JPS61218178A - アモルフアスシリコン太陽電池 - Google Patents

アモルフアスシリコン太陽電池

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JPS61218178A
JPS61218178A JP60058512A JP5851285A JPS61218178A JP S61218178 A JPS61218178 A JP S61218178A JP 60058512 A JP60058512 A JP 60058512A JP 5851285 A JP5851285 A JP 5851285A JP S61218178 A JPS61218178 A JP S61218178A
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JP
Japan
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amorphous silicon
transparent conductive
conductive film
solar cell
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP60058512A
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English (en)
Inventor
Atsushi Tachika
田近 淳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Komatsu Ltd filed Critical Komatsu Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022466Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、アモルファスシリコンを用いたアモルファス
シリコン太陽電池に関するものであ−る。
従来の技術 ガラス基板上に表面の透明導電膜とアモルファスシリコ
ンP層、1層、N層及び裏面の透明導電膜、裏面金属電
極を順次積層したアモルファスシリコン太陽電池が知ら
れている。
発明が解決しようとする問題点 モノシランガス(Si)I4)のグロー放電分解くよっ
て得られるアモルファスシリコン膜ハ、光の吸収係数が
特に可視領竣(0,4〜0.7μm)で大キく、この領
域の光をアモルファスシリコン膜に入射し次場合lOp
風程度の膜厚があれば膜内部に侵入した光の9596以
上を吸収できる。
これは単結晶シリコンの100μmに比べると約1桁大
きく太陽電池への応用を考える上で大きな利点の1つく
なっている。
したがって、アモルファスシリコン太陽電池を形成する
場合、光の有効利用という観点から見れば太陽電池の活
性領域であるアモルファスシリコ71層の膜厚は10μ
m以上であることが望ましい。
しかしながらここまでアモルファスシリコ71層の膜厚
を厚くすると良好な太陽電池特性が得られない。
その理由は、アモルファスシリコン膜(I層〕の膜質を
評価するための重要な指標の1つてあるキャリア(電子
、正孔〕の拡散長が本質的に短かく、あまりアモルファ
スシリコ71層の膜厚を厚くして太陽電池を構成すると
、光の吸収によって発生したキャリアが表面、あるいは
裏面金属電極に到達できないという事態が生じる之めで
ある。
このため通常アモルファスシリコン太陽電池のアモルフ
ァスシリコンエ層の膜厚は5 、000〜10.000
f程度に設計されているので、従来のアモルファスシリ
コン太陽電池内部に吸収される可視光領域の光の量は8
0L4程度になり、十分に入射光を吸収できる膜厚には
なっておらず吸収されなかった光は透過して捨ててしま
っていることになり、光の有効利用という点からは問題
となってい友。
問題点を解決する之めの手段及び作用 表面の透明導電膜及び裏面の透明導電膜を粗面として、
アモルファスシリコン1層の膜厚がs、ooo X以下
でも10μm以上の膜厚と同程度の光の吸収量が得られ
るようにしたものである。
実施例 以下、その構造を第1因に基づいて説明する。
ガラス基板1上に、その表面が粗面の透明導電膜2を形
成する。この表面電極となる透明導電膜2は電子ビーム
法で蒸着する。この際、蒸着条件をコントロールするこ
とによって形成される透明導電膜20表面に粒径500
〜1.500A程度の結晶粒が単位千万ミクロン当シ5
0〜60ケできるようにする。つまり、例えば第2図の
顕微鏡写真に示すような粗面とする。その上にモノシラ
ンガスのグロー放電分解法にニジアモルファスシリコン
P層3、アモルファスシリコンエ層4、アモルファスシ
リコンN層5をそれぞれ100〜200 A、 2.0
00〜5.0OOA。
300〜500,18度の膜厚で順次積層する。
次に上記透明導電膜2と同じ表面構造を有する透明導電
膜6を裏面電極として形成しt後、アルミニウムか銀の
裏面金属電極7を蒸着してアモルファス太陽電池を構成
する。
このような構造とすると第3図に示すように、そのアモ
ルファスシリコン太陽電池に入射した光は、先ず表面の
透明導電膜2でその形成が凹凸であるが友めに乱反射さ
れる。乱反射されてアモルファスシリコンP、I、N層
3,4.5ニジ成るアモルファスシリコン膜に侵入しt
光は膜内で吸収されキャリアを発生するが、すべてが吸
収されるわけではなく吸収されずに裏面電極となる裏面
の透明導電膜6まで到達するものも一部でてくる。この
傾向は吸収係数の比較的小さい長波長側の光(0,65
μm以上)においてより顕著である。裏面に到達し友光
は、裏面金属電極7と裏面の透明導1M、膜6界而の凹
凸の友めにま九乱反射されてアモルファスシリコン膜に
戻っていく。この際前述の界面での乱反射は全反射では
なく裏面金属電極7にも一部吸収されている。裏面金属
電極7にアルミニウムか銀を使用すると金属内での吸収
を少なくできほとんど全反射に近くなる。
前述の界面での乱反射を経て再びアモルファスシリコン
膜内に戻っていく光は一部吸収されるがやはり吸収され
ずに表面電極となる表面の透明導電膜2まで到達するも
のもでてくる。この光はまた表面の凹凸のために乱反射
されるが、この場合表面の透明導電膜2とアモルファス
シリコン膜界面への入射角が臨界角以上であることが望
ましい。
しかし、このような角度になるように表面凹凸形状をコ
ントロールして形成することは不可能であるが前述のよ
うな表面形状にすることでほぼこれに近いことが実際に
内部でおこっていると考えられる。
以上述べたような光の経路金ながめて見ると表面及び裏
面電極となる表面及び裏面の透明導を膜2,6に凹凸が
ない、すなわち滑面の場合に比べると明らかに光の光路
長は長くなっており、本発明の構造を使用することによ
ってアモルファスシリコン膜が薄くても厚い場合と同じ
光の吸収効果を持たせることができる。
第3図は本発明のアモルファスシリコン太陽電池と従来
のものの光照射下(ソーラシミレー/ −AMl、 l
oomw/dJでの電流−電圧出力特性を比較した結果
を示す表面である。これによれば本発明のアモルファス
シリコン太陽電池は従来のものに比べ出力電流か増加し
、出力特性が改善される。ま几−アモルファスシリコン
太陽電池は光照射によって特性の低下が生じるが、この
現象はアモルファスシリコン膜の膜厚が厚くなればなる
ほど顕著になるが、2.000X以下ではほとんど特性
の低下は生じない。
また従来2.00OAの膜厚でアモルファスシリコン太
陽電池を構成すると光照射による特性劣化は少ないが、
光の吸収量が少ない几めに初期効率が患いという欠点が
あり7?:が、本発明のアモルファスシリコン太陽電池
によれば、アモルファスシリコン膜厚が2.000 A
以下でも初期効率が高くしかも光照射による特性の劣化
が少ないアそルファスシリコン太陽電池となる。
発明の効果 表面及び裏面の透明導を膜2,6の表面が粗面であるか
ら、入射光をアモルファスシリコン膜層内部で散乱して
封じ込めできるから、その膜厚が5000 A以下でも
10μm以上の膜厚と同程度の光の吸収量が得られて太
陽電池の性能が向上する。
4囚面の簡単な説明 第1囚は本発明の実施例を示す断面図、第2囚は透明導
電膜の表面顕微鏡写真、第3図は原理説明因、第4丙は
従来のアモルファスシリコン太陽電池と本発明のアモル
ファスシリコン太陽電池との出力特性の比較表内である
1はガラス基板、2は透明導電膜、3,4゜5はアモル
ファスシリコン膜層、I+m、NJI、61−1透明4
’tltya、7FiMm金m ’a極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ガラス基板1上に透明導電膜2、アモルファスシリコン
    P層3、I層4、N層5、透明導電膜6及び裏面金属電
    極7を積層したものにおいて、前記透明導電膜2、6の
    表面を粗面としたことを特徴とするアモルファスシリコ
    ン太陽電池。
JP60058512A 1985-03-25 1985-03-25 アモルフアスシリコン太陽電池 Pending JPS61218178A (ja)

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JP60058512A JPS61218178A (ja) 1985-03-25 1985-03-25 アモルフアスシリコン太陽電池

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02143569A (ja) * 1988-11-25 1990-06-01 Agency Of Ind Science & Technol 光電変換素子
WO2010023867A1 (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 株式会社エバテック 薄膜太陽電池及びその製造方法、並びに薄膜太陽電池用基板
EP2194583A1 (en) * 2008-12-05 2010-06-09 Applied Materials, Inc. Semiconductor device and method of producing a semiconductor device
WO2010063590A1 (en) * 2008-12-05 2010-06-10 Applied Materials Inc. Semiconductor device and method of producing a semiconductor device

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