JPS61217747A - ピンホ−ル検出装置 - Google Patents
ピンホ−ル検出装置Info
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- JPS61217747A JPS61217747A JP6162885A JP6162885A JPS61217747A JP S61217747 A JPS61217747 A JP S61217747A JP 6162885 A JP6162885 A JP 6162885A JP 6162885 A JP6162885 A JP 6162885A JP S61217747 A JPS61217747 A JP S61217747A
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- JP
- Japan
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- signal
- test material
- reference time
- light
- circuits
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/894—Pinholes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、連続的に走行する連続ストリップの如き板状
の被検材におけるピンホールを検出する装置に関する。
の被検材におけるピンホールを検出する装置に関する。
（従来の技術）
第２図は、従来より冷延鋼板の連続メツキラインやシャ
ーライン等において用いられているピンホール検出装置
の概略的に示すものである。同図において、２１は矢印
Ａ方向に走行するストリップ等の被検材、２２はこの被
検材２１の一面側に設けられる光源、２３は被検材２１
の他面側であって被検材２１の幅方向に直線状に配列さ
れた複故個のセンナ（例えばホトダイオード）から成る
光検出器、２４は前記光検出器２３の出力信号を増幅す
る増幅器、２５はレベル検出器である。そして、光検出
器２３からの出力信号をレベル検出器２５において基準
信号と比較し出力信号が基準信号より大きいとき、ピン
ホール信号Ｓｐを出力するようにしている。なお、２６
はシールドである。
ーライン等において用いられているピンホール検出装置
の概略的に示すものである。同図において、２１は矢印
Ａ方向に走行するストリップ等の被検材、２２はこの被
検材２１の一面側に設けられる光源、２３は被検材２１
の他面側であって被検材２１の幅方向に直線状に配列さ
れた複故個のセンナ（例えばホトダイオード）から成る
光検出器、２４は前記光検出器２３の出力信号を増幅す
る増幅器、２５はレベル検出器である。そして、光検出
器２３からの出力信号をレベル検出器２５において基準
信号と比較し出力信号が基準信号より大きいとき、ピン
ホール信号Ｓｐを出力するようにしている。なお、２６
はシールドである。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、前記光検出器２３に詔いては、ピンホールを通
過した光に基づく通光電流の他、光源２２に照射されず
とも発生する暗電流や、シールド２６と被検材２１との
間等からの漏光に起因する漏光電流が発生する。その結
果、ピンホールの検出信号たる通光電流が小さいときは
、漏光電流や暗電流中に埋設してしまい、たとえ増幅器
２４とνべル検出器２５との間にローパスフィルタ等を
設けて、上述の漏光電流等の所謂外乱成分を相当量カッ
トするようにしても、ピンホールの検出を正確に行なう
ことが困難である。
過した光に基づく通光電流の他、光源２２に照射されず
とも発生する暗電流や、シールド２６と被検材２１との
間等からの漏光に起因する漏光電流が発生する。その結
果、ピンホールの検出信号たる通光電流が小さいときは
、漏光電流や暗電流中に埋設してしまい、たとえ増幅器
２４とνべル検出器２５との間にローパスフィルタ等を
設けて、上述の漏光電流等の所謂外乱成分を相当量カッ
トするようにしても、ピンホールの検出を正確に行なう
ことが困難である。
これに対し、前記漏光等の彩管をできるだけ除去せんが
ため、被検材の振動を１ａ１１１以下にすることを条件
づけたり、或いは第３図に示すように、被検材２１の両
ｔ１１１１端部に漏光防止のためのマスク部材２７．２
７を設けることが考えられる。しかしながら、被検材２
１の振動を１１１１１以下に抑えることは実際のプロセ
スラインでは極めて困難で実用的ではない。又、マスク
部材２７．２７を設けた場合、被検材２１の幅寸法に合
わせてマスク部材２７．２７を移動する＊ｉにしなけれ
ばならずそのｉ！に動機構が複雑なものとなる他、被検
材の幅寸法が急激に変化するような場合、前記マスク部
材の移動がそれに追従できず、該マスク部材と被検材と
が激突するおそれがある。なお、それを皆無にするには
更に複雑な機構となり設備コストがアップする。
ため、被検材の振動を１ａ１１１以下にすることを条件
づけたり、或いは第３図に示すように、被検材２１の両
ｔ１１１１端部に漏光防止のためのマスク部材２７．２
７を設けることが考えられる。しかしながら、被検材２
１の振動を１１１１１以下に抑えることは実際のプロセ
スラインでは極めて困難で実用的ではない。又、マスク
部材２７．２７を設けた場合、被検材２１の幅寸法に合
わせてマスク部材２７．２７を移動する＊ｉにしなけれ
ばならずそのｉ！に動機構が複雑なものとなる他、被検
材の幅寸法が急激に変化するような場合、前記マスク部
材の移動がそれに追従できず、該マスク部材と被検材と
が激突するおそれがある。なお、それを皆無にするには
更に複雑な機構となり設備コストがアップする。
又、漏光等のｆ／響を受けずにピンホール検出を行なう
ものとしてイメージセンナを用い、このイメージセンナ
を被検材の幅方向にスキャニングさせる方法がある。し
かしながら、被検材の走行速度や被検材の幅寸法との関
係から複数台のイメージセンサを幅方向に設ける必要が
あり、高価になる欠点があるほか、この方決は、離れた
ところから光を検出することとなるため（被検材に対し
てイメージセンナの位置が離れて設けられるため）被検
材の厚みが厚いときや斜めにあいたピンホール又はピン
ホール径の小さいピンホールであれば十分に検出できな
いという問題点があった。
ものとしてイメージセンナを用い、このイメージセンナ
を被検材の幅方向にスキャニングさせる方法がある。し
かしながら、被検材の走行速度や被検材の幅寸法との関
係から複数台のイメージセンサを幅方向に設ける必要が
あり、高価になる欠点があるほか、この方決は、離れた
ところから光を検出することとなるため（被検材に対し
てイメージセンナの位置が離れて設けられるため）被検
材の厚みが厚いときや斜めにあいたピンホール又はピン
ホール径の小さいピンホールであれば十分に検出できな
いという問題点があった。
本発明は、上述の実情を考慮してなされたもので、その
目的とするところは、漏光等の外乱光の影響を受けるこ
となく、ピンホールを確実に検出しうる安価で実用的な
ピンホール検出装置を提供することにある。
目的とするところは、漏光等の外乱光の影響を受けるこ
となく、ピンホールを確実に検出しうる安価で実用的な
ピンホール検出装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するため、本発明は連続的に走行する被
検材の一面側に投光部を設けると共に、前記被検材の他
面側に該被検材の走行方向にＦｆｒ定間隔をおいて２つ
の光検出器を配設し、前記両党検出器から出力される検
出信号の時間差を基準時間と比較することにより前記被
検材におけるピンホールの有無を判別するようにしたこ
とを特徴としている。
検材の一面側に投光部を設けると共に、前記被検材の他
面側に該被検材の走行方向にＦｆｒ定間隔をおいて２つ
の光検出器を配設し、前記両党検出器から出力される検
出信号の時間差を基準時間と比較することにより前記被
検材におけるピンホールの有無を判別するようにしたこ
とを特徴としている。
（実施例）
以下、本発明の一実施例を第１図を参照しながら説明す
る。
る。
１は矢印Ａ方向に走行する帯状の冷延鋼板等の被検材で
ある。２はこの被検材ｌの一面側に該被検材１の幅方向
に設けられる投光部で、例えば白熱灯２ａ、２ｂを被検
材１の幅方向（進行方向と直交する方向）に所定間隔Ｅ
をおいて２列配設されている。
ある。２はこの被検材ｌの一面側に該被検材１の幅方向
に設けられる投光部で、例えば白熱灯２ａ、２ｂを被検
材１の幅方向（進行方向と直交する方向）に所定間隔Ｅ
をおいて２列配設されている。
３．４は前記被検材１の他面側に該被検材１０走行方向
に所定間隔ｌをおいて互いに平行となるように設置され
た光検出器であって、例えば複数のホトダイオードを直
線状に配置したホトダイオード列より構成されている。
に所定間隔ｌをおいて互いに平行となるように設置され
た光検出器であって、例えば複数のホトダイオードを直
線状に配置したホトダイオード列より構成されている。
そして、これらホトダイオード列は被検材１０幅方向に
配列されている。
配列されている。
なお、両党検出ｉ！！！！３ｆ ４の間の間隔ｌは被
検材１０走行速度と検出精度とを考慮して適宜な値に設
定される。５，６は外部からの光を遮るシールド体であ
る。
検材１０走行速度と検出精度とを考慮して適宜な値に設
定される。５，６は外部からの光を遮るシールド体であ
る。
７、 ８は増幅回路、９．１０は微分回路、１１゜１２
はレベル検出回路、１３．１４は波形整形回路である。
はレベル検出回路、１３．１４は波形整形回路である。
１５はシフトレジスタ、１６は基準時間信号発生回路、
１７は比較回路である。前記基準時間信号発生回路１６
から出力される基準時間信号ａは、被検材１が両検出器
３．４間を通過するのに要する時間と略同じに設定しで
ある。従って、前記基準時間信号ａを受けたシフトレジ
スタ１６は、前記時間だけ遅らせて出力信号を比較回路
１７へと出力する。そして、比較回路１７はシフトレジ
スタ１５を介して遅延された波形整形回路１３からの出
力すと、波形整形回路１４からの出力Ｃとを比較し、両
出力す、 ｃの差が許容範囲内であるときは、ピンホ
ール信８Ｓｐを出力し１許容範囲外であるときは該信Ｊ
１＋Ｓｐを出力しないように構成されている。
１７は比較回路である。前記基準時間信号発生回路１６
から出力される基準時間信号ａは、被検材１が両検出器
３．４間を通過するのに要する時間と略同じに設定しで
ある。従って、前記基準時間信号ａを受けたシフトレジ
スタ１６は、前記時間だけ遅らせて出力信号を比較回路
１７へと出力する。そして、比較回路１７はシフトレジ
スタ１５を介して遅延された波形整形回路１３からの出
力すと、波形整形回路１４からの出力Ｃとを比較し、両
出力す、 ｃの差が許容範囲内であるときは、ピンホ
ール信８Ｓｐを出力し１許容範囲外であるときは該信Ｊ
１＋Ｓｐを出力しないように構成されている。
ここで、上記のように構成したピンホール検出装置の測
定原理を説明すると、被検材ｌの振動等によって生ずる
漏光信号等の外乱信号は、被検材１の走行方向の上流、
下流側にそれぞれ所定距離をおいて設置される光検出器
３． ４によって同時に検知される特性を備えている。
定原理を説明すると、被検材ｌの振動等によって生ずる
漏光信号等の外乱信号は、被検材１の走行方向の上流、
下流側にそれぞれ所定距離をおいて設置される光検出器
３． ４によって同時に検知される特性を備えている。
他方、被検材１におけるピンホールに起因する通光信号
はまず上流側の光検出器３によって検知され、次いであ
る時間経過後下流側の光検出器４によって検知される特
性を備えている。従って、前記外乱信号と通光信号との
特性の差を利用することによって、通光信号を漏光信号
とは明確に区別して検出することが可能となり、ピンホ
ールの有無を判別することができるのである。
はまず上流側の光検出器３によって検知され、次いであ
る時間経過後下流側の光検出器４によって検知される特
性を備えている。従って、前記外乱信号と通光信号との
特性の差を利用することによって、通光信号を漏光信号
とは明確に区別して検出することが可能となり、ピンホ
ールの有無を判別することができるのである。
まず、上流側及び下流側の光検出器３．４からの出力信
”ｉ＋＜電流）方増幅回路９．１０に詔いてそれぞれ増
幅した後、微分回路９．１０に入力する。この＆分回路
９，１０からの９Ｃ分出力はそれぞれレベル検出回路１
１．１２に人力され、一定レベル以上の信号が咬１ｅ略
ｌビ回１％１３．１４に入力される。＃、形Ｓ形回路１
３を経た上流側の光検出器３からの信号すは−Ｈシフト
レジスタ１５内に入力され、前述の基準時間経過後比較
回ｖｌｒ１７に入力される。他方、下流側の光検出器４
からの信号Ｃは波形整形後、比較回路１７に入力される
。
”ｉ＋＜電流）方増幅回路９．１０に詔いてそれぞれ増
幅した後、微分回路９．１０に入力する。この＆分回路
９，１０からの９Ｃ分出力はそれぞれレベル検出回路１
１．１２に人力され、一定レベル以上の信号が咬１ｅ略
ｌビ回１％１３．１４に入力される。＃、形Ｓ形回路１
３を経た上流側の光検出器３からの信号すは−Ｈシフト
レジスタ１５内に入力され、前述の基準時間経過後比較
回ｖｌｒ１７に入力される。他方、下流側の光検出器４
からの信号Ｃは波形整形後、比較回路１７に入力される
。
そして、ＥＢ記比較回路１７において前記両信号す、ｃ
を比較してその時間差が０又は許容範囲円であるときは
比較回路１７からピンホールＭ号Ｓｐが出力される。又
、ｉｆｆ記比較により時間差が許容範囲外であるときは
ピンホール信号Ｓｐは出力されない。
を比較してその時間差が０又は許容範囲円であるときは
比較回路１７からピンホールＭ号Ｓｐが出力される。又
、ｉｆｆ記比較により時間差が許容範囲外であるときは
ピンホール信号Ｓｐは出力されない。
本発明は、上述の実施例に限定されるものではなく種々
に変形することが可能である。即ち、上述の実施例では
基準信号発生回路１６から出力される基準時間信号ａは
固定的に設定されていたが被検材ｌの走行速度は滑りや
抵抗等によって微妙に変化し、必らずしも一定値に維持
されることが少ないところから、前記走行速度に追従す
べく基準時間信号ａを設定することが望ましい。
に変形することが可能である。即ち、上述の実施例では
基準信号発生回路１６から出力される基準時間信号ａは
固定的に設定されていたが被検材ｌの走行速度は滑りや
抵抗等によって微妙に変化し、必らずしも一定値に維持
されることが少ないところから、前記走行速度に追従す
べく基準時間信号ａを設定することが望ましい。
５＠１図に３いて、１Ｂは被検材１の速度を検出するロ
ールであり、１９は速度信号発生器である。
ールであり、１９は速度信号発生器である。
速度信号発生器１９は被検材ｌの走行速度に比例したパ
ルス改を有するパルス信号Ｐを発生し、このパルス信ｊ
＋Ｐを基準信号発生回路１６に入力するように構成する
。そして、前記パルス信号Ｐに基づいて基準時間信号ａ
を設定すれば、被検材１０走行速度に追従した基準時間
の自助設定を行なうことができる。
ルス改を有するパルス信号Ｐを発生し、このパルス信ｊ
＋Ｐを基準信号発生回路１６に入力するように構成する
。そして、前記パルス信号Ｐに基づいて基準時間信号ａ
を設定すれば、被検材１０走行速度に追従した基準時間
の自助設定を行なうことができる。
又、第１図における比較回路１７内にホールド回路を設
け、符＠ｓ、１０，１２．１４で表わされる各孔付を省
略するようにしてもよい。
け、符＠ｓ、１０，１２．１４で表わされる各孔付を省
略するようにしてもよい。
いずれにしても、光検出器３．４からの検出信号の時間
差を基準時間と比較するように構成してあればよい。
差を基準時間と比較するように構成してあればよい。
更に、光検出器３，４はホトダイオードに代えてホトト
ランジスタや光電子増倍管等を用いてもよい。勿論、光
検出器の受光部を光フアイバ列とし、この光ファイバの
龍端にホトダイオード等の光検出器を配置してもよい。
ランジスタや光電子増倍管等を用いてもよい。勿論、光
検出器の受光部を光フアイバ列とし、この光ファイバの
龍端にホトダイオード等の光検出器を配置してもよい。
（発明の効果）
以上詳述したように、本発明においては、連続的に走行
する被検材の一面側に投光部を設けると共に、［１ｔｌ
記被検材の他面側に該被検材の走行方向に所定間隔をお
いて２つの光検出器を配設し、前記両党検出器から出力
される検出信号の時間差を基準時間と比較することによ
り前記被検材におけるピンホールの有無を判別するよう
にしているので、外乱光の影響を受けることなくピンホ
ールの有無の判別が可能となり、誤判定を生ずることが
なくなる。そして、被検材が上下方向に多少振切しても
正確に’Ｐｌ別を行なうことができる。又、従来のこの
種装置のように、漏光に対するシールドの構造を複雑な
ものとする必要がなく、特に、被検材の幅方向の遮光に
ついては筒車なものでよく被検材の幅方向の切り込みや
板幅に大幅な変化があっても被検材と遮光部が衝突する
等の不都合を生ずるおそれがなくなる。更に、本発明に
よるピンホール検出装置は、被検材両端の遮光部を層単
な構造とすることができるので、メンテナンス時にはラ
イン外に引き出すようにすることが容易となり、既設の
メツキラインやシャーラインに対して容易にしかも安価
に収り付けることができるという実用的効果を奏する。
する被検材の一面側に投光部を設けると共に、［１ｔｌ
記被検材の他面側に該被検材の走行方向に所定間隔をお
いて２つの光検出器を配設し、前記両党検出器から出力
される検出信号の時間差を基準時間と比較することによ
り前記被検材におけるピンホールの有無を判別するよう
にしているので、外乱光の影響を受けることなくピンホ
ールの有無の判別が可能となり、誤判定を生ずることが
なくなる。そして、被検材が上下方向に多少振切しても
正確に’Ｐｌ別を行なうことができる。又、従来のこの
種装置のように、漏光に対するシールドの構造を複雑な
ものとする必要がなく、特に、被検材の幅方向の遮光に
ついては筒車なものでよく被検材の幅方向の切り込みや
板幅に大幅な変化があっても被検材と遮光部が衝突する
等の不都合を生ずるおそれがなくなる。更に、本発明に
よるピンホール検出装置は、被検材両端の遮光部を層単
な構造とすることができるので、メンテナンス時にはラ
イン外に引き出すようにすることが容易となり、既設の
メツキラインやシャーラインに対して容易にしかも安価
に収り付けることができるという実用的効果を奏する。
％１図は、本発明の一実施例を示す構成図、第２図、＠
３図は従来技術の説明図である。 ｌ・・・被検材 ２・・・投光部３．４・・・光
検出器
３図は従来技術の説明図である。 ｌ・・・被検材 ２・・・投光部３．４・・・光
検出器
Claims (1)
- 連続的に走行する被検材の一面側に投光部を設けると共
に、前記被検材の他面側に該被検材の走行方向に所定間
隔をおいて２つの光検出器を配設し、前記両光検出器か
ら出力される検出信号の時間差を基準時間と比較するこ
とにより前記被検材におけるピンホールの有無を判別す
るようにしたことを特徴とするピンホール検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6162885A JPS61217747A (ja) | 1985-03-23 | 1985-03-23 | ピンホ−ル検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6162885A JPS61217747A (ja) | 1985-03-23 | 1985-03-23 | ピンホ−ル検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61217747A true JPS61217747A (ja) | 1986-09-27 |
Family
ID=13176636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6162885A Pending JPS61217747A (ja) | 1985-03-23 | 1985-03-23 | ピンホ−ル検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61217747A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0316746A2 (de) * | 1987-11-20 | 1989-05-24 | Erwin Sick GmbH Optik-Elektronik | Optisches Lochsuchgerät |
| JPH07240122A (ja) * | 1994-02-28 | 1995-09-12 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 高電圧絶縁体押出成形用異物検出方法および装置 |
| WO2011118783A1 (ja) * | 2010-03-26 | 2011-09-29 | 住友金属工業株式会社 | Ｕｏｅ鋼管の製造方法および製造装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5124908A (ja) * | 1974-08-26 | 1976-02-28 | Sumio Ando | Shinkuhonpu |
-
1985
- 1985-03-23 JP JP6162885A patent/JPS61217747A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5124908A (ja) * | 1974-08-26 | 1976-02-28 | Sumio Ando | Shinkuhonpu |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0316746A2 (de) * | 1987-11-20 | 1989-05-24 | Erwin Sick GmbH Optik-Elektronik | Optisches Lochsuchgerät |
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| CN102821886A (zh) * | 2010-03-26 | 2012-12-12 | 住友金属工业株式会社 | Uoe钢管的制造方法和制造装置 |
| CN102821886B (zh) * | 2010-03-26 | 2015-06-24 | 新日铁住金株式会社 | Uoe钢管的制造方法和制造装置 |
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