波形データは、飽
和していないし、測定機器の電気的ノイズ・フロアにも
ない。
る点は、本願出願人に譲渡され１９９４年３月１８日に
出願した米国特許出願ｄａｉ０８／２１０８２０号「光
学測定機器及びそこに用いる広ダイナミック・レンジ光
受信機」に記載されている。波形を組み合わせること
は、低感度及び高感度のチャンネルに入力する異なる光
パワー・レベルを用いて、被試験の総てのファイバにわ
たって取り込み波形データを設定した結果である。さら
に、高感度チャンネルの感光素子の利得を可変する。こ
れにより波形データ・セットが発生し、低信号レベルに
対して低感度であるか、光受信機を飽和させる。低感度
信号チャンネルは、戻り光信号の１〜１０パーセント範
囲で受け、高感度信号チャンネルは、光戻り信号の役９
０〜９９パーセントを受ける。低感度及び高感度のチャ
ンネルからの波形データのセットを、同じパルス幅及び
サンプル間隔を用いて取り込み、垂直及び水平の両方向
で関連（相関）させ、組み合わせて、複合波形を発生さ
せる。なお、各データ・セットからの波形データは、飽
和していないし、測定機器の電気的ノイズ・フロアにも
ない。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】波形セグメントが異な
るサンプル密度であるＯＴＤＲのような測定機器におい
て、取り込んだ波形セグメントを表示する装置及び方法
が必要とされている。なお、この装置及び方法では、デ
ータを補間したりデシメーションすることなく、よっ
て、測定機器のメモリを増加し、処理時間を増加するこ
とにより、存在する取り込み波形セグメント・データを
用いる。
るサンプル密度であるＯＴＤＲのような測定機器におい
て、取り込んだ波形セグメントを表示する装置及び方法
が必要とされている。なお、この装置及び方法では、デ
ータを補間したりデシメーションすることなく、よっ
て、測定機器のメモリを増加し、処理時間を増加するこ
とにより、存在する取り込み波形セグメント・データを
用いる。
【００１５】したがって、本発明の目的は、データを補
間したりデシメーションすることなく異なる密度の波形
セグメントを表示するオプティカル・タイム・ドメイン
・リフレクトメータ及び波形表示方法の提供にある。
間したりデシメーションすることなく異なる密度の波形
セグメントを表示するオプティカル・タイム・ドメイン
・リフレクトメータ及び波形表示方法の提供にある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明のオプティカル・
タイム・ドメイン・リフレクトメータによれば、被試験
ファイバに光パルスを発射し、この試験ファイバからの
光戻り信号を発生し、波形データを取り込んで、表示器
上に波形トレースとして表示する。なお、この表示器の
表示領域は、水平ピクセル数及び垂直ピクセル数で決ま
り、ビューポートは、開始距離及び終了距離並びに最小
及び最大振幅で決まる。このオプティカル・タイム・ド
メイン・リフレクトメータは、光戻り信号を表すデータ
点を有する少なくとも２つの波形セグメントを取り込む
取り込み手段を具えている。各データ点の振幅は、時間
対距離に関連しており、異なるパルス幅の光パルス、異
なるサンプル間隔及び異なる開始距離を用いて各波形セ
グメントを取り込む。プロセッサは、波形セグメントの
データ点を受け、第２及び任意のその後の波形セグメン
トの開始距離を決める。また、このプロセッサは、各波
形セグメントに対して開始距離と、サンプル間隔と、距
離に関連した波形データ点の配列へのインデックスとを
含む波形データ・セグメント表（テーブル）を発生す
る。このプロセッサは、また、水平ピクセル・スキップ
値及び水平距離スキップ値を確立し、ビューポート開始
距離及びビューポート終了距離の間の距離を表示領域内
の水平ピクセル数により除算して、表示領域対して１ピ
クセル値当たりの水平距離を計算して、波形トレースを
表すビット・マップ配列を発生する。このプロセッサ
は、初期ピクセル計数をゼロに設定し、初期水平距離値
をビューポート開始距離に設定し、水平ピクセル・スキ
ップ値を前のピクセル計数に加算し、水平距離スキップ
値を前の水平距離値に加算して、水平ピクセルを距離に
対してマッピングする。プロセッサは、距離に関連した
データ点のインデックスを用いて、水平ピクセル用の距
離値を波形セグメントのデータ点の振幅値に関連（相
関）させ、これら振幅値を水平ピクセルに関連した適切
な垂直ピクセルにマッピングする。メモリは、各波形セ
グメントの各データ点の振幅値と、波形セグメント表
と、波形トレースを表すビット・マップ配列とを蓄積す
る。表示器に結合された表示制御器を有する表示手段
は、波形トレースを表すビット・マップを受け、表示器
上に表示する。波形セグメントの各取り込みにおいて、
波形データ点の配列により、波形トレースを更新する。
タイム・ドメイン・リフレクトメータによれば、被試験
ファイバに光パルスを発射し、この試験ファイバからの
光戻り信号を発生し、波形データを取り込んで、表示器
上に波形トレースとして表示する。なお、この表示器の
表示領域は、水平ピクセル数及び垂直ピクセル数で決ま
り、ビューポートは、開始距離及び終了距離並びに最小
及び最大振幅で決まる。このオプティカル・タイム・ド
メイン・リフレクトメータは、光戻り信号を表すデータ
点を有する少なくとも２つの波形セグメントを取り込む
取り込み手段を具えている。各データ点の振幅は、時間
対距離に関連しており、異なるパルス幅の光パルス、異
なるサンプル間隔及び異なる開始距離を用いて各波形セ
グメントを取り込む。プロセッサは、波形セグメントの
データ点を受け、第２及び任意のその後の波形セグメン
トの開始距離を決める。また、このプロセッサは、各波
形セグメントに対して開始距離と、サンプル間隔と、距
離に関連した波形データ点の配列へのインデックスとを
含む波形データ・セグメント表（テーブル）を発生す
る。このプロセッサは、また、水平ピクセル・スキップ
値及び水平距離スキップ値を確立し、ビューポート開始
距離及びビューポート終了距離の間の距離を表示領域内
の水平ピクセル数により除算して、表示領域対して１ピ
クセル値当たりの水平距離を計算して、波形トレースを
表すビット・マップ配列を発生する。このプロセッサ
は、初期ピクセル計数をゼロに設定し、初期水平距離値
をビューポート開始距離に設定し、水平ピクセル・スキ
ップ値を前のピクセル計数に加算し、水平距離スキップ
値を前の水平距離値に加算して、水平ピクセルを距離に
対してマッピングする。プロセッサは、距離に関連した
データ点のインデックスを用いて、水平ピクセル用の距
離値を波形セグメントのデータ点の振幅値に関連（相
関）させ、これら振幅値を水平ピクセルに関連した適切
な垂直ピクセルにマッピングする。メモリは、各波形セ
グメントの各データ点の振幅値と、波形セグメント表
と、波形トレースを表すビット・マップ配列とを蓄積す
る。表示器に結合された表示制御器を有する表示手段
は、波形トレースを表すビット・マップを受け、表示器
上に表示する。波形セグメントの各取り込みにおいて、
波形データ点の配列により、波形トレースを更新する。
【００１７】セグメント化した波形データを取り込み、
波形データを波形トレースとして表示するオプティカル
・タイム・ドメイン・リフレクトメータ内のプロセッサ
は、水平ピクセル・スキップ値を１に確立し、水平距離
スキップ値を１ピクセル値当たりの水平距離に確立する
か、又は、１ピクセル値当たりの水平距離により波形セ
グメントのサンプル間隔を乗算して新たな水平ピクセル
・スキップ値を計算し、１ピクセル値当たりの水平距離
が波形セグメントのサンプル間隔未満ならば、波形セグ
メントのサンプル間隔に等しい新たな水平距離スキップ
値を確立する。さらに、プロセッサは、距離に関連した
波形データ点の配列へのインデックスにより、波形デー
タの配列内の最終データ点用の距離値を求め、この波形
セグメント内の最終データ点用のこの距離値を蓄積し、
この波形セグメント内の最終データ点の距離値を水平ピ
クセル距離と比較し、水平ピクセル距離が波形セグメン
トの最終データ点の距離値よりも大きいときに、ビット
・マップ配列への波形データのマッピングを終了させ
る。また、プロセッサは、第１波形セグメントの開始距
離を水平ピクセル距離と比較し、水平ピクセル距離が第
１波形セグメントの開始距離よりも短い間、水平ピクセ
ル計数及び水平距離値を増加させる。
波形データを波形トレースとして表示するオプティカル
・タイム・ドメイン・リフレクトメータ内のプロセッサ
は、水平ピクセル・スキップ値を１に確立し、水平距離
スキップ値を１ピクセル値当たりの水平距離に確立する
か、又は、１ピクセル値当たりの水平距離により波形セ
グメントのサンプル間隔を乗算して新たな水平ピクセル
・スキップ値を計算し、１ピクセル値当たりの水平距離
が波形セグメントのサンプル間隔未満ならば、波形セグ
メントのサンプル間隔に等しい新たな水平距離スキップ
値を確立する。さらに、プロセッサは、距離に関連した
波形データ点の配列へのインデックスにより、波形デー
タの配列内の最終データ点用の距離値を求め、この波形
セグメント内の最終データ点用のこの距離値を蓄積し、
この波形セグメント内の最終データ点の距離値を水平ピ
クセル距離と比較し、水平ピクセル距離が波形セグメン
トの最終データ点の距離値よりも大きいときに、ビット
・マップ配列への波形データのマッピングを終了させ
る。また、プロセッサは、第１波形セグメントの開始距
離を水平ピクセル距離と比較し、水平ピクセル距離が第
１波形セグメントの開始距離よりも短い間、水平ピクセ
ル計数及び水平距離値を増加させる。
【００１８】本発明の実施例においては、オプティカル
・タイム・ドメイン・リフレクトメータは、同時に次の
波形セグメントを取り込む一方、現在の波形セグメント
を処理して、波形データ点を更新して、ビット・マップ
配列及び波形トレースを発生する。
・タイム・ドメイン・リフレクトメータは、同時に次の
波形セグメントを取り込む一方、現在の波形セグメント
を処理して、波形データ点を更新して、ビット・マップ
配列及び波形トレースを発生する。
【００１９】本発明の方法では、波形データを波形トレ
ースとして表示器上に表示する。なお、この表示器の表
示領域は、水平ピクセル数及び垂直ピクセル数で決ま
り、ビューポートは、オプティカル・タイム・ドメイン
・リフレクトメータにおける開始距離及び終了距離で決
まる。このオプティカル・タイム・ドメイン・リフレク
トメータは、少なくとも２つの波形セグメントを有する
波形データ点の配列を蓄積する。各波形セグメントのデ
ータ点は、異なるパルス幅、異なるサンプル間隔及び異
なる開始距離を用いて取り込まれる。また、各データ点
は、振幅値と、距離に関連した波形データ点の配列への
インデックスとを具えている。本発明の方法では、水平
ピクセル・スキップ値及び水平距離スキップ値を確立
し、ビューポート開始距離及びビューポート終了距離の
間の距離を表示領域内の水平ピクセル数により除算し
て、表示領域対して１ピクセル値当たりの水平距離を計
算する。初期ピクセル計数をゼロに設定し、引き続き、
水平ピクセル・スキップ値を前のピクセル計数に加算
し、初期水平距離値をビューポートの開始距離に設定
し、水平距離スキップ値を前の水平距離値に加算して、
水平ピクセルを距離に対してマッピングする。次に、距
離に関連したデータ点のインデックスを用いて、水平ピ
クセル用の距離値を波形セグメントのデータ点の振幅値
に関連させる。これら振幅値を、ビット・マップ・ビデ
オ・フレーム・バッファ内で、水平ピクセルに関連した
適切な垂直ピクセルにマッピングして、表示器上で表示
を行う。引き続き（その後の）波形セグメントを用い
て、距離に対する水平ピクセルのマッピング、水平ピク
セル距離値の関連付け、振幅値のマッピングのステップ
を繰り返し、その後のセグメントの開始距離を越えて水
平ピクセルに対する距離値が延びるにつれて、表示器上
に波形データの波形トレースを発生する。
ースとして表示器上に表示する。なお、この表示器の表
示領域は、水平ピクセル数及び垂直ピクセル数で決ま
り、ビューポートは、オプティカル・タイム・ドメイン
・リフレクトメータにおける開始距離及び終了距離で決
まる。このオプティカル・タイム・ドメイン・リフレク
トメータは、少なくとも２つの波形セグメントを有する
波形データ点の配列を蓄積する。各波形セグメントのデ
ータ点は、異なるパルス幅、異なるサンプル間隔及び異
なる開始距離を用いて取り込まれる。また、各データ点
は、振幅値と、距離に関連した波形データ点の配列への
インデックスとを具えている。本発明の方法では、水平
ピクセル・スキップ値及び水平距離スキップ値を確立
し、ビューポート開始距離及びビューポート終了距離の
間の距離を表示領域内の水平ピクセル数により除算し
て、表示領域対して１ピクセル値当たりの水平距離を計
算する。初期ピクセル計数をゼロに設定し、引き続き、
水平ピクセル・スキップ値を前のピクセル計数に加算
し、初期水平距離値をビューポートの開始距離に設定
し、水平距離スキップ値を前の水平距離値に加算して、
水平ピクセルを距離に対してマッピングする。次に、距
離に関連したデータ点のインデックスを用いて、水平ピ
クセル用の距離値を波形セグメントのデータ点の振幅値
に関連させる。これら振幅値を、ビット・マップ・ビデ
オ・フレーム・バッファ内で、水平ピクセルに関連した
適切な垂直ピクセルにマッピングして、表示器上で表示
を行う。引き続き（その後の）波形セグメントを用い
て、距離に対する水平ピクセルのマッピング、水平ピク
セル距離値の関連付け、振幅値のマッピングのステップ
を繰り返し、その後のセグメントの開始距離を越えて水
平ピクセルに対する距離値が延びるにつれて、表示器上
に波形データの波形トレースを発生する。
【００２０】本発明による波形データ表示方法は、波形
セグメント用の開始距離と、波形セグメント用のサンプ
ル間隔と、距離に関連した波形データ点の配列における
波形セグメントの第１データ点へのインデックスとを有
する波形データ点の配列に対して波形データ・セグメン
ト表を発生する主要ステップを更に含んでいる。付加的
なステップは、水平ピクセル・スキップ値を１に設定
し、水平距離スキップ値を１ピクセル値当たりの水平距
離に設定して、波形セグメントのサンプル間隔を１ピク
セル値当たりの水平距離で除算して新たな水平ピクセル
・スキップ値を計算して、水平距離スキップ値が波形セ
グメントのサンプル間隔未満であると、１ピクセル値当
たりの水平距離を波形セグメントのサンプル間隔に等し
くなるようにする。
セグメント用の開始距離と、波形セグメント用のサンプ
ル間隔と、距離に関連した波形データ点の配列における
波形セグメントの第１データ点へのインデックスとを有
する波形データ点の配列に対して波形データ・セグメン
ト表を発生する主要ステップを更に含んでいる。付加的
なステップは、水平ピクセル・スキップ値を１に設定
し、水平距離スキップ値を１ピクセル値当たりの水平距
離に設定して、波形セグメントのサンプル間隔を１ピク
セル値当たりの水平距離で除算して新たな水平ピクセル
・スキップ値を計算して、水平距離スキップ値が波形セ
グメントのサンプル間隔未満であると、１ピクセル値当
たりの水平距離を波形セグメントのサンプル間隔に等し
くなるようにする。
【００２１】本発明による波形データ表示方法によれ
ば、マッピング・ステップに付加ステップを含んでお
り、距離に関連した波形データ点の配列へのインデック
スにより、波形セグメント内の最終データ点用の距離値
を求め、この波形セグメント内の最終データ点用の距離
値を蓄積し、この波形セグメント内の最終データ点の距
離値を水平ピクセル距離と比較し、水平ピクセル距離が
波形セグメントの最終データ点の距離値よりも長けれ
ば、波形データの表示を終了する。さらに、マッピング
・ステップに含まれるステップでは、第１波形セグメン
トの開始距離を水平ピクセル距離と比較し、水平ピクセ
ル・スキップ値を前のピクセル計数に加算して水平ピク
セル計数を増加し、水平ピクセル距離が第１波形セグメ
ントの開始距離未満の間、水平距離スキップ値を前の距
離値に加算して、水平距離値を増加させる。関連づけス
テップも更にステップを含んでおり、水平ピクセル距離
値を種々の波形セグメントの開始距離と比較して、水平
ピクセルに関連付けるデータ点を含んでいる波形セグメ
ントを求める。そして、水平ピクセル距離から波形セグ
メント用の開始距離を減算して、比較ステップで求めた
波形セグメントの開始距離から水平ピクセルに関連した
データ点までの距離を求める。この求めるステップの結
果を波形セグメント用のサンプル間隔で乗算し、波形セ
グメント用の開始距離のインデックスを加算して、水平
ピクセルに関連したデータ点のインデックスを求める。
さらに、データ点の振幅値へのインデックスとして、直
前の求めステップの結果を用いて水平ピクセル用の振幅
値をアクセスする。本発明の他の目的、利点及び新規な
特徴は、添付図を参照した以下の詳細説明及び特許請求
の範囲から明らかになろう。
ば、マッピング・ステップに付加ステップを含んでお
り、距離に関連した波形データ点の配列へのインデック
スにより、波形セグメント内の最終データ点用の距離値
を求め、この波形セグメント内の最終データ点用の距離
値を蓄積し、この波形セグメント内の最終データ点の距
離値を水平ピクセル距離と比較し、水平ピクセル距離が
波形セグメントの最終データ点の距離値よりも長けれ
ば、波形データの表示を終了する。さらに、マッピング
・ステップに含まれるステップでは、第１波形セグメン
トの開始距離を水平ピクセル距離と比較し、水平ピクセ
ル・スキップ値を前のピクセル計数に加算して水平ピク
セル計数を増加し、水平ピクセル距離が第１波形セグメ
ントの開始距離未満の間、水平距離スキップ値を前の距
離値に加算して、水平距離値を増加させる。関連づけス
テップも更にステップを含んでおり、水平ピクセル距離
値を種々の波形セグメントの開始距離と比較して、水平
ピクセルに関連付けるデータ点を含んでいる波形セグメ
ントを求める。そして、水平ピクセル距離から波形セグ
メント用の開始距離を減算して、比較ステップで求めた
波形セグメントの開始距離から水平ピクセルに関連した
データ点までの距離を求める。この求めるステップの結
果を波形セグメント用のサンプル間隔で乗算し、波形セ
グメント用の開始距離のインデックスを加算して、水平
ピクセルに関連したデータ点のインデックスを求める。
さらに、データ点の振幅値へのインデックスとして、直
前の求めステップの結果を用いて水平ピクセル用の振幅
値をアクセスする。本発明の他の目的、利点及び新規な
特徴は、添付図を参照した以下の詳細説明及び特許請求
の範囲から明らかになろう。
【００２２】
【発明の実施の形態】図１は、異なるサンプル密度の波
形セグメントを波形トレースとして表示する本発明の方
法を用いたオプティカル・タイム・ドメイン・リフレク
トメータ（ＯＴＤＲ）１０のブロック図である。このＯ
ＴＤＲ１０は、デジタル取り込み部（ＤＡＳ）１２と、
主プロセッサ部１４と、電源部１６とを具えている。Ｄ
ＡＳ１２は、レーザ・ダイオード１８を具えており、こ
のレーザ・ダイオード１８は、レーザ駆動器２０により
間欠的に活性化（動作可能状態に）されて、方向性結合
器２４及び発射ファイバ２６を介して（被）試験ファイ
バ２２に質問（刺激）パルスを発射する。なお、発射フ
ァイバ２６は、コネクタ２８により、試験ファイバ２２
に接続されている。ＯＴＤＲ１０は、レイリー後方散乱
及びフレネル反射により、試験ファイバ２２からの戻り
光を受ける。後方散乱及び反射の光強度は、試験ファイ
バ２２の状態により決まる。
形セグメントを波形トレースとして表示する本発明の方
法を用いたオプティカル・タイム・ドメイン・リフレク
トメータ（ＯＴＤＲ）１０のブロック図である。このＯ
ＴＤＲ１０は、デジタル取り込み部（ＤＡＳ）１２と、
主プロセッサ部１４と、電源部１６とを具えている。Ｄ
ＡＳ１２は、レーザ・ダイオード１８を具えており、こ
のレーザ・ダイオード１８は、レーザ駆動器２０により
間欠的に活性化（動作可能状態に）されて、方向性結合
器２４及び発射ファイバ２６を介して（被）試験ファイ
バ２２に質問（刺激）パルスを発射する。なお、発射フ
ァイバ２６は、コネクタ２８により、試験ファイバ２２
に接続されている。ＯＴＤＲ１０は、レイリー後方散乱
及びフレネル反射により、試験ファイバ２２からの戻り
光を受ける。後方散乱及び反射の光強度は、試験ファイ
バ２２の状態により決まる。
【００２３】試験ファイバ２２から受けた戻り光の一部
は、結合器２４を介してアバランシェ（電子なだれ）フ
ォトダイオードＡＰＤの如き光検出器３０に結合する。
この光検出器３０は、戻り光の強度を表す電流信号を発
生する。アバランシェ・フォトダイオード３０を電圧バ
イアス回路３２に結合する。この電圧バイアス回路３２
は、可変電圧をアバランシェ・フォトダイオード３０に
供給して、この素子の利得を可変する。可変利得トラン
スインピーダンス増幅器３４により、アバランシェ・フ
ォトダイオード３０からの電流信号を電圧信号に変換し
て増幅する。この増幅した電圧信号を、アナログ・デジ
タル（Ａ／Ｄ）変換器３６がサンプルし、デジタル形式
に変換する。デジタル信号プロセッサ制御器３８は、デ
ジタル・バス４０を介して、リード・オンリ・メモリ
（ＲＯＭ）４２に蓄積された実行可能ルーチンに応じ
て、レーザ駆動器２０に対するＡ／Ｄ変換器３６のタイ
ミング、電圧バイアス回路３２の電圧出力、トランスイ
ンピーダンス増幅器３４の利得を制御する。ＲＯＭ４２
及びランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）４４もバス
４０に結合している。ＲＡＭ４４は、試験ファイバ内の
選択点における光の強度を表すＡ／Ｄ変換器３６からの
デジタル・データ値をデータ・バッファ内に累積する。
試験ファイバ２２への質問を繰り返して、選択点におけ
る付加的なデジタル・データ値を得て、これを前に蓄積
した値と平均化する。ＲＡＭ４４は、直列データ・リン
ク４６を介して主プロセッサ部１４からＤＡＳ１２へ転
送されたパラメータ・データも蓄積する。ＲＡＭ４４内
の平均化したデータ値は、直列データ・リンク４６を介
して、主プロセッサ部１４に転送する。
は、結合器２４を介してアバランシェ（電子なだれ）フ
ォトダイオードＡＰＤの如き光検出器３０に結合する。
この光検出器３０は、戻り光の強度を表す電流信号を発
生する。アバランシェ・フォトダイオード３０を電圧バ
イアス回路３２に結合する。この電圧バイアス回路３２
は、可変電圧をアバランシェ・フォトダイオード３０に
供給して、この素子の利得を可変する。可変利得トラン
スインピーダンス増幅器３４により、アバランシェ・フ
ォトダイオード３０からの電流信号を電圧信号に変換し
て増幅する。この増幅した電圧信号を、アナログ・デジ
タル（Ａ／Ｄ）変換器３６がサンプルし、デジタル形式
に変換する。デジタル信号プロセッサ制御器３８は、デ
ジタル・バス４０を介して、リード・オンリ・メモリ
（ＲＯＭ）４２に蓄積された実行可能ルーチンに応じ
て、レーザ駆動器２０に対するＡ／Ｄ変換器３６のタイ
ミング、電圧バイアス回路３２の電圧出力、トランスイ
ンピーダンス増幅器３４の利得を制御する。ＲＯＭ４２
及びランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）４４もバス
４０に結合している。ＲＡＭ４４は、試験ファイバ内の
選択点における光の強度を表すＡ／Ｄ変換器３６からの
デジタル・データ値をデータ・バッファ内に累積する。
試験ファイバ２２への質問を繰り返して、選択点におけ
る付加的なデジタル・データ値を得て、これを前に蓄積
した値と平均化する。ＲＡＭ４４は、直列データ・リン
ク４６を介して主プロセッサ部１４からＤＡＳ１２へ転
送されたパラメータ・データも蓄積する。ＲＡＭ４４内
の平均化したデータ値は、直列データ・リンク４６を介
して、主プロセッサ部１４に転送する。
【００２４】主プロセッサ部１４は、デジタル・バス５
８を介してＲＯＭ５２、ＲＡＭ５４及び表示制御器５６
に結合されたモトローラ社製６８３４０型マイクロプロ
セッサの如き制御器５０を含んでいる。好適な実施例に
おいて、ＲＯＭ５２は、ダウンロード可能なフラッシュ
ＥＰＲＯＭであり、表示制御器５６は、標準のＶＧＡ型
制御器である。この表示席５６は、アドレス可能なピク
セルの矩形配列を有する液晶表示器、陰極線管等の６４
０×４８０ピクセル配列の表示器６０に結合している。
ＲＯＭ５２は、オブジェクトを定義する制御ロジック及
び波形処理ルーチンを含んでいる。オブジェクトについ
ては、詳細に後述する。ＲＡＭ５４は、ＤＡＳ１２から
波形セグメント・データを受けるデータ・バッファを含
んでいる。ＲＡＭ５４は、また、表示器６０上に表示す
べきビット・マップされたデータを蓄積するビデオ・フ
レーム・バッファも含んでいる。
８を介してＲＯＭ５２、ＲＡＭ５４及び表示制御器５６
に結合されたモトローラ社製６８３４０型マイクロプロ
セッサの如き制御器５０を含んでいる。好適な実施例に
おいて、ＲＯＭ５２は、ダウンロード可能なフラッシュ
ＥＰＲＯＭであり、表示制御器５６は、標準のＶＧＡ型
制御器である。この表示席５６は、アドレス可能なピク
セルの矩形配列を有する液晶表示器、陰極線管等の６４
０×４８０ピクセル配列の表示器６０に結合している。
ＲＯＭ５２は、オブジェクトを定義する制御ロジック及
び波形処理ルーチンを含んでいる。オブジェクトについ
ては、詳細に後述する。ＲＡＭ５４は、ＤＡＳ１２から
波形セグメント・データを受けるデータ・バッファを含
んでいる。ＲＡＭ５４は、また、表示器６０上に表示す
べきビット・マップされたデータを蓄積するビデオ・フ
レーム・バッファも含んでいる。
【００２５】可変サンプル密度の波形セグメントを表示
する方法を行うＯＴＤＲの好適な実施例において、主プ
ロセッサ部１４は、直列リンク７０を介して電源部１６
に結合している。この電源部１６は、デジタル・バス７
４を介して、ＯＴＤＲ１０の正面パネル（フロント・パ
ネル：ＦＰ）７２に結合している。電源部１６は、制御
器７６、電源管理及び正面パネル制御機能を行うのに関
連した制御プログラムを蓄積したＲＯＭ７８、電源管理
機能に関するデータを蓄積するＲＡＭ７７を含んでい
る。この制御器７６は、正面パネル７２の極性により、
そのボタンの１つが押されたか否かを判断する。その代
わりに、正面パネルをノブ及びボタンとしても良い。制
御器７６は、正面パネルの動作に基づいてキー・コード
を発生し、直列リンク１４を介して主プロセッサ部１４
内の関５０に、このキー・コードを供給する。制御器５
０は、このキー・コードに基づいた適切なシステム信号
要求を発生する。好適な実施例において、ＯＴＤＲ１０
は、バッテリ駆動形式又は１１０（又は１００）ボルト
の標準交流電圧源に結合された形式でも良い。バッテリ
電源で動作する場合、制御器７６は、バッテリの充電状
態及びバッテリの利用状態をモニタし、バッテリ使用及
びバッテリの残寿命を指示する。ＯＴＤＲ１０の別の構
成としては、デジタル・バス５８を介して正面パネル７
２を主プロセッサ部１４の制御器５０に結合する。
する方法を行うＯＴＤＲの好適な実施例において、主プ
ロセッサ部１４は、直列リンク７０を介して電源部１６
に結合している。この電源部１６は、デジタル・バス７
４を介して、ＯＴＤＲ１０の正面パネル（フロント・パ
ネル：ＦＰ）７２に結合している。電源部１６は、制御
器７６、電源管理及び正面パネル制御機能を行うのに関
連した制御プログラムを蓄積したＲＯＭ７８、電源管理
機能に関するデータを蓄積するＲＡＭ７７を含んでい
る。この制御器７６は、正面パネル７２の極性により、
そのボタンの１つが押されたか否かを判断する。その代
わりに、正面パネルをノブ及びボタンとしても良い。制
御器７６は、正面パネルの動作に基づいてキー・コード
を発生し、直列リンク１４を介して主プロセッサ部１４
内の関５０に、このキー・コードを供給する。制御器５
０は、このキー・コードに基づいた適切なシステム信号
要求を発生する。好適な実施例において、ＯＴＤＲ１０
は、バッテリ駆動形式又は１１０（又は１００）ボルト
の標準交流電圧源に結合された形式でも良い。バッテリ
電源で動作する場合、制御器７６は、バッテリの充電状
態及びバッテリの利用状態をモニタし、バッテリ使用及
びバッテリの残寿命を指示する。ＯＴＤＲ１０の別の構
成としては、デジタル・バス５８を介して正面パネル７
２を主プロセッサ部１４の制御器５０に結合する。
【００２６】図２は、ＯＴＤＲ１０のユーザ・インタフ
ェース８０を示しており、表示器６０に関連して、多数
のソフトキー８２、選択（ＳＥＬＥＣＴ）ボタン８４、
左矢印ボタン８６、右矢印ボタン８７、上矢印ボタン８
８、下矢印ボタン８９等を含んでいる。このユーザ・イ
ンタフェース８０は、９０で示す如き別のボタン及びス
イッチも含んでおり、波形取り込みの開始（ＳＴＡＲ
Ｔ）及び停止（ＳＴＯＰ）、この測定機器の電源のオン
及びオフ（ＯＮ／ＯＦＦ）、スクリーン上へのヘルプ
（ＨＥＬＰ）の表示を制御する。表示器６０は、６４０
×４８０ピクセル配列の表示領域９２を含んでいる。こ
の配列は、ビデオ表示メモリ内の１つのビデオ・フレー
ムに対応する。表示領域９２は、ＯＴＤＲのＤＡＳ１４
からの取り込み波形データ・セグメントを表す波形トレ
ース９４を示している。参照番号９６及び９８で夫々示
す水平及び垂直目盛り（スケール）を設けると共に、ソ
フトキー８２の機能を説明する情報を表示する領域１０
０と、測定値、距離などに関係した測定機器の設定値及
び情報を表示する領域１０２、１０４及び１０５も設け
る。波形トレース９４用の表示領域９２の部分は、約３
５０×５００ピクセル配列である。カーソル１０６及び
１０８を設け、適切なソフトキー８２で設定により、一
方のカーソルが活性（アクティブ）化した移動可能カー
ソルとなる。選択ボタン８４並びに左矢印ボタン８６及
び右矢印ボタン８７の相互作用により、アクティブ・カ
ーソルが移動する。図では、カーソル１０８をアクティ
ブな移動可能カーソルとして示す。
ェース８０を示しており、表示器６０に関連して、多数
のソフトキー８２、選択（ＳＥＬＥＣＴ）ボタン８４、
左矢印ボタン８６、右矢印ボタン８７、上矢印ボタン８
８、下矢印ボタン８９等を含んでいる。このユーザ・イ
ンタフェース８０は、９０で示す如き別のボタン及びス
イッチも含んでおり、波形取り込みの開始（ＳＴＡＲ
Ｔ）及び停止（ＳＴＯＰ）、この測定機器の電源のオン
及びオフ（ＯＮ／ＯＦＦ）、スクリーン上へのヘルプ
（ＨＥＬＰ）の表示を制御する。表示器６０は、６４０
×４８０ピクセル配列の表示領域９２を含んでいる。こ
の配列は、ビデオ表示メモリ内の１つのビデオ・フレー
ムに対応する。表示領域９２は、ＯＴＤＲのＤＡＳ１４
からの取り込み波形データ・セグメントを表す波形トレ
ース９４を示している。参照番号９６及び９８で夫々示
す水平及び垂直目盛り（スケール）を設けると共に、ソ
フトキー８２の機能を説明する情報を表示する領域１０
０と、測定値、距離などに関係した測定機器の設定値及
び情報を表示する領域１０２、１０４及び１０５も設け
る。波形トレース９４用の表示領域９２の部分は、約３
５０×５００ピクセル配列である。カーソル１０６及び
１０８を設け、適切なソフトキー８２で設定により、一
方のカーソルが活性（アクティブ）化した移動可能カー
ソルとなる。選択ボタン８４並びに左矢印ボタン８６及
び右矢印ボタン８７の相互作用により、アクティブ・カ
ーソルが移動する。図では、カーソル１０８をアクティ
ブな移動可能カーソルとして示す。
【００２７】カーソル（ＣＵＲＳＯＲ）ソフトキー８２
（一番下）は、選択ボタン８４、左矢印ボタン８６及び
右矢印ボタン８７と共に動作して、表示領域９２内のア
クティブ移動可能カーソル１０８の位置を制御する。カ
ーソル・ソフトキー８２は、どのカーソルをアクティブ
にして、どのカーソルを非アクティブにするかを制御す
る。カーソル・ソフトキー８２をアクティブにすること
により、非アクティブ・カーソル１０６をアクティブ・
カーソルにし、アクティブ・カーソル１０８を非アクテ
ィブ・カーソルにする。開始／停止（ＳＴＡＲＴ／ＳＴ
ＯＰ）スイッチ９０は、レーザ及び取り込みハードウェ
アをアクティブにして、質問パルスをファイバ２２に発
射し、このファイバ２２からの戻り光を表すデータを取
り込む。表示領域９２は、角のアイコンが定義する拡大
ウインドウ１１０も示す。この拡大ウインドウ１１０の
寸法を、選択ボタン８４に連動した矢印ボタン８６〜８
９により制御する。ズーム（ＺＯＯＭ）ソフトキー８２
（下から２番目）を用いて、波形９４を含む全体的なビ
ューポートを、拡大ウインドウ１１０が定義する拡大ビ
ューポートと交換する。なお、この拡大ウインドウ１１
０には、拡大された形式の波形トレース９４の一部が含
まれる。矢印ボタン８６〜８９と連動する選択ボタン８
４は、表示領域９２内のトレース９４の位置も制御す
る。例えば、情報表示領域１００は、カーソル・ソフト
キー８２がアクティブにされて、カーソル１０８をアク
ティブ・カーソルとしたことを示す。表示領域１０５
は、選択ボタンにより、カーソル領域がハイライトされ
たことを示す。右及び左矢印ボタン８６及び８７は、表
示領域９２内のカーソル１０８を移動させる。選択ボタ
ン８４を押すと、情報表示領域１０５内のズーム領域を
ハイライトにし、矢印ボタン８６〜８９を切り換えて、
拡大ウインドウ１１０の寸法（次元）を制御する。左及
び右矢印ボタン８６及び８７は、拡大ウインドウ１１０
の水平寸法を制御し、上及び下矢印ボタン８８及び８９
により拡大ウインドウ１１０の垂直寸法を制御する。ズ
ーム・ソフトキー８２を用いて、ビューポート全体を拡
大ビューポートと交換する。この拡大ビューポートは、
拡大ウインドウ１１０が定義した波形トレースの部分の
拡大表示となる。選択ボタン８４を押すと、情報表示領
域１０５内のトレース領域をハイライトして、矢印ボタ
ン８６〜８９を切り換えて、表示領域９２内のトレース
９４の部分を制御する。左及び右矢印ボタン８６及び８
７が、表示領域９２内で表示トレース９４を水平方向に
位置決めし、上及び下矢印ボタン８８及び８９が、表示
領域９２内でトレース９４を垂直方向に位置決めする。
選択ボタン８４は、押される度に、カーソル領域、ズー
ム領域及びトレース領域の夫々を順次ハイライトする。
（一番下）は、選択ボタン８４、左矢印ボタン８６及び
右矢印ボタン８７と共に動作して、表示領域９２内のア
クティブ移動可能カーソル１０８の位置を制御する。カ
ーソル・ソフトキー８２は、どのカーソルをアクティブ
にして、どのカーソルを非アクティブにするかを制御す
る。カーソル・ソフトキー８２をアクティブにすること
により、非アクティブ・カーソル１０６をアクティブ・
カーソルにし、アクティブ・カーソル１０８を非アクテ
ィブ・カーソルにする。開始／停止（ＳＴＡＲＴ／ＳＴ
ＯＰ）スイッチ９０は、レーザ及び取り込みハードウェ
アをアクティブにして、質問パルスをファイバ２２に発
射し、このファイバ２２からの戻り光を表すデータを取
り込む。表示領域９２は、角のアイコンが定義する拡大
ウインドウ１１０も示す。この拡大ウインドウ１１０の
寸法を、選択ボタン８４に連動した矢印ボタン８６〜８
９により制御する。ズーム（ＺＯＯＭ）ソフトキー８２
（下から２番目）を用いて、波形９４を含む全体的なビ
ューポートを、拡大ウインドウ１１０が定義する拡大ビ
ューポートと交換する。なお、この拡大ウインドウ１１
０には、拡大された形式の波形トレース９４の一部が含
まれる。矢印ボタン８６〜８９と連動する選択ボタン８
４は、表示領域９２内のトレース９４の位置も制御す
る。例えば、情報表示領域１００は、カーソル・ソフト
キー８２がアクティブにされて、カーソル１０８をアク
ティブ・カーソルとしたことを示す。表示領域１０５
は、選択ボタンにより、カーソル領域がハイライトされ
たことを示す。右及び左矢印ボタン８６及び８７は、表
示領域９２内のカーソル１０８を移動させる。選択ボタ
ン８４を押すと、情報表示領域１０５内のズーム領域を
ハイライトにし、矢印ボタン８６〜８９を切り換えて、
拡大ウインドウ１１０の寸法（次元）を制御する。左及
び右矢印ボタン８６及び８７は、拡大ウインドウ１１０
の水平寸法を制御し、上及び下矢印ボタン８８及び８９
により拡大ウインドウ１１０の垂直寸法を制御する。ズ
ーム・ソフトキー８２を用いて、ビューポート全体を拡
大ビューポートと交換する。この拡大ビューポートは、
拡大ウインドウ１１０が定義した波形トレースの部分の
拡大表示となる。選択ボタン８４を押すと、情報表示領
域１０５内のトレース領域をハイライトして、矢印ボタ
ン８６〜８９を切り換えて、表示領域９２内のトレース
９４の部分を制御する。左及び右矢印ボタン８６及び８
７が、表示領域９２内で表示トレース９４を水平方向に
位置決めし、上及び下矢印ボタン８８及び８９が、表示
領域９２内でトレース９４を垂直方向に位置決めする。
選択ボタン８４は、押される度に、カーソル領域、ズー
ム領域及びトレース領域の夫々を順次ハイライトする。
【００２８】情報表示領域１０４は、シングルモード光
ファイバを試験する１３１０ｎｍレーザを用いるインテ
リトレース（IntelliTrace：商標）モードへのＯＴＤＲ
１０の設定を示す。このインテリトレース・モードは、
異なるパルス幅、サンプル間隔及び開始距離を用いて取
り込んだデータ点を夫々が有する波形セグメントを多数
有する波形データ点を取り込み、蓄積する。以下の表５
は、光信号源として１３１０ｎｍ又は１５５０ｎｍのレ
ーザ・ダイオード１８を用いてシングルモードの波形セ
グメントを取り込む際の代表的なパラメータを示してい
る。
ファイバを試験する１３１０ｎｍレーザを用いるインテ
リトレース（IntelliTrace：商標）モードへのＯＴＤＲ
１０の設定を示す。このインテリトレース・モードは、
異なるパルス幅、サンプル間隔及び開始距離を用いて取
り込んだデータ点を夫々が有する波形セグメントを多数
有する波形データ点を取り込み、蓄積する。以下の表５
は、光信号源として１３１０ｎｍ又は１５５０ｎｍのレ
ーザ・ダイオード１８を用いてシングルモードの波形セ
グメントを取り込む際の代表的なパラメータを示してい
る。
【表５】 可変パルス幅波形セグメントを有する波形トレース９４
の特性は、反射イベント１１２、１１４及び１１６並び
に無反射損失イベント１１８及び１１９の如きイベント
が、それらの生じたセグメントにより決まる異なる幅を
有する点である。
の特性は、反射イベント１１２、１１４及び１１６並び
に無反射損失イベント１１８及び１１９の如きイベント
が、それらの生じたセグメントにより決まる異なる幅を
有する点である。
【００２９】本発明の好適な実施例では、８５０ｎｍ及
び１３００ｎｍ波長でのマルチモード取り込みも含んで
いる。以下の表６及び表７は、光信号源として８５０ｎ
ｍ又は１３００ｎｍのレーザ・ダイオード１８を用いて
マルチモードの波形セグメントを取り込む際の代表的な
パラメータを示している。
び１３００ｎｍ波長でのマルチモード取り込みも含んで
いる。以下の表６及び表７は、光信号源として８５０ｎ
ｍ又は１３００ｎｍのレーザ・ダイオード１８を用いて
マルチモードの波形セグメントを取り込む際の代表的な
パラメータを示している。
【表６】
【票７】上述のマルチモードの表から判るように、マル
チモード波形トレース用の取り込んだ波形セグメントの
数は、シングルモード波形トレース用の６つの波形セグ
メントの代わりに４つである。本発明は、上述に示し、
以下に説明する波形トレース用に取り込んだ波形セグメ
ントの特定のパラメータ及び数に限定されるものではな
く、取り込んだ波形セグメントのパラメータ及び数は、
本発明の特許請求の範囲に記載した範囲から逸脱するこ
となく変更できる。
チモード波形トレース用の取り込んだ波形セグメントの
数は、シングルモード波形トレース用の６つの波形セグ
メントの代わりに４つである。本発明は、上述に示し、
以下に説明する波形トレース用に取り込んだ波形セグメ
ントの特定のパラメータ及び数に限定されるものではな
く、取り込んだ波形セグメントのパラメータ及び数は、
本発明の特許請求の範囲に記載した範囲から逸脱するこ
となく変更できる。
【００３０】本発明の可変サンプル密度を有するセグメ
ント化された波形を表示する方法を、オブジェクト指向
のプログラミング（ＯＯＰ）を用いて設計した測定試験
機器用の全体的なソフトウェア制御システムの一部とし
て実現した。オブジェクト指向プログラミングは、従来
のプログラミングとは、データ及びプロセジュア（手
順）を組み合わせたものをオブジェクトと呼ぶ概念を用
いる点で異なる。各オブジェクトは、クラスに属してお
り、このクラスは、データが蓄積されたテンプレートを
与えるものであり、オブジェクト・データをアクセスし
操作する手順が何らかの結果を発生する。クラスのオブ
ジェクトは、特定データを含んだクラスのインスタンス
（instance）となる。オブジェクトは、データ及びこの
データ上で動作する手順を含んだ単一のエンティティ
（entity）であり、配列の如き分離したデータ構造とし
て考えることができない。なお、分離した手順は、従来
のプログラミング言語の如きデータ構造上で動作する。
オブジェクトの作用（ビヘイビア：behavior）は、オブ
ジェクトに利用可能な手順により定義される。ＯＯＰ
は、インヘリタンス（承継）と呼ばれる概念を導入し、
基本クラスから得たサブクラスが、基本クラスのデータ
及び機能能力を受け継ぐ。インヘリタンスは、データ上
で動作する機能及びデータの両方からオブジェクトが成
るという事実により、生じる。例えば、顧客、供給者及
び従業員の情報を含むように、データ・ベース・システ
ムを設計しても良い。名前や住所のように顧客、供給者
及び従業員の共通情報を第１クラス内で定義し、これを
そのクラス内に含まれるデータ上で操作する手順に関連
させる。注文した製品の形式及び量、供給される製品の
形式及び量、並びに従業員のＩＤ番号の如き顧客、供給
者及び従業員に関連した特殊情報は、基本クラスから得
た分離サブクラス内で定義する。各分離サブクラスは、
名前及び住所を含んだ基本クラスのデータ・テンプレー
ト及び機能能力を受け継ぐ。したがって、顧客サブクラ
ス用のデータ・テンプレートは、注文した製品の形式及
び量の顧客情報用のフィールドを含み、そこから得た基
本クラスからの顧客の名前及び住所用のフィールドを受
け継ぐ。付加的なサブクラスを既存のサブクラスから定
義しても良いし、この際、任意の新たなサブクラスは、
階層的にクラスからデータ及び機能能力の総てを受け継
ぐ。インヘリタンスは、ＯＯＰを導入する際に有用な機
能であるが、必要ではない。他のオブジェクトからビヘ
イビア受け継がない独立したオブジェクトにより、ＯＯ
Ｐシステムを設計しても良い。スモールトーク８０、Ｃ
＋＋等のＯＯＰ言語における他の重要な概念は、オブジ
ェクトが、そのオブジェクト用に定義されたインタフェ
ースを回避することなく他のオブジェクトを直接的に操
作できないことである。他のオブジェクトからデータや
結果を得るために、通常、要求オブジェクトからメッセ
ージを送る必要があり、情報を要求し、要求したオブジ
ェクトが必要な手順を実行して、その情報を回収し、そ
れを要求オブジェクトに戻す。
ント化された波形を表示する方法を、オブジェクト指向
のプログラミング（ＯＯＰ）を用いて設計した測定試験
機器用の全体的なソフトウェア制御システムの一部とし
て実現した。オブジェクト指向プログラミングは、従来
のプログラミングとは、データ及びプロセジュア（手
順）を組み合わせたものをオブジェクトと呼ぶ概念を用
いる点で異なる。各オブジェクトは、クラスに属してお
り、このクラスは、データが蓄積されたテンプレートを
与えるものであり、オブジェクト・データをアクセスし
操作する手順が何らかの結果を発生する。クラスのオブ
ジェクトは、特定データを含んだクラスのインスタンス
（instance）となる。オブジェクトは、データ及びこの
データ上で動作する手順を含んだ単一のエンティティ
（entity）であり、配列の如き分離したデータ構造とし
て考えることができない。なお、分離した手順は、従来
のプログラミング言語の如きデータ構造上で動作する。
オブジェクトの作用（ビヘイビア：behavior）は、オブ
ジェクトに利用可能な手順により定義される。ＯＯＰ
は、インヘリタンス（承継）と呼ばれる概念を導入し、
基本クラスから得たサブクラスが、基本クラスのデータ
及び機能能力を受け継ぐ。インヘリタンスは、データ上
で動作する機能及びデータの両方からオブジェクトが成
るという事実により、生じる。例えば、顧客、供給者及
び従業員の情報を含むように、データ・ベース・システ
ムを設計しても良い。名前や住所のように顧客、供給者
及び従業員の共通情報を第１クラス内で定義し、これを
そのクラス内に含まれるデータ上で操作する手順に関連
させる。注文した製品の形式及び量、供給される製品の
形式及び量、並びに従業員のＩＤ番号の如き顧客、供給
者及び従業員に関連した特殊情報は、基本クラスから得
た分離サブクラス内で定義する。各分離サブクラスは、
名前及び住所を含んだ基本クラスのデータ・テンプレー
ト及び機能能力を受け継ぐ。したがって、顧客サブクラ
ス用のデータ・テンプレートは、注文した製品の形式及
び量の顧客情報用のフィールドを含み、そこから得た基
本クラスからの顧客の名前及び住所用のフィールドを受
け継ぐ。付加的なサブクラスを既存のサブクラスから定
義しても良いし、この際、任意の新たなサブクラスは、
階層的にクラスからデータ及び機能能力の総てを受け継
ぐ。インヘリタンスは、ＯＯＰを導入する際に有用な機
能であるが、必要ではない。他のオブジェクトからビヘ
イビア受け継がない独立したオブジェクトにより、ＯＯ
Ｐシステムを設計しても良い。スモールトーク８０、Ｃ
＋＋等のＯＯＰ言語における他の重要な概念は、オブジ
ェクトが、そのオブジェクト用に定義されたインタフェ
ースを回避することなく他のオブジェクトを直接的に操
作できないことである。他のオブジェクトからデータや
結果を得るために、通常、要求オブジェクトからメッセ
ージを送る必要があり、情報を要求し、要求したオブジ
ェクトが必要な手順を実行して、その情報を回収し、そ
れを要求オブジェクトに戻す。
【００３１】図３は、本発明により異なるサンプル密度
を有する波形セグメントを表示する方法を用いたオプテ
ィカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータの種々の
ビューポートを示す。ビューポート・オブジェクトを定
義し、ワールド座標１２０によって、ビューポートが含
んだ領域を特定する。ワールド座標１２０は、垂直方向
がｄＢであり、水平方向が距離（ｋｍ又はｋｆｔ）であ
る。好適実施例で実現したように、振幅データ値を、取
り込みハードウェアの出力を表す定数として蓄積し、水
平距離は、種々の取り込んだ波形セグメントのサンプル
間隔及びこれらセグメントの開始距離に関連する。ビュ
ーポート・オブジェクトは、そのビューポートがカバー
する領域の最小及び最大振幅並びに距離（左、右、下及
び上の縁）を維持し、幅又は高さの如きビューポートを
操作し、各方向にビューポートをシフトするルーチンを
含んでいる。
を有する波形セグメントを表示する方法を用いたオプテ
ィカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータの種々の
ビューポートを示す。ビューポート・オブジェクトを定
義し、ワールド座標１２０によって、ビューポートが含
んだ領域を特定する。ワールド座標１２０は、垂直方向
がｄＢであり、水平方向が距離（ｋｍ又はｋｆｔ）であ
る。好適実施例で実現したように、振幅データ値を、取
り込みハードウェアの出力を表す定数として蓄積し、水
平距離は、種々の取り込んだ波形セグメントのサンプル
間隔及びこれらセグメントの開始距離に関連する。ビュ
ーポート・オブジェクトは、そのビューポートがカバー
する領域の最小及び最大振幅並びに距離（左、右、下及
び上の縁）を維持し、幅又は高さの如きビューポートを
操作し、各方向にビューポートをシフトするルーチンを
含んでいる。
【００３２】クリッピング・ビューポート１２２は、全
体的な（概観）ビューポート１２４及び拡大ビューポー
ト１２６の境界を定義する。好適な実施例において、ク
リッピング・ビューポート１２２の最小及び最大振幅
は、−２０及び５０ｄＢに固定維持する。クリッピング
・ビューポート１２２の右端は、ユーザが選択した取り
込みモードにより変化する。本発明の好適実施例におい
て、インテリトレース・モードは、データを取り込める
試験ファイバ２２上で最長点を定義する。クリッピング
・ビューポート１２２の左端は、０ｋｍ未満、又は表示
される波形の左端の距離に設定される。
体的な（概観）ビューポート１２４及び拡大ビューポー
ト１２６の境界を定義する。好適な実施例において、ク
リッピング・ビューポート１２２の最小及び最大振幅
は、−２０及び５０ｄＢに固定維持する。クリッピング
・ビューポート１２２の右端は、ユーザが選択した取り
込みモードにより変化する。本発明の好適実施例におい
て、インテリトレース・モードは、データを取り込める
試験ファイバ２２上で最長点を定義する。クリッピング
・ビューポート１２２の左端は、０ｋｍ未満、又は表示
される波形の左端の距離に設定される。
【００３３】概観ビューポート１２４は、インテリトレ
ース・モードにおいて、表示領域９２内で観察される領
域を定義する。概観ビューポートの高さは、取り込みハ
ードウェアのダイナミック・レンジで定義される。その
幅は、取り込みの全レンジを含むように設定し、最大レ
ンジ設定及び選択された取り込みモードの変化により可
変する。拡大ビューポート１２６は、波形が拡大又はズ
ームされた際に、表示領域９２内で観察される領域を定
義する。
ース・モードにおいて、表示領域９２内で観察される領
域を定義する。概観ビューポートの高さは、取り込みハ
ードウェアのダイナミック・レンジで定義される。その
幅は、取り込みの全レンジを含むように設定し、最大レ
ンジ設定及び選択された取り込みモードの変化により可
変する。拡大ビューポート１２６は、波形が拡大又はズ
ームされた際に、表示領域９２内で観察される領域を定
義する。
【００３４】ユーザ・インタフェース８０のボタンを活
性化して、カーソル１０６、１０８、波形トレース９
４、拡大ウインドウ１１０、ビューポート１２４及び１
２６を操作する。電源ボード（部）１６の制御器７６
は、正面パネルを制御し、ボタンが活性化される度にキ
ー・コードを発生する。システム・プロセッサ（主制御
器）５０に関連したイベント処理（ＥｖｔＰｒｏｃ）の
処理オブジェクトは、直列リンク７０を介してキー・コ
ードを受ける。ＥｖｔＰｒｏｃオブジェクトは、押され
たボタンに応じて、レジスタとして作用するメモリ記憶
場所を設定し、ｄｏＦＰＩｎｔｅｒｒｕｐｔ（）（正面
パネルの割り込み動作）を呼び出す。ビューポートを操
作するために、ビューポート上に展開するある種の変化
として、これらキー・コードを解釈しなければならな
い。矢印ボタン８６〜８９の１つを一度に押すと、ユー
ザが表示領域９２内に最小の可能な視覚変化を発生しよ
うとしていると仮定する。ほとんどの場合、最小の視覚
変化は１ピクセルである。よって、ボタンを押すこと
は、１ピクセルとして解釈され、ワールド座標（ｄＢ又
は距離）に変換される。振幅又は距離のこの変化を適切
なオブジェクト（カーソル又はビューポート若しくはこ
れらの両方）に適用させる。本発明は、ボタンを含むユ
ーザ・インタフェース８０を有するＯＴＤＲにて実現さ
れる。ユーザ・インタフェースは、ボタン及びノブの両
方と共に等しく実現され、ノブが、カーソル１０６及び
１０８の移動、拡大ウインドウ１１０、表示トレース９
４及びインタフェース用に設計された別の機能を制御す
る。かかる実施において、キー・コードは、活性化され
たボタン又は回転されたノブ、回転方向、回転されたク
リックの数を特定する。矢印ボタン８６〜８９により、
ビューポート上で行われるある種の変化としてこれらイ
ベント・クリックを解釈しなければならない。ノブをい
ずれかの方向に１クリックだけ回転させて、ユーザが表
示領域９２内の最小可能視覚変化を発生しようとしてい
ると仮定する。添付図は、ボタン及びノブのイベントの
両方を示しており、カーソル、拡大ウインドウ及び波形
トレース移動がノブ・クリックに関連している。ノブ・
クリックが矢印ボタンを押すことと等価であることが理
解できよう。さらに、ボタン及びノブの両方を用いるＯ
ＴＤＲにおいて本発明を実現できるように、これら図に
てノブ・イベントが示されている。
性化して、カーソル１０６、１０８、波形トレース９
４、拡大ウインドウ１１０、ビューポート１２４及び１
２６を操作する。電源ボード（部）１６の制御器７６
は、正面パネルを制御し、ボタンが活性化される度にキ
ー・コードを発生する。システム・プロセッサ（主制御
器）５０に関連したイベント処理（ＥｖｔＰｒｏｃ）の
処理オブジェクトは、直列リンク７０を介してキー・コ
ードを受ける。ＥｖｔＰｒｏｃオブジェクトは、押され
たボタンに応じて、レジスタとして作用するメモリ記憶
場所を設定し、ｄｏＦＰＩｎｔｅｒｒｕｐｔ（）（正面
パネルの割り込み動作）を呼び出す。ビューポートを操
作するために、ビューポート上に展開するある種の変化
として、これらキー・コードを解釈しなければならな
い。矢印ボタン８６〜８９の１つを一度に押すと、ユー
ザが表示領域９２内に最小の可能な視覚変化を発生しよ
うとしていると仮定する。ほとんどの場合、最小の視覚
変化は１ピクセルである。よって、ボタンを押すこと
は、１ピクセルとして解釈され、ワールド座標（ｄＢ又
は距離）に変換される。振幅又は距離のこの変化を適切
なオブジェクト（カーソル又はビューポート若しくはこ
れらの両方）に適用させる。本発明は、ボタンを含むユ
ーザ・インタフェース８０を有するＯＴＤＲにて実現さ
れる。ユーザ・インタフェースは、ボタン及びノブの両
方と共に等しく実現され、ノブが、カーソル１０６及び
１０８の移動、拡大ウインドウ１１０、表示トレース９
４及びインタフェース用に設計された別の機能を制御す
る。かかる実施において、キー・コードは、活性化され
たボタン又は回転されたノブ、回転方向、回転されたク
リックの数を特定する。矢印ボタン８６〜８９により、
ビューポート上で行われるある種の変化としてこれらイ
ベント・クリックを解釈しなければならない。ノブをい
ずれかの方向に１クリックだけ回転させて、ユーザが表
示領域９２内の最小可能視覚変化を発生しようとしてい
ると仮定する。添付図は、ボタン及びノブのイベントの
両方を示しており、カーソル、拡大ウインドウ及び波形
トレース移動がノブ・クリックに関連している。ノブ・
クリックが矢印ボタンを押すことと等価であることが理
解できよう。さらに、ボタン及びノブの両方を用いるＯ
ＴＤＲにおいて本発明を実現できるように、これら図に
てノブ・イベントが示されている。
【００３５】ビューポート情報が変化すると、システム
制御器５０上で動作する表示処理により、表示器６０の
表示領域９２内にその変化が表示される。この表示処理
は、距離及び振幅情報をピクセルに変換する。この表示
処理は、テキスト、水平及び垂直軸、カーソル及び波形
などのように、表示領域９２内に現れるオブジェクトを
特定する。波形オブジェクトを設定して、ピクセルにお
いて、波形を表示すべき表示領域９２内の物理的な位置
を特定する。次に、他のフィールドを用いて、表示領域
９２の一部内にどのように波形を表示すべきかを特定す
る。他のフィールドを用いて、波形計数内のどの振幅を
上端及び下端にマッピングするかを特定すると共に、波
形が現れる表示領域９２の右端及び左端にＷＦＭ_Ｘ_Ｕ
ＮＩＴＳ内のどの距離をマッピングするかを特定して、
ワールド座標を表示座標にマッピングする。
制御器５０上で動作する表示処理により、表示器６０の
表示領域９２内にその変化が表示される。この表示処理
は、距離及び振幅情報をピクセルに変換する。この表示
処理は、テキスト、水平及び垂直軸、カーソル及び波形
などのように、表示領域９２内に現れるオブジェクトを
特定する。波形オブジェクトを設定して、ピクセルにお
いて、波形を表示すべき表示領域９２内の物理的な位置
を特定する。次に、他のフィールドを用いて、表示領域
９２の一部内にどのように波形を表示すべきかを特定す
る。他のフィールドを用いて、波形計数内のどの振幅を
上端及び下端にマッピングするかを特定すると共に、波
形が現れる表示領域９２の右端及び左端にＷＦＭ_Ｘ_Ｕ
ＮＩＴＳ内のどの距離をマッピングするかを特定して、
ワールド座標を表示座標にマッピングする。
【００３６】異なるパルス幅、サンプル間隔及び開始距
離を用いて取り込んだセグメントを有する波形セグメン
トを有する波形データを取り込み表示することを、ユー
ザ・インタフェース８０を用いて設定する。設定（ＳＥ
ＴＵＰ）ソフトウェア・ボタン８２（一番上）を押す
と、ユーザは、インテリトレース・モードの如き自動モ
ード又は手動モードを用いる取り込みモードの形式や、
８５０ｎｍマルチモード試験、又は１３１０ｎｍシング
ルモード試験の如き試験パラメータを定義できる。開始
／停止ボタン９０が押されると、波形セグメントを有す
る波形データ取り込みを開始する。システム・プロセッ
サ５０は、ＲＯＭ５２からルーチンをアクセスして、パ
ルス幅、サンプル間隔及び開始距離等のパラメータ情報
を、直列リンク４６を介してＤＡＳ１２内の制御器３８
に送る。制御器３８は、ＲＯＭ４２内に蓄積されたルー
チンをアクセスして、第１波形セグメントを取り込む。
データ点を取り込み、波形セグメントに対して平均化す
ると、これらをＲＡＭ４４内のバッファに蓄積する。第
１波形セグメントの取り込みが完了すると、直列リンク
４６を介して、波形セグメント・データを主プロセッサ
（主制御器）５０に戻す。ＤＡＳ１４から受けた波形セ
グメント・データをＲＡＭ５４内のバッファに蓄積す
る。主プロセッサ５０は、本願出願人に譲渡された米国
特許第５３６５３２８号「サブサンプル間隔にて取り込
まれたデジタル・データ内のイベントの位置を探す」に
記載された如きイベント検出ルーチンを呼び出して、波
形セグメント・データ内の任意のイベントの存在及びを
決定すると共に特徴付ける。このルーチンは、また、波
形セグメント・データ内のイベントの位置を基本にした
次の波形セグメント用の開始点と、波形データ・セグメ
ントが測定機器ノイズ・フロアに入る位置とを求める。
次の波形セグメント用の開始点を求めるルーチンは、固
定距離をバックアップして、次の波形セグメントと重な
り合うのを可能とする。データがノイズ・フロアの外に
出て、イベント上でなくなるまで、このデータの寸法を
元に戻す。直列リンク４６を介して、次の波形セグメン
ト取り込みようにパルス幅及びサンプル間隔パラメータ
と共に、この情報をＤＡＳ１２に転送する。プロセッサ
５０は、他のルーチンを呼び出して、ＲＡＭ５４内に蓄
積されたデータを、波形データ点の配列としてのＲＡＭ
５４内のメモリの隣接するブロックに転送する。バッフ
ァから第１波形セグメントの各データ点を読み出して、
概観ビューポート内に最大振幅値を表示できるようにデ
ータ点をスケール（拡大／縮尺）する。波形セグメント
用の開始距離、このセグメント用のサンプル間隔、距離
に関連した波形データ配列へのインデックスにより、代
表的に図４に示すように、ＲＡＭ５４内のセグメント表
を発生し、更新する。波形データの配列をメモリの連続
したブロックに蓄積しているので、波形データの配列へ
のインデックスは、各波形データ点に対して、ゼロ値か
ら開始し、１ずつ増分する一連の整数の組である。さら
に、セグメント表は、各取り込んだ波形セグメント用の
開始距離及びサンプル間隔を含んでいるので、配列への
各インデックスは、距離に関連する。例えば、図５の代
表的なセグメント表において、３０００メートルの距離
のデータ・インデックスは、第２セグメント内に入る。
この第２セグメントは、０．５メートルのサンプル間隔
により取り込んだ４０００データ点を第１セグメントが
含んでいるという仮定に基づいて、２０００メートルの
開始距離及び４０００のデータ・インデックスを有して
いる。２０００メートルの第２セグメントの開始距離か
ら３０００メートルを減算すると、その結果が１０００
メートルである。この１０００メートルの結果を、第２
波形セグメントの１メートルのサンプル間隔により除算
して、その結果を１０００とする。この結果を波形セグ
メントの開始用の４０００のデータ・インデックスに加
算すると、５０００の値が得られる。これは、３０００
メートルの距離に関連した波形データの配列へのインデ
ックスである。本発明の実現において、被試験ファイバ
の光損失、質問レーザ・パルスの光パワー・レベル、Ｏ
ＴＤＲ内の光学受信機のダイナミック・レンジなどの多
くの条件に応じて、種々の波形セグメントの開始距離が
変化する。
離を用いて取り込んだセグメントを有する波形セグメン
トを有する波形データを取り込み表示することを、ユー
ザ・インタフェース８０を用いて設定する。設定（ＳＥ
ＴＵＰ）ソフトウェア・ボタン８２（一番上）を押す
と、ユーザは、インテリトレース・モードの如き自動モ
ード又は手動モードを用いる取り込みモードの形式や、
８５０ｎｍマルチモード試験、又は１３１０ｎｍシング
ルモード試験の如き試験パラメータを定義できる。開始
／停止ボタン９０が押されると、波形セグメントを有す
る波形データ取り込みを開始する。システム・プロセッ
サ５０は、ＲＯＭ５２からルーチンをアクセスして、パ
ルス幅、サンプル間隔及び開始距離等のパラメータ情報
を、直列リンク４６を介してＤＡＳ１２内の制御器３８
に送る。制御器３８は、ＲＯＭ４２内に蓄積されたルー
チンをアクセスして、第１波形セグメントを取り込む。
データ点を取り込み、波形セグメントに対して平均化す
ると、これらをＲＡＭ４４内のバッファに蓄積する。第
１波形セグメントの取り込みが完了すると、直列リンク
４６を介して、波形セグメント・データを主プロセッサ
（主制御器）５０に戻す。ＤＡＳ１４から受けた波形セ
グメント・データをＲＡＭ５４内のバッファに蓄積す
る。主プロセッサ５０は、本願出願人に譲渡された米国
特許第５３６５３２８号「サブサンプル間隔にて取り込
まれたデジタル・データ内のイベントの位置を探す」に
記載された如きイベント検出ルーチンを呼び出して、波
形セグメント・データ内の任意のイベントの存在及びを
決定すると共に特徴付ける。このルーチンは、また、波
形セグメント・データ内のイベントの位置を基本にした
次の波形セグメント用の開始点と、波形データ・セグメ
ントが測定機器ノイズ・フロアに入る位置とを求める。
次の波形セグメント用の開始点を求めるルーチンは、固
定距離をバックアップして、次の波形セグメントと重な
り合うのを可能とする。データがノイズ・フロアの外に
出て、イベント上でなくなるまで、このデータの寸法を
元に戻す。直列リンク４６を介して、次の波形セグメン
ト取り込みようにパルス幅及びサンプル間隔パラメータ
と共に、この情報をＤＡＳ１２に転送する。プロセッサ
５０は、他のルーチンを呼び出して、ＲＡＭ５４内に蓄
積されたデータを、波形データ点の配列としてのＲＡＭ
５４内のメモリの隣接するブロックに転送する。バッフ
ァから第１波形セグメントの各データ点を読み出して、
概観ビューポート内に最大振幅値を表示できるようにデ
ータ点をスケール（拡大／縮尺）する。波形セグメント
用の開始距離、このセグメント用のサンプル間隔、距離
に関連した波形データ配列へのインデックスにより、代
表的に図４に示すように、ＲＡＭ５４内のセグメント表
を発生し、更新する。波形データの配列をメモリの連続
したブロックに蓄積しているので、波形データの配列へ
のインデックスは、各波形データ点に対して、ゼロ値か
ら開始し、１ずつ増分する一連の整数の組である。さら
に、セグメント表は、各取り込んだ波形セグメント用の
開始距離及びサンプル間隔を含んでいるので、配列への
各インデックスは、距離に関連する。例えば、図５の代
表的なセグメント表において、３０００メートルの距離
のデータ・インデックスは、第２セグメント内に入る。
この第２セグメントは、０．５メートルのサンプル間隔
により取り込んだ４０００データ点を第１セグメントが
含んでいるという仮定に基づいて、２０００メートルの
開始距離及び４０００のデータ・インデックスを有して
いる。２０００メートルの第２セグメントの開始距離か
ら３０００メートルを減算すると、その結果が１０００
メートルである。この１０００メートルの結果を、第２
波形セグメントの１メートルのサンプル間隔により除算
して、その結果を１０００とする。この結果を波形セグ
メントの開始用の４０００のデータ・インデックスに加
算すると、５０００の値が得られる。これは、３０００
メートルの距離に関連した波形データの配列へのインデ
ックスである。本発明の実現において、被試験ファイバ
の光損失、質問レーザ・パルスの光パワー・レベル、Ｏ
ＴＤＲ内の光学受信機のダイナミック・レンジなどの多
くの条件に応じて、種々の波形セグメントの開始距離が
変化する。
【００３７】第１波形セグメント取り込みからのデータ
をＲＡＭ５４内の波形データの配列内に蓄積すると、こ
のデータをビット・マップ配列としてＲＡＭ５４のビデ
オ・フレーム・バッファにマッピングする。これは、表
示制御器５６によりアクセスされて、表示器６０の表示
領域９２内に表示トレース９４として表示される。波形
データをマッピングする処理は、水平ピクセル・スキッ
プ値及び水平距離スキップ値を確立することを含んでい
る。アクティブ・ビューポート開始距離及びアクティブ
・ビューポート終了距離間の距離を表示領域９２内の水
平ピクセルの数で除算して、表示領域９２用の１ピクセ
ル値当たりの水平距離を計算する。アクティブ・ビュー
ポートは、概観ビューポート１２４又は拡大ビューポー
ト１２６のいずれかである。水平距離が、マッピングさ
れた波形セグメントのサンプル間隔よりも短いとき、波
形セグメントのサンプル間隔を１ピクセル値当たりの水
平距離により除算して新たな水平ピクセル・スキップ値
を計算し、水平距離スキップ値を波形セグメントのサン
プル間隔に等しく設定する。初期ピクセル計数をゼロに
設定し、水平ピクセル・スキップ値を前のピクセル計数
に順次加算し、初期水平距離値をアクティブ・ビューポ
ート開始距離に設定し、水平距離スキップ値を前の水平
距離値に順次加算して、水平ピクセルを距離に対してマ
ッピングする。距離に関連したデータ点のインデックス
を用いて、水平ピクセルの距離値を波形セグメントのデ
ータ点の振幅値に関連（相関）させる。次に、振幅値を
ビデオ・バッファのビット・マップ配列にマッピングし
て、適切な垂直ピクセルを水平ピクセルに関連させる。
表示制御器５６はビット・マップ配列を含んだビデオ・
フレーム・バッファを読み出し、表示領域９２内に表示
トレース９４として第１波形セグメントを表示する。
をＲＡＭ５４内の波形データの配列内に蓄積すると、こ
のデータをビット・マップ配列としてＲＡＭ５４のビデ
オ・フレーム・バッファにマッピングする。これは、表
示制御器５６によりアクセスされて、表示器６０の表示
領域９２内に表示トレース９４として表示される。波形
データをマッピングする処理は、水平ピクセル・スキッ
プ値及び水平距離スキップ値を確立することを含んでい
る。アクティブ・ビューポート開始距離及びアクティブ
・ビューポート終了距離間の距離を表示領域９２内の水
平ピクセルの数で除算して、表示領域９２用の１ピクセ
ル値当たりの水平距離を計算する。アクティブ・ビュー
ポートは、概観ビューポート１２４又は拡大ビューポー
ト１２６のいずれかである。水平距離が、マッピングさ
れた波形セグメントのサンプル間隔よりも短いとき、波
形セグメントのサンプル間隔を１ピクセル値当たりの水
平距離により除算して新たな水平ピクセル・スキップ値
を計算し、水平距離スキップ値を波形セグメントのサン
プル間隔に等しく設定する。初期ピクセル計数をゼロに
設定し、水平ピクセル・スキップ値を前のピクセル計数
に順次加算し、初期水平距離値をアクティブ・ビューポ
ート開始距離に設定し、水平距離スキップ値を前の水平
距離値に順次加算して、水平ピクセルを距離に対してマ
ッピングする。距離に関連したデータ点のインデックス
を用いて、水平ピクセルの距離値を波形セグメントのデ
ータ点の振幅値に関連（相関）させる。次に、振幅値を
ビデオ・バッファのビット・マップ配列にマッピングし
て、適切な垂直ピクセルを水平ピクセルに関連させる。
表示制御器５６はビット・マップ配列を含んだビデオ・
フレーム・バッファを読み出し、表示領域９２内に表示
トレース９４として第１波形セグメントを表示する。
【００３８】波形データ点の配列内の最終データ点を水
平ピクセル位置にマッピングした後、マッピング及び表
示処理を終了させると、ＯＴＤＲの全体的な速度が改善
される。波形セグメントの１つの最終データ点である波
形データ配列内の最終データ点の距離を、データ点の配
列へのインデックスとして求める。上述の如く、波形デ
ータ点の配列への任意のインデックスは、波形セグメン
ト用のデータ点及びサンプル間隔を含む波形セグメント
の開始距離により、距離に関連付けることができる。波
形データの配列内の最終データ点用の距離を蓄積し、増
分した水平ピクセル距離と比較する。水平ピクセル距離
が波形データの配列内の最終データ点の距離値よりも大
きいとき、ビデオ表示バッファへのデータ点のマッピン
グを終了し、表示制御器５６がバッファを読み出す。第
１波形セグメントの開始距離を水平ピクセル距離と比較
し、水平ピクセル距離が第１波形セグメントの開始距離
よりも短いとき、いかなる波形データ・マッピング処理
も実行しないで、水平ピクセル計数及び水平値を増加さ
せて、ＯＴＤＲの速度を更に改善できる。
平ピクセル位置にマッピングした後、マッピング及び表
示処理を終了させると、ＯＴＤＲの全体的な速度が改善
される。波形セグメントの１つの最終データ点である波
形データ配列内の最終データ点の距離を、データ点の配
列へのインデックスとして求める。上述の如く、波形デ
ータ点の配列への任意のインデックスは、波形セグメン
ト用のデータ点及びサンプル間隔を含む波形セグメント
の開始距離により、距離に関連付けることができる。波
形データの配列内の最終データ点用の距離を蓄積し、増
分した水平ピクセル距離と比較する。水平ピクセル距離
が波形データの配列内の最終データ点の距離値よりも大
きいとき、ビデオ表示バッファへのデータ点のマッピン
グを終了し、表示制御器５６がバッファを読み出す。第
１波形セグメントの開始距離を水平ピクセル距離と比較
し、水平ピクセル距離が第１波形セグメントの開始距離
よりも短いとき、いかなる波形データ・マッピング処理
も実行しないで、水平ピクセル計数及び水平値を増加さ
せて、ＯＴＤＲの速度を更に改善できる。
【００３９】第１波形セグメント取り込みからのデータ
をＲＡＭ５４内の波形データ配列に蓄積すると、ＤＡＳ
１２は、第２波形セグメント用にデータ点を取り込み始
める。この取り込みが完了すると、データ・リンク４６
を介して、波形セグメント・データを主プロセッサ５０
に転送する。第２波形セグメントの取り込みによるデー
タをＲＡＭ５４のバッファに蓄積し、前の波形セグメン
トと同様に、イベント及びノイズ・フロアについて試験
する。次の波形セグメント用の開始距離を求めて、次の
取り込み用のパルス幅及びサンプル間隔パラメータと共
にＤＡＳ１２に転送する。第２波形セグメントの開始に
おけるデータが第１波形セグメントの終了におけるデー
タと一致するように第２波形セグメントのデータ点用の
スケール計数を求める。これら２つの波形セグメントの
スプライス位置における重なった点の平均により、スケ
ール計数を求める。第２セグメントを垂直方向にシフト
する量を、この平均における差に等しくする。上述の如
く、第２波形セグメントの開始距離が、第１波形セグメ
ントの範囲内に入る。第２波形セグメント・データのよ
うに、第１波形セグメントのデータ点のいくつかに重ね
書きするＲＡＭ５４のバッファ内に蓄積された第２波形
セグメントのデータ点を、ＲＡＭ５４内のメモリの隣接
するブロックに蓄積した波形データの配列に書き込む。
第２波形セグメント用の開始距離、サンプル間隔及び波
形データの配列へのインデックスにより、ＲＡＭ５４内
のセグメント表を更新する。続く波形セグメントの各々
に対して、マッピング処理を繰り返す。水平ピクセルに
対する距離値は、続く波形セグメントの開始距離を越え
て延びるので、各セグメント用に種々のマッピング値を
再定義する。波形セグメント用のデータ点を波形データ
の配列に付加する度に、ビデオ・フレーム・バッファ内
のビット・マップ配列を更新して、表示制御器５６がバ
ッファをアクセスして、表示器６０上の波形データの波
形トレース９４を更新する。総てのセグメントを取り込
み、試験し、スケールし、ＲＡＭ５４内のメモリの隣接
ブロック内の波形データ配列に蓄積するまで、波形セグ
メントの取り込みを繰り返す。
をＲＡＭ５４内の波形データ配列に蓄積すると、ＤＡＳ
１２は、第２波形セグメント用にデータ点を取り込み始
める。この取り込みが完了すると、データ・リンク４６
を介して、波形セグメント・データを主プロセッサ５０
に転送する。第２波形セグメントの取り込みによるデー
タをＲＡＭ５４のバッファに蓄積し、前の波形セグメン
トと同様に、イベント及びノイズ・フロアについて試験
する。次の波形セグメント用の開始距離を求めて、次の
取り込み用のパルス幅及びサンプル間隔パラメータと共
にＤＡＳ１２に転送する。第２波形セグメントの開始に
おけるデータが第１波形セグメントの終了におけるデー
タと一致するように第２波形セグメントのデータ点用の
スケール計数を求める。これら２つの波形セグメントの
スプライス位置における重なった点の平均により、スケ
ール計数を求める。第２セグメントを垂直方向にシフト
する量を、この平均における差に等しくする。上述の如
く、第２波形セグメントの開始距離が、第１波形セグメ
ントの範囲内に入る。第２波形セグメント・データのよ
うに、第１波形セグメントのデータ点のいくつかに重ね
書きするＲＡＭ５４のバッファ内に蓄積された第２波形
セグメントのデータ点を、ＲＡＭ５４内のメモリの隣接
するブロックに蓄積した波形データの配列に書き込む。
第２波形セグメント用の開始距離、サンプル間隔及び波
形データの配列へのインデックスにより、ＲＡＭ５４内
のセグメント表を更新する。続く波形セグメントの各々
に対して、マッピング処理を繰り返す。水平ピクセルに
対する距離値は、続く波形セグメントの開始距離を越え
て延びるので、各セグメント用に種々のマッピング値を
再定義する。波形セグメント用のデータ点を波形データ
の配列に付加する度に、ビデオ・フレーム・バッファ内
のビット・マップ配列を更新して、表示制御器５６がバ
ッファをアクセスして、表示器６０上の波形データの波
形トレース９４を更新する。総てのセグメントを取り込
み、試験し、スケールし、ＲＡＭ５４内のメモリの隣接
ブロック内の波形データ配列に蓄積するまで、波形セグ
メントの取り込みを繰り返す。
【００４０】上述の波形セグメントの取り込みの一部と
して、種々の代わりのものを含んでも良い。例えば、第
２波形セグメントの取り込み前に、第１波形セグメント
の取り込み、試験及び蓄積を完了する。この直列処理を
並列処理と交換しても良い。なお、ここでは、第１波形
セグメントを取り込み、主プロセッサに転送し、第２波
形セグメント用の開始距離の迅速な決定を行い、パルス
幅及びサンプル間隔と共にＤＡＳに戻す。ＤＡＳ１２
が、第２波形セグメントの取り込みを開始する一方、主
プロセッサが、イベントに対して第１波形セグメントを
試験し、第１波形セグメントのデータ点のスケールを調
整し、メモリの隣接するブロックにデータを蓄積し、Ｒ
ＡＭ５４内の波形セグメント表を更新し、ビデオ・フレ
ーム・バッファにデータをマッピングし、表示処理を開
始させる。
して、種々の代わりのものを含んでも良い。例えば、第
２波形セグメントの取り込み前に、第１波形セグメント
の取り込み、試験及び蓄積を完了する。この直列処理を
並列処理と交換しても良い。なお、ここでは、第１波形
セグメントを取り込み、主プロセッサに転送し、第２波
形セグメント用の開始距離の迅速な決定を行い、パルス
幅及びサンプル間隔と共にＤＡＳに戻す。ＤＡＳ１２
が、第２波形セグメントの取り込みを開始する一方、主
プロセッサが、イベントに対して第１波形セグメントを
試験し、第１波形セグメントのデータ点のスケールを調
整し、メモリの隣接するブロックにデータを蓄積し、Ｒ
ＡＭ５４内の波形セグメント表を更新し、ビデオ・フレ
ーム・バッファにデータをマッピングし、表示処理を開
始させる。
【００４１】図５、６及び７は、他のオブジェクトと組
み合わせて実現した本発明により、異なるパルス幅及び
サンプル間隔を有する波形セグメントの取り込み及び表
示を行う際に、より複雑なオブジェクトをどのように用
いるかを示す構造図である。同じビヘイビアを有するオ
ブジェクトをクラス階層により実現し、そのビヘイビア
の総てを実現するのに定義した導出クラス及びオブジェ
クトにより基本クラスからビヘイビアを用いる。特定の
ビヘイビアがクラス階層により当初に実現されたかに関
係なく、総てのビヘイビアを実現したように、オブジェ
クトについて後述する。オブジェクト指向プログラム言
語の当業者には、オブジェクトの説明からそれ自体のク
ラス階層を得ることができよう。
み合わせて実現した本発明により、異なるパルス幅及び
サンプル間隔を有する波形セグメントの取り込み及び表
示を行う際に、より複雑なオブジェクトをどのように用
いるかを示す構造図である。同じビヘイビアを有するオ
ブジェクトをクラス階層により実現し、そのビヘイビア
の総てを実現するのに定義した導出クラス及びオブジェ
クトにより基本クラスからビヘイビアを用いる。特定の
ビヘイビアがクラス階層により当初に実現されたかに関
係なく、総てのビヘイビアを実現したように、オブジェ
クトについて後述する。オブジェクト指向プログラム言
語の当業者には、オブジェクトの説明からそれ自体のク
ラス階層を得ることができよう。
【００４２】［システム・オブジェクト］ （正面パネル：FrantPanel）このクラスの単一のインス
タンスは、ボタン（Button）及びノブ（Knob）オブジェ
クト（正面パネル・インデックス８０上に夫々が生じ
る）のリストと、（EvtProc オブジェクト処理により蓄
積された）未決定の正面パネル・イベント用の正面イン
タフェース・バッファ（FPIntrBuffer）キュー（待ち行
列）と、正面パネル・インタフェース８０のシステム・
イベント記録（SysEventRec ）を消滅させる準備ができ
たときに指示される処理のポインタとを維持している。
この処理は、システム制御器（SystemController）処理
オブジェクトである。また、このオブジェクトは、正面
パネル・インタフェース・ハードウェア状態を含むメモ
リ記憶位置からの読出しに応答可能である。
タンスは、ボタン（Button）及びノブ（Knob）オブジェ
クト（正面パネル・インデックス８０上に夫々が生じ
る）のリストと、（EvtProc オブジェクト処理により蓄
積された）未決定の正面パネル・イベント用の正面イン
タフェース・バッファ（FPIntrBuffer）キュー（待ち行
列）と、正面パネル・インタフェース８０のシステム・
イベント記録（SysEventRec ）を消滅させる準備ができ
たときに指示される処理のポインタとを維持している。
この処理は、システム制御器（SystemController）処理
オブジェクトである。また、このオブジェクトは、正面
パネル・インタフェース・ハードウェア状態を含むメモ
リ記憶位置からの読出しに応答可能である。
【００４３】（イベント処理：EvtProc）このクラスの
単一のインスタンスは、電源ボードから直列リンクを介
して転送されたキー・コードを解釈し、下にされたボタ
ン、上にされたボタンにより正面パネル・インタフェー
ス・ハードウェア状態をメモリ記憶位置に設定し、正面
パネル割り込み処理（doFPinerrupt()）を読出す。な
お、ボタンが保持されると、値を計数する。
単一のインスタンスは、電源ボードから直列リンクを介
して転送されたキー・コードを解釈し、下にされたボタ
ン、上にされたボタンにより正面パネル・インタフェー
ス・ハードウェア状態をメモリ記憶位置に設定し、正面
パネル割り込み処理（doFPinerrupt()）を読出す。な
お、ボタンが保持されると、値を計数する。
【００４４】（正面パネル・インタフェース・バッフ
ァ：FPIntrBuffer）このクラスのインスタンスは、正面
パネルからのキー・コードに関する情報を蓄積するキュ
ーとして作用する。この蓄積された情報は、キー・コー
ド（例えば、下にされるボタン又は回転されるノブ）の
形式を含んでおり、これらボタン又はノブがキー・コー
ドを発生する。
ァ：FPIntrBuffer）このクラスのインスタンスは、正面
パネルからのキー・コードに関する情報を蓄積するキュ
ーとして作用する。この蓄積された情報は、キー・コー
ド（例えば、下にされるボタン又は回転されるノブ）の
形式を含んでおり、これらボタン又はノブがキー・コー
ドを発生する。
【００４５】（ボタン：Button）各正面パネル・ボタン
に対して、このクラスのインスタンスがあり、ボタン状
態を維持する。この状態は、ボタンの形式（例えば、ボ
タンの押されたときが報告されたか、ボタンが押され、
所定期間保持されて、そのボタン（そのボタン用のキー
・コード間の時間も元に用いるマルチプライヤのリス
ト）に用いる加速が行われた後、再び押されたときが報
告されたか、押されて放された後再び押されたときが報
告されたか）や、ボタンの状態（例えば、下にされ、上
にされ、維持される等）を含んでいる。
に対して、このクラスのインスタンスがあり、ボタン状
態を維持する。この状態は、ボタンの形式（例えば、ボ
タンの押されたときが報告されたか、ボタンが押され、
所定期間保持されて、そのボタン（そのボタン用のキー
・コード間の時間も元に用いるマルチプライヤのリス
ト）に用いる加速が行われた後、再び押されたときが報
告されたか、押されて放された後再び押されたときが報
告されたか）や、ボタンの状態（例えば、下にされ、上
にされ、維持される等）を含んでいる。
【００４６】（ノブ：Knob）各正面パネル・ノブに対し
て、ノブの状態を維持するこのクラスのインスタンスが
ある。この状態は、ノブの形式（ノブが回転されたとき
を報告し、所定期間アイドルされた後に報告する）、そ
のノブ用に用いる加速（そのノブ用のキー・コード間の
時間を元に用いるマルチプライヤのリスト）、ノブの状
態（最後にシステム・イベントがノブ用に発生されてか
ら、ノブの回転で何個クリックされたか）を含む。
て、ノブの状態を維持するこのクラスのインスタンスが
ある。この状態は、ノブの形式（ノブが回転されたとき
を報告し、所定期間アイドルされた後に報告する）、そ
のノブ用に用いる加速（そのノブ用のキー・コード間の
時間を元に用いるマルチプライヤのリスト）、ノブの状
態（最後にシステム・イベントがノブ用に発生されてか
ら、ノブの回転で何個クリックされたか）を含む。
【００４７】（システム・イベント記録：SysEventRe
c）このクラスの各インスタンスは、システム・イベン
トを表す。そのメンバーの１つは、イベントの形式を表
す。これらイベントは、他のものの中から「ボタン下
げ」、「ボタン上げ」、「ボタン保持」、「ボタン繰り
返し」、「ノブ回転」、「ノブ・アイドル」、「波形更
新」などを表しても良い。ボタン又はノブ・イベントの
場合、他のメンバーはどのボタン又はノブが関係するか
を示し、ノブ・イベントの場合、そのノブがどの程度回
転（正が時計回転方向）されたかを示すメンバーが存在
する。
c）このクラスの各インスタンスは、システム・イベン
トを表す。そのメンバーの１つは、イベントの形式を表
す。これらイベントは、他のものの中から「ボタン下
げ」、「ボタン上げ」、「ボタン保持」、「ボタン繰り
返し」、「ノブ回転」、「ノブ・アイドル」、「波形更
新」などを表しても良い。ボタン又はノブ・イベントの
場合、他のメンバーはどのボタン又はノブが関係するか
を示し、ノブ・イベントの場合、そのノブがどの程度回
転（正が時計回転方向）されたかを示すメンバーが存在
する。
【００４８】（システム制御器：SystemController）こ
のクラスの１つのインスタンスは、適切なオブジェクト
にイベントを発送する中央制御器である。これらイベン
トは、最も一般的な正面パネル・イベントであるが、取
り込んだ波形セグメントの処理及び表示の準備ができた
際に、取り込みイベントの如き他の処理から送られた他
のイベントであっても良い。これは、測定モード（Meas
Mode）オブジェクトが１であるシステムにおいて、主要
モードに対するポインタのリストを維持する。
のクラスの１つのインスタンスは、適切なオブジェクト
にイベントを発送する中央制御器である。これらイベン
トは、最も一般的な正面パネル・イベントであるが、取
り込んだ波形セグメントの処理及び表示の準備ができた
際に、取り込みイベントの如き他の処理から送られた他
のイベントであっても良い。これは、測定モード（Meas
Mode）オブジェクトが１であるシステムにおいて、主要
モードに対するポインタのリストを維持する。
【００４９】（測定モード：MeasMode）このクラスの１
つのインスタンスは、ＯＴＤＲソフトウェアの測定サブ
システム用の主制御器である。これは、表示した波形に
対して、表示可能な波形（DisplayableWaveform ）及び
波形表示（WaveformDisplay）オブジェクト対を生成
し、維持する。取り込みが実行されると、現在の波形に
おいて、新たな取り込みデータを蓄積する。これは、サ
ブビュー（SubView ）オブジェクトを生成し、このオブ
ジェクトは、波形を表示すべき表示領域の区域を特定す
る。これは、また、ＯＴＤＲデータ上で実行される測定
の異なる形式の実行及び表示を行うオブジェクトを生成
し、維持する。これは、システム・イベント（SysEvent
Rec ）を生成し、解釈する。このイベントは、SystemCo
ntrollerから渡され、カーソル、ビューポート及び波形
に影響する。
つのインスタンスは、ＯＴＤＲソフトウェアの測定サブ
システム用の主制御器である。これは、表示した波形に
対して、表示可能な波形（DisplayableWaveform ）及び
波形表示（WaveformDisplay）オブジェクト対を生成
し、維持する。取り込みが実行されると、現在の波形に
おいて、新たな取り込みデータを蓄積する。これは、サ
ブビュー（SubView ）オブジェクトを生成し、このオブ
ジェクトは、波形を表示すべき表示領域の区域を特定す
る。これは、また、ＯＴＤＲデータ上で実行される測定
の異なる形式の実行及び表示を行うオブジェクトを生成
し、維持する。これは、システム・イベント（SysEvent
Rec ）を生成し、解釈する。このイベントは、SystemCo
ntrollerから渡され、カーソル、ビューポート及び波形
に影響する。
【００５０】（取り込み処理：AcqProc）このクラスの
１つのインスタンスは、ＯＴＤＲソフトウェアの取り込
みサブシステム用の主制御器である。これは、セグメン
ト化した波形を作る個別のセグメントの取り込み及び分
析を予定する。これは、取り込み転送（TfsAcq）オブジ
ェクトと通信をして、各波形セグメントを取り込む。そ
して、波形セグメント・データを得て、このデータを、
既に取り込まれた前のセグメントにスプライス（つな
ぐ）する。その結果の波形を、現在の測定した波形（Me
asuredWaveform）オブジェクトが指示する波形データ配
列内に配置する。次に、「波形更新」イベントをシステ
ム制御器５０に送り、測定処理（MeasProc）に波形セグ
メント・データを解析し、（必要ならば）次のデータ・
セグメントを取り込むために補正取り込みパラメータを
求めるように指示する。
１つのインスタンスは、ＯＴＤＲソフトウェアの取り込
みサブシステム用の主制御器である。これは、セグメン
ト化した波形を作る個別のセグメントの取り込み及び分
析を予定する。これは、取り込み転送（TfsAcq）オブジ
ェクトと通信をして、各波形セグメントを取り込む。そ
して、波形セグメント・データを得て、このデータを、
既に取り込まれた前のセグメントにスプライス（つな
ぐ）する。その結果の波形を、現在の測定した波形（Me
asuredWaveform）オブジェクトが指示する波形データ配
列内に配置する。次に、「波形更新」イベントをシステ
ム制御器５０に送り、測定処理（MeasProc）に波形セグ
メント・データを解析し、（必要ならば）次のデータ・
セグメントを取り込むために補正取り込みパラメータを
求めるように指示する。
【００５１】（取り込み転送：TfsAcq）このクラスの１
つのインスタンスは、取り込みハードウェアの周囲の包
みのように作用する。データ・セグメント用の要求を受
けると、これは、適切なコマンドをハードウェアに送
る。取り込みが完了すると、データを受け、このデータ
を、測定処理（MeasProc）オブジェクトに含まれる波形
データ・バッファ内に配置する。
つのインスタンスは、取り込みハードウェアの周囲の包
みのように作用する。データ・セグメント用の要求を受
けると、これは、適切なコマンドをハードウェアに送
る。取り込みが完了すると、データを受け、このデータ
を、測定処理（MeasProc）オブジェクトに含まれる波形
データ・バッファ内に配置する。
【００５２】（測定処理：MeasProc）このクラスの１つ
のインスタンスは、波形データ・バッファ内に蓄積され
た取り込み波形データの解析を行う。これは、波形セグ
メント・データ内のイベントを探し、次の波形セグメン
ト取り込みように適切なパラメータを求める。
のインスタンスは、波形データ・バッファ内に蓄積され
た取り込み波形データの解析を行う。これは、波形セグ
メント・データ内のイベントを探し、次の波形セグメン
ト取り込みように適切なパラメータを求める。
【００５３】（表示可能な波形：DisplayableWavefor
m）このクラスの１つのインスタンスは、表示された波
形を表す。各インスタンスは、２つの測定した波形（Me
asuredWaveform）オブジェクトを含んでおり、一方が通
常密度のデータであり、他方が高密度データである。こ
れは、また、４つのビューポート(ViewPort ）を含んで
おり、１つがクリッピング・ビューポート１２２用であ
り、１つが概観ビューポート１２４用であり、１つが拡
大ビューポート１２６用であり、１つが高密度データを
見るとき、通常密度拡大のトラックを維持する（これ
は、高密度データ上のカーソルと、通常密度データ上の
カーソルとの間で選択する際に必要となる）。このオブ
ジェクトは、そのメンバーのビヘイビアを調整する責任
がある。例えば、アクティブ・カーソルを表示領域９２
の外になるようにスクロールすれば、アクティブ・カー
ソルを再び含むようにアクティブ・ビューポートを移動
させなければならず、拡大が通常密度データの限界に達
すれば、（もし可能ならば）高密度データを表示する必
要があるということが判る。波形セグメントの取り込み
及び表示期間中は、高密度データがアクティブでない。
m）このクラスの１つのインスタンスは、表示された波
形を表す。各インスタンスは、２つの測定した波形（Me
asuredWaveform）オブジェクトを含んでおり、一方が通
常密度のデータであり、他方が高密度データである。こ
れは、また、４つのビューポート(ViewPort ）を含んで
おり、１つがクリッピング・ビューポート１２２用であ
り、１つが概観ビューポート１２４用であり、１つが拡
大ビューポート１２６用であり、１つが高密度データを
見るとき、通常密度拡大のトラックを維持する（これ
は、高密度データ上のカーソルと、通常密度データ上の
カーソルとの間で選択する際に必要となる）。このオブ
ジェクトは、そのメンバーのビヘイビアを調整する責任
がある。例えば、アクティブ・カーソルを表示領域９２
の外になるようにスクロールすれば、アクティブ・カー
ソルを再び含むようにアクティブ・ビューポートを移動
させなければならず、拡大が通常密度データの限界に達
すれば、（もし可能ならば）高密度データを表示する必
要があるということが判る。波形セグメントの取り込み
及び表示期間中は、高密度データがアクティブでない。
【００５４】（測定した波形：MeasuredWaveform）ＯＴ
ＤＲに蓄積された各波形セグメントに対して、このクラ
スのインスタンスがある。これは、波形スケール情報と
共に、そのデータを取り込むのに用いた取り込みに関す
る情報（パルス幅設定、サンプル間隔等）を蓄積する。
このスケールは、ワールド座標における波形水平位置を
示す。その情報は、波形データの配列の大きさと、各波
形セグメント内の第１データ点の距離である波形データ
（WFM_X_UNITS （波形のＸ軸単位）の数として蓄積され
た）の配列内の各セグメント用の開始距離を含んだセグ
メント表と、各セグメント用のWFM_X_UNITS におけるス
ケールとを具えている。各セグメント用のWFM_X_UNITS
におけるスケールは、各波形セグメント用のサンプル間
隔と、各セグメント用の波形データの配列へのインデッ
クスとを表す。これは、セグメント用の開始インデック
スを表す。波形セグメントにとって、そのオフセット
は、種々の波形セグメントの開始距離を表し、そのスケ
ールは、種々の波形セグメントのサンプル間隔を表す。
各データ・サンプルは、各波形サンプルは、WFM_Y_UNIT
S（波形のＹ軸単位）における振幅を表す。好適な実施
例において、WFM_X_UNITS は、ワールド座標で０．５ｍ
ｍであり、ＯＴＤＲ用に可能な最小距離分解能を表す。
WFM_Y_UNITS は、ワールド座標におけるＯＴＤＲに可能
な最小振幅分解能を表し、取り込みハードウェアの出力
を基本にしている。好適な実施例において、１ｄＢ当た
り約５７３WFM_Y_UNITS である。
ＤＲに蓄積された各波形セグメントに対して、このクラ
スのインスタンスがある。これは、波形スケール情報と
共に、そのデータを取り込むのに用いた取り込みに関す
る情報（パルス幅設定、サンプル間隔等）を蓄積する。
このスケールは、ワールド座標における波形水平位置を
示す。その情報は、波形データの配列の大きさと、各波
形セグメント内の第１データ点の距離である波形データ
（WFM_X_UNITS （波形のＸ軸単位）の数として蓄積され
た）の配列内の各セグメント用の開始距離を含んだセグ
メント表と、各セグメント用のWFM_X_UNITS におけるス
ケールとを具えている。各セグメント用のWFM_X_UNITS
におけるスケールは、各波形セグメント用のサンプル間
隔と、各セグメント用の波形データの配列へのインデッ
クスとを表す。これは、セグメント用の開始インデック
スを表す。波形セグメントにとって、そのオフセット
は、種々の波形セグメントの開始距離を表し、そのスケ
ールは、種々の波形セグメントのサンプル間隔を表す。
各データ・サンプルは、各波形サンプルは、WFM_Y_UNIT
S（波形のＹ軸単位）における振幅を表す。好適な実施
例において、WFM_X_UNITS は、ワールド座標で０．５ｍ
ｍであり、ＯＴＤＲ用に可能な最小距離分解能を表す。
WFM_Y_UNITS は、ワールド座標におけるＯＴＤＲに可能
な最小振幅分解能を表し、取り込みハードウェアの出力
を基本にしている。好適な実施例において、１ｄＢ当た
り約５７３WFM_Y_UNITS である。
【００５５】（ビューポート：ViewPort）このクラスの
各インスタンスは、ワールド座標において領域を表す。
最小及び最大距離（左及び右境界）をWFM_X_UNITS によ
り蓄積し、最小及び最大振幅（上及び下境界）をWFM_Y_
UNITS により蓄積する。このオブジェクトは、所定振幅
又は距離の垂直又は水平付近でビューポートを中心とし
たり、ビューポートが定義した領域内の相対位置を所定
振幅又は距離が維持するようにビューポートの高さ又は
幅を変化したり（例えば、その開始から所定距離が左端
から同じ２７％で終わるように最小及び最大距離を調整
して、幅を拡大する）、所定振幅又は距離がビューポー
トの境界内に入るように、垂直又は水平方向にビューポ
ートを充分にシフトするなどのビヘイビアを定義するメ
ンバー機能を有する。
各インスタンスは、ワールド座標において領域を表す。
最小及び最大距離（左及び右境界）をWFM_X_UNITS によ
り蓄積し、最小及び最大振幅（上及び下境界）をWFM_Y_
UNITS により蓄積する。このオブジェクトは、所定振幅
又は距離の垂直又は水平付近でビューポートを中心とし
たり、ビューポートが定義した領域内の相対位置を所定
振幅又は距離が維持するようにビューポートの高さ又は
幅を変化したり（例えば、その開始から所定距離が左端
から同じ２７％で終わるように最小及び最大距離を調整
して、幅を拡大する）、所定振幅又は距離がビューポー
トの境界内に入るように、垂直又は水平方向にビューポ
ートを充分にシフトするなどのビヘイビアを定義するメ
ンバー機能を有する。
【００５６】（カーソル・モデル：CursorModel）この
クラスの各員スタンスは、表示上に見えるカーソルの１
つを表す。このカーソルは、距離メンバーを用いて、
（WFM_X_UNITS における）距離を表す。ここでは、カー
ソルは、水平次元に横たわり、振幅メンバーは、（波形
データ・セットにおける振幅の繰り返し調査を避けるた
めに）カーソルの距離における（WFM_Y_UNITS での）波
形の振幅を表す。
クラスの各員スタンスは、表示上に見えるカーソルの１
つを表す。このカーソルは、距離メンバーを用いて、
（WFM_X_UNITS における）距離を表す。ここでは、カー
ソルは、水平次元に横たわり、振幅メンバーは、（波形
データ・セットにおける振幅の繰り返し調査を避けるた
めに）カーソルの距離における（WFM_Y_UNITS での）波
形の振幅を表す。
【００５７】（サブビュー：SubView）このクラスの各
インスタンスは、表示オブジェクトのリストを維持す
る。この表示オブジェクトは、グループとして一緒に表
示され、オーナ表示（DpyOwner）オブジェクトを用いて
オブジェクトのグループを表示する領域を定義する。
インスタンスは、表示オブジェクトのリストを維持す
る。この表示オブジェクトは、グループとして一緒に表
示され、オーナ表示（DpyOwner）オブジェクトを用いて
オブジェクトのグループを表示する領域を定義する。
【００５８】（波形表示：WaveformDisplay）このクラ
スのインデックスは、現在の波形に対して存在する。こ
れは、波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）、２つのカ
ーソルオブジェクト表示（DpyCursorsObjs）（夫々が各
カーソル）及び拡大ウインドウ・オブジェクト表示（Dp
yExpWindObj ）を維持する。これらは、波形を表示する
際に用いる表示オブジェクトの表現である。変化が、そ
の相手である表示可能波形（DisplayableWaveform ）オ
ブジェクト（又はそのメンバー）内に生じ、そのメンバ
ーのオブジェクトを表示可能波形（DisplayableWavefor
m ）オブジェクトのものと更新するときが通告される。
スのインデックスは、現在の波形に対して存在する。こ
れは、波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）、２つのカ
ーソルオブジェクト表示（DpyCursorsObjs）（夫々が各
カーソル）及び拡大ウインドウ・オブジェクト表示（Dp
yExpWindObj ）を維持する。これらは、波形を表示する
際に用いる表示オブジェクトの表現である。変化が、そ
の相手である表示可能波形（DisplayableWaveform ）オ
ブジェクト（又はそのメンバー）内に生じ、そのメンバ
ーのオブジェクトを表示可能波形（DisplayableWavefor
m ）オブジェクトのものと更新するときが通告される。
【００５９】（カーソルオブジェクト表示：DpyCursorO
bj）このクラスの各インスタンスは、表示領域９２内の
カーソルを表す。そのメンバーの１つは、カーソルが表
示される波形オブジェクト表示を指示する。その位置
は、波形上にデータ点インデックスとして与えて特定す
る（表示を、オブジェクトに関連した波形を表示する処
理におけるデータ点及びピクセル間にマッピングす
る）。
bj）このクラスの各インスタンスは、表示領域９２内の
カーソルを表す。そのメンバーの１つは、カーソルが表
示される波形オブジェクト表示を指示する。その位置
は、波形上にデータ点インデックスとして与えて特定す
る（表示を、オブジェクトに関連した波形を表示する処
理におけるデータ点及びピクセル間にマッピングす
る）。
【００６０】（波形オブジェクト表示：DpyWfrmObj）こ
のクラスの各インスタンスは、波形データ・セットを表
す。このオブジェクトは、測定波形（MeasuredWavefor
m）オブジェクトと異なっており、測定波形オブジェク
ト内に蓄積された測定及び取り込み情報のいくかを含ん
でいないが、測定波形オブジェクトのデータ配列を指示
するポインタを含んでいる。波形オブジェクト表示（Dp
yWfrmObj）も、表示処理が用いる付加的なスケール情報
を含んでおり、波形オブジェクトのどの部分を表示器６
０内の表示領域９２内の波形領域に表示するかを決め
る。このオブジェクトの各インスタンスは、左上角の位
置としてサブビュー（SubView ）内のどこにオブジェク
トを表示すべきかを特定するメンバーと、サブビュー(S
ubView）の左上角の位置に対する（ピクセルによる）幅
及び高さを特定するメンバーとを含んでいる。次に、波
形オブジェクト境界の右及び左端に対応する（又は一列
に並ぶ）（WFM_X_UNITS における）距離を特定するメン
バーにより、波形のスケールを決める。データ設定値を
アクセス及び表示するのにリーガル（適合する）インデ
ックスのみを用いるように、他のメンバーはデータのサ
イズを蓄積する。波形オブジェクト境界の上及び下に対
応する（WFM_Y_UNITS における）振幅を特定するメンバ
ーにより、垂直寸法も同様にスケール調整する。
のクラスの各インスタンスは、波形データ・セットを表
す。このオブジェクトは、測定波形（MeasuredWavefor
m）オブジェクトと異なっており、測定波形オブジェク
ト内に蓄積された測定及び取り込み情報のいくかを含ん
でいないが、測定波形オブジェクトのデータ配列を指示
するポインタを含んでいる。波形オブジェクト表示（Dp
yWfrmObj）も、表示処理が用いる付加的なスケール情報
を含んでおり、波形オブジェクトのどの部分を表示器６
０内の表示領域９２内の波形領域に表示するかを決め
る。このオブジェクトの各インスタンスは、左上角の位
置としてサブビュー（SubView ）内のどこにオブジェク
トを表示すべきかを特定するメンバーと、サブビュー(S
ubView）の左上角の位置に対する（ピクセルによる）幅
及び高さを特定するメンバーとを含んでいる。次に、波
形オブジェクト境界の右及び左端に対応する（又は一列
に並ぶ）（WFM_X_UNITS における）距離を特定するメン
バーにより、波形のスケールを決める。データ設定値を
アクセス及び表示するのにリーガル（適合する）インデ
ックスのみを用いるように、他のメンバーはデータのサ
イズを蓄積する。波形オブジェクト境界の上及び下に対
応する（WFM_Y_UNITS における）振幅を特定するメンバ
ーにより、垂直寸法も同様にスケール調整する。
【００６１】（拡大ウインドウオブジェクト表示：DpyE
xpWindObj）このクラスの各インスタンスは、表示にお
ける拡大ウインドウ１１０を表す。このオブジェクト
は、ビューポート（ViewPort）オブジェクトと異なり、
メモリ内に蓄積され、その境界情報を表示処理が解釈で
きる形式で保持する。そのメンバーの１つは、そこに表
示すべき波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）を指示す
る。他のメンバーは、波形上のどこに中央点を配置する
か（WFM_Ｙ_UNITS におけるデータ点インデックス及び
振幅）、（データ点及びWFM_Ｙ_UNITS における）その
幅及び高さを特定する。
xpWindObj）このクラスの各インスタンスは、表示にお
ける拡大ウインドウ１１０を表す。このオブジェクト
は、ビューポート（ViewPort）オブジェクトと異なり、
メモリ内に蓄積され、その境界情報を表示処理が解釈で
きる形式で保持する。そのメンバーの１つは、そこに表
示すべき波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）を指示す
る。他のメンバーは、波形上のどこに中央点を配置する
か（WFM_Ｙ_UNITS におけるデータ点インデックス及び
振幅）、（データ点及びWFM_Ｙ_UNITS における）その
幅及び高さを特定する。
【００６２】（オーナ表示：DpyOwner）このクラスの各
インスタンスは、ポインタのリストを維持し、グループ
として一緒に表示されるオブジェクトを表示する。DpyO
wner内の表示オブジェクトは、DpyOwnerに関連した位置
を特定する。さらに、このDpyOwnerを用いて、グループ
内の総てに共通のビヘイビア（例えば、色）を特定でき
る。
インスタンスは、ポインタのリストを維持し、グループ
として一緒に表示されるオブジェクトを表示する。DpyO
wner内の表示オブジェクトは、DpyOwnerに関連した位置
を特定する。さらに、このDpyOwnerを用いて、グループ
内の総てに共通のビヘイビア（例えば、色）を特定でき
る。
【００６３】（リスト表示：DpyList）このクラスの１
つのインスタンスは、ＯＴＤＲ内の総ての可視オーナ表
示（DpyOwner）オブジェクトを指示するポインタのリス
トを維持するので、総ての可視表示オブジェクト（DpyO
wnerに属すべき各表示オブジェクトなど）を指示でき
る。表示コマンドが発行されたときには、このリストを
表示処理に渡す。全リストが表示されていないこれらイ
ンスタンスにおいて、このリストを用いて重なったオブ
ジェクトをチェックする。このリストのメンバーをその
優先度に応じて蓄積する（表示処理は、順番にそのメン
バーを表示するので、低い優先度のオブジェクトが最初
にリストされる）。
つのインスタンスは、ＯＴＤＲ内の総ての可視オーナ表
示（DpyOwner）オブジェクトを指示するポインタのリス
トを維持するので、総ての可視表示オブジェクト（DpyO
wnerに属すべき各表示オブジェクトなど）を指示でき
る。表示コマンドが発行されたときには、このリストを
表示処理に渡す。全リストが表示されていないこれらイ
ンスタンスにおいて、このリストを用いて重なったオブ
ジェクトをチェックする。このリストのメンバーをその
優先度に応じて蓄積する（表示処理は、順番にそのメン
バーを表示するので、低い優先度のオブジェクトが最初
にリストされる）。
【００６４】（グレイシデバイス：GracieDev）このク
ラスの１つのインスタンスは、測定機器制御器５０の表
示処理を表す。測定機器制御器５０は、このオブジェク
トを描画する要求や、表示オブジェクトを消去する要求
をする。つぎに、このオブジェクトは、メイルマン（Ma
ilman ）オブジェクト及びメイルメッセージ（MailMess
age ）オブジェクトを用いて、この要求を実行する。
ラスの１つのインスタンスは、測定機器制御器５０の表
示処理を表す。測定機器制御器５０は、このオブジェク
トを描画する要求や、表示オブジェクトを消去する要求
をする。つぎに、このオブジェクトは、メイルマン（Ma
ilman ）オブジェクト及びメイルメッセージ（MailMess
age ）オブジェクトを用いて、この要求を実行する。
【００６５】（メイルマン：Mailman）このクラスの１
つのインスタンスは、システム制御処理及び表示処理の
間の低レベルの通信を扱う。これは、表示コマンドが発
行されると、信号を表示処理に送り、表示処理が要求さ
れた表示コマンドを終了すると、表示処理割り込みに応
答する。
つのインスタンスは、システム制御処理及び表示処理の
間の低レベルの通信を扱う。これは、表示コマンドが発
行されると、信号を表示処理に送り、表示処理が要求さ
れた表示コマンドを終了すると、表示処理割り込みに応
答する。
【００６６】（メイルメッセージ：MailMessage）この
クラスのインスタンスを用いて、表示コマンドを表示処
理に渡す。２つの特別なインスタンス（インボックス及
びアウトボックス）があり、測定機器処理及び表示処理
間の通信を扱う。このオブジェクトのメンバーを用い
て、リスト表示（DpyList ）、即ち、実行すべき表示コ
マンドの形式（例えば、描画、消去又は他の特殊形式）
と、表示動作を実行するオブジェクト（全表示リストが
描画されない場合）とを特定する。他の状態情報及び表
示コマンドの結果を、このオブジェクト内に蓄積する。
クラスのインスタンスを用いて、表示コマンドを表示処
理に渡す。２つの特別なインスタンス（インボックス及
びアウトボックス）があり、測定機器処理及び表示処理
間の通信を扱う。このオブジェクトのメンバーを用い
て、リスト表示（DpyList ）、即ち、実行すべき表示コ
マンドの形式（例えば、描画、消去又は他の特殊形式）
と、表示動作を実行するオブジェクト（全表示リストが
描画されない場合）とを特定する。他の状態情報及び表
示コマンドの結果を、このオブジェクト内に蓄積する。
【００６７】［オブジェクト通信］図８は、ハードウェ
ア要素と、オブジェクト間通信との関係を表す。矢印を
有する実線で囲んだ部分が、オブジェクト間又はオブジ
ェクト及び表示処理間でやり取りされる情報を表し、オ
ブジェクト間の矢印が、タスクを実行するように要求す
るあるオブジェクトから別のオブジェクトへのメッセー
ジを表す。上述のオブジェクトのビヘイビアと、図９〜
２６に関連したオブジェクト間の通信の説明とに関連し
たこの図８は、本発明により表示器上の波形トレースと
して少なくとも２つの波形セグメントを有する波形デー
タを表示する方法を実現する。
ア要素と、オブジェクト間通信との関係を表す。矢印を
有する実線で囲んだ部分が、オブジェクト間又はオブジ
ェクト及び表示処理間でやり取りされる情報を表し、オ
ブジェクト間の矢印が、タスクを実行するように要求す
るあるオブジェクトから別のオブジェクトへのメッセー
ジを表す。上述のオブジェクトのビヘイビアと、図９〜
２６に関連したオブジェクト間の通信の説明とに関連し
たこの図８は、本発明により表示器上の波形トレースと
して少なくとも２つの波形セグメントを有する波形デー
タを表示する方法を実現する。
【００６８】図９に示すイベントのシーケンスは、イベ
ント処理（EvtProc ）の処理オブジェクトの関係におい
て生じる。getType() （形式を得る）ルーチン、getKno
bNum()（ノブの番号を得る）ルーチン、getCount()（計
数を得る）ルーチン、getButtonNum()（ボタン番号を得
る）ルーチンをEvtProc が確立したメモリ位置から読み
出し、適切な状態情報に戻す。正面パネル（FrontPane
l）ルーチンであるdoKobTurn() （ノブの回転）が、正
面パネルからの新たなデルタ（差）値に応じて、適切な
Knob（ノブ）オブジェクトのノブ計数を更新する。ノブ
のsetDelta()（デルタの設定）ルーチンは、そのイベン
トの時間を記録する。このルーチン及びdoButtonDown()
（ボタンを下にする）ルーチンは、正面パネル・インタ
フェース・バッファ（FPIntrBuffer）オブジェクト内の
イベントの発生をキュー・アップし（待ち行列に入
れ）、信号をシステム制御器（SystemController）オブ
ジェクトに送って、そのrun() （実行）ループが待ちを
止めるようにする。別個の処理を表すシステム制御器
は、未決定のイベントがあるかを判断するために、正面
パネル・オブジェクトに戻ってチェックを行って、信号
に応答する。
ント処理（EvtProc ）の処理オブジェクトの関係におい
て生じる。getType() （形式を得る）ルーチン、getKno
bNum()（ノブの番号を得る）ルーチン、getCount()（計
数を得る）ルーチン、getButtonNum()（ボタン番号を得
る）ルーチンをEvtProc が確立したメモリ位置から読み
出し、適切な状態情報に戻す。正面パネル（FrontPane
l）ルーチンであるdoKobTurn() （ノブの回転）が、正
面パネルからの新たなデルタ（差）値に応じて、適切な
Knob（ノブ）オブジェクトのノブ計数を更新する。ノブ
のsetDelta()（デルタの設定）ルーチンは、そのイベン
トの時間を記録する。このルーチン及びdoButtonDown()
（ボタンを下にする）ルーチンは、正面パネル・インタ
フェース・バッファ（FPIntrBuffer）オブジェクト内の
イベントの発生をキュー・アップし（待ち行列に入
れ）、信号をシステム制御器（SystemController）オブ
ジェクトに送って、そのrun() （実行）ループが待ちを
止めるようにする。別個の処理を表すシステム制御器
は、未決定のイベントがあるかを判断するために、正面
パネル・オブジェクトに戻ってチェックを行って、信号
に応答する。
【００６９】図１０並びに更新及び表示処理に関連した
図１１以後の図に、イベントのシーケンスを示す。この
処理は、システム制御器処理の関係において発生する。
連続的に実行するか、正面パネルからの信号に応答する
通常処理ループの一部として、正面パネル（FrontPane
l）オブジェクトをイベントに対して極性判断する。FPI
ntrBuffer内にイベントが存在すれば、それを除去し、
戻す。そのイベントが存在しなければ、割り込みが発生
することなくノブ又はボタンの１つがその状態を変化さ
せたと判断されると、イベントが発生する。これは、時
間経過により生じるノブ・アイドル、ボタン保持の如き
イベントに対して生じる。その形式（type）に応じて、
適切なノブ又はボタンのオブジェクトに対する要求をし
て、正面パネル・イベント用にシステム・イベント記録
（SyseventRec ）を発生する。ボタン・イベントの場
合、先ず、ボタンにその状態を更新するように伝える
が、任意のイベントの時間を記録することも含んでい
る。各ボタン・オブジェクトは、ソフトウェアにてそれ
自体の状態を維持する。次に、システム制御器は、イベ
ントを測定モード（MeasMode）オブジェクトに渡し、こ
れがＯＴＤＲにて利用可能ないくつかのモードの内の１
つである。図８に示すように、測定モード・オブジェク
トに渡されたシステム・イベントは、開始／停止ボタン
又は表示器６０の表示領域９２の更新に応答して、波形
セグメントの取り込みを始める。測定モードは、取り込
み処理（AcqProc ）と通信をして、セグメント化した波
形を作る個別のセグメントの取り込み及び分析するスケ
ジュールを作る。これは、取り込み転送（TfsAcq）オブ
ジェクトと通信をして、各波形セグメントを取り込む。
これは、波形セグメント・データを得て、このデータ
を、取り込まれた任意の前のセグメントにつなぎ、現在
の測定波形（MeasuredWaveform）オブジェクトが指示す
る波形データ配列内にその結果の波形を配置する。つぎ
に、波形更新イベントをシステム関５０に送り、測定処
理（MeasProc）オブジェクトに指示して、波形セグメン
ト・データを分析し、（必要ならば）次のデータ・セグ
メントを取り込むために、正確な取り込みパラメータを
決める。取り込み転送（TfsAcq）は、データ・セグメン
トのAcqProc 用の要求を受けると、適切なコマンドをハ
ードウェアに送る。この取り込みが完了すると、データ
を受け、このデータを測定処理（MeasProc）オブジェク
ト内に含まれた波形データ・バッファに配置する。測定
処理（MeasProc）は、その波形データ・バッファ内に蓄
積された取り込み波形データの分析を実行する。また、
波形セグメント・データ内のイベントを探して、次の波
形セグメント取り込みように適切なパラメータを決め
る。
図１１以後の図に、イベントのシーケンスを示す。この
処理は、システム制御器処理の関係において発生する。
連続的に実行するか、正面パネルからの信号に応答する
通常処理ループの一部として、正面パネル（FrontPane
l）オブジェクトをイベントに対して極性判断する。FPI
ntrBuffer内にイベントが存在すれば、それを除去し、
戻す。そのイベントが存在しなければ、割り込みが発生
することなくノブ又はボタンの１つがその状態を変化さ
せたと判断されると、イベントが発生する。これは、時
間経過により生じるノブ・アイドル、ボタン保持の如き
イベントに対して生じる。その形式（type）に応じて、
適切なノブ又はボタンのオブジェクトに対する要求をし
て、正面パネル・イベント用にシステム・イベント記録
（SyseventRec ）を発生する。ボタン・イベントの場
合、先ず、ボタンにその状態を更新するように伝える
が、任意のイベントの時間を記録することも含んでい
る。各ボタン・オブジェクトは、ソフトウェアにてそれ
自体の状態を維持する。次に、システム制御器は、イベ
ントを測定モード（MeasMode）オブジェクトに渡し、こ
れがＯＴＤＲにて利用可能ないくつかのモードの内の１
つである。図８に示すように、測定モード・オブジェク
トに渡されたシステム・イベントは、開始／停止ボタン
又は表示器６０の表示領域９２の更新に応答して、波形
セグメントの取り込みを始める。測定モードは、取り込
み処理（AcqProc ）と通信をして、セグメント化した波
形を作る個別のセグメントの取り込み及び分析するスケ
ジュールを作る。これは、取り込み転送（TfsAcq）オブ
ジェクトと通信をして、各波形セグメントを取り込む。
これは、波形セグメント・データを得て、このデータ
を、取り込まれた任意の前のセグメントにつなぎ、現在
の測定波形（MeasuredWaveform）オブジェクトが指示す
る波形データ配列内にその結果の波形を配置する。つぎ
に、波形更新イベントをシステム関５０に送り、測定処
理（MeasProc）オブジェクトに指示して、波形セグメン
ト・データを分析し、（必要ならば）次のデータ・セグ
メントを取り込むために、正確な取り込みパラメータを
決める。取り込み転送（TfsAcq）は、データ・セグメン
トのAcqProc 用の要求を受けると、適切なコマンドをハ
ードウェアに送る。この取り込みが完了すると、データ
を受け、このデータを測定処理（MeasProc）オブジェク
ト内に含まれた波形データ・バッファに配置する。測定
処理（MeasProc）は、その波形データ・バッファ内に蓄
積された取り込み波形データの分析を実行する。また、
波形セグメント・データ内のイベントを探して、次の波
形セグメント取り込みように適切なパラメータを決め
る。
【００７０】図１１及び図１２は、システム・イベント
に対する測定モード（MeasMode）のシーケンスを示し、
ボタン又はノブの１つがアクティブにされると、それに
応答して識別を行う。これらボタン及びノブの応答の影
響により、アクティブ波形をどのように監視するかを示
す。ソフトキー８２には、カーソル選択及び拡大があ
り、矢印ボタン８６〜８９には、カーソル制御、水平ウ
インドウ・サイズ、垂直ウインドウ・サイズ、波形垂直
位置及び波形水平位置がある。
に対する測定モード（MeasMode）のシーケンスを示し、
ボタン又はノブの１つがアクティブにされると、それに
応答して識別を行う。これらボタン及びノブの応答の影
響により、アクティブ波形をどのように監視するかを示
す。ソフトキー８２には、カーソル選択及び拡大があ
り、矢印ボタン８６〜８９には、カーソル制御、水平ウ
インドウ・サイズ、垂直ウインドウ・サイズ、波形垂直
位置及び波形水平位置がある。
【００７１】図１３及び図１４は、矢印ボタン又はノブ
から受けた計数をピクセル単位の変化としてどのように
解釈するかを示す。限界をチェックして、少ない数のク
リックにより、少なくとも１ピクセルが移動し、ノブの
加速により、操作するオブジェクトの一部に見苦しいジ
ャンプが生じないことを確実にする。アクティブなビュ
ーポート（ViewPort）オブジェクトのWFM_X_UNITS にお
ける現在の幅を波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）の
幅と比較して、水平方向における変換を行い、波形が表
示される表示領域のピクセルの幅を定義する。どのビュ
ーポート（ViewPort）オブジェクトがアクティブかは、
測定機器の状態、即ち、表示領域９２内の拡大ビューポ
ート又は外観ビューポート等により決まる。同様に、ア
クティブなビューポート（ViewPort）オブジェクトのWF
M_Y_UNITS における現在の高さを波形オブジェクト表示
（DpyWfrmObj）の高さと比較して、垂直方向における変
換を行い、波形が表示される表示領域のピクセルの高さ
を定義する。
から受けた計数をピクセル単位の変化としてどのように
解釈するかを示す。限界をチェックして、少ない数のク
リックにより、少なくとも１ピクセルが移動し、ノブの
加速により、操作するオブジェクトの一部に見苦しいジ
ャンプが生じないことを確実にする。アクティブなビュ
ーポート（ViewPort）オブジェクトのWFM_X_UNITS にお
ける現在の幅を波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）の
幅と比較して、水平方向における変換を行い、波形が表
示される表示領域のピクセルの幅を定義する。どのビュ
ーポート（ViewPort）オブジェクトがアクティブかは、
測定機器の状態、即ち、表示領域９２内の拡大ビューポ
ート又は外観ビューポート等により決まる。同様に、ア
クティブなビューポート（ViewPort）オブジェクトのWF
M_Y_UNITS における現在の高さを波形オブジェクト表示
（DpyWfrmObj）の高さと比較して、垂直方向における変
換を行い、波形が表示される表示領域のピクセルの高さ
を定義する。
【００７２】図１５〜図１８において、正面パネル・イ
ベントが直接影響するオブジェクトを、そのイベントに
応じて更新する。例えば、アクティブなカーソルモデル
（CursorModel ）距離をカーソル・ノブ・イベントに応
答して変化させる。この変化をマークするので、図２０
及び図２１に示すように、カーソルがその縁を越えて移
動するか、表示を更新すると、後の処理が、アクティブ
なビューポート（Viewport）オブジェクトを移動するよ
うに、適切な応答を変化できる。図１６及び図１７にお
いて、アクティブなビューポート（Viewport）の中央距
離及び中央振幅を波形水平及び垂直位置ノブ・イベント
に応答して夫々変化させる。夫々の変化をマークして、
後の処理がこれら変化に対する適切な応答をできる。図
１８及び図１９において、拡大ビューポート（Viewpor
t）の幅及び高さを、水平及び垂直ウィンドウ・サイズ
・ノブ・イベントに応答して変化させる。再び、これら
変化をマークするので、後の処理が、これら変化に対し
て適切な応答にできる。
ベントが直接影響するオブジェクトを、そのイベントに
応じて更新する。例えば、アクティブなカーソルモデル
（CursorModel ）距離をカーソル・ノブ・イベントに応
答して変化させる。この変化をマークするので、図２０
及び図２１に示すように、カーソルがその縁を越えて移
動するか、表示を更新すると、後の処理が、アクティブ
なビューポート（Viewport）オブジェクトを移動するよ
うに、適切な応答を変化できる。図１６及び図１７にお
いて、アクティブなビューポート（Viewport）の中央距
離及び中央振幅を波形水平及び垂直位置ノブ・イベント
に応答して夫々変化させる。夫々の変化をマークして、
後の処理がこれら変化に対する適切な応答をできる。図
１８及び図１９において、拡大ビューポート（Viewpor
t）の幅及び高さを、水平及び垂直ウィンドウ・サイズ
・ノブ・イベントに応答して変化させる。再び、これら
変化をマークするので、後の処理が、これら変化に対し
て適切な応答にできる。
【００７３】正面パネル・イベントに応答してオブジェ
クトが変化した後、そのコンパニオン・オブジェクトに
対する可能な２次影響用に、その変化をチェックする。
これを図２０に示す。これは、移動する又は非アクティ
ブ・カーソルに切り替えられたアクティブ・カーソルの
応答を示し、アクティブなビューポートを水平に移動さ
せる。または、拡大モードならば、その幅が変化し、拡
大が概観及び拡大モードで切り替わる。
クトが変化した後、そのコンパニオン・オブジェクトに
対する可能な２次影響用に、その変化をチェックする。
これを図２０に示す。これは、移動する又は非アクティ
ブ・カーソルに切り替えられたアクティブ・カーソルの
応答を示し、アクティブなビューポートを水平に移動さ
せる。または、拡大モードならば、その幅が変化し、拡
大が概観及び拡大モードで切り替わる。
【００７４】図２１は、波形表示（WaveformDisplay）
オブジェクト、オブジェクト表示（DpyOjs ）の分けら
れたメモリ・オブジェクト・メンバーを、表示可能波形
（DisplayableWaveform ）オブジェクトに行った変化に
応じてどのように更新するかを示す。これら表示オブジ
ェクトの座標空間は、その垂直次元用の同じワールド座
標を用いるが、水平次元用には波形インデックスを用い
る。カーソルは、常に、波形サブビュー（SubView ）の
底から頂部付近へ延びる固定長であるので、カーソルの
振幅を設定する必要がない。
オブジェクト、オブジェクト表示（DpyOjs ）の分けら
れたメモリ・オブジェクト・メンバーを、表示可能波形
（DisplayableWaveform ）オブジェクトに行った変化に
応じてどのように更新するかを示す。これら表示オブジ
ェクトの座標空間は、その垂直次元用の同じワールド座
標を用いるが、水平次元用には波形インデックスを用い
る。カーソルは、常に、波形サブビュー（SubView ）の
底から頂部付近へ延びる固定長であるので、カーソルの
振幅を設定する必要がない。
【００７５】図２２は、オブジェクト通信を示し、その
結果は、表示処理に送るべき表示コマンドになる。取り
込み処理（AcqProc ）は、要求（波形更新）をシステム
制御器（SystemController）に送って、波形データ点の
配列における現在の波形取り込みから取り込んだデータ
点の蓄積が完了すると、表示領域を更新する。このシス
テム制御器（SystemController）は、システム・イベン
ト（SYS_EVENT ）を測定モード（MeasMode）に送って、
イベント（波形更新）を行う。測定モード（MeasMode）
は、変化が生じ、波形表示（WaveformDisplay ）オブジ
ェクトを更新する必要があることを表示可能波形（Disp
layableWaveform ）に伝える。このコマンドは、単一オ
ブジェクト、（サブビューSubView 内の）オーナ表示
（DpyOwner）リスト内の総てのオブジェクト、又は（リ
スト表示DpyList 内の）システム内の総てのオブジェク
トの描画又は消去を表しても良い。コマンドの形式は、
メイルマン（MailMan ）のsend()ルーチンをいかに呼び
出すかで決まる。この場合、これは、波形サブビュー
（SubView ）オブジェクトに更新するように伝えた結果
であり、オーナ表示（DpyOwner）内のオブジェクトのリ
ストを描画するコマンドである（これは、波形、拡大ウ
ィンドウ及び距離カーソルを含んでいる）。
結果は、表示処理に送るべき表示コマンドになる。取り
込み処理（AcqProc ）は、要求（波形更新）をシステム
制御器（SystemController）に送って、波形データ点の
配列における現在の波形取り込みから取り込んだデータ
点の蓄積が完了すると、表示領域を更新する。このシス
テム制御器（SystemController）は、システム・イベン
ト（SYS_EVENT ）を測定モード（MeasMode）に送って、
イベント（波形更新）を行う。測定モード（MeasMode）
は、変化が生じ、波形表示（WaveformDisplay ）オブジ
ェクトを更新する必要があることを表示可能波形（Disp
layableWaveform ）に伝える。このコマンドは、単一オ
ブジェクト、（サブビューSubView 内の）オーナ表示
（DpyOwner）リスト内の総てのオブジェクト、又は（リ
スト表示DpyList 内の）システム内の総てのオブジェク
トの描画又は消去を表しても良い。コマンドの形式は、
メイルマン（MailMan ）のsend()ルーチンをいかに呼び
出すかで決まる。この場合、これは、波形サブビュー
（SubView ）オブジェクトに更新するように伝えた結果
であり、オーナ表示（DpyOwner）内のオブジェクトのリ
ストを描画するコマンドである（これは、波形、拡大ウ
ィンドウ及び距離カーソルを含んでいる）。
【００７６】ビューポート（ViewPort）オブジェクト
が、移動又は切り替わるカーソルに応答するのを図２３
に示し、図２４がビューポート（ViewPort）オブジェク
トにおける変化の効果を示す。波形が拡大モード又は概
観モードにおいて見えるかにより、異なるアクションを
行う。図２４は、視覚高密度又は通常密度データの間で
いかに切り替えるかを示す。波形表示更新（WaveformDi
splay update()）ルーチン（図２１）を呼び出すと、ア
クティブな測定波形（MeasuredWaveform）オブジェクト
内で、波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）を点対デー
タに設定する。波形を高密度データを見えるのに充分な
ほど拡大すれば、即ち、高密度データが存在し、また、
その拡大が通常密度限界に達すれば、高密度測定波形
（MeasuredWaveform）がアクティブになる。高密度デー
タがなければ、通常密度MeasuredWaveform）がアクティ
ブのものとして残り、ユーザに開始／停止ボタンを押さ
せて、高密度データを取り込む。インテリトレース・モ
ードでは、高密度測定波形（MeasuredWaveform）がアク
ティブでない。
が、移動又は切り替わるカーソルに応答するのを図２３
に示し、図２４がビューポート（ViewPort）オブジェク
トにおける変化の効果を示す。波形が拡大モード又は概
観モードにおいて見えるかにより、異なるアクションを
行う。図２４は、視覚高密度又は通常密度データの間で
いかに切り替えるかを示す。波形表示更新（WaveformDi
splay update()）ルーチン（図２１）を呼び出すと、ア
クティブな測定波形（MeasuredWaveform）オブジェクト
内で、波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）を点対デー
タに設定する。波形を高密度データを見えるのに充分な
ほど拡大すれば、即ち、高密度データが存在し、また、
その拡大が通常密度限界に達すれば、高密度測定波形
（MeasuredWaveform）がアクティブになる。高密度デー
タがなければ、通常密度MeasuredWaveform）がアクティ
ブのものとして残り、ユーザに開始／停止ボタンを押さ
せて、高密度データを取り込む。インテリトレース・モ
ードでは、高密度測定波形（MeasuredWaveform）がアク
ティブでない。
【００７７】表示処理用のメイン・ループを図２５に示
す。メイルボックスに表示コマンドがないことを測定機
器制御器５０が表示処理に伝えると、この表示処理は、
測定機器制御器５０によりメイルボックスに残ったメイ
ルメッセージ（MailMessage）からコマンドを回収す
る。表示処理が、消去、初期化（再スタート）及び種々
の診断手順ような他のコマンドを実行できる間、描画コ
マンドは、図示された１つとなる。何らかの方法（位
置、色など）でオブジェクトが変化したので、これらオ
ブジェクトがスクリーン上で更新されるときに、描画コ
マンドを用いる。メンバーであるリストを描画すること
により、オブジェクトを描画する。これは、メンバーで
あるオーナを描画するか、オブジェクトを個別に描画す
ることにより、システム内の総てのオブジェクトのリス
ト表示（DpyList ）でもよい。本発明において、波形、
拡大ウィンドウ及びカーソル・オブジェクトは重なり合
い、１つを描画するには他を再描画する必要があるの
で、これらの共通オーナを描画して、これら波形、拡大
ウィンドウ及びカーソル・オブジェクトを描画する。図
２６に示すように、リスト内におけるオブジェクトの各
々を描画して、オーナを描画する。オーナを描画する
と、それと重なった総ての他のオブジェクトが再描画さ
れる。リスト表示（DpyList ）を横切ることによりこの
再描画を行う。これは、優先度により蓄積され、総ての
オブジェクト及びオーナを描画する。これらは、描画コ
マンド内で特定されたオーナよりも高い優先度を有す
る。
す。メイルボックスに表示コマンドがないことを測定機
器制御器５０が表示処理に伝えると、この表示処理は、
測定機器制御器５０によりメイルボックスに残ったメイ
ルメッセージ（MailMessage）からコマンドを回収す
る。表示処理が、消去、初期化（再スタート）及び種々
の診断手順ような他のコマンドを実行できる間、描画コ
マンドは、図示された１つとなる。何らかの方法（位
置、色など）でオブジェクトが変化したので、これらオ
ブジェクトがスクリーン上で更新されるときに、描画コ
マンドを用いる。メンバーであるリストを描画すること
により、オブジェクトを描画する。これは、メンバーで
あるオーナを描画するか、オブジェクトを個別に描画す
ることにより、システム内の総てのオブジェクトのリス
ト表示（DpyList ）でもよい。本発明において、波形、
拡大ウィンドウ及びカーソル・オブジェクトは重なり合
い、１つを描画するには他を再描画する必要があるの
で、これらの共通オーナを描画して、これら波形、拡大
ウィンドウ及びカーソル・オブジェクトを描画する。図
２６に示すように、リスト内におけるオブジェクトの各
々を描画して、オーナを描画する。オーナを描画する
と、それと重なった総ての他のオブジェクトが再描画さ
れる。リスト表示（DpyList ）を横切ることによりこの
再描画を行う。これは、優先度により蓄積され、総ての
オブジェクト及びオーナを描画する。これらは、描画コ
マンド内で特定されたオーナよりも高い優先度を有す
る。
【００７８】図２６は、いかに拡大ウィンドウ、カーソ
ル及び波形を描画するかを示す。他のオブジェクトによ
り、オブジェクトが描画された色を設定する。次に、座
標系間でマッピングするのに用いる波形座標（WFM_X_UN
ITS及びWFM_Y_UNITS）及び表示領域座標（ピクセル）を
回収する。カーソル・オブジェクト表示（DpyCursorOb
j）及び拡大ウィンドウ・オブジェクト表示（DpyExpWin
dObj ）にとって、これらが描画される波形オブジェク
ト表示（DpyWfrmObj）に応じてマッピングを行う。カー
ソル・オブジェクト表示（DpyCursorObj）及び拡大ウィ
ンドウ・オブジェクト表示（DpyExpWindObj ）の各々を
呼び出すと、波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）への
ポインタを有する。各座標系におけるウィンドウの境界
を特定するこれら座標値により、マッピング機能を初期
化して、波形座標を表示領域又はスクリーン座標にマッ
ピングする。ｙピクセル座標に対する式において、相対
位置（矩形ブラケット内の量）を、波形座標ウィンドウ
ａ２の上からの座標として計算する。これは、表示処理
が用いる表示領域座標系の原点が表示領域９２の左上角
内にあり、垂直次元の正方向が表示領域内を下に向かう
ためである。図２７は、これら座標系間の関係を示す。
ル及び波形を描画するかを示す。他のオブジェクトによ
り、オブジェクトが描画された色を設定する。次に、座
標系間でマッピングするのに用いる波形座標（WFM_X_UN
ITS及びWFM_Y_UNITS）及び表示領域座標（ピクセル）を
回収する。カーソル・オブジェクト表示（DpyCursorOb
j）及び拡大ウィンドウ・オブジェクト表示（DpyExpWin
dObj ）にとって、これらが描画される波形オブジェク
ト表示（DpyWfrmObj）に応じてマッピングを行う。カー
ソル・オブジェクト表示（DpyCursorObj）及び拡大ウィ
ンドウ・オブジェクト表示（DpyExpWindObj ）の各々を
呼び出すと、波形オブジェクト表示（DpyWfrmObj）への
ポインタを有する。各座標系におけるウィンドウの境界
を特定するこれら座標値により、マッピング機能を初期
化して、波形座標を表示領域又はスクリーン座標にマッ
ピングする。ｙピクセル座標に対する式において、相対
位置（矩形ブラケット内の量）を、波形座標ウィンドウ
ａ２の上からの座標として計算する。これは、表示処理
が用いる表示領域座標系の原点が表示領域９２の左上角
内にあり、垂直次元の正方向が表示領域内を下に向かう
ためである。図２７は、これら座標系間の関係を示す。
【００７９】本発明は、上述のビヘイビアを示すオブジ
ェクトを用いた特定の実施例に限定されるものではな
い。オブジェクトの他のセットを用いてもよく、これ
は、異なる個別のビヘイビアを表し、これら組み合わせ
たビヘイビアの結果、少なくとも２つの波形セグメント
を有する波形データを蓄積するオプティカル・タイム・
ドメイン・リフレクトメータとなる。なお、各セグメン
トは、データを有する。また、オプティカル・タイム・
ドメイン・リフレクトメータは、特許請求の範囲に記載
したように、異なるパルス幅、サンプル間隔及び開始距
離を用い、表示器上の波形トレースとして波形データを
表示することにより、波形データを取り込む。さらに、
特許請求の範囲及びその均等により定義される本発明の
要旨を逸脱することなく、Ｃ、パスカル、アッセンブラ
ーなどの他の従来のプログラミング言語を用いてもよ
い。
ェクトを用いた特定の実施例に限定されるものではな
い。オブジェクトの他のセットを用いてもよく、これ
は、異なる個別のビヘイビアを表し、これら組み合わせ
たビヘイビアの結果、少なくとも２つの波形セグメント
を有する波形データを蓄積するオプティカル・タイム・
ドメイン・リフレクトメータとなる。なお、各セグメン
トは、データを有する。また、オプティカル・タイム・
ドメイン・リフレクトメータは、特許請求の範囲に記載
したように、異なるパルス幅、サンプル間隔及び開始距
離を用い、表示器上の波形トレースとして波形データを
表示することにより、波形データを取り込む。さらに、
特許請求の範囲及びその均等により定義される本発明の
要旨を逸脱することなく、Ｃ、パスカル、アッセンブラ
ーなどの他の従来のプログラミング言語を用いてもよ
い。
【００８０】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、データを
補間したりデシメーションすることなく、異なる密度の
波形セグメントを表示するオプティカル・タイム・ドメ
イン・リフレクトメータ及び波形表示方法が得られる。
補間したりデシメーションすることなく、異なる密度の
波形セグメントを表示するオプティカル・タイム・ドメ
イン・リフレクトメータ及び波形表示方法が得られる。
【図１】異なるサンプル密度の波形セグメントを波形ト
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータのブロック図
である。
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータのブロック図
である。
【図２】異なるサンプル密度の波形セグメントを波形ト
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ用のユーザ・
インタフェースを示す図である。
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ用のユーザ・
インタフェースを示す図である。
【図３】異なるサンプル密度の波形セグメントを波形ト
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおいて、ビ
ューポート内の寸法を決める座標系を示す図である。
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおいて、ビ
ューポート内の寸法を決める座標系を示す図である。
【図４】異なるサンプル密度の波形セグメントを波形ト
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけるメモ
リに蓄積された波形セグメント表及び波形データ点の配
列を示す図である。
レースとして表示する本発明の方法を用いたオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけるメモ
リに蓄積された波形セグメント表及び波形データ点の配
列を示す図である。
【図５】本発明により、波形トレースとして異なるサン
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけ
るソフトウェア・オブジェクトの構成を示す図である。
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけ
るソフトウェア・オブジェクトの構成を示す図である。
【図６】本発明により、波形トレースとして異なるサン
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけ
るソフトウェア・オブジェクトの構成を示す図である。
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけ
るソフトウェア・オブジェクトの構成を示す図である。
【図７】本発明により、波形トレースとして異なるサン
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけ
るソフトウェア・オブジェクトの構成を示す図である。
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおけ
るソフトウェア・オブジェクトの構成を示す図である。
【図８】本発明により、波形トレースとして異なるサン
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおい
て、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア・
オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図で
ある。
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおい
て、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア・
オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図で
ある。
【図９】本発明により、波形トレースとして異なるサン
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおい
て、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア・
オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図で
ある。
プル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオプ
ティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおい
て、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア・
オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図で
ある。
【図１０】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１１】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１２】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１３】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１４】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１５】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１６】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１７】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１８】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図１９】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２０】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２１】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２２】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２３】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２４】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２５】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２６】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
いて、ユーザ・インタフェースに応答するソフトウェア
・オブジェクトの通信が以下に行われるかを示す流れ図
である。
【図２７】本発明により、波形トレースとして異なるサ
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
ける波形座標及び表示座標の関係を示す図である。
ンプル密度の波形セグメントを表示する方法を用いたオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにお
ける波形座標及び表示座標の関係を示す図である。
【符号の説明】 １２ デジタル取り込み部 １４ 主処理部 １６ 電源部 ２２ 試験ファイバ ２６ 発射ファイバ ２８ コネクタ
【表７】
Claims (16)
- 【請求項１】 被試験ファイバに光パルスを発射し、上
記被試験ファイバが発生した光戻り信号を取り込み、表
示領域が水平ピクセル数及び垂直ピクセル数で決まりビ
ューポートが開始距離及び終了距離並びに最小及び最大
振幅で決まる表示器上に波形トレースとして波形データ
を表示するオプティカル・タイム・ドメイン・リフレク
トメータであって、 上記光戻り信号を表すデータ点を有する少なくとも２つ
の波形セグメントを取り込むが、各波形データ点が時間
対距離に関連した振幅値を有し、異なるパルス幅の光パ
ルス、異なるサンプル間隔及び異なる開始距離を用いて
各波形セグメントを取り込む取り込み手段と、 上記波形セグメントのデータ点を受けて、配列に蓄積
し；上記波形セグメントの開始距離を求め；各波形セグ
メントに対する距離に関連した波形データ点の配列に上
記開始距離、上記サンプル間隔及びインデックスを含ん
だ波形データ・セグメント表を作成し；水平ピクセルの
スキップ値を確定し、水平距離スキップ値を確定し、上
記ビューポート開始距離及び上記ビューポート終了距離
の間の距離を上記表示領域内の水平ピクセルの数で除算
することにより上記表示領域の１ピクセル・スキップ値
当たりの水平距離を計算し、初期ピクセル係数をゼロに
設定すると共に初期水平距離値をビューポート開始距離
に設定して水平ピクセル・スキップ値を前のピクセル計
数に順次加算すると共に水平距離スキップ値を前の水平
距離に加算して水平ピクセルを距離に対してマッピング
し、距離に関連したデータ点のインデックスを用い水平
ピクセルに関連した適切な垂直ピクセルに振幅値をマッ
ピングして上記水平ピクセルの上記距離値を上記波形セ
グメントのデータ点の振幅値に相関させて、上記波形ト
レースを表すビットマップ配列を発生するプロセッサ
と、 上記波形セグメントの各々の各データ点の振幅値、上記
波形セグメント表、上記波形トレースを表す上記ビット
・マップ配列を蓄積するメモリと、 上記表示器に結合された表示制御器を含み、上記波形ト
レースを表す上記ビット・マップを上記表示器上に表示
する表示手段とを具えたオプティカル・タイム・ドメイ
ン・リフレクトメータ。 - 【請求項２】 波形セグメントの各取り込みに対して上
記波形データ点の配列により上記波形データを更新する
ことを特徴とする請求項１のオプティカル・タイム・ド
メイン・リフレクトメータ。 - 【請求項３】 次の波形セグメントの取り込みと同時
に、上記波形データ点の配列により上記ビット・マップ
配列及び上記波形トレースを更新することを特徴とする
請求項１のオプティカル・タイム・ドメイン・リフレク
トメータ。 - 【請求項４】 上記プロセッサは、上記水平ピクセル・
スキップ値を１に、上記水平距離スキップ値を１ピクセ
ル値当たりの上記水平距離にすることを特徴とする請求
項１のオプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメ
ータ。 - 【請求項５】 上記プロセッサは、１ピクセル値当たり
の上記水平距離が上記波形セグメントの上記サンプル間
隔よりも小さいとき、上記波形セグメントのサンプル間
隔を１ピクセル値当たりの上記水平距離で除算すること
によりて新たな水平ピクセル・スキップ値を計算し、上
記波形セグメントのサンプル間隔に等しい新たな水平距
離スキップ値を確立することを特徴とする請求項１のオ
プティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ。 - 【請求項６】 上記プログラムは、距離に関連した上記
波形データ点の配列へのインデックスに応じて上記波形
データの配列における最終データ点用の距離値を求め、
上記波形セグメントにおける上記最終データ点用の上記
距離値を蓄積し、上記波形セグメント内の上記最終デー
タ点の上記距離値を上記水平ピクセル距離と比較し、上
記水平ピクセル距離が上記波形セグメントの上記最終デ
ータ点の上記距離値よりも大きいときに上記波形データ
の上記ビット・マップ配列へのマッピングを終了するこ
とを特徴とする請求項１のオプティカル・タイム・ドメ
イン・リフレクトメータ。 - 【請求項７】 上記プロセッサは、第１波形セグメント
の開始距離を上記水平ピクセル距離と比較し、上記水平
ピクセル距離が上記第１波形セグメントの上記開始距離
よりも短い間、上記水平ピクセル計数及び上記水平距離
値を増加させることを特徴とする請求項１のオプティカ
ル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ。 - 【請求項８】 少なくとも２つの波形セグメントを有す
る波形データ点の配列を蓄積し、各波形セグメントが異
なるパルス幅、サンプル間隔及び開始距離を用いて取り
込んだデータ点を有し、各データ点が距離に関連した上
記波形データ点の配列へのインデックス及び振幅値を有
するオプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメー
タにおいて、 水平ピクセル数及び垂直ピクセル数で決まる表示領域と
開始距離及び終了距離並びに最小及び最大振幅で決まる
ビューポートとを有する表示器上に波形トレースとして
上記波形データを表示する方法であって、 ａ）水平ピクセル・スキップ値及び水平距離スキップ値
を確立し、 ｂ）上記ビューポート開始距離及び上記ビューポート終
了距離との間の距離を上記表示領域内の水平ピクセル数
により除算して、上記表示領域用に１ピクセル値当たり
の水平距離を計算し、 ｃ）初期ピクセル計数をゼロに設定して、上記水平ピク
セル・スキップ値を前のピクセル計数に加算すると共
に、初期水平距離値を上記ビューポートの上記開始距離
に加算して、上記水平距離スキップ値を前の水平距離値
に加算して、上記水平ピクセルを距離に対してマッピン
グし、 ｄ）距離に関連した上記データ点のインデックスを用い
て、上記水平ピクセル用の上記距離値を上記波形セグメ
ントの上記データ点の振幅値に関連させ、 ｅ）ビット・マップ・ビデオ・フレーム・バッファ内の
上記水平ピクセルに関連した適切な垂直ピクセルに上記
垂直値をマッピングして、上記表示器上に表示を行い、 ｆ）連続した波形セグメントを用いて上記ステップｃ、
ｄ及びｅを繰り返して、上記連続したセグメントの上記
開始距離を越えて上記水平ピクセルに対する距離値が延
びるにつれて、上記表示器上に上記波形データの上記波
形トレースを形成することを特徴とする波形データ表示
方法。 - 【請求項９】 上記波形セグメント用の上記開始距離
と、上記波形セグメント用の上記サンプル間隔と、距離
に関連した上記波形データ点の配列内の上記波形セグメ
ントの第１データ点へのインデックスとを有する上記波
形データ点の配列に対して波形データ・セグメント表を
発生する予備的なステップを更に具えたことを特徴とす
る請求項８の波形データ表示方法。 - 【請求項１０】 ｇ）上記波形データ点の配列内の第１
波形セグメント用に上記データ点を取り込んで蓄積し、 ｈ）その後の波形セグメント取り込みからのデータ点に
より上記波形データ点の配列及び波形データ・セグメン
ト表を更新する前に、上記波形データ点の配列に上記ス
テップａ〜ｅを実行し、 ｉ）新たな波形セグメント取り込みからのデータ点によ
り上記波形データ点の配列及び上記波形データ・セグメ
ント表を更新する前に、その後の各波形セグメントに対
して、上記波形データ点の配列に上記ステップａ〜ｅを
繰り返すステップを更に具えたことを特徴とする請求項
９の波形データ表示方法。 - 【請求項１１】 ｇ）上記波形データ点の配列内の第１
波形セグメント用に上記データ点を取り込んで蓄積し、 ｈ）上記波形セグメントの上記開始距離と、上記波形セ
グメントの上記サンプル間隔と、距離に関連した上記波
形データ点の配列への上記セグメントのインデックスと
を有する上記第１波形セグメントの上記波形データ点の
配列用に波形データ・セグメント表を発生し、 ｉ）その後の波形セグメント用のデータ点を取り込むと
同時に、上記波形データ点の配列にて上記ステップａ〜
ｅを実行し、 ｊ）その後の波形セグメント取り込みからのデータ点に
より上記波形データ点の配列及び上記波形データ・セグ
メント表を更新し、新たな波形セグメント用のデータ点
を取り込むと同時にその後の波形セグメントの各々に対
して上記波形データ点の配列にて上記ステップａ〜ｆを
実行するステップを更に具えたことを特徴とする請求項
８の波形データ表示方法。 - 【請求項１２】 上記水平ピクセル・スキップ値をゼロ
に設定し、上記水平距離スキップ値を１ピクセル値当た
りの上記水平距離に設定するステップを更に具えたこと
を特徴とする請求項８の波形データ表示方法。 - 【請求項１３】 上記計算ステップｂは、 上記波形セグメントの上記サンプル間隔を１ピクセル値
当たりの上記水平距離により除算して新たな水平ピクセ
ル・スキップ値を計算し、 上記水平距離スキップ値が上記波形セグメントの上記サ
ンプル間隔よりも小さいときに、上記波形セグメントの
サンプル間隔に等しい１ピクセル値当たりの上記水平距
離を確立するステップを更に具えたことを特徴とする請
求項８の波形データ表示方法。 - 【請求項１４】 上記マッピング・ステップｃは、 距離に関連した上記波形データ点の配列へのインデック
スに応じて、上記波形セグメント内の最終データ点用の
距離値を求め、 上記波形セグメント内の上記最終データ転用の上記距離
値を蓄積し、 上記波形セグメント内の上記最終データ点の上記距離値
を上記水平ピクセル距離と比較し、 上記水平ピクセル距離が上記波形セグメントの上記最終
データ点の上記距離値よりも大きいとき、上記波形デー
タの表示を終了するステップを更に具えたことを特徴と
する請求項８の波形データ表示方法。 - 【請求項１５】 上記マッピング・ステップｃは、 上記第１波形セグメントの上記開始距離を上記水平ピク
セル距離と比較し、 上記水平ピクセル距離が上記第１波形セグメントの上記
開始距離よりも短い間、上記水平ピクセル・スキップ値
を前のピクセル計数に加算して上記水平ピクセル計数を
増加し、上記水平距離スキップ値を上記前の距離値によ
り上記水平距離値を増加するステップを更に具えたこと
を特徴とする請求項８の波形データ表示方法。 - 【請求項１６】 関連させるステップｄは、 ｇ）上記水平ピクセル距離を種々の波形セグメントの上
記開始距離と比較して、上記水平ピクセルに関連付ける
上記データ点を含んだ上記波形セグメントを求め、 ｈ）上記水平ピクセル距離から上記波形セグメント用の
上記開始距離を減算して、上記ステップｇで求めた上記
波形セグメントの上記開始距離から上記水平ピクセルに
関した上述データ点までの距離を求め、 ｉ）上記ステップｈの結果を上記波形セグメント用の上
記サンプル間隔で除算し、上記波形セグメント用の上記
開始距離のインデックスを加算して、上記水平ピクセル
へ関連させた上記データ点のインデックスを求め、 ｊ）上記データ点の上記振幅値を含む上記波形データ点
の配列へのインデックスとして上記ステップｉの結果を
用いて、上記水平ピクセル用の上記振幅値をアクセスす
るステップを更に具えたことを特徴とする請求項８の波
形データ表示方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/407,722 | 1995-03-20 | ||
| US08/407,722 US5528356A (en) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | Apparatus and method for displaying multiple sample spacing waveform segments |
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| Publication Number | Publication Date |
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| JPH08278222A JPH08278222A (ja) | 1996-10-22 |
| JP2794172B2 true JP2794172B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=23613258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8090076A Expired - Fee Related JP2794172B2 (ja) | 1995-03-20 | 1996-03-19 | オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ及び波形表示方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
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| US (1) | US5528356A (ja) |
| EP (1) | EP0733893B1 (ja) |
| JP (1) | JP2794172B2 (ja) |
| DE (1) | DE69624608T2 (ja) |
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1995
- 1995-03-20 US US08/407,722 patent/US5528356A/en not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-03-19 JP JP8090076A patent/JP2794172B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-20 DE DE69624608T patent/DE69624608T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-20 EP EP96301969A patent/EP0733893B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0733893A2 (en) | 1996-09-25 |
| EP0733893B1 (en) | 2002-11-06 |
| EP0733893A3 (en) | 1998-11-11 |
| JPH08278222A (ja) | 1996-10-22 |
| DE69624608D1 (de) | 2002-12-12 |
| US5528356A (en) | 1996-06-18 |
| DE69624608T2 (de) | 2003-09-18 |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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