JPS61217838A - マイクロプロセツサの試験方法 - Google Patents
マイクロプロセツサの試験方法Info
- Publication number
- JPS61217838A JPS61217838A JP60059323A JP5932385A JPS61217838A JP S61217838 A JPS61217838 A JP S61217838A JP 60059323 A JP60059323 A JP 60059323A JP 5932385 A JP5932385 A JP 5932385A JP S61217838 A JPS61217838 A JP S61217838A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microprocessor
- data
- instruction
- test
- input
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は、マイクロプロセッサの耐環境性の試験方法に
関する。
関する。
Ｂ１発明の概要
本発明は、マイクロプロセッサの耐環境性をその動作状
態で試験する方法において、 マイクロプロセッサが固有な動作状態になるようその入
力ピンの論理を固定し、この動作出力のみをデータ出力
ピンから外部記録装置に取出すことにエリ、 試験ゐ必要な周辺要素を最小限にして実際の動作状態と
同等の試験ができる工うにしたものである。
態で試験する方法において、 マイクロプロセッサが固有な動作状態になるようその入
力ピンの論理を固定し、この動作出力のみをデータ出力
ピンから外部記録装置に取出すことにエリ、 試験ゐ必要な周辺要素を最小限にして実際の動作状態と
同等の試験ができる工うにしたものである。
Ｃ２従来の技術
近年、マイクロフンピユータとその応゛用面の発達に目
ざましいものがあり、様々の分野９機器の中枢部にマイ
クロコンピュータが適用されてきている。そのうち、エ
ンジンやモータの近傍に設置ブれるマイクロフンピユー
タや原子力関連その他のプラントの現場に設置されるマ
イクロコンピュータなど、温度、湿度、放射能、化学物
質雰囲気中など環境条件の厳しい場所に設置されるマイ
クロコンピュータ、特に中心部となるマイクａ フ。
ざましいものがあり、様々の分野９機器の中枢部にマイ
クロコンピュータが適用されてきている。そのうち、エ
ンジンやモータの近傍に設置ブれるマイクロフンピユー
タや原子力関連その他のプラントの現場に設置されるマ
イクロコンピュータなど、温度、湿度、放射能、化学物
質雰囲気中など環境条件の厳しい場所に設置されるマイ
クロコンピュータ、特に中心部となるマイクａ フ。
セッサがその環境下で十分に機能するかどうかの試験を
行い、その動作を検証しておく必要がある。
行い、その動作を検証しておく必要がある。
従来から一般的に行われているマイクロプロセッサの耐
環境性試験に、他のＩＣ，ＬＳＩの試験と同様に専用の
テスタを用意し、温度と湿度の耐性試験には恒温槽を利
用し、耐放射能の試験にばγ線照射施設などを利用して
試料を夫々の環境下にざらし、その前後に試料の各パラ
メータをチェックして評価する。
環境性試験に、他のＩＣ，ＬＳＩの試験と同様に専用の
テスタを用意し、温度と湿度の耐性試験には恒温槽を利
用し、耐放射能の試験にばγ線照射施設などを利用して
試料を夫々の環境下にざらし、その前後に試料の各パラ
メータをチェックして評価する。
この方法は専用のテスタで種々のパラメータをチェック
するため、きめの細い検討を行うことができる反面、マ
イクロプロセッサが実際の環境下で動作するかどうかの
根本的な検証を行うことができない。また、恒温槽など
から出してテスタにがけるまでの時間に例えばマイクロ
プロセッサが異常状態から回復してしまうなどの可能性
があり、現実的な耐環境性の試験にはならない欠点があ
る。
するため、きめの細い検討を行うことができる反面、マ
イクロプロセッサが実際の環境下で動作するかどうかの
根本的な検証を行うことができない。また、恒温槽など
から出してテスタにがけるまでの時間に例えばマイクロ
プロセッサが異常状態から回復してしまうなどの可能性
があり、現実的な耐環境性の試験にはならない欠点があ
る。
そこで、決められた環境下でマイクロプロセッサが動作
するかどうかの検証方法として、第２図に示すように、
恒温恒湿槽（又はγ線照射施設）１中にマイクロプロセ
ッサになる試料２を設置し、外部より電源３と模擬信号
発生装置１４からの模擬入力を与え、試料２からの出力
を外部の記録計等の配録装置５に記録してその解析を行
うようにしている。
するかどうかの検証方法として、第２図に示すように、
恒温恒湿槽（又はγ線照射施設）１中にマイクロプロセ
ッサになる試料２を設置し、外部より電源３と模擬信号
発生装置１４からの模擬入力を与え、試料２からの出力
を外部の記録計等の配録装置５に記録してその解析を行
うようにしている。
Ｄ１発明が解決しようとする間哄点
第２図に示すような従来の試験方法では電源ケーブルと
合せて信号の入出力のための信号ケーブルを恒温恒湿槽
１の内部と外部の記録計５、模擬信号発生装置４間に設
置するという大がかりな試験方法になる問題がある。て
らに、限定された機能を行うＩＣ例えばＴＴＬやメモリ
などには問題とならないが、マイクロプロセッサの耐環
境性の動作試験には次のような問題がある。
合せて信号の入出力のための信号ケーブルを恒温恒湿槽
１の内部と外部の記録計５、模擬信号発生装置４間に設
置するという大がかりな試験方法になる問題がある。て
らに、限定された機能を行うＩＣ例えばＴＴＬやメモリ
などには問題とならないが、マイクロプロセッサの耐環
境性の動作試験には次のような問題がある。
（１） マイクロプロセッサに単体で機能することが
少なく、外部のメモリに書込まれたプログラムを順次読
出し、その内容によって動作するため、マイクロプロセ
ッサのみを恒温槽などに設置して外部メモリと接続した
機能試験ではアドレスバス。
少なく、外部のメモリに書込まれたプログラムを順次読
出し、その内容によって動作するため、マイクロプロセ
ッサのみを恒温槽などに設置して外部メモリと接続した
機能試験ではアドレスバス。
データバスなどの信号線数が多くなり、また該信号線を
恒温槽外部まで長く引出すためにノイズも乗り易く、実
際の組立、使用方法とは異なる試験になる。
恒温槽外部まで長く引出すためにノイズも乗り易く、実
際の組立、使用方法とは異なる試験になる。
（２） マイクロプロセッサを中心としてメモリ。
コントローラなどを組合せた簡単なマイクロコンピュー
タシステムを組立て、これを恒温槽等に設置して試験を
行う場合、（１）項の信号線の問題に解消されるが、Ｃ
ＰＵ以外にＲＯＭ、ＲＡＭドライバなどのＩＣを組合せ
た相応の大きざの回路構成になって、大容積の恒温恒湿
槽又にγ線照射施設を必要とする問題がある。
タシステムを組立て、これを恒温槽等に設置して試験を
行う場合、（１）項の信号線の問題に解消されるが、Ｃ
ＰＵ以外にＲＯＭ、ＲＡＭドライバなどのＩＣを組合せ
た相応の大きざの回路構成になって、大容積の恒温恒湿
槽又にγ線照射施設を必要とする問題がある。
（３） 上記（２）項の試験方法において、マイクロ
プロセッサの他にＲＯＭ、ＲＡＭなどのＩＣも同時にそ
の環境下に嘔ら烙れることになり、仮りにこれら周辺Ｉ
Ｃのみが異常状態となってしまう場合にもマイクロプロ
セッサの不良として誤った検証になる。
プロセッサの他にＲＯＭ、ＲＡＭなどのＩＣも同時にそ
の環境下に嘔ら烙れることになり、仮りにこれら周辺Ｉ
Ｃのみが異常状態となってしまう場合にもマイクロプロ
セッサの不良として誤った検証になる。
Ｅ９問題点を解決するための手段と作用本発明に、上記
問題点に鑑み、マイクロプロセッサを環境試験装置内に
設置してその動作下での耐環境性を試験するにおいて、
マイクロプロセッサのデータバスは該マイクロプロセッ
サがある動作を行う１ワーどの命令が入力されるように
該マイクロプロセッサの外部電源からの電源ラインの一
方に接続し、データバス以外の入力ピンに該マイクロプ
ロセッサが動作するように電源ラインの一方に接続し、
マイクロプロセッサの出力ピンのうちデータバスを除い
た試験記録に必要なデータ出力ピンから信号ケーブルを
介して前記環境試験装置外の記録装置シー接続し、該出
力ピンからのデータ出力からマイクロプロセッサの動作
を検証子６ようにし、マイクロプロセッサ単体を環境試
験装置内に設置しながら実際の動作に合致した試験を可
能にする。
問題点に鑑み、マイクロプロセッサを環境試験装置内に
設置してその動作下での耐環境性を試験するにおいて、
マイクロプロセッサのデータバスは該マイクロプロセッ
サがある動作を行う１ワーどの命令が入力されるように
該マイクロプロセッサの外部電源からの電源ラインの一
方に接続し、データバス以外の入力ピンに該マイクロプ
ロセッサが動作するように電源ラインの一方に接続し、
マイクロプロセッサの出力ピンのうちデータバスを除い
た試験記録に必要なデータ出力ピンから信号ケーブルを
介して前記環境試験装置外の記録装置シー接続し、該出
力ピンからのデータ出力からマイクロプロセッサの動作
を検証子６ようにし、マイクロプロセッサ単体を環境試
験装置内に設置しながら実際の動作に合致した試験を可
能にする。
Ｆ、実施例
第１図は本発明による試験方法の一実施例を示す装置構
成図である。恒温恒湿槽１にはマイクロプロセッサ２の
みが収納され、槽１の外部電源３から必要な動作電力が
供給される。マイクロプロセッサ２は、その制御信号入
力ピン（例えば動作可能にする入力が与えられ、これら
入力ピンには全て負論理入力になるため電源３の正極Ｉ
ｎ（ト）が接続される。また、マイクロプロセッサ２の
データバスＤｏ−Ｄ≦全て電源３の負極側に接続され、
マイクロプロセッサ２のインストラクションフェッチ動
作に全ビッヒ゛０＃のデータ入力が取込まれるようにさ
れる。この全ビット′″０＃に対応するマイクロプロセ
ッサ２への命令は例えばノンオペレーションＮＯＰ、ア
ドレス零へのジャンプ命令ＪＭＰＯなどマイクロプロセ
ッサ２に固有の動作を行わせることになる。
成図である。恒温恒湿槽１にはマイクロプロセッサ２の
みが収納され、槽１の外部電源３から必要な動作電力が
供給される。マイクロプロセッサ２は、その制御信号入
力ピン（例えば動作可能にする入力が与えられ、これら
入力ピンには全て負論理入力になるため電源３の正極Ｉ
ｎ（ト）が接続される。また、マイクロプロセッサ２の
データバスＤｏ−Ｄ≦全て電源３の負極側に接続され、
マイクロプロセッサ２のインストラクションフェッチ動
作に全ビッヒ゛０＃のデータ入力が取込まれるようにさ
れる。この全ビット′″０＃に対応するマイクロプロセ
ッサ２への命令は例えばノンオペレーションＮＯＰ、ア
ドレス零へのジャンプ命令ＪＭＰＯなどマイクロプロセ
ッサ２に固有の動作を行わせることになる。
マイクロプロセッサ２のデータバスを除いた出力ピン（
例エバアドレスバス、コントロールパス。
例エバアドレスバス、コントロールパス。
ステータスバス）に信号線を介して外部の記録装置５に
接続されて、該出力ピンの出力データ、論理状態がマイ
クロプロセッサの動作状態の監視。
接続されて、該出力ピンの出力データ、論理状態がマイ
クロプロセッサの動作状態の監視。
記録データとして記録装置５に記録される。
このような試験ｆ＝ｆｆ（：［ｅ、ｌれることにより、
例えばマイクロプロセッサ２が順次アドレスを更新して
ノンオペレーションＮＯＰやジャンプ命令ＪＭＰＯを実
行し、このときのアドレスバスデータが変化するか否か
等を記録装置５側で監視、記録することができる。
例えばマイクロプロセッサ２が順次アドレスを更新して
ノンオペレーションＮＯＰやジャンプ命令ＪＭＰＯを実
行し、このときのアドレスバスデータが変化するか否か
等を記録装置５側で監視、記録することができる。
これを以下に詳細に説明する。
恒温恒湿槽ｌばマイクロプロセッサの耐環境性試験項目
に従って内部温度、湿度を所定の値に保持する運転が行
われる。マイクロプロセッサ２ば電源３の起動によって
制御人力ピン（ＲＥ Ｓ ＥＴ等）が全て非アクティブ
になるため、所定のアドレス（例えばＯ番地）よりのイ
ンストラクションをフェッチし、実行する。すなわち、
アドレスバスに所定のアドレスを出力してインストラク
ションフェッチ（多くのＣＰＵｔ−ｒメモリ読出しと同
一）信号を出力し、データバスからインストラクション
データを入力し実行する。このとき入力されるインスト
ラクションにあらかじめ定めたデータバスの入力状態に
よって決まり、実施例でにデータバスが全ビット″′０
＃であるためノンオペレーションＮＱＰを実行する。こ
の命令ＮＯＰに外部的に何も実行せず、次のアドレスに
移行するため、マイクロプロセッサ２ＨＮＯＰ命令の実
行瞬にアドレスバスに次のアドレスを出力し、再ヒイン
ストラクションフエツチを実行する。マイクロプロセッ
サ２が２回目のアドレスを出力したときもデータバスの
入力状態に固定のため、再びＮＯＰ命令になり、上記ア
ドレスの変更という手順を繰り逗子。このように、電源
投入によってマイクロプロセッサ２は次々とアドレスバ
スの出力を変化させ、内部でに連続的にＮＯＰ命令を実
行することになる。
に従って内部温度、湿度を所定の値に保持する運転が行
われる。マイクロプロセッサ２ば電源３の起動によって
制御人力ピン（ＲＥ Ｓ ＥＴ等）が全て非アクティブ
になるため、所定のアドレス（例えばＯ番地）よりのイ
ンストラクションをフェッチし、実行する。すなわち、
アドレスバスに所定のアドレスを出力してインストラク
ションフェッチ（多くのＣＰＵｔ−ｒメモリ読出しと同
一）信号を出力し、データバスからインストラクション
データを入力し実行する。このとき入力されるインスト
ラクションにあらかじめ定めたデータバスの入力状態に
よって決まり、実施例でにデータバスが全ビット″′０
＃であるためノンオペレーションＮＱＰを実行する。こ
の命令ＮＯＰに外部的に何も実行せず、次のアドレスに
移行するため、マイクロプロセッサ２ＨＮＯＰ命令の実
行瞬にアドレスバスに次のアドレスを出力し、再ヒイン
ストラクションフエツチを実行する。マイクロプロセッ
サ２が２回目のアドレスを出力したときもデータバスの
入力状態に固定のため、再びＮＯＰ命令になり、上記ア
ドレスの変更という手順を繰り逗子。このように、電源
投入によってマイクロプロセッサ２は次々とアドレスバ
スの出力を変化させ、内部でに連続的にＮＯＰ命令を実
行することになる。
この繰り返し動作に、アドレスのアドレスデータ変化が
記録装置５に順次記録されることで、マイクロプロセッ
サの動作検証を行うことができ、アドレスデータの変化
なし又は正しい変化なしでは動作不良として判断できる
。
記録装置５に順次記録されることで、マイクロプロセッ
サの動作検証を行うことができ、アドレスデータの変化
なし又は正しい変化なしでは動作不良として判断できる
。
従って、本実施例では恒温恒湿槽１内にはマイクロプロ
セッサのみであり、また外部との接続も電源ラインと監
視、記録のために必要な信号線のみとなる。このため、
環境試験の影響を受けるのはマイクロプロセッサ２のみ
となり、他のＲＯＭ。
セッサのみであり、また外部との接続も電源ラインと監
視、記録のために必要な信号線のみとなる。このため、
環境試験の影響を受けるのはマイクロプロセッサ２のみ
となり、他のＲＯＭ。
ＲＡＭ等のＩＣと組合せた従来の試験方法で問題となる
他のＩＣの劣化、故障等の影響を受けることなくマイク
ロプロセッサ単体の耐環境性試験を確実に行うことがで
きる。また、恒温恒湿槽１にフィクロプロセッサのみを
収納できる容積で済み、その小型化又は複数のマイクロ
プロセッサを一度に試験できる。これらに加えて、外部
にはデータバスとの結合手段を不要とするため、外部と
の信号線結合を少なくしてノイズの影響も受けに〈〈す
る。
他のＩＣの劣化、故障等の影響を受けることなくマイク
ロプロセッサ単体の耐環境性試験を確実に行うことがで
きる。また、恒温恒湿槽１にフィクロプロセッサのみを
収納できる容積で済み、その小型化又は複数のマイクロ
プロセッサを一度に試験できる。これらに加えて、外部
にはデータバスとの結合手段を不要とするため、外部と
の信号線結合を少なくしてノイズの影響も受けに〈〈す
る。
Ｇ１発明の効果
以上のとおり、本発明によれば、環境試験装置内にはマ
イクロプロセッサのみを収納し、マイクロプロセッサの
データ入力を該プロセッサ固有の動作になるよう固定入
力状態とし、データバスを除く出力ピンのうち監視、記
録に必要な出力ピンから信号線な介して外部に引出す試
験方法になるため、マイクロプロセッサの動作状態での
耐環境性試験になるし、環境試験装置に必要な容積を小
型化しながら確実、信頼性の高い動作試験を簡単な外部
装置を用意することのみで行うことができる。
イクロプロセッサのみを収納し、マイクロプロセッサの
データ入力を該プロセッサ固有の動作になるよう固定入
力状態とし、データバスを除く出力ピンのうち監視、記
録に必要な出力ピンから信号線な介して外部に引出す試
験方法になるため、マイクロプロセッサの動作状態での
耐環境性試験になるし、環境試験装置に必要な容積を小
型化しながら確実、信頼性の高い動作試験を簡単な外部
装置を用意することのみで行うことができる。
第１図は本発明の試験方法の一実施例を示す装置構成図
、第２図に従来の試験方法を示す装置構成図である。 １・・・恒温恒湿槽、２・・・マイクロプロセッサ、３
・・・電源、４・・・模擬信号発生装置、５・・・記録
装置。 第１図 本発明方熾ｃツよる装置構成国
、第２図に従来の試験方法を示す装置構成図である。 １・・・恒温恒湿槽、２・・・マイクロプロセッサ、３
・・・電源、４・・・模擬信号発生装置、５・・・記録
装置。 第１図 本発明方熾ｃツよる装置構成国
Claims (1)
- マイクロプロセッサを環境試験装置内に設置してその動
作下での耐環境性を試験するにおいて、マイクロプロセ
ッサのデータバスは該マイクロプロセッサがある動作を
行う１ワードの命令が入力されるように該マイクロプロ
セッサの外部電源からの電源ラインの一方に接続し、デ
ータバス以外の入力ピンは該マイクロプロセッサが動作
するように電源ラインの一方に接続し、マイクロプロセ
ッサの出力ピンのうちデータバスを除いた試験記録に必
要なデータ出力ピンから信号ケーブルを介して前記環境
試験装置外の記録装置に接続し、該出力ピンからのデー
タ出力からマイクロプロセッサの動作を検証することを
特徴とするマイクロプロセッサの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60059323A JPS61217838A (ja) | 1985-03-23 | 1985-03-23 | マイクロプロセツサの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60059323A JPS61217838A (ja) | 1985-03-23 | 1985-03-23 | マイクロプロセツサの試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61217838A true JPS61217838A (ja) | 1986-09-27 |
Family
ID=13110032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60059323A Pending JPS61217838A (ja) | 1985-03-23 | 1985-03-23 | マイクロプロセツサの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61217838A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06274365A (ja) * | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Puro Saido Kk | マイクロコンピュータの耐久試験装置 |
-
1985
- 1985-03-23 JP JP60059323A patent/JPS61217838A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06274365A (ja) * | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Puro Saido Kk | マイクロコンピュータの耐久試験装置 |
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