JPH06274365A - マイクロコンピュータの耐久試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 耐久試験中に、マイクロコンピュータの不良
品が検出でき、しかも、このように検出された不良品の
マイクロコンピュータを、即座に取り出すことができ、
現場での組み立て、異種のマイクロコンピュータを同時
に試験すること、及び高温化及び低温化が容易であり、
さらに、テストプログラムの導入が容易なマイクロコン
ピュータの耐久試験装置を提供する。 【構成】 枠体を囲う覆体とを備えるマイクロコンピュ
ータの耐久試験装置において、枠体の横桟に沿って設け
られている案内部材と、該案内部材に移動可能に係合す
る移動部材が設けられ、横桟の長さに対し同寸法以下の
奥行を有するマイクロコンピュータ載置用の複数の棚部
材と、雰囲気ガス導入孔及び雰囲気ガスの排出口並びに
配線連絡口が設けられている覆体の天板部と、複数の棚
部材の後部に形成される配線処理空間とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、マイクロコンピュータ
の信頼性を検出する耐久試験装置に関し、特に、複数の
マイクロコンピュータの耐熱試験、温度サイクル試験下
で機能テストを同時に行うことができるマイクロコンピ
ュータ耐久試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】マイクロコンピュータの初期故障期間に
起こる初期故障を軽減して、マイクロコンピュータの信
頼性を高めるために、マイクロコンピュータを、使用開
始前又は使用開始後の初期に動作させて、マイクロコン
ピュータの耐久試験が行われている。耐久試験により検
出された不良品のマイクロコンピュータについては欠陥
を検出し又は除去する、所謂、デバギングが行われてい
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のマイク
ロコンピュータの耐熱試験を行う場合、複数のマイクロ
コンピュータを恒温槽内に入れて、温度変化等を繰り返
し、所定時間を経過したところで、恒温槽から取り出し
て、夫々のマイクロコンピュータについて測定が行われ
るために、温度変化工程中に不良品が発生しても、それ
を検出することは困難であり、恒温槽の利用効率の点で
問題とされていた。また、従来の耐久試験用の恒温槽で
は、現場での組み立てが困難であり、異種のマイクロコ
ンピュータを同時に扱うことが難しく、高温化及び低温
化が難しく、さらに、テストプログラムの導入が難しい
ので問題とされていた。本発明は、従来のマイクロコン
ピュータの耐久試験装置の利用効率に係る問題点を解決
することを目的としている。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は、耐久試験中
に、マイクロコンピュータの不良品が検出でき、しか
も、このように検出された不良品のマイクロコンピュー
タを、即座に取り出すことができ、現場での組み立て、
異種のマイクロコンピュータを同時に試験すること、及
び高温化及び低温化が容易であり、さらに、テストプロ
グラムの導入が容易なマイクロコンピュータの耐久試験
装置を提供することを目的としている。即ち、本発明
は、枠体と、該枠体を囲う覆体とを備えるマイクロコン
ピュータの耐久試験装置において、枠体の横桟に沿って
設けられている案内部材と、該案内部材に移動可能に係
合する移動部材が設けられ、横桟の長さに対し同寸法以
下の奥行を有するマイクロコンピュータ載置用の複数の
棚部材と、雰囲気ガス導入孔及び雰囲気ガスの排出口並
びに配線連絡口が設けられている覆体の天板部と、複数
の棚部材の後部に形成される配線処理空間とを備えるこ
とを特徴とするマイクロコンピュータの耐久試験装置を
要旨とするものである。

【０００５】本発明のマイクロコンピュータの耐久試験
装置において、耐久試験用の空間は、大気と遮断される
ように、周囲が覆体により囲われ、複数のマイクロコン
ピュータが収容できるように、複数の棚部材が設けられ
ている。試験時、マイクロコンピュータは、棚部材に載
置される。棚部材に載置されるマイクロコンピュータの
数は、棚部材当たり一個とすることができ、また、複数
とすることもできる。棚部材は、目的の個数のマイクロ
コンピュータが載置される大きさに形成されるが、特に
複数のマイクロコンピュータを一個の棚部材に載置させ
る場合には、棚部材は、コンピュータが出し入れ側に横
に一列に並んで配置できるように、横長に形成されるの
が、マイクロコンピュータの種別が容易に判別できるの
で好ましい。

【０００６】本発明において、棚部材には、側部両端に
移動用部材が設けられており、この移動用部材を、耐久
試験用の空間の周囲横桟に設けられる案内部材に係合し
て、棚部材を前後方向に移動させることができる。本発
明において、各棚部材は、夫々別個に独立して移動可能
に形成される。したがつて、本発明によると、棚部材
は、周囲が耐久試験中であっても、例えば、不良品が発
見されたマイクロコンピュータを載置する棚部材、又は
試験が完了したマイクロコンピュータを載置する棚部材
のみを取り出すことができる。

【０００７】本発明のマイクロコンピュータ耐久試験装
置において、棚部材が、耐久試験用の空間よりも奥行き
が短く形成されると、棚部材の奥に、下段から上段に達
する一続きの空間を形成することができるので好まし
い。この場合、形成される一続きの空間は、耐久試験用
の雰囲気ガスの流動空間及び耐久試験中のマイクロコン
ピュータのケーブル処理空間として利用される。

【０００８】本発明において、マイクロコンピュータ耐
久試験装置には、一台のエイジング監視装置が備えら
れ、各マイクロコンピュータに接続するケーブルは、こ
のエイジング監視装置の接続端に接続されている。本発
明において、棚部材に載置されるマイクロコンピュータ
の載置位置毎に、又は棚部材毎に、マイクロコンピュー
タ通電用の電源を設けることができる。

【０００９】本発明において、マイクロコンピュータ耐
久試験装置の恒温槽部を形成する覆体としては、耐食性
の金属板材、プラスチック板材又はプラスチックフィル
ム材等を使用することができる。本発明において、恒温
槽の覆体、例えば天板部には、恒温槽の雰囲気ガス導入
口及び排出口並びにケーブル接続口を形成することがで
きる。

【００１０】本発明において、恒温槽の覆体に、このよ
うな接続口を形成すると、使用時に、恒温槽を、加熱装
置、エイジング監視装置等の耐久試験関連装置に接続し
て、耐久試験装置の恒温槽として使用することができ、
また、例えば、その侭又は接続口を適宜閉鎖するなどし
て、耐久試験待機時の保管棚として使用することができ
る。

【００１１】本発明の耐久試験装置においては、デバギ
ング装置、キーボード、ローカルネットワークを装備で
きるが、このような装置を装備することにより、被検査
用のマイクロコンピュータに、ハードディスクドライブ
装置、フロッピーディスクドライブ装置及びインターフ
ェイスを組み込んでテストプログラムに則った試験を行
うことができる。

【００１２】

【作用】本発明においては、マイクロコンピュータの耐
久試験装置には、枠体の横桟に沿って案内部材を設ける
と共に、該案内部材に移動可能に係合する移動部材を備
えるマイクロコンピュータ載置用の複数の棚部材を設け
るので、一つの恒温槽内で、複数のマイクロコンピュー
タを同時に且つ個別に検査することができ、しかも、不
良が発見された機種のみを、他の機種に影響を与えるこ
となく、取り除き、新たにマイクロコンピュータを載置
して、耐久試験を続けることができる。

【００１３】本発明においては、耐久試験装置の恒温槽
の横桟より短い奥行を有するマイクロコンピュータ載置
用の棚部材を恒温槽内に設けたので、棚部材の後方にケ
ーブル処理空間を形成でき、各マイクロコンピュータを
監視装置に接続して、耐久試験中の各マイクロ．コンピ
ュータの性能を検査することができる。

【００１４】本発明において、耐久試験装置は、移動可
能に形成でき、加熱装置及びエイジング監視装置等に適
宜接続して、マイクロコンピュータの耐久試験を行うよ
うにすることができるので、一台毎又は適宜個数毎、棚
に載置して、試験の順番が来るまで、保管棚等の保管装
置として使用することができ、耐久試験の順番が来たと
ころで、耐久試験室に移動させて、そこで加熱装置及び
エイジング監視装置等の耐久試験関連装置に適宜接続し
て、耐久試験を行うことができる。

【００１５】以下、本発明の実施の態様について、例を
挙げて説明するが、以下の説明及び例示によって本発明
は何ら制限を受けるものではない。図１は、本発明の一
実施例を説明するために、一部破断してその概略の内部
構造を示す正面断面図であり、図２は、図１の実施例に
ついて、一部破断してその概略の内部構造を示す側面断
面図である。

【００１６】図１において、マイクロコンピュータ耐久
試験装置１は、２基の恒温槽２を、積み重ねて１基の恒
温槽として使用されている。恒温槽２の内部には、夫々
２段に棚板３が設けられている。本例において、棚板３
は側部両端４に、夫々、スライドレール５が設けられて
いる。スライドレール５のレール部６は恒温槽２の枠７
に固定されており、また車部８は棚板３の側部両端４に
設けられている。

【００１７】恒温槽２の棚板３に仕切られた空間には電
源が設けられており、マイクロコンピュータに通電し
て、その稼働状態を検査できるようになっている。棚板
３は恒温槽２の奥行より短い長さに形成されており、恒
温槽２の棚板３の後方には、下段９から上段１０に抜け
る一続きの空間１１が形成されている。本例において、
上段の恒温槽１２の天井部１３及び下段の恒温槽１４の
背板部１５には、夫々二つの開口１６が形成されてお
り、その一方は、雰囲気ガスの供給口であり、他方は排
気口である。本例のマイクロコンピュータ耐久試験装置
１は、移動可能に足車１７を備えており、試験時は、ス
トッパー１８により、容易に移動しないように形成され
ている。

【００１８】本例は以上のように構成されているので、
棚板３を引き出して検査するマイクロコンピュータ（図
示されていない）を載せ、棚板３を恒温槽２内に押し戻
して検査するマイクロコンピュータを恒温槽２内に入れ
る。検査する複数個のマイクロコンピュータを、一個
宛、夫々棚板３に載せて恒温槽２内に入れる。検査する
複数個のマイクロコンピュータをこのようにして恒温槽
２内に入れて、各マイクロコンピュータに、監視装置
（図示されていない）に接続しているケーブルを接続し
て通電を開始し、本例においては、恒温槽２内の温度
を、例えば６０℃±５℃に保って３時間放置した。

【００１９】各マイクロコンピュータの性能の検査は、
監視装置のモニタテレビにより行なわれた。耐久試験中
に、不良のマイクロコンピュータが検出されたときは、
監視装置のコンピュータを作動させて故障の原因を探る
ことができ、また、不良のマイクロコンピュータの載っ
ている棚板を引き出して、検査するマイクロコンピュー
タを取り替えることもできる。

【００２０】本例においては、２基の恒温槽２を一つの
耐久試験に供したが、一方を高温用とし、他方を低温用
として分けて使用することができる。本例においては、
耐熱試験に使用した例について説明したが、本例の耐久
試験装置を、温湿度サイクル試験等その他環境試験に使
用することもできる

【００２１】

【発明の効果】本発明においては、マイクロコンピュー
タの耐久試験装置には、枠体の横桟に沿って案内部材を
設けると共に、該案内部材に移動可能に係合する移動部
材を備えるマイクロコンピュータ載置用の複数の棚部材
を設けるので、恒温槽を、複数のマイクロコンピュータ
の耐久試験に、連続して使用することができ、しかも、
不良が発見されたマイクロコンピュータは、棚部材を引
き出すことによって、即座に、取り除くことができ、し
かも新たに検査するマイクロコンピュータを載置して、
途切れることなくマイクロコンピュータの検査を行うこ
とができるので、従来の耐久試験装置に比して、効率よ
くマイクロコンピュータの耐久試験を行うことができ
る。

【００２２】しかも、棚部材の奥行きの長さが恒温槽の
奥行きより短いので、恒温槽内にケーブル処理空間を形
成でき、各マイクロコンピュータを監視装置に接続し
て、耐久試験中のマイクロコンピュータの性能を随時監
視することができる。また監視装置のコンピユータによ
り、各マイクロコンピュータをプログラムに従って作動
させることができる。

【００２３】本発明においては、引き出された棚部材に
試験されるマイクロコンピュータを載せるので、マイク
ロコンピュータを恒温槽内に配置させる作業が簡単かつ
容易である。しかも、棚部材は上下及び横方向に順序よ
く配置できるので、棚部材に番地を付けることができ、
棚部材に載置されたマイクロコンピュータの割り出しが
容易である。

【００２４】本発明においては、耐久試験装置は、移動
可能に形成でき、加熱装置及びエイジング監視装置等に
適宜接続して、マイクロコンピュータの耐久試験を行う
ようにすることができるので、予め耐久試験に先立つ
て、試験されるマイクロコンピュータを所定の位置に配
置して待機させることができ、耐久試験の際には、耐久
試験装置を、その侭、耐久試験室に搬入して、そこで加
熱装置及びエイジング監視装置等の耐久試験かに適宜接
続して、耐久試験を行うことができるので、耐久試験室
を有効に使用することが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を説明するために、一部破断
してその概略の内部構造を示す正面断面図である。

【図２】図１の実施例について、一部破断してその概略
の内部構造を示す側面断面図である。

【符号の説明】

１ マイクロコンピュータ耐久試験装置 ２ 恒温槽 ３ 棚板 ４ 棚板の側部両端 ５ スライドレール ６ レール部 ７ 枠 ８ 車部 ９ 棚板の下段 １０ 棚板の上段 １１ 棚板後方に形成される １２ 上段の恒温槽 １３ 天井部 １４ 下段の恒温槽 １５ 背板部 １６ 開口 １７ 足車 １８ 足車のストッパー

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 枠体と、該枠体を囲う覆体とを備えるマ
   イクロコンピュータの耐久試験装置において、枠体の横
   桟に沿って設けられている案内部材と、該案内部材に移
   動可能に係合する移動部材が設けられ、横桟の長さに対
   し同寸法以下の奥行を有するマイクロコンピュータ載置
   用の複数の棚部材と、雰囲気ガス導入孔及び雰囲気ガス
   の排出口並びに配線連絡口が設けられている覆体の天板
   部と、複数の棚部材の後部に形成される配線処理空間と
   を備えることを特徴とするマイクロコンピュータの耐久
   試験装置。