JP2000146861A - フィルム検査装置 - Google Patents

フィルム検査装置

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JP2000146861A
JP2000146861A JP10325247A JP32524798A JP2000146861A JP 2000146861 A JP2000146861 A JP 2000146861A JP 10325247 A JP10325247 A JP 10325247A JP 32524798 A JP32524798 A JP 32524798A JP 2000146861 A JP2000146861 A JP 2000146861A
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Japan
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film
pinhole
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detecting
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JP10325247A
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English (en)
Inventor
Koji Tsuji
浩二 辻
Satoshi Sato
聡 佐藤
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Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 フィルムに形成されたピンホールをフィルムを移動させ
ながら高感度に検出でき、かつ安価なフィルム検査装置
を提供する。 【課題】本発明に係るフィルム検査装置は、所定速度で
走行するフィルム18の幅方向にのびるスリットを7,
8備え、照明光が照射されたフィルム18の透過光量の
変化をスリット7,8を介して検知してピンホールを検
出するピンホール検出手段1,2と、ピンホールの検出
タイミングを測定する検出タイミング測定手段3とを有
し、フィルム走行方向の上流側に位置するスリット7
と、下流側に位置するスリット8との前記走行方向に沿
った離間距離が前記幅方向に対して一義的に設定され、
検出タイミング手段3により測定されるピンホール検出
手段1とピンホール検出手段2とによる検出タイミング
の時間差に基づいて、ピンホールの前記幅方向に対する
位置が決定されることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】フィルムに形成されたピンホ
ールをフィルムを走行させながら検出するフィルム検査
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】不織布や工業用シート等のフィルムの製
造においては、各製造工程において様々なピンホール
(欠陥点)が形成されるため、製造検査時において確実
かつ迅速にピンホールの存在を検出して、その位置、大
きさを把握する必要がある。
【0003】そのため従来から、光源により照明された
フィルムを1次元CCDカメラを用いて検出したり、レ
ーザ光によりフィルムを照明して、その透過光を電子増
倍管で検出すること等により、拡散光等によるフィルム
の透過光量の変化を検出してピンホールの検査を行って
いた。
【0004】たとえば特開平6−18445の発明は、
1次元CCDカメラを用いて移動するフィルムに形成さ
れたピンホールを検出するフィルム検出装置であり、検
査対象となるフィルムと照明装置およびそのフィルムと
1次元CCDカメラとの間に偏光板を設置することによ
り、光の透明性が高いフィルムでも安定してピンホール
を検出できることが特徴となっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、1次元CCD
カメラを受光装置に用いる方法では、受光部の走査速度
に限界がある。そのため、一定の速度以上で移動するフ
ィルムの検査に対しては十分な受光感度を得られない場
合が多く、ピンホール等の不良部分の画像を明瞭に撮像
する事が困難となり十分な検出ができない場合があっ
た。
【0006】また、素子数の少ない1次元CCDカメラ
を用いてピンホールの検出を行うことにより受光部の走
査速度を上げることも可能であるが、素子数が少ないた
め従来に比べて多くの1次元CCDが必要となりコスト
の上昇を招くという問題があった。
【0007】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
のであり、フィルムに形成されたピンホールをフィルム
を移動させながら十分な感度で検出することでき、かつ
安価なフィルム検査装置を提供する事を目的とするもの
である。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載のフィルム検査装置は、所定速度で
走行するフィルムの幅方向にのびるスリットを備え、前
記フィルムに向けて照明光を照射すると共に、該照明光
の前記フィルムの透過光量の変化を前記スリットを介し
て検知することにより前記フィルムに形成されたピンホ
ールを検出するピンホール検出手段と、該ピンホール検
出手段による前記ピンホールの検出タイミングを測定す
る検出タイミング測定手段とを有し、前記ピンホール検
出手段が前記フィルムの走行方向に沿って複数設けら
れ、該走行方向の上流側に位置する第1のピンホール検
出手段のスリットと、下流側に位置する第2のピンホー
ル検出手段のスリットとの前記走行方向に沿った離間距
離が前記幅方向に対して一義的に設定され、前記検出タ
イミング手段により測定される前記第1のピンホール検
出手段による検出タイミングと、前記第2のピンホール
検出手段による検出タイミングとの時間差に基づいて、
前記ピンホールの前記幅方向に対する位置が決定される
ことを特徴とする。このような請求項1に記載のフィル
ム検査装置では、ピンホールに照明光が照明されると散
乱光が発生してフィルムの透過光量が多くなるため、第
1のピンホール検出手段のスリットと第2のピンホール
検出手段のスリットとのフィルム走行方向に沿った離間
距離がフィルム幅方向に対して一義的に設定されていれ
ば、フィルムの走行速度と、第1のピンホール検出手段
による検出タイミングと第2のピンホール検出手段によ
る検出タイミングとの時間差とを用いてフィルム幅方向
に対するピンホールの位置を求めることが可能となる。
このため、フィルムの透過光量の変化を検出することに
よりピンホールを検出でき、高速で走行するフィルムに
対しても十分な検出感度を得ることが可能となる。
【0009】請求項2に記載されたフィルム検査装置
は、請求項1に記載されるフィルムの透過光が光センサ
により検知され、該光センサは動作クロックの調整・変
更を行うことが可能であることを特徴とする。
【0010】このようなフィルム検出装置では、観測者
が検出しようとするピンホールの直径、フィルム幅方向
に対する観測距離精度及びフィルム移動速度に応じて光
センサの動作クロックを調整・変更することが出来るた
め、高速で走行するフィルムに対しても、微少なピンホ
ールの検出が可能となる。
【0011】また、光センサを用いてフィルムの透過光
量の変化を検知するため、従来のように素子数の多いC
CDカメラを用いたり低解像度の1次元CCDカメラを
複数個用意する必要がなくなるので、フィルム検査装置
の製造コストの低減を図ることも可能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】本出願に係るフィルム検査装置は
図1に示すように、ピンホールを検出するピンホール検
出装置1,2と、ピンホール検出装置1,2によるピン
ホール検出タイミングを測定する検出タイミング測定装
置3と、その測定結果からピンホールの位置を演算する
位置演算手段4とで概略構成されている。
【0013】ピンホール検出装置1,2は、ハロゲン光
源5,6、スリット7,8、集光レンズ9,10、光セ
ンサ11,12、A/D変換装置13,14、良否判定
装置15,16とで構成され、図2に示すように遮光板
17を挟んで高速で移動するフィルム18のフィルム移
動方向(A方向)の上下流に一対となって設置される。
【0014】ハロゲン光源5,6はフィルム18を下方
から照明する。フィルム18を介してハロゲン光源5,
6の真上には、フィルム18と水平に設置されたスリッ
ト7,8が設置される。上流側に位置するスリット7
は、フィルム幅方向(B方向)と水平に設置されるが、
下流側に位置するスリット8はフィルム18の幅方向に
対し一定角度だけ傾けて設置されている。
【0015】両スリット7,8の真上には集光レンズ
9,10及び光センサ11,12が設けられており、光
センサ11,12は、ハロゲン光源5,6で照射されて
スリット7,8を通過したフィルムの透過光量の検出を
行う。光センサ11,12は、検出するピンホールの大
きさやフィルム幅方向の検出距離に応じて、動作クロッ
クを調整することが可能となっている。
【0016】光センサ11,12で検出されたフィルム
の透過光量は、A/D変換装置13,14を介して良否
判定装置15,16に送信される。良否判定装置15,
16では、検出された透過光量から求められた検出明度
値と、あらかじめピンホールの存在しないフィルムの透
過光量を基に設定された判定明度値との比較を行う。ハ
ロゲン光源により照明されたピンホールは、図3に示す
ように散乱光が発生するため照明光が光センサーで明る
く検出される。このため、検出明度値が判定明度値以上
の明るさを示す場合にピンホールが検出されたものと判
断することが可能となる。なお、判定照明値は検出対象
となるフィルムに応じて設定変更が可能となっている。
【0017】ピンホール検出装置1,2でピンホールが
検出されると、その検出情報は検出タイミング測定装置
3に送信される。検出タイミング測定装置3では、上流
側に位置する第1のピンホール検出装置1でピンホール
を検出してから、下流側に位置する第2のピンホール検
出装置2でピンホールを検出するまでの検出タイミング
の時間差を測定し、その検出時間差を位置演算装置4に
伝達する。
【0018】位置演算装置4では、検出時間差、フィル
ム18の移動速度、フィルム移動方向に対する2つのス
リット7,8間の最小距離、スリット7,8のフィルム
幅方向に対する角度とに基づいてピンホールの位置を特
定する。
【0019】図4は、上下流に位置する2つのスリット
7,8の設置方向を模式的に示した図である。フィルム
18の移動速度をV、2つのスリット7,8間の最短距
離をL、下流側に位置するピンホール検出装置2のスリ
ット8の傾きをα、フィルム端からピンホールまでのフ
ィルム幅方向距離をXとすると、第1のピンホール検出
装置1で検出されてから第2のピンホール検出装置2で
検出されるまでの時間tは、 t=(L+Xtanα)/V となり、フィルム端からのピンホールまでの距離Xは、 X=(Vt−L)/tanα で計算され、Xは時間tに比例の関係となる。
【0020】このことから、フィルム幅方向に対するピ
ンホールの位置はピンホール検出装置1,2での検出さ
れるピンホールの検出タイミングの時間差により求める
ことが可能となる。
【0021】例えば、フィルム幅方向の手前側と奥側
とでピンホールが存在し、第1のピンホール検出装置
1で同時に検出された場合には、図5に示すようには
第1のピンホール検出装置1で検出されてからT経過後
に第2のピンホール検出装置2で検出されるのに対し、
は第1のピンホール検出装置1で検出されてからT+
△Tだけ経過した後に第2のピンホール検出装置2で検
出されるため、フィルム進行方向に対し同じ位置にピン
ホ−ルが形成された場合でも、フィルムの幅方向に対す
る位置の違いは、検出時間の差により判断することが可
能となる。
【0022】また、図4でXより△Xだけ離れたところ
に不良が発生し、この時tより△tだけ検出時間が長く
なるとすると、 X+△X={(V(t+△t)−L}/tanα △t=(tanα/V)△X .......(1) となる。
【0023】そのため、フィルム幅方向のピンホール位
置を△Xの精度で検出したいときには、光センサのセン
シング周期を△t以下、すなわち動作クロックを1/△
t以上に調整すれば検出することが可能となる。
【0024】例えば、一般のポリ袋等に使用されている
黒色フィルムを検査対象とする。フィルムの幅方向に対
するピンホール検出の要求精度を1mmとし、黒色フィル
ムの幅を500mm、フィルム移動速度を300m/mi
n、ピンホール検出装置2のスリットの角度を10°、
2つのスリット間最小距離を100mmに設定すると、
検査時に検出が要求されるピンホールの最小直径は0.
1mm程度であるため、ピンホールを確実に検出するた
めには、フィルム移動量に対し操作時間あたり最小直径
の1/3以下程度の走査を行う必要がある。
【0025】そのため、光センサの動作クロックは、 {(300×1000)[mm]/60[sec]}×3/
0.1[mm]=150000[Hz] より、150KHzに設定すれば、直径0.1mm程度の
ピンホールを十分に検出することが可能となる。
【0026】一方、フィルム幅方向に対するピンホール
の位置の要求精度は1mm程度であるため、(1)式を用
いると、 △t=(tan10°/(300×1000/60))×
1=1.0000353[s] となり、幅方向の発生位置を1mm単位で特定する場合に
必要とされる光センサーの動作クロックは、1/△t=
28.4K[Hz] 以上であることが要求される。
【0027】従って、前記光センサの動作クロックを1
50KHzに設定しておけば1mm以下の精度で発生位置
を特定する事が可能となる共に、0.1mm程度の大きさ
のピンホールも確実に検出することができる。
【0028】このように本発明に係るフィルム検出装置
は、ハロゲン光源及び光センサを用いてピンホールの検
出を行うため、1次元CCDやレーザー光源を用いてフ
ィルムの検査を行う従来の方法に比べて安価に装置を構
成することが出来る。
【0029】また、観測者が検出しようとするピンホー
ルの直径、フィルム幅方向に対する距離精度及びフィル
ム移動速度に応じて照明光検出用センサの動作クロック
を調整・変更することが出来るため、十分な検出精度を
得ることが可能となる。
【0030】判定装置は、判定明度値と検出明度値とを
比較することのみでピンホール有無の判断を行うことが
でき、また、ピンホール検出装置によるピンホール検出
タイミングの時間差に基づいてピンホールの位置を計算
することができるので、従来のように1次元CCD等を
用いて直接ピンホールを撮像する必要がなくなり高価な
撮像素子が不要となるため、安価なフィルム検出装置を
提供することが可能となる。
【0031】また、判定明度値は検査対象であるフィル
ムの種類によって設定値を変更できるため、多種多様な
フィルムに対応することが可能となる。
【0032】以上、この発明の実施の形態を図面を用い
て詳述してきたが、具体的な構造はこの実施例の形態に
限られず、この発明の趣旨を逸脱しない範囲での設計の
変更等があっても良い。
【0033】本実施例では、上流側に位置するスリット
7をフィルム18の幅方向に平行に設置し、下流側に位
置するスリット8に一定角度を与えて設置したが、上流
側のスリット7と下流側のスリット8とのフィルム進行
方向に沿った離間距離が、フィルム幅方に対して一義的
に定まればピンホールのフィルム幅方向の位置が測定で
きるため、この条件を満たせば互いがハ字状等に設置さ
れていても、スリットが曲線状のものであっても測定す
ることが可能である。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように請求項1に記載のフ
ィルム検査装置では、ピンホールに照明光が照明される
と散乱光が発生してフィルムの透過光量が多くなるた
め、第1のピンホール検出手段のスリットと第2のピン
ホール検出手段のスリットとのフィルム走行方向に沿っ
た離間距離がフィルム幅方向に対して一義的に設定され
ていれば、フィルムの走行速度と、第1のピンホール検
出手段による検出タイミングと第2のピンホール検出手
段による検出タイミングとの時間差とを用いてフィルム
幅方向に対するピンホールの位置を求めることが可能と
なる。このため、フィルムの透過光量の変化を検出する
ことによりピンホールを検出でき、高速で走行するフィ
ルムに対しても十分な検出感度を得ることが可能とな
る。
【0035】請求項2に記載のフィルム検査装置では、
観測者が検出しようとするピンホールの直径、フィルム
幅方向に対する観測距離精度及びフィルム移動速度に応
じて光センサの動作クロックを調整・変更することが出
来るため、高速で走行するフィルムに対しても、微少な
ピンホールの検出が可能となる。
【0036】また、光センサを用いてフィルムの透過光
量の変化を検知するため、従来のように素子数の多いC
CDカメラを用いたり低解像度の1次元CCDカメラを
複数個用意する必要がなくなるので、フィルム検査装置
の製造コストの低減を図ることも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るフィルム検査装置の概略構成図
【図2】本発明に係るピンホール検出装置を示す斜視図
【図3】本発明に係る光センサによりピンホールが検出
された際の検出明度値の増減を示す図
【図4】本発明に係る2つのスリットの設置方向を示し
た概略図
【図5】同一のフィルム幅方向に位置する2つのピンホ
ールを各ピンホール検出装置で測定した場合の検出時間
を示した図
【符号の説明】 1,2 ピンホール検出装置(ピンホール検出手段) 3 検出タイミング測定装置(検出タイミング測定手
段) 4 位置演算装置 5,6 ハロゲン光源 7,8 スリット 11,12 光センサ 15,16 良否判定装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定速度で走行するフィルムの幅方向にの
    びるスリットを備え、前記フィルムに向けて照明光を照
    射すると共に、該照明光の前記フィルムの透過光量の変
    化を前記スリットを介して検知することにより前記フィ
    ルムに形成されたピンホールを検出するピンホール検出
    手段と、該ピンホール検出手段による前記ピンホールの
    検出タイミングを測定する検出タイミング測定手段とを
    有し、 前記ピンホール検出手段が前記フィルムの走行方向に沿
    って複数設けられ、該走行方向の上流側に位置する第1
    のピンホール検出手段のスリットと、下流側に位置する
    第2のピンホール検出手段のスリットとの前記走行方向
    に沿った離間距離が前記幅方向に対して一義的に設定さ
    れ、 前記検出タイミング手段により測定される前記第1のピ
    ンホール検出手段による検出タイミングと、前記第2の
    ピンホール検出手段による検出タイミングとの時間差に
    基づいて、前記ピンホールの前記幅方向に対する位置が
    決定されることを特徴とするフィルム検査装置。
  2. 【請求項2】前記フィルムの透過光は光センサにより検
    知され、該光センサは動作クロックの調整・変更を行う
    ことが可能であることを特徴とする請求項1に記載のフ
    ィルム検査装置。
JP10325247A 1998-11-16 1998-11-16 フィルム検査装置 Pending JP2000146861A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104175759A (zh) * 2014-08-21 2014-12-03 昆山龙腾光电有限公司 一种标记笔及其制造方法
JP2015170386A (ja) * 2014-03-04 2015-09-28 凸版印刷株式会社 触媒層の修正方法、触媒層の修正装置、触媒層シート又は膜電極接合体の製造方法及び製造装置

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