CN115065404A - 一种光时域反射计及链路分析方法 - Google Patents

一种光时域反射计及链路分析方法 Download PDF

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Abstract

本发明属于测试技术领域，公开了一种光时域反射计链路分析方法，包括以下步骤：步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果；步骤S4，更换波长，重复上述步骤S1至S3，获得更换后的单波长事件点合并结果；步骤S5，将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果。本发明实施例的方法有效解决了事件点误报或漏报的问题，提高了事件点分析的准确率。

Description

一种光时域反射计及链路分析方法
技术领域
本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种光时域反射计链路分析方法，还涉及一种光时域反射计。
背景技术
光时域反射计测试完后，分析测试数据获得的事件点类型包括起始事件、反射事件、下降事件、结束事件。在获得的事件点类型基础上再综合其他参数，进一步识别出是熔接点事件、分路器事件、宏弯事件等。
目前，光时域反射计事件点分析过程中存在误报率，例如对事件点判断存在误报或漏报的情况，不能正确的展现链路测试结果。
因此，如何提供一种判断准确的光时域反射计链路分析方法，是目前亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种光时域反射计链路分析方法，以解决现有技术中事件点判断存在误报漏报的问题。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解，下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念，以此作为后面的详细说明的序言。
根据本发明实施例的第一方面，提供了一种光时域反射计链路分析方法。
在一个实施例中，所述光时域反射计链路分析方法，包括以下步骤：
步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；
步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；
步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果；
步骤S4，更换波长，重复上述步骤S1至S3，获得更换后的单波长事件点合并结果；
步骤S5，将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果。
可选地，所述将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得单波长事件点合并结果。
可选地，所述将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得多波长事件点合并结果。
可选地，所述将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并处理的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的多个事件点合并为一个事件点，合并后事件点距离为合并的多个事件点距离的平均值。
可选地，所述事件点信息包括：事件点损耗、事件点距离以及事件点类型中的一个或者多个。
可选地，所述事件点类型包括：反射事件、下降事件中的一个或者多个。
可选地，所述事件点类型的判断步骤，包括：
对于下降事件，根据事件点损耗值进一步判断是熔接点事件还是分路器事件。
可选地，所述事件点类型的判断步骤，包括：
对于下降事件，根据多波长事件点合并结果进一步判断是否为宏弯事件。
可选地，所述方法还包括将事件点可视化的步骤，将测试结果中的第一个事件点作为链路的起点，将测试结果中的最后一个事件点作为链路末端，将各事件点的损耗、距离以及类型中的一个或者多个在屏幕上显示。
根据本发明实施例的第二方面，提供了一种光时域反射计链路分析方法。
在一些实施例中，所述光时域反射计链路分析方法，包括以下步骤：
步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；
步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；
步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果。
可选地，所述将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得单波长事件点合并结果。
根据本发明实施例的第三方面，提供了一种光时域反射计。
在一些实施例中，所述光时域反射计包括计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
本发明实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
利用不同波长对弯曲损耗的灵敏度不同的特点以及不同脉宽盲区不同的特点，多波长组合测试能够更精确的识别弯曲损耗等事件，多脉宽组合测试能够更精确的识别不同的光纤事件，解决了事件点误报或漏报的问题，提高了事件点分析的准确率。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1是根据一示例性实施例示出的一种光时域反射计链路分析方法的流程图；
图2是根据另一示例性实施例示出的一种光时域反射计链路分析方法的流程图；
图3是根据一示例性实施例示出的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
以下描述和附图充分地示出本文的具体实施方案，以使本领域的技术人员能够实践它们。一些实施方案的部分和特征可以被包括在或替换其他实施方案的部分和特征。本文的实施方案的范围包括权利要求书的整个范围，以及权利要求书的所有可获得的等同物。本文中，术语“第一”、“第二”等仅被用来将一个元素与另一个元素区分开来，而不要求或者暗示这些元素之间存在任何实际的关系或者顺序。实际上第一元素也能够被称为第二元素，反之亦然。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的结构、装置或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种结构、装置或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的结构、装置或者设备中还存在另外的相同要素。本文中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
本文中的术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本文和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。在本文的描述中，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
本文中，除非另有说明，术语“多个”表示两个或两个以上。
本文中，字符“/”表示前后对象是一种“或”的关系。例如，A/B表示：A或B。
本文中，术语“和/或”是一种描述对象的关联关系，表示可以存在三种关系。例如，A和/或B，表示：A或B，或，A和B这三种关系。
在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
现有的光时域反射计对事件点类型判断存在误报或漏报的情况，不能正确的展现链路测试结果。本发明公开一种光时域反射计链路分析方法，将多波长多脉宽事件点进行合并，解决了事件点误报或漏报的问题，提高了事件点分析的准确率。
图1示出了本发明的光时域反射计链路分析方法的一个实施例。
如图1所示，本实施例公开了一种光时域反射计链路分析方法，包括以下步骤：
步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；
步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；
步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果；
步骤S4，更换波长，重复上述步骤S1至S3，获得更换后的单波长事件点合并结果；
步骤S5，将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果。
本实施例利用不同波长对弯曲损耗的灵敏度不同的特点，多波长组合测试可以有效避免某个波长对弯曲不敏感导致的漏报或误报，更精确的识别弯曲损耗等事件，例如宏弯事件。本实施例利用不同脉宽盲区不同的特点，多脉宽组合测试能够更精确的识别不同的光纤事件。例如，小脉宽测试，探测距离短，事件分辨率高，测试事件盲区较小，因此，短光纤用小脉宽测试；大脉宽测试，探测距离长，动态范围高，但是测试盲区较大，长光纤用大脉宽测试。利用不同脉宽盲区不同的特点，小中大脉宽组合实现被测链路的局部和细节的完整测试。例如，通过小脉宽如10ns测试链路，获取前端短距离的测试结果；通过中脉宽如100ns测试链路，获取中间段距离的测试结果；通过大脉宽如500ns测试链路，获取链路末端的测试结果。
上述事件点信息包括事件点损耗、事件点距离以及事件点类型中的一个或者多个。
事件点损耗是指由于一些外部因素(例如熔接点、连接头等)产生的损耗，如连接损耗、熔接损耗等。例如，基于获取的测试数据，可以采用最小二乘法计算每个事件点的损耗。
光在光纤中传播遇到弯曲、连接头等会产生明显变化，即产生事件点，事件点在链路中的位置也就是事件点距离。
上述事件点类型包括：反射事件、下降事件中的一个或者多个。通过对获取的测试数据进行判断，逐一判断出事件点的类型是反射事件还是下降事件。
可选地，上述将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果的步骤，包括：将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并处理，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得单波长事件点合并结果。
本实施例中，对于同一波长下更换不同脉宽获得的事件点，距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点可以认为是一个事件点，因此，可以将这些事件点合并为一个事件点。而距离偏差在阈值范围外的事件点，无论事件点类型是否相同，都认为是不同的事件点，对于这些事件点在合并结果中保留。对于距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点，同样在合并结果中保留。通过上述步骤，可以获得单波长事件点合并结果，即同一波长不同脉宽测试下的事件点合并结果。然后，将多个单波长事件点合并结果再进行合并，可以获得多波长事件点合并结果。
可选地，将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果的步骤，包括：将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得多波长事件点合并结果。
多波长事件点合并结果综合了不同波长不同脉宽测试下的事件点，而且，将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，可以有效避免误报或漏报的情况，保证测试结果的准确性。
上述单波长事件点合并过程或者多波长事件点合并过程中，将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并处理的步骤，包括：将距离偏差在阈值范围内的相同类型的多个事件点合并为一个事件点，合并后事件点距离为合并的多个事件点距离的平均值。采用上述实施例，可以获得事件点的精确位置。
可选地，上述距离偏差的阈值根据距离准确度、事件盲区以及分析数据过程存在的误差获得。
可选地，上述距离偏差的阈值为±δ+点间距+0.005％×量程。光时域反射计的点间距为相邻两个数据点的距离。δ与光时域反射计的测量器件的精度有关，δ的取值范围为0.5m～0.8m，例如光时域反射计距离准确度指标为±0.75m+点间距+0.005％×量程。
可选地，上述事件点类型的判断步骤，对于下降事件，根据事件点损耗值进一步判断是熔接点事件还是分路器事件。具体地，下降事件可能是熔接点，也可能是分路器，此时需要结合此事件的损耗具体判断。熔接点事件损耗较小，如事件点损耗≤3dB，则判断是熔接点事件；对于分路器，是对光纤链路进行分割传输信号，事件点损耗比较大，如事件点损耗>3dB，则判断是分路器事件。
可选地，上述事件点类型的判断步骤，对于下降事件，根据多波长事件点合并结果进一步判断是否为宏弯事件。具体地，分别使用1310nm和1550nm波长测量同一条链路，弯曲光纤会造成弯曲损耗产生下降事件，对于同样的弯曲，1550nm波长测试获得的事件点损耗大于1310nm波长测试获得的事件点损耗，宏弯事件对1550nm波长表现更敏感，损耗也更大，因此，根据1550nm测试结果可以更精确的判断下降事件是宏弯事件。
判断熔接点事件和分路器事件使用单波长多脉宽测试可获取到事件点类型，对于宏弯事件需要使用双波长测试获得事件点类型，因此，本发明实施例的方法采用多波长多脉宽测试，可以有效避免误报或漏报发生。当然，本发明实施例中的波长范围或者脉宽范围仅为示意性的，本领域技术人员可以根据测试需要选取相应的波长范围或脉宽范围，例如1625nm等波长，3ns、5ns等脉宽，这里不再一一列举。
可选地，上述事件点类型的判断步骤，对于反射事件，则判断是法兰事件。
可选地，本发明实施例的方法还包括将事件点可视化的步骤，将测试结果的第一个事件点作为链路的起点，将测试结果的最后一个事件点作为链路末端，将各事件点的距离、损耗、类型中的一个或者多个在屏幕上显示，直观的显示整条链路情况。
在一个实施例中，还公开了一种光时域反射计链路分析方法，如图2所示，包括以下步骤：
步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；
步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；
步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果。
本实施例利用不同脉宽盲区不同的特点，多脉宽组合测试能够更精确的识别不同的光纤事件。例如，小脉宽测试，探测距离短，事件分辨率高，测试事件盲区较小，因此，短光纤用小脉宽测试；大脉宽测试，探测距离长，动态范围高，但是测试盲区较大，长光纤用大脉宽测试。利用不同脉宽盲区不同的特点，小中大脉宽组合实现被测链路的局部和细节的完整测试。例如，通过小脉宽如10ns测试链路，获取前端短距离的测试结果；通过中脉宽如100ns测试链路，获取中间段距离的测试结果；通过大脉宽如500ns测试链路，获取链路末端的测试结果。
可选地，所述将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得单波长事件点合并结果。
本实施例中光时域反射计链路分析方法与上述各实施例中单波长多脉宽事件点分析方法相同，这里不再赘述。
在一个实施例中，公开了一种光时域反射计，光时域反射计包括计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图3所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储静态信息和动态信息数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现上述方法实施例中的步骤。
本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static RandomAccess Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。
本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (12)

1.一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；
步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；
步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果；
步骤S4，更换波长，重复上述步骤S1至S3，获得更换后的单波长事件点合并结果；
步骤S5，将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果。
2.如权利要求1所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得单波长事件点合并结果。
3.如权利要求1所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述将多个单波长事件点合并结果再进行合并，获得多波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得多波长事件点合并结果。
4.如权利要求2或3所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并处理的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的多个事件点合并为一个事件点，合并后事件点距离为合并的多个事件点距离的平均值。
5.如权利要求1所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述事件点信息包括：事件点损耗、事件点距离以及事件点类型中的一个或者多个。
6.如权利要求5所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述事件点类型包括：反射事件、下降事件中的一个或者多个。
7.如权利要求6所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述事件点类型的判断步骤，包括：
对于下降事件，根据事件点损耗值进一步判断是熔接点事件还是分路器事件。
8.如权利要求6所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述事件点类型的判断步骤，包括：
对于下降事件，根据多波长事件点合并结果进一步判断是否为宏弯事件。
9.如权利要求6所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述方法还包括将事件点可视化的步骤，将测试结果中的第一个事件点作为链路的起点，将测试结果中的最后一个事件点作为链路末端，将各事件点的损耗、距离以及类型中的一个或者多个在屏幕上显示。
10.一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，获取单波长在单脉宽下的事件点信息；
步骤S2，更换脉宽，获取单波长在不同脉宽下的事件点信息；
步骤S3，将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果。
11.如权利要求10所述的一种光时域反射计链路分析方法，其特征在于，
所述将单波长不同脉宽下的事件点进行合并，获得单波长事件点合并结果的步骤，包括：
将距离偏差在阈值范围内的相同类型的事件点进行合并，将距离偏差在阈值范围内的不同类型的事件点以及距离偏差在阈值范围外的事件点在合并结果中保留，获得单波长事件点合并结果。
12.一种光时域反射计，包括计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至11中任一项所述的方法的步骤。
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