CN112562779A - 一种固态硬盘老化测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种固态硬盘老化测试装置及方法，所述装置包括：老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。本发明能够达到对SSD固态硬盘板载NAND Flash颗粒老化效果，降低生产成本，保证SSD固态硬盘出厂运行可靠性及所存储数据的安全性。
Description
技术领域
本发明涉及硬盘测试技术领域，具体涉及一种固态硬盘老化测试装置及方法。
背景技术
SSD固态硬盘在生产加工阶段需要在高温环境下通过SSD控制器对板载NANDFlash颗粒进行老化测试，筛选出NAND Flash颗粒不满足数据存储要求的存储单元并将其标记到坏块表，以避免将数据存放到该存储单元影响SSD固态硬盘可靠性及所存储数据的安全性，但是目前现存SSD高温老化设备一般都通过温箱来控制SSD硬盘老化温度，温箱一般面临成本高，产能扩充等困难。
发明内容
针对现有技术的上述不足，本发明提供一种固态硬盘老化测试装置及方法，以解决上述技术问题。
第一方面，本发明提供一种固态硬盘老化测试装置，所述装置包括：
老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；
所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。
进一步的，所述装置包括：
所述老化机框内还安装有电源，所述电源与机框控制主板、风扇模组、硬盘模组和硬盘背板供电。
进一步的，所述装置包括：
所述老化机框的进风口一侧排列安装有多个固态硬盘，多个固态硬盘组成硬盘模组；所述硬盘背板紧邻硬盘模组；所述老化机框的出风口一侧的中心位置安装机框控制主板，所述机框控制主板的两侧均安装有电源；两个电源的侧边均相邻风扇模组。
进一步的，所述装置包括：
所述老化机框设有多个进风口，所述多个进风口在硬盘模组正对的老化机框面均匀排列；所述老化机框包括多个出风口，风扇模组正对出风口的位置。
进一步的，所述装置包括：
所述老化机柜包括柜门和壳体，所述柜门正对老化机框的进风口一面；所述柜门留有机柜通风口。
第二方面，本发明提供一种固态硬盘老化测试系统，包括：
在机框控制主板设置老化环境温度门限；
所述机框控制主板获取所述温度传感器采集的环境温度；
所述机框控制主板比对所述环境温度和所述老化环境温度门限；
所述机框控制主板根据比对结果控制风扇转速。
进一步的，所述机框控制主板根据比对结果控制风扇转速，包括：
若所述环境温度低于所述老化环境温度门限，则降低风扇转速；
若所述环境温度高于所述老化环境温度门限，则调高风扇转速；
若所述环境温度等于所述老化环境温度门限，则保持风扇当前转速。
本发明的有益效果在于，
本发明提供的固态硬盘老化测试装置及方法，针对SSD固态硬盘生产老化需求，通过SSD固态硬盘在执行老化程序时由盘内电子元器件正常工作自发热产生的温度进行控制以达到SSD固态硬盘老化所需的环境温度，从而达到对SSD固态硬盘板载NAND Flash颗粒老化效果，降低生产成本，保证SSD固态硬盘出厂运行可靠性及所存储数据的安全性。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的固态硬盘老化测试装置的示意性结构图；
图2是本发明一个实施例的固态硬盘老化测试方法的示意性流程图；
1、老化机柜；2、老化机柜柜门；3、老化机框；4、进风口；5、出风口；6、热循环风道；7、固态硬盘；8、硬盘背板；9、温度传感器；10、机框控制主板；11、电源；12风扇模组。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
下面对本发明中出现的关键术语进行解释。
SSD Solid State Drives 固态硬盘
Burn-in burn-in test 老化测试
Self-heating Self-heating 自发热
实施例1
本实施例提供一种固态硬盘老化测试装置，如图1所示，包括以下结构：
装置由老化机框3(机框数量由产能需求决定)和老化机柜1组成，老化机框3主要由机框外壳、带温度传感器9的硬盘背板8、直流电源11、风扇模组12和机框控制主板10组成；老化机柜1采用工业标准制成机柜。风扇模组12和硬盘背板8上的温度传感器9均与机框控制主板10电连接。
老化机框3的进风口4一侧排列安装有多个固态硬盘7，多个固态硬盘7组成硬盘模组；硬盘背板8紧邻硬盘模组；老化机框3的出风口5一侧的中心位置安装机框控制主板10，机框控制主板10的两侧均安装有电源11；两个电源11的侧边均相邻风扇模组12。老化机框3设有多个进风口4，多个进风口4在硬盘模组正对的老化机框3面均匀排列；老化机框3包括多个出风口5，风扇模组12正对出风口5的位置。
老化机柜1包括柜门2和壳体，柜门2正对老化机框3的进风口4一面；柜门留有机柜通风口。
老化机框3安装在所述老化机柜1内部，且老化机框3与老化机柜1之间留有热循环风道6，热循环风道6连通老化机框3的进风口4和出风口5。
老化测试机柜上电后，启动2组风扇模组12以最低转速工作，风扇模组12采用抽风设计，将冷风从测试机框进风口4抽入，将SSD固态硬盘7老化产生的热量通过风道带走从机框出风口5排出，机框排出热风再通过老化机柜1内部风流循环回到机框进风口4进行循环，老化柜内部环境温度通过不断循环逐步升高到老化所要求的环境温度。
实施例2
本实施例提供一种固态硬盘老化测试方法，如图2所示，步骤如下：
(1)测试固态硬盘插入老化测试机框，机框上电，关闭老化机柜柜门。老化测试启动，机框控制主板检测背板温度传感器温度。
(2)机框控制主板判断传感器检测温度值与老化环境温度设置门限，如果温度检测值低于设置门限，控制板则保持风扇转速处于最低档；如果温度检测值高于设置门限，控制板则将风扇转速调高一档；如果温度检测值等于设置门限，控制板则保持当前风扇转速。
(3)然后等待X分钟之后再次获取温度传感器采集的环境温度进行风扇转速控制，如此循环直到老化测试结束。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种固态硬盘老化测试装置，其特征在于，所述装置包括：
老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；
所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置包括：
所述老化机框内还安装有电源，所述电源与机框控制主板、风扇模组、硬盘模组和硬盘背板供电。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置包括：
所述老化机框的进风口一侧排列安装有多个固态硬盘，多个固态硬盘组成硬盘模组；所述硬盘背板紧邻硬盘模组；所述老化机框的出风口一侧的中心位置安装机框控制主板，所述机框控制主板的两侧均安装有电源；两个电源的侧边均相邻风扇模组。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述装置包括：
所述老化机框设有多个进风口，所述多个进风口在硬盘模组正对的老化机框面均匀排列；所述老化机框包括多个出风口，风扇模组正对出风口的位置。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置包括：
所述老化机柜包括柜门和壳体，所述柜门正对老化机框的进风口一面；所述柜门留有机柜通风口。
6.一种固态硬盘老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
在机框控制主板设置老化环境温度门限；
所述机框控制主板获取所述温度传感器采集的环境温度；
所述机框控制主板比对所述环境温度和所述老化环境温度门限；
所述机框控制主板根据比对结果控制风扇转速。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述机框控制主板根据比对结果控制风扇转速，包括：
若所述环境温度低于所述老化环境温度门限，则降低风扇转速；
若所述环境温度高于所述老化环境温度门限，则调高风扇转速；
若所述环境温度等于所述老化环境温度门限，则保持风扇当前转速。
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| CN112562779A true CN112562779A (zh) | 2021-03-26 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113543583A (zh) * | 2021-06-07 | 2021-10-22 | 新华三信息安全技术有限公司 | 一种设备散热方法 |
| CN114510383A (zh) * | 2022-03-17 | 2022-05-17 | 北京得瑞领新科技有限公司 | 具有温控功能的ssd硬盘测试装置以及测试方法 |
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2020
- 2020-12-07 CN CN202011416897.8A patent/CN112562779A/zh not_active Withdrawn
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