JP3292982B2 - 光ファイバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体 - Google Patents
光ファイバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体Info
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光伝送路を形成す
る多数の光ファイバの伝送特性を評価するための光ファ
イバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体に関す
る。
る多数の光ファイバの伝送特性を評価するための光ファ
イバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、信号伝送路として従来の金属線に
代わって光ファイバが多く用いられており、このような
光ファイバの布設、管理のために伝送路の試験とその試
験結果に対する評価を定期的に行なう必要がある。な
お、ここで１本の光ファイバとは、複数本の光ファイバ
を直列に接続したものも含んでいるものとする。
代わって光ファイバが多く用いられており、このような
光ファイバの布設、管理のために伝送路の試験とその試
験結果に対する評価を定期的に行なう必要がある。な
お、ここで１本の光ファイバとは、複数本の光ファイバ
を直列に接続したものも含んでいるものとする。
【０００３】光ファイバの試験は、図１０に示す光パル
ス試験装置によって行なわれている。この光パルス試験
装置は、光パルス発生器１０から方向性結合器１１およ
び光路切換器１２を介して光ファイバケーブル１の芯線
である光ファイバ２1 〜２nのいずれかの一端に光パル
スを入射し、その光ファイバの一端側に戻ってくる光
（後方散乱光や反射光）の強度を受光器１３によって検
出し、受光器１３から出力される受光信号をＡ／Ｄ変換
器１４によってデ−タ信号に変換して信号処理装置１５
に入力し、光パルスの入射タイミングから一定時間が経
過するまでの一連のデータ信号を処理して、距離対受光
強度の特性データを特性データメモリ１６に記憶するよ
うに構成されている。
ス試験装置によって行なわれている。この光パルス試験
装置は、光パルス発生器１０から方向性結合器１１およ
び光路切換器１２を介して光ファイバケーブル１の芯線
である光ファイバ２1 〜２nのいずれかの一端に光パル
スを入射し、その光ファイバの一端側に戻ってくる光
（後方散乱光や反射光）の強度を受光器１３によって検
出し、受光器１３から出力される受光信号をＡ／Ｄ変換
器１４によってデ−タ信号に変換して信号処理装置１５
に入力し、光パルスの入射タイミングから一定時間が経
過するまでの一連のデータ信号を処理して、距離対受光
強度の特性データを特性データメモリ１６に記憶するよ
うに構成されている。
【０００４】ここで、光路切換器１２は、１本の伝送路
を形成する光ファイバの特性データの取得が終了する
と、他の光ファイバと方向性結合器１１の間を接続する
ように切換えられて、特性データメモリ１６に複数の光
ファイバ２1 〜２n の特性データを記憶させる。
を形成する光ファイバの特性データの取得が終了する
と、他の光ファイバと方向性結合器１１の間を接続する
ように切換えられて、特性データメモリ１６に複数の光
ファイバ２1 〜２n の特性データを記憶させる。
【０００５】そして、各光ファイバの伝送特性を評価す
る場合には、特性データメモリ１６に記憶された特性デ
ータを選択的に画像表示器やプリンタに出力して、図１
１に示すように、距離軸と受光強度軸からなる座標面に
波形表示し、この表示波形の傾きや局部的なレベルの変
化等から、減衰量の変動や断線障害等の有無を調べるよ
うにしている。
る場合には、特性データメモリ１６に記憶された特性デ
ータを選択的に画像表示器やプリンタに出力して、図１
１に示すように、距離軸と受光強度軸からなる座標面に
波形表示し、この表示波形の傾きや局部的なレベルの変
化等から、減衰量の変動や断線障害等の有無を調べるよ
うにしている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ファイバ
２1 〜２n のそれぞれを独立に評価するだけでなく、そ
れらをまとめた光ファイバケーブル１の全体的な特性を
把握したり、一つの光ファイバの特性を全体の伝送路の
中で評価したりする場合には、特性データメモリ１６に
記憶されたすべての特性データを同一座標上に表示して
評価する必要がある。
２1 〜２n のそれぞれを独立に評価するだけでなく、そ
れらをまとめた光ファイバケーブル１の全体的な特性を
把握したり、一つの光ファイバの特性を全体の伝送路の
中で評価したりする場合には、特性データメモリ１６に
記憶されたすべての特性データを同一座標上に表示して
評価する必要がある。
【０００７】しかしながら、光パルス試験装置は、光パ
ルスの波長の変動や光路切換器の接続損失のバラツキに
よって同一特性の光ファイバであっても、得られる特性
データに大きなバラツキが発生し、このような光パルス
試験装置によって得られた特性データを同一座標面に波
形表示すると、実際にはほぼ等しい特性の光ファイバで
あっても、表示される波形が上下に大きくずれてしま
い、ケーブル全体の特性の把握や一つの光ファイバの特
性を全体の伝送路の中で評価することが非常に困難であ
る。
ルスの波長の変動や光路切換器の接続損失のバラツキに
よって同一特性の光ファイバであっても、得られる特性
データに大きなバラツキが発生し、このような光パルス
試験装置によって得られた特性データを同一座標面に波
形表示すると、実際にはほぼ等しい特性の光ファイバで
あっても、表示される波形が上下に大きくずれてしま
い、ケーブル全体の特性の把握や一つの光ファイバの特
性を全体の伝送路の中で評価することが非常に困難であ
る。
【０００８】特に、光ファイバケーブル１の芯線数は年
々増加し、これに対応するように光パルス試験装置の光
路切換器も多回路化されて、数１０本〜数１００本の光
ファイバの特性を取得できるようになっており、その評
価がますます困難になってきている。
々増加し、これに対応するように光パルス試験装置の光
路切換器も多回路化されて、数１０本〜数１００本の光
ファイバの特性を取得できるようになっており、その評
価がますます困難になってきている。
【０００９】本発明は、この問題を解決した光ファイバ
特性評価装置及びプログラムを記録した媒体を提供する
ことを目的としている。
特性評価装置及びプログラムを記録した媒体を提供する
ことを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１の光ファイバ特性評価装置は、光
ファイバの一端に光パルスを入射し該一端側に戻ってく
る光の特性値を検出することによって得られた前記光フ
ァイバの距離対特性値の変化を示す特性データを複数記
憶する特性データ記憶手段（３４）と、前記複数の特性
データの波形を表示出力するための出力手段（３２）
と、前記複数の特性データの波形を前記出力装置によっ
て距離軸と特性値軸からなる直交座標上に表示させる波
形表示制御手段（３７）と、前記直交座標内に任意の基
準点を指定するための基準点指定手段（３８〜４０）
と、前記基準点指定手段によって指定された基準点の距
離軸の座標の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記
特性データの特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値
軸の座標の値との差を特性データ毎に算出する演算手段
（４２）と、前記波形表示制御手段によって表示される
特性データの波形が前記基準点を通るように、前記特性
データを前記演算手段によって算出された差分だけ特性
値軸方向にオフセットするオフセット手段（３５）とを
備えている。
に、本発明の請求項１の光ファイバ特性評価装置は、光
ファイバの一端に光パルスを入射し該一端側に戻ってく
る光の特性値を検出することによって得られた前記光フ
ァイバの距離対特性値の変化を示す特性データを複数記
憶する特性データ記憶手段（３４）と、前記複数の特性
データの波形を表示出力するための出力手段（３２）
と、前記複数の特性データの波形を前記出力装置によっ
て距離軸と特性値軸からなる直交座標上に表示させる波
形表示制御手段（３７）と、前記直交座標内に任意の基
準点を指定するための基準点指定手段（３８〜４０）
と、前記基準点指定手段によって指定された基準点の距
離軸の座標の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記
特性データの特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値
軸の座標の値との差を特性データ毎に算出する演算手段
（４２）と、前記波形表示制御手段によって表示される
特性データの波形が前記基準点を通るように、前記特性
データを前記演算手段によって算出された差分だけ特性
値軸方向にオフセットするオフセット手段（３５）とを
備えている。
【００１１】また、本発明の請求項２の光ファイバ特性
評価装置は、請求項１の光ファイバ特性評価装置におい
て、前記基準点指定手段は、前記複数の特性データのう
ち、任意の特性データを基準特性データとして指定する
ための基準特性データ指定手段（３８）と、任意の距離
位置を指定するための距離指定手段（３９）とを有し、
該距離指定手段によって指定された距離位置と、該距離
位置における前記基準特性データの特性値とで決まる座
標点を前記基準点として指定することを特徴としてい
る。また、本発明の請求項３の光ファイバ特性評価装置
は、請求項２の光ファイバ特性評価装置において、前記
波形表示制御手段は、前記基準特性データ指定手段によ
って指定された特性データの波形を他の特性データの波
形と識別可能に表示させることを特徴としている。
評価装置は、請求項１の光ファイバ特性評価装置におい
て、前記基準点指定手段は、前記複数の特性データのう
ち、任意の特性データを基準特性データとして指定する
ための基準特性データ指定手段（３８）と、任意の距離
位置を指定するための距離指定手段（３９）とを有し、
該距離指定手段によって指定された距離位置と、該距離
位置における前記基準特性データの特性値とで決まる座
標点を前記基準点として指定することを特徴としてい
る。また、本発明の請求項３の光ファイバ特性評価装置
は、請求項２の光ファイバ特性評価装置において、前記
波形表示制御手段は、前記基準特性データ指定手段によ
って指定された特性データの波形を他の特性データの波
形と識別可能に表示させることを特徴としている。
【００１２】また、本発明の請求項４のプログラムを記
録した媒体は、波形を表示するための出力装置を備えた
コンピュータに、光ファイバの一端に光パルスを入射し
該一端側に戻ってくる光の特性値を検出することによっ
て得られた前記光ファイバの距離対特性値の変化を示す
特性データを複数記憶する機能、前記複数の特性データ
の波形を前記出力装置によって距離軸と特性値軸からな
る直交座標上に表示させる機能、前記直交座標内に任意
の基準点を指定する機能、前記指定された基準点の距離
軸の座標の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記特
性データの特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値軸
の座標の値との差を特性データ毎に算出する機能、前記
特性データの波形が前記基準点を通るように、前記特性
データを前記算出された差分だけ特性値軸方向にオフセ
ットする機能を実現させるためのプログラムが記録され
ている。
録した媒体は、波形を表示するための出力装置を備えた
コンピュータに、光ファイバの一端に光パルスを入射し
該一端側に戻ってくる光の特性値を検出することによっ
て得られた前記光ファイバの距離対特性値の変化を示す
特性データを複数記憶する機能、前記複数の特性データ
の波形を前記出力装置によって距離軸と特性値軸からな
る直交座標上に表示させる機能、前記直交座標内に任意
の基準点を指定する機能、前記指定された基準点の距離
軸の座標の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記特
性データの特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値軸
の座標の値との差を特性データ毎に算出する機能、前記
特性データの波形が前記基準点を通るように、前記特性
データを前記算出された差分だけ特性値軸方向にオフセ
ットする機能を実現させるためのプログラムが記録され
ている。
【００１３】また、本発明の請求項５のプログラムを記
録した媒体は、波形を表示するための出力装置を備えた
コンピュータに、光ファイバの一端に光パルスを入射し
該一端側に戻ってくる光の特性値を検出することによっ
て得られた前記光ファイバの距離対特性値の変化を示す
特性データを複数記憶する機能、前記複数の特性データ
の波形を前記出力装置によって距離軸と特性値軸からな
る直交座標上に表示させる機能、前記複数の特性データ
のうち、任意の特性データを基準特性データとして指定
するための機能、前記出力装置に表示される波形のう
ち、指定された基準特性データの波形を他の特性データ
と識別可能にさせる機能、任意の距離位置を指定する機
能、前記指定された距離位置と該距離位置における前記
基準特性データの特性値とで決まる座標点を基準点とし
て設定する機能、前記設定された基準点の距離軸の座標
の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記特性データ
の特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値軸の座標の
値との差を特性データ毎に算出する機能、前記特性デー
タの波形が前記基準点を通るように、前記特性データを
前記算出された差分だけ特性値軸方向にオフセットする
機能を実現させるためのプログラムが記録されている。
録した媒体は、波形を表示するための出力装置を備えた
コンピュータに、光ファイバの一端に光パルスを入射し
該一端側に戻ってくる光の特性値を検出することによっ
て得られた前記光ファイバの距離対特性値の変化を示す
特性データを複数記憶する機能、前記複数の特性データ
の波形を前記出力装置によって距離軸と特性値軸からな
る直交座標上に表示させる機能、前記複数の特性データ
のうち、任意の特性データを基準特性データとして指定
するための機能、前記出力装置に表示される波形のう
ち、指定された基準特性データの波形を他の特性データ
と識別可能にさせる機能、任意の距離位置を指定する機
能、前記指定された距離位置と該距離位置における前記
基準特性データの特性値とで決まる座標点を基準点とし
て設定する機能、前記設定された基準点の距離軸の座標
の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記特性データ
の特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値軸の座標の
値との差を特性データ毎に算出する機能、前記特性デー
タの波形が前記基準点を通るように、前記特性データを
前記算出された差分だけ特性値軸方向にオフセットする
機能を実現させるためのプログラムが記録されている。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。図１は本発明の実施形態の光ファ
イバ特性評価装置の構成示す図、図２は光ファイバ試験
装置の構成を示す図である。
実施形態を説明する。図１は本発明の実施形態の光ファ
イバ特性評価装置の構成示す図、図２は光ファイバ試験
装置の構成を示す図である。
【００１５】はじめに図２に基づいて光パルス試験装置
の構成を説明する。光ファイバ試験装置２０は、光パル
ス発生器２１から出射された光パルスを方向性結合器２
２を介して光路切換器２３に導き、光路切換器２３に接
続されている多芯光ファイバケーブル１の各光ファイバ
２1 〜２n の一端側に選択的に入射する。
の構成を説明する。光ファイバ試験装置２０は、光パル
ス発生器２１から出射された光パルスを方向性結合器２
２を介して光路切換器２３に導き、光路切換器２３に接
続されている多芯光ファイバケーブル１の各光ファイバ
２1 〜２n の一端側に選択的に入射する。
【００１６】光パルスが入射された光ファイバから戻っ
てくる光は、方向性結合器２２によって受光器２４に入
射され、受光器２４からは戻り光の特性値の一つである
強度に応じてレベルが変化する受光信号が出力される。
てくる光は、方向性結合器２２によって受光器２４に入
射され、受光器２４からは戻り光の特性値の一つである
強度に応じてレベルが変化する受光信号が出力される。
【００１７】この受光信号はＡ／Ｄ変換器２５によって
データ信号に変換され、データ処理装置２６によって例
えば平均化処理されて一つの光ファイバの距離対受光強
度の変化を示す特性データとして、着脱自在なメモリカ
ード２７に記憶される。
データ信号に変換され、データ処理装置２６によって例
えば平均化処理されて一つの光ファイバの距離対受光強
度の変化を示す特性データとして、着脱自在なメモリカ
ード２７に記憶される。
【００１８】試験制御装置２８は、同一の光ファイバに
対し前記平均化に必要に回数だけ光パルス発生器２１か
らの光パルスを入射させ、その光ファイバの特性データ
が得られたときにその特性データがどの光ファイバの特
性であるかを特定するための情報Ｆ1 〜Ｆn （ファイル
名情報等）を各特性データとともにメモリカード２７に
記憶させてから、光路切換器２３を次の試験対象の光フ
ァイバに切り換えるという動作を予め設定されている順
番に行なう。
対し前記平均化に必要に回数だけ光パルス発生器２１か
らの光パルスを入射させ、その光ファイバの特性データ
が得られたときにその特性データがどの光ファイバの特
性であるかを特定するための情報Ｆ1 〜Ｆn （ファイル
名情報等）を各特性データとともにメモリカード２７に
記憶させてから、光路切換器２３を次の試験対象の光フ
ァイバに切り換えるという動作を予め設定されている順
番に行なう。
【００１９】したがって、試験が終了したときには、メ
モリカード２７には、各光ファイバ２1 〜２n について
の距離対受光強度の特性データＤ1 〜Ｄn が光ファイバ
の情報Ｆ1 〜Ｆn に対応付けされて記憶される。
モリカード２７には、各光ファイバ２1 〜２n について
の距離対受光強度の特性データＤ1 〜Ｄn が光ファイバ
の情報Ｆ1 〜Ｆn に対応付けされて記憶される。
【００２０】このメモリカード２７は光パルス試験装置
２０から抜き取られて、図１に示す光ファイバ特性評価
装置に挿着される。
２０から抜き取られて、図１に示す光ファイバ特性評価
装置に挿着される。
【００２１】このような構成を採用しているのは、光パ
ルス試験装置２０が光ファイバケーブルの布設現場に用
いられ、その測定データが現場以外の場所に設置された
コンピュータで分析できるようにしているためである。
ルス試験装置２０が光ファイバケーブルの布設現場に用
いられ、その測定データが現場以外の場所に設置された
コンピュータで分析できるようにしているためである。
【００２２】光ファイバ特性評価装置は、キーボードや
マウスからなる操作部３１と出力装置としてのＣＲＴ型
や液晶型の画像表示装置３２とを有するパーソナルコン
ピュータによって構成されており、図１は、プログラム
記録媒体（磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ、ＩＣメモリカード等）からパーソナルコンピュータ
にロードされたプログラムが実現する機能をブロック化
して示したものである。
マウスからなる操作部３１と出力装置としてのＣＲＴ型
や液晶型の画像表示装置３２とを有するパーソナルコン
ピュータによって構成されており、図１は、プログラム
記録媒体（磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ、ＩＣメモリカード等）からパーソナルコンピュータ
にロードされたプログラムが実現する機能をブロック化
して示したものである。
【００２３】図１において、データ読出手段３３は、メ
モリカード２７が挿着されたとき、あるいはメモリカー
ド２７が挿着された状態で操作部３１が特定操作された
ときに、メモリカード２７のデータを読み出してこの実
施形態の特性データ記憶手段としてのデータメモリ３４
に記憶する。
モリカード２７が挿着されたとき、あるいはメモリカー
ド２７が挿着された状態で操作部３１が特定操作された
ときに、メモリカード２７のデータを読み出してこの実
施形態の特性データ記憶手段としてのデータメモリ３４
に記憶する。
【００２４】オフセット手段３５は、データメモリ３４
に記憶されている特性データＤ1 〜Ｄn から後述する偏
差メモリ４３に記憶されている各光ファイバ毎の偏差量
ｄ1〜ｄn をそれぞれ減算し、その減算結果をオフセッ
ト特性データＤ1 ′〜Ｄn ′としてオフセットデータメ
モリ３６に記憶する。ここで、偏差メモリ４３の初期値
はすべて０であるため、最初にオフセットデータ３６に
記憶されるオフセット特性データＤ1 ′〜Ｄn ′はメモ
リカード２７から読み出された特性データＤ1〜Ｄn と
同一である。
に記憶されている特性データＤ1 〜Ｄn から後述する偏
差メモリ４３に記憶されている各光ファイバ毎の偏差量
ｄ1〜ｄn をそれぞれ減算し、その減算結果をオフセッ
ト特性データＤ1 ′〜Ｄn ′としてオフセットデータメ
モリ３６に記憶する。ここで、偏差メモリ４３の初期値
はすべて０であるため、最初にオフセットデータ３６に
記憶されるオフセット特性データＤ1 ′〜Ｄn ′はメモ
リカード２７から読み出された特性データＤ1〜Ｄn と
同一である。
【００２５】表示制御手段３７は、この実施形態の波形
表示手段を構成するものであり、画像表示装置３２の画
面上に、距離を横軸、受光強度を縦軸とする直交座標を
表示させ、この座標上にオフセットデータメモリ３６に
記憶されている複数のオフセット特性データの波形を表
示させる。なお、この表示制御手段３７は、後述する基
準特性データ指定手段３８によって選択指定された情報
に対応する特性データの波形を他の特性データの波形と
異なる色で上書して表示させる。
表示手段を構成するものであり、画像表示装置３２の画
面上に、距離を横軸、受光強度を縦軸とする直交座標を
表示させ、この座標上にオフセットデータメモリ３６に
記憶されている複数のオフセット特性データの波形を表
示させる。なお、この表示制御手段３７は、後述する基
準特性データ指定手段３８によって選択指定された情報
に対応する特性データの波形を他の特性データの波形と
異なる色で上書して表示させる。
【００２６】基準特性データ指定手段３８は、例えば画
像表示装置３２の画面に各特性データに対応する情報Ｆ
1 〜Ｆn を表示させるための釦を表示させ、この釦が操
作部３１によって操作されたときに、データメモリ３３
に記憶されている全ての情報Ｆ1 〜Ｆn を画像表示装置
３２に表示させ、カーソル操作によって基準となる特性
データに対応する情報のいずれか一つを選択指定させ
る。
像表示装置３２の画面に各特性データに対応する情報Ｆ
1 〜Ｆn を表示させるための釦を表示させ、この釦が操
作部３１によって操作されたときに、データメモリ３３
に記憶されている全ての情報Ｆ1 〜Ｆn を画像表示装置
３２に表示させ、カーソル操作によって基準となる特性
データに対応する情報のいずれか一つを選択指定させ
る。
【００２７】距離指定手段３９は、基準マーカ線を表示
させるための釦を画像表示装置３２の画面に表示させ、
この釦が操作部３１の操作によって操作されたとき、基
準マーカ線を画面の距離軸に沿って移動可能な状態で表
示させ、操作部３１による確定操作によってその基準マ
ーカ線の距離座標ａを指定する。
させるための釦を画像表示装置３２の画面に表示させ、
この釦が操作部３１の操作によって操作されたとき、基
準マーカ線を画面の距離軸に沿って移動可能な状態で表
示させ、操作部３１による確定操作によってその基準マ
ーカ線の距離座標ａを指定する。
【００２８】基準点設定手段４０は、距離指定手段３９
によって指定された距離ａと、基準特性データ指定手段
３８によって選択指定された情報Ｆx に対応する基準特
性データＤx の距離ａの受光強度Ｄx （ａ）とで決まる
座標点〔ａ，Ｄx （ａ）〕を基準点として基準点メモリ
４１に記憶設定する。
によって指定された距離ａと、基準特性データ指定手段
３８によって選択指定された情報Ｆx に対応する基準特
性データＤx の距離ａの受光強度Ｄx （ａ）とで決まる
座標点〔ａ，Ｄx （ａ）〕を基準点として基準点メモリ
４１に記憶設定する。
【００２９】偏差演算手段４２は、データメモリ３４に
記憶されている各特性データについて、基準点メモリ４
１に設定された距離座標ａの受光強度Ｄ1 （ａ）、Ｄ2
（ａ）、…、Ｄn （ａ）を読み出し、各受光強度Ｄ
1 （ａ）、Ｄ2 （ａ）、…、Ｄn（ａ）から基準点メモ
リ４１に設定されている受光強度座標Ｄx （ａ）をそれ
ぞれ減算した結果を各光ファイバ毎の偏差量ｄ1 〜ｄn
として求め、偏差メモリ４３に記憶する。
記憶されている各特性データについて、基準点メモリ４
１に設定された距離座標ａの受光強度Ｄ1 （ａ）、Ｄ2
（ａ）、…、Ｄn （ａ）を読み出し、各受光強度Ｄ
1 （ａ）、Ｄ2 （ａ）、…、Ｄn（ａ）から基準点メモ
リ４１に設定されている受光強度座標Ｄx （ａ）をそれ
ぞれ減算した結果を各光ファイバ毎の偏差量ｄ1 〜ｄn
として求め、偏差メモリ４３に記憶する。
【００３０】評価点指定手段４４は、距離指定手段３９
と同様に、評価マーカ線を表示させるための釦を画像表
示装置３２の画面に表示させ、この釦が操作部３１の操
作によって操作されたとき、評価マーカ線を距離軸に沿
って移動可能な状態で表示させ、操作部３１による確定
操作によってその評価マーカ線の距離座標ｂを指定させ
る。
と同様に、評価マーカ線を表示させるための釦を画像表
示装置３２の画面に表示させ、この釦が操作部３１の操
作によって操作されたとき、評価マーカ線を距離軸に沿
って移動可能な状態で表示させ、操作部３１による確定
操作によってその評価マーカ線の距離座標ｂを指定させ
る。
【００３１】評価演算手段４５は、前記基準点の受光強
度Ｄx （ａ）から基準特性データＤx 上で評価点指定手
段４４によって指定された距離ｂの受光強度Ｄx （ｂ）
を減算して、光ファイバ２x の距離ａの地点から距離ｂ
の地点までの減衰量を求めるとともに、この減衰量を距
離の差（ｂ−ａ）で除算して単位距離当りの減衰量（減
衰率）を求め、これらの算出結果を画像表示装置３７の
画面上に表示する。この減衰率は、表示された基準特性
データの傾斜を示している。
度Ｄx （ａ）から基準特性データＤx 上で評価点指定手
段４４によって指定された距離ｂの受光強度Ｄx （ｂ）
を減算して、光ファイバ２x の距離ａの地点から距離ｂ
の地点までの減衰量を求めるとともに、この減衰量を距
離の差（ｂ−ａ）で除算して単位距離当りの減衰量（減
衰率）を求め、これらの算出結果を画像表示装置３７の
画面上に表示する。この減衰率は、表示された基準特性
データの傾斜を示している。
【００３２】次に、この光ファイバ特性評価装置の動作
を説明する。光パルス試験装置２０で試験された光ファ
イバ２1 〜２n の各特性データＤ1〜Ｄn と情報Ｆ1 〜
Ｆn が予め記憶されているメモリカード２７が挿着され
て操作部３１が特定操作されると、メモリカード２７の
データがデータメモリ３４に記憶され、データメモリ３
４に記憶された各特性データＤ1 〜Ｄn がオフセット手
段３５を介してオフセットデータメモリ３６に記憶され
る。
を説明する。光パルス試験装置２０で試験された光ファ
イバ２1 〜２n の各特性データＤ1〜Ｄn と情報Ｆ1 〜
Ｆn が予め記憶されているメモリカード２７が挿着され
て操作部３１が特定操作されると、メモリカード２７の
データがデータメモリ３４に記憶され、データメモリ３
４に記憶された各特性データＤ1 〜Ｄn がオフセット手
段３５を介してオフセットデータメモリ３６に記憶され
る。
【００３３】このため、画像表示装置３２の画面には、
例えば図３に示すように、各光ファイバの特性データの
波形が光パルス試験装置２０の光路切換器２２の特性の
バラツキや光パルスの波長の揺らぎ等によって、上下に
大きくばらついた状態で同色に表示される。
例えば図３に示すように、各光ファイバの特性データの
波形が光パルス試験装置２０の光路切換器２２の特性の
バラツキや光パルスの波長の揺らぎ等によって、上下に
大きくばらついた状態で同色に表示される。
【００３４】ここで、操作部３１によって基準の特定デ
ータを指定すめための釦「ＲＥＦ．ＦＩＬＥ」が操作さ
れると、図４に示すようにデータメモリ３４に記憶され
ている情報Ｆ1 〜Ｆn が画像表示装置３２の画面に一覧
表示される。
ータを指定すめための釦「ＲＥＦ．ＦＩＬＥ」が操作さ
れると、図４に示すようにデータメモリ３４に記憶され
ている情報Ｆ1 〜Ｆn が画像表示装置３２の画面に一覧
表示される。
【００３５】操作者が画像表示装置３２に表示されてい
る情報Ｆ1 〜Ｆn のうち、例えば情報Ｆ2 を操作部３１
の操作によって選択指定すると、図５に示すように、情
報Ｆ2 に対応する特性データＤ2 の波形（図では太い線
で示す）が、他の波形と異なる色に変更される。なお、
この場合、他の波形を同一色（例えば黄色）で表示した
後に、特性データＤ2 の波形を異なる色（例えば緑色）
で上書して、基準の特性データの波形が他の波形によっ
て塗り変えられないようにしている。
る情報Ｆ1 〜Ｆn のうち、例えば情報Ｆ2 を操作部３１
の操作によって選択指定すると、図５に示すように、情
報Ｆ2 に対応する特性データＤ2 の波形（図では太い線
で示す）が、他の波形と異なる色に変更される。なお、
この場合、他の波形を同一色（例えば黄色）で表示した
後に、特性データＤ2 の波形を異なる色（例えば緑色）
で上書して、基準の特性データの波形が他の波形によっ
て塗り変えられないようにしている。
【００３６】次に、操作者が操作部３１の操作によって
基準マーカ線を表示するための釦「ＲＥＦ．ＰＯＳＩ
Ｔ」を操作すると、図６に示すように、移動可能な基準
マーカ線Ｍｒが所定位置に表示され、操作者が基準マー
カ線Ｍｒをカーソル操作等によって距離軸に沿って移動
して確定操作を行なうと、基準マーカ線Ｍｒの距離座標
ａと、距離ａにおける特性データＤ2 の受光強度座標Ｄ
2 （ａ）とからなる基準点座標が基準点メモリ４１に設
定される。
基準マーカ線を表示するための釦「ＲＥＦ．ＰＯＳＩ
Ｔ」を操作すると、図６に示すように、移動可能な基準
マーカ線Ｍｒが所定位置に表示され、操作者が基準マー
カ線Ｍｒをカーソル操作等によって距離軸に沿って移動
して確定操作を行なうと、基準マーカ線Ｍｒの距離座標
ａと、距離ａにおける特性データＤ2 の受光強度座標Ｄ
2 （ａ）とからなる基準点座標が基準点メモリ４１に設
定される。
【００３７】そして、データメモリ３４に記憶されてい
る各特性データの距離ａの受光強度Ｄ1 （ａ）、Ｄ
2 （ａ）、…、Ｄn （ａ）からそれぞれ受光強度Ｄ
2 （ａ）を減算した結果が光ファイバ毎の偏差量ｄ1 〜
ｄn として偏差メモリ４３に記憶される。なお、この場
合、基準特性データとして指定された光ファイバ２2 の
偏差量ｄ2 は零である。
る各特性データの距離ａの受光強度Ｄ1 （ａ）、Ｄ
2 （ａ）、…、Ｄn （ａ）からそれぞれ受光強度Ｄ
2 （ａ）を減算した結果が光ファイバ毎の偏差量ｄ1 〜
ｄn として偏差メモリ４３に記憶される。なお、この場
合、基準特性データとして指定された光ファイバ２2 の
偏差量ｄ2 は零である。
【００３８】このため、オフセットデータメモリ３６に
は、メモリカード２７から最初に読み出された特性デー
タＤ1 、Ｄ2 、…、Ｄn に代わって、その各特性データ
からそれぞれの偏差量ｄ1 〜ｄn を減じたオフセットさ
れたオフセット特性データＤ1 ′（＝Ｄ1 −ｄ1 ）、Ｄ
2 ′（＝Ｄ2 −ｄ2 ）、…、Ｄn ′（＝Ｄn −ｄn ）が
記憶されることになる。ただし、この例ではｄ2 ＝０な
ので、特性データＤ2′は特性データＤ2 と等しい。
は、メモリカード２７から最初に読み出された特性デー
タＤ1 、Ｄ2 、…、Ｄn に代わって、その各特性データ
からそれぞれの偏差量ｄ1 〜ｄn を減じたオフセットさ
れたオフセット特性データＤ1 ′（＝Ｄ1 −ｄ1 ）、Ｄ
2 ′（＝Ｄ2 −ｄ2 ）、…、Ｄn ′（＝Ｄn −ｄn ）が
記憶されることになる。ただし、この例ではｄ2 ＝０な
ので、特性データＤ2′は特性データＤ2 と等しい。
【００３９】このオフセットによって、画像表示装置３
２には、図７に示すように、すべての特性データの波形
が基準となる特性データ上の基準点を通ることになり、
伝送特性が基準の特性データとほぼ等しい特性データの
波形は、基準の特性データと重なり合い、基準の特性デ
ータと減衰率等が異なる特性の波形は、基準の波形から
離れて表示されることになる。つまり、光ファイバの主
要特性である損失特性のファイバ間の違いが一目で把握
できる。
２には、図７に示すように、すべての特性データの波形
が基準となる特性データ上の基準点を通ることになり、
伝送特性が基準の特性データとほぼ等しい特性データの
波形は、基準の特性データと重なり合い、基準の特性デ
ータと減衰率等が異なる特性の波形は、基準の波形から
離れて表示されることになる。つまり、光ファイバの主
要特性である損失特性のファイバ間の違いが一目で把握
できる。
【００４０】また、操作者が操作部３１の操作によって
評価マーカ線を表示するための釦「ＭＥＳ．ＰＯＳＩ
Ｔ」を操作すると、図８に示すように、移動可能な評価
マーカ線Ｍｍが所定位置に表示され、操作者が評価マー
カ線Ｍｍをカーソル操作等によって距離軸に沿って任意
の位置に移動して確定操作を行なうと、その評価マーカ
線Ｍｍの距離座標ｂにおける特性データＤ2 の受光強度
座標Ｄ2 （ｂ）が求められ、距離ａから距離ｂまでの減
衰量と減衰率が算出されて図９に示すように表示され
る。
評価マーカ線を表示するための釦「ＭＥＳ．ＰＯＳＩ
Ｔ」を操作すると、図８に示すように、移動可能な評価
マーカ線Ｍｍが所定位置に表示され、操作者が評価マー
カ線Ｍｍをカーソル操作等によって距離軸に沿って任意
の位置に移動して確定操作を行なうと、その評価マーカ
線Ｍｍの距離座標ｂにおける特性データＤ2 の受光強度
座標Ｄ2 （ｂ）が求められ、距離ａから距離ｂまでの減
衰量と減衰率が算出されて図９に示すように表示され
る。
【００４１】なお、「ＲＥＦ．ＦＩＬＥ」釦を再度操作
すれば、基準の特性データを変更することができ、ま
た、「ＲＥＦ．ＰＯＳＩＴ」釦や「ＭＥＳ．ＰＯＳＩ
Ｔ」釦を操作するかあるいは基準マーカ線Ｍｒや評価マ
ーカ線Ｍｍをマウスカーソルで直接操作することによっ
て基準マーカ線Ｍｒや評価マーカ線Ｍｍの位置を変更す
ることができる。
すれば、基準の特性データを変更することができ、ま
た、「ＲＥＦ．ＰＯＳＩＴ」釦や「ＭＥＳ．ＰＯＳＩ
Ｔ」釦を操作するかあるいは基準マーカ線Ｍｒや評価マ
ーカ線Ｍｍをマウスカーソルで直接操作することによっ
て基準マーカ線Ｍｒや評価マーカ線Ｍｍの位置を変更す
ることができる。
【００４２】また、前記説明では、メモリカード２７か
ら読み出した特性データをデータメモリだけでなくオフ
セットメモリに記憶させて、画像表示装置の画面上にオ
フセット処理していない特性データの波形を表示してい
たが、メモリカード２７から読み出した特性データをデ
ータメモリに記憶し、基準となる特性データの情報Ｆx
と距離ａとを指定することによって、基準点に対する各
特性データ毎の偏差量を算出させ、この偏差量によって
データメモリの特性データをオフセット処理してオフセ
ットデータメモリに記憶するようにしてもよい。この場
合には、オフセット処理された特性データの波形を最初
から表示させることができる。
ら読み出した特性データをデータメモリだけでなくオフ
セットメモリに記憶させて、画像表示装置の画面上にオ
フセット処理していない特性データの波形を表示してい
たが、メモリカード２７から読み出した特性データをデ
ータメモリに記憶し、基準となる特性データの情報Ｆx
と距離ａとを指定することによって、基準点に対する各
特性データ毎の偏差量を算出させ、この偏差量によって
データメモリの特性データをオフセット処理してオフセ
ットデータメモリに記憶するようにしてもよい。この場
合には、オフセット処理された特性データの波形を最初
から表示させることができる。
【００４３】また、操作部を特定操作によって、装置全
体あるいは少なくとも偏差メモリ４３の内容をリセット
できるように構成しておけば、表示波形をオフセット処
理していない特性データの波形に戻すことができる。
体あるいは少なくとも偏差メモリ４３の内容をリセット
できるように構成しておけば、表示波形をオフセット処
理していない特性データの波形に戻すことができる。
【００４４】以上のように、この実施形態の光ファイバ
特性評価装置は、光パルスの波長変動や光路切換器の損
失のバラツキがある状態で取得された光ファイバの特性
データの波形が基準点を通るようにオフセットしている
ので、伝送特性が近い波形同士が重なり合い、伝送特性
が異なる波形同士が離間して表示され、光ファイバケー
ブル１の全体の特性を正確に把握できる。また、基準と
して指定した特性データの波形が他の波形と異なる色で
識別表示されるので、一つの光ファイバの特性を光ファ
イバケーブル１全体の中で容易に認識でき評価が容易に
できる。
特性評価装置は、光パルスの波長変動や光路切換器の損
失のバラツキがある状態で取得された光ファイバの特性
データの波形が基準点を通るようにオフセットしている
ので、伝送特性が近い波形同士が重なり合い、伝送特性
が異なる波形同士が離間して表示され、光ファイバケー
ブル１の全体の特性を正確に把握できる。また、基準と
して指定した特性データの波形が他の波形と異なる色で
識別表示されるので、一つの光ファイバの特性を光ファ
イバケーブル１全体の中で容易に認識でき評価が容易に
できる。
【００４５】
【他の実施の形態】前記実施形態では、特性データの波
形を表示するための出力装置として画像表示装置を用い
ていたが、プリンタやプロッタによって特性データの波
形を印刷出力してもよい。
形を表示するための出力装置として画像表示装置を用い
ていたが、プリンタやプロッタによって特性データの波
形を印刷出力してもよい。
【００４６】また、前記実施形態は、複数組の特性デー
タをメモリカードから読み出して装置内に入力していた
が、他の記憶媒体例えばフロッピーディスクや着脱自在
なハードディスク、光磁気ディスクに記録された特性デ
ータを読み出して入力してもよく、また、光パルス試験
装置との間で通信を行なう通信装置を設け、光パルス試
験装置から送信された複数の特性データを受信すること
によって特性データを入力させるようにしてもよい。
タをメモリカードから読み出して装置内に入力していた
が、他の記憶媒体例えばフロッピーディスクや着脱自在
なハードディスク、光磁気ディスクに記録された特性デ
ータを読み出して入力してもよく、また、光パルス試験
装置との間で通信を行なう通信装置を設け、光パルス試
験装置から送信された複数の特性データを受信すること
によって特性データを入力させるようにしてもよい。
【００４７】また、前記実施形態では、メモリカード２
７に記憶されているデータを一旦データメモリ３４にロ
ードしてから、オフセット処理していたが、メモリカー
ド２７から読み出したデータを直接オフセット処理して
オフセットデータメモリに書き込むようにしてもよい。
この場合、メモリカード２７自体が特性データ記憶手段
を構成する。
７に記憶されているデータを一旦データメモリ３４にロ
ードしてから、オフセット処理していたが、メモリカー
ド２７から読み出したデータを直接オフセット処理して
オフセットデータメモリに書き込むようにしてもよい。
この場合、メモリカード２７自体が特性データ記憶手段
を構成する。
【００４８】また、前記実施形態の光ファイバ特性評価
装置は、光ファイバの布設現場で取得した特性データを
別の場所で評価できるように光パルス試験装置と別体に
構成されていたが、光パルス試験装置と一体に形成して
もよい。この場合には、前記したような特性データを記
憶するための記憶媒体が着脱自在なものでなくてもよ
い。
装置は、光ファイバの布設現場で取得した特性データを
別の場所で評価できるように光パルス試験装置と別体に
構成されていたが、光パルス試験装置と一体に形成して
もよい。この場合には、前記したような特性データを記
憶するための記憶媒体が着脱自在なものでなくてもよ
い。
【００４９】また、前記実施形態では、複数の特性デー
タのうち、任意に選択した特性データ上に基準点の座標
を設定するようにしていたが、特性データとは無関係に
任意の基準点の座標を操作部の操作によって入力設定
し、この設定された基準点の距離位置における各特性デ
ータの受光強度と、基準点の受光強度との差を算出し、
算出した差分だけ各特性データを受光強度軸方向にオフ
セットして、全ての特性データが基準点を通るように波
形表示するようにしてもよい。また、この場合でも、任
意に指定した特性データの波形の色を他の特性データの
波形と異なる色にしておけば、全体の中の特定の光ファ
イバの特性を容易に識別できる。
タのうち、任意に選択した特性データ上に基準点の座標
を設定するようにしていたが、特性データとは無関係に
任意の基準点の座標を操作部の操作によって入力設定
し、この設定された基準点の距離位置における各特性デ
ータの受光強度と、基準点の受光強度との差を算出し、
算出した差分だけ各特性データを受光強度軸方向にオフ
セットして、全ての特性データが基準点を通るように波
形表示するようにしてもよい。また、この場合でも、任
意に指定した特性データの波形の色を他の特性データの
波形と異なる色にしておけば、全体の中の特定の光ファ
イバの特性を容易に識別できる。
【００５０】また、前記実施形態では、指定された距離
ａの各特性データの受光強度Ｄ1 （ａ）、Ｄ2 （ａ）、
…、Ｄn （ａ）から各光ファイバ毎の偏差量を演算して
いたが、特性データの各距離値はデータ取得時のサンプ
リング間隔によって連続していないため、任意に指定さ
れる距離ａに対応する特性データの受光強度値が得られ
ない場合がある。このような場合には、指定された距離
ａに最も近いものを採用したり、あるいは、距離ａの近
傍の複数の受光強度の平均値を各特性データ毎に求め、
各平均値と基準点との差を算出して、オフセット処理す
ればよい。
ａの各特性データの受光強度Ｄ1 （ａ）、Ｄ2 （ａ）、
…、Ｄn （ａ）から各光ファイバ毎の偏差量を演算して
いたが、特性データの各距離値はデータ取得時のサンプ
リング間隔によって連続していないため、任意に指定さ
れる距離ａに対応する特性データの受光強度値が得られ
ない場合がある。このような場合には、指定された距離
ａに最も近いものを採用したり、あるいは、距離ａの近
傍の複数の受光強度の平均値を各特性データ毎に求め、
各平均値と基準点との差を算出して、オフセット処理す
ればよい。
【００５１】
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
の光ファイバ特性評価装置は、基準点指定手段によって
任意に指定された基準点と、この基準点の距離位置にお
ける複数の特性データとの差をそれぞれ求め、その差分
だけ各特性データの特性値をオフセットして、複数の特
性データの波形が距離軸と特性値軸からなる直交座標面
上で基準点を通るように表示させている。
の光ファイバ特性評価装置は、基準点指定手段によって
任意に指定された基準点と、この基準点の距離位置にお
ける複数の特性データとの差をそれぞれ求め、その差分
だけ各特性データの特性値をオフセットして、複数の特
性データの波形が距離軸と特性値軸からなる直交座標面
上で基準点を通るように表示させている。
【００５３】このため、光パルスの波長変動や光路切換
器の損失のバラツキ等がある状態で取得された複数の光
ファイバの特性データであっても、光ファイバ全体の本
来の特性を正確に把握することができる。
器の損失のバラツキ等がある状態で取得された複数の光
ファイバの特性データであっても、光ファイバ全体の本
来の特性を正確に把握することができる。
【００５４】また、本発明の請求項２の光ファイバ特性
評価装置は、複数の特性データのうちの任意の特性デー
タを基準特性データとして指定でき、この基準特性デー
タ上の任意の距離位置を基準点とすることができ、ま
た、請求項３の光ファイバ特性評価装置は基準特性デー
タの波形を他の特性データの波形と識別可能な状態で表
示するようにしているので、複数の光ファイバ全体の中
で特定の光ファイバの評価を容易に行うことができる。
評価装置は、複数の特性データのうちの任意の特性デー
タを基準特性データとして指定でき、この基準特性デー
タ上の任意の距離位置を基準点とすることができ、ま
た、請求項３の光ファイバ特性評価装置は基準特性デー
タの波形を他の特性データの波形と識別可能な状態で表
示するようにしているので、複数の光ファイバ全体の中
で特定の光ファイバの評価を容易に行うことができる。
【図１】本発明の一実施形態の構成を示す図
【図２】光パルス試験装置の構成を示す図
【図３】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図４】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図５】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図６】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図７】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図８】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図９】一実施形態の表示画面の一例を示す図
【図１０】光パルス試験装置の概略構成を示す図
【図１１】特性データの表示例を示す図
２７ カードメモリ ３１ 操作部 ３２ 画像表示装置 ３３ データ読出手段 ３４ データメモリ ３５ オフセット手段 ３６ オフセットデータメモリ ３７ 表示制御手段 ３８ 基準特性データ指定手段 ３９ 距離指定手段 ４０ 基準点設定手段 ４１ 基準点メモリ ４２ 偏差演算手段 ４３ 偏差メモリ ４４ 評価点指定手段 ４５ 評価演算手段
Claims (5)
- 【請求項１】光ファイバのー端に光パルスを入射し該一
端側に戻ってくる光の特性値を検出することによって得
られた前記光ファイバの距離対特性値の変化を示す特性
データを複数記憶する特性データ記憶手段（３４）と、前記複数の特性データの 波形を表示出力するための出力
手段（３２）と、 前記複数の特性データの波形を前記出力装置によって距
離軸と特性値軸からなる直交座標上に表示させる波形表
示制御手段（３７）と、 前記直交座標内に任意の基準点を指定するための基準点
指定手段（３８〜４０）と、 前記基準点指定手段によって指定された基準点の距離軸
の座標の値とほぼ等しい距離軸の座標における前記特性
データの特性値軸の座標の値と前記基準点の特性値軸の
座標の値との差を特性データ毎に算出する演算手段（４
２）と、 前記波形表示制御手段によって表示される特性データの
波形が前記基準点を通るように、前記特性データを前記
演算手段によって算出された差分だけ特性値軸方向にオ
フセットするオフセット手段（３５）とを備えた光ファ
イバ特性評価装置。 - 【請求項２】前記基準点指定手段は、前記複数の特性デ
ータのうち、任意の特性データを基準特性データとして
指定するための基準特性データ指定手段（３８）と、任
意の距離位置を指定するための距離指定手段（３９）と
を有し、該距離指定手段によって指定された距離位置
と、該距離位置における前記基準特性データの特性値と
で決まる座標点を前記基準点として指定することを特徴
とする請求項１記載の光ファイバ特性評価装置。 - 【請求項３】前記波形表示制御手段は、前記基準特性デ
ータ指定手段によって指定された特性データの波形を他
の特性データの波形と識別可能に表示させることを特徴
とする請求項２記載の光ファイバ特性評価装置。 - 【請求項４】波形を表示するための出力装置を備えたコ
ンピュータに、 光ファイバの一端に光パルスを入射し該一端側に戻って
くる光の特性値を検出することによって得られた前記光
ファイバの距離対特性値の変化を示す特性データを複数
記憶する機能、 前記複数の特性データの波形を前記出力装置によって距
離軸と特性値軸からなる直交座標上に表示させる機能、前記直交座標内に任意の基準点を指定する機能、 前記指定された基準点の距離軸の座標の値とほぼ等しい
距離軸の座標における前記特性データの特性値軸の座標
の値と前記基準点の特性値軸の座標の値との差を特性デ
ータ毎に算出する機能、 前記特性データの波形が前記基準点を通るように、前記
特性データを前記算出された差分だけ特性値軸方向にオ
フセットする機能を実現させるためのプログラムを記録
した媒体。 - 【請求項５】波形を表示するための出力装置を備えたコ
ンピュータに、 光ファイバの一端に光パルスを入射し該一端側に戻って
くる光の特性値を検出することによって得られた前記光
ファイバの距離対特性値の変化を示す特性データを複数
記憶する機能、 前記複数の特性データの波形を前記出力装置によって距
離軸と特性値軸からなる直交座標上に表示させる機能、 前記複数の特性データのうち、任意の特性データを基準
特性データとして指定するための機能、 前記出力装置に表示される波形のうち、指定された基準
特性データの波形を他の特性データと識別可能にさせる
機能、 任意の距離位置を指定する機能、 前記指定された距離位置と該距離位置における前記基準
特性データの特性値とで決まる座標点を基準点として設
定する機能、 前記設定された基準点の距離軸の座標の値とほぼ等しい
距離軸の座標における前記特性データの特性値軸の座標
の値と前記基準点の特性値軸の座標の値との差 を特性デ
ータ毎に算出する機能、 前記特性データの波形が前記基準点を通るように、前記
特性データを前記算出された差分だけ特性値軸方向にオ
フセットする機能を実現させるためのプログラムを記録
した媒体。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29351397A JP3292982B2 (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 光ファイバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体 |
| US09/160,603 US6259993B1 (en) | 1997-10-09 | 1998-09-25 | Optical fiber characteristic evaluation system and computer-readable recording medium on which computer program used for the system is recorded |
| DE69822392T DE69822392T2 (de) | 1997-10-09 | 1998-10-02 | Vorrichtung zum Bewerten einer Lichtwellenleitercharakteristik |
| EP98118695A EP0908715B1 (en) | 1997-10-09 | 1998-10-02 | Optical fiber characteristic evaluation system and computer-readable recording medium on which computer program used for the system is recorded |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29351397A JP3292982B2 (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 光ファイバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11119027A JPH11119027A (ja) | 1999-04-30 |
| JP3292982B2 true JP3292982B2 (ja) | 2002-06-17 |
Family
ID=17795719
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29351397A Expired - Fee Related JP3292982B2 (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 光ファイバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6259993B1 (ja) |
| EP (1) | EP0908715B1 (ja) |
| JP (1) | JP3292982B2 (ja) |
| DE (1) | DE69822392T2 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE514745C2 (sv) * | 1999-06-18 | 2001-04-09 | Samba Sensors Ab | Förfarande och anordning för böjkompensation vid intensitetsbaserade optiska mätsystem |
| US20090027659A1 (en) * | 1999-06-18 | 2009-01-29 | Sambra Sensors Ab | Measuring system for measuring a physical parameter influencing a sensor element |
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