JPH0328750A - 表面検査機 - Google Patents

表面検査機

Info

Publication number
JPH0328750A
JPH0328750A JP16439989A JP16439989A JPH0328750A JP H0328750 A JPH0328750 A JP H0328750A JP 16439989 A JP16439989 A JP 16439989A JP 16439989 A JP16439989 A JP 16439989A JP H0328750 A JPH0328750 A JP H0328750A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
distance
light
inspection
light shielding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP16439989A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0718815B2 (ja
Inventor
Koji Yamamoto
宏司 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP16439989A priority Critical patent/JPH0718815B2/ja
Publication of JPH0328750A publication Critical patent/JPH0328750A/ja
Publication of JPH0718815B2 publication Critical patent/JPH0718815B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はカラス基材表面や、銅張積層板表面などの被検
査物の表面の汚れ、凹凸、傷等の欠陥を検出する表面検
査機に関するものである。
[従来の技術] この種の表面検査機は第7図に示すように照明装置6に
より被検査物2の検査面を3,゛[め方向より照明し、
その照明による被検査物2の検査面の反射光を被検査物
2の移動方向〈矢印方向〉に直交する方向と並行する方
向に走査方向を持つラインセンサ〕によって受光走査検
知し、その受光量に応じたラインセンサ1の電圧出力を
信号処理回路3で2値化して基型値と比較し、汚れや、
傷、或は凹凸による欠陥を識別するものである。
ところで被検査物2が移動方向に波打ち、しかもライン
センサ1の受光走査方向が被検査物2の植方向の線に斜
め( A − B )となるように設定されている場合
、ラインセンサ1の受光走査検知出力も第8図に示すよ
うに波打ち、欠陥検出が困難となるという問題があった
そこで木発明者は特願平1. − 9 5 5 2 0
号として出願した表面検査機において、上述の問題点を
解消するようにした。
つまり本表面検査機は第9図に示すようにラインセンサ
1の前方に被検査物2の検査面粗さの傾斜角θの2倍の
入射角2θとなる窓孔4aを開口した遮光板4と、この
窓孔4aより入射した反射光を集光してラインセンサ1
の受光面に集光する集光レンズ5とを設けてある。
この表面検査機てはラインセンサ1の受光部の走査方向
が被検査物2の幅方向に対して第10図に示すa. −
 b−c − dのように斜めとなり、しがも被検査物
2の表面に移動方向の波打ちがあっても、第11図で破
線に示すラインセンサ1の視点に於6フる反則角は傾斜
面a,cて夫々最小、最大となりこの最小と最大の範囲
が丁度、傾斜角度θの約2倍となり、従ってこの角度2
θの範囲の反射光がラインセンサ1の受光面で受光され
れはラインセンサ1の受光走査検知帛カにばらつきが生
じず、受光走査検知出方の波打ちを減少させることがで
きるのてある。
[発明が解決しようとする課題コ ところが第9図の表面検査機は最大傾斜角2θの検出及
び遮光板4の通過範囲の設定調整を手動によって行って
いたため、多品種切り替えの多い被検査物の場合には調
整回数が多くて手間かがかるという問題があった。
本発明は上述の問題点に鑑みて為されたもので、その目
的とするところは被検査物が変わっても自動的に最大傾
斜角を求めてそれに対応した遮光板の通過範囲を設定す
ることができる表面検査機を提供するにある。
[課題を解決するための千段] 本発明は被検査物の移動方向に直交する方向に受光走査
方向を持つラインセンサとにより被検査物の検査面から
の反射光を受光走査検知し、受光量に応したラインセン
サがらの検知出カを信号処3 理回路で2値化して被検査物の表面の欠陥を検知する表
面検査機において、移動する被検査物の検査面に対向さ
せて定位置に配置され、検査面との距離を測定する距離
センサと、被検査物の移動量と距離センサの測定距離の
変化量とから被検査物の検査面の粗さの移動方向の最大
傾斜角度を演算する演算手段と、被検査物の検査面がら
の反射光を通過させ且つ通過範囲を可変可能な遮光手段
と、演算手段で求めた上記最大傾斜角度の約2倍の角度
範囲の入射角の反射光を通過させるように上記遮光手段
の通過範囲を可変駆動する駆動手段と、遮光手段を通過
した反射光をラインセンサの受光面に集光する集光レン
ズとを備えたものである。
[作用コ 而して本発明では距離センサによって被検査物の検査面
の」二下変動を検出し、この距離センサの検出した距離
の変化量と被検査物の移動量とから演算手段により最大
傾斜角度を演算し、この演算結果に基づいて駆動手段が
遮光手段を駆動して演算手段で求めた上記最大傾斜角度
の約2倍の角度4 範囲の入射角の反射光を通過させることができるように
通過範囲を設定する。
このように本発明によれば自動的に被検査物の検査面の
波打ちの具合に応して遮光手段の通過範囲を追従変化さ
せて通過範囲が最大傾斜角度の約2倍の角度となるよう
に設定することができ、人手による調整が不要となるの
である。
[実施例] 以下本発明を実施例により説明する。
第1図は本発明の実施例の構或を示しており、この実施
例では移動搬送される被検査物2の検査面の上方に光電
式(あるいは接触式)の距離センサ6を配置し、この距
離センサ6により検査面の上下変動量を電圧変換するよ
うになっている。
つまり第2図に市めうその距離センサ6と被検査物2の
検査面との間の距離yが上下変動すると、距離センサ6
の出力が変化するのである。距離センサ6は第3図に示
すように距離yと出力電圧Vとの関係を持つものであり
、出力電圧Vにより距Myが検出することができる。
従って第4図に示すように矢印方向に移動する被検査物
2の検査面に波打ちがあると、距離センサ6の出力も波
打ちに対応して変化する信号となり検出距離yは第5図
に示すように被検査物2の移動に対応して変化する。
従って波打ちの傾斜角は移動量ΔXと距離の変化量Δy
とから、Δy/ΔXで求まることになる。
演算部7は距離センサ6からの距離検出出力に基づいて
最大傾斜角θを求め、更に第6図に示す遮光板4゛の窓
孔4a′の幅Dを決定するためのもので、上述のΔy/
ΔXを求め、更にこの最大値をαとして最大傾斜角θを θ二jan−’α で求めるのである。
尚傾斜角の精度を上げるために波打ちの1周期をX.と
してΔX < Xゎという条件を設定している。
即ち被検査物2の搬送速度を■、距離センサ6の検出信
号のサンプリング時間間隔をΔtとすればΔx=vAt
より、Δj < X c / Vが必要な条件となる。
さて上記最大傾斜角度θを求め、更にレンズ5への入射
角が2θとなるように遮光板4の窓孔4aの幅Dを次式
により求めるのである。つまり第6図に示す被検査物2
の検査面上の視点Oがら遮光板4′までの距離をlとす
ると、 D=21tanθ て求まることになる。
遮光板4゛は上下2枚の分割板4b’  4cを移動さ
せることにより窓孔4a’の幅を変化させることができ
るもので、この変化は駆動部8により行われる。駆動部
8は演算部7で演算された幅Dに基づく制御信号が演算
部7より与えられて、この制御信号に基づいて電磁駆動
機構等の機ttn<図示せず)により、分割板4b’ 
,4c’ を駆動して窓孔4a’の幅を求めたDに設定
する。
[発明の効果] 本発明は移動する被検査物の検査面に対向させて定位置
に配置され、検査面との距離を測定する距離センサと、
被検査物の移動量と距離センサの測定距離の変化量とか
ら被検査物の検査面の粗さ7 の移動方向の最大傾斜角度を演算する演算手段と、被検
査物の検査面からの反射光を通過させ且つ通過範囲を可
変可能な遮光手段と、演算千段て求めた上記最大傾斜角
度の約2倍の角度範囲の入射角の反射光を通過させるよ
うに上記遮光手段の通過範囲を可変駆動する駆動手段と
、遮光手段を通過した反射光をラインセンサの受光面に
集光する集光レンズとを備えてあるから、被検査物の表
面が波打ち、ラインセンサの受光走査方向が被検査物の
移動方向に直交する方向に対して斜めとなっていても、
被検査物からの反射光がラインセンサの受光走査方向の
各受光部位において受光量が殆どばらつくことなく受光
することができ、結果ラインセンサの受光走査検知出力
に波打ちが生じず、欠陥があれば明確に受光走査検知出
力の変化として捕えることができるものであって、しか
も自動的に被検査物の検査面の波打ちの具合に応じて遮
光手段の通過範囲を追従変化させて通過範囲が最大傾斜
角度の約2倍の角度となるように設定することができ、
人手による調整が不要となるという8 効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成図、第2図〜第6図は同
上の動作説明図、第7図は従来例の横戒図、第8図は同
上の動作説明図、第9図は本発明の基本となる表面検査
機の構戒図、第]O図、第11図は同上の動作説明図で
ある。 1はラインセンサ、2は被検査物、3は信号処理回路、
4′は遮光板、5は集光レンズ、6は距離センサ、7は
演算部、8は駆動部である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査物の移動方向に直交する方向に受光走査方
    向を持つラインセンサとにより被検査物の検査面からの
    反射光を受光走査検知し、受光量に応じたラインセンサ
    からの検知出力を信号処理回路で2値化して被検査物の
    表面の欠陥を検知する表面検査機において、移動する被
    検査物の検査面に対向させて定位置に配置され、検査面
    との距離を測定する距離センサと、被検査物の移動量と
    距離センサの測定距離の変化量とから被検査物の検査面
    の粗さの移動方向の最大傾斜角度を演算する演算手段と
    、被検査物の検査面からの反射光を通過させ且つ通過範
    囲を可変可能な遮光手段と、演算手段で求めた上記最大
    傾斜角度の約2倍の角度範囲の入射角の反射光を通過さ
    せるように上記遮光手段の通過範囲を可変駆動する駆動
    手段と、遮光手段を通過した反射光をラインセンサの受
    光面に集光する集光レンズとを備えて成ることを特徴と
    する表面検査機。
JP16439989A 1989-06-27 1989-06-27 表面検査機 Expired - Fee Related JPH0718815B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16439989A JPH0718815B2 (ja) 1989-06-27 1989-06-27 表面検査機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16439989A JPH0718815B2 (ja) 1989-06-27 1989-06-27 表面検査機

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0328750A true JPH0328750A (ja) 1991-02-06
JPH0718815B2 JPH0718815B2 (ja) 1995-03-06

Family

ID=15792392

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16439989A Expired - Fee Related JPH0718815B2 (ja) 1989-06-27 1989-06-27 表面検査機

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0718815B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010261965A (ja) * 2010-07-09 2010-11-18 Yamaha Motor Co Ltd 部品認識装置、表面実装機および部品検査装置
JP2016505139A (ja) * 2013-01-15 2016-02-18 ノルデイシェル・マシーネンバウ・ルド・バアデル・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニ・カーゲーNordischer Maschinenbau Rud.Baader Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung+Compagnie Kommanditgesellschaft 赤身組織構造を非接触で識別する装置及び方法、及び赤身組織構造の条片を除去する組立体

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5297245B2 (ja) * 2009-03-26 2013-09-25 パナソニック株式会社 物体表面検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010261965A (ja) * 2010-07-09 2010-11-18 Yamaha Motor Co Ltd 部品認識装置、表面実装機および部品検査装置
JP2016505139A (ja) * 2013-01-15 2016-02-18 ノルデイシェル・マシーネンバウ・ルド・バアデル・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニ・カーゲーNordischer Maschinenbau Rud.Baader Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung+Compagnie Kommanditgesellschaft 赤身組織構造を非接触で識別する装置及び方法、及び赤身組織構造の条片を除去する組立体

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0718815B2 (ja) 1995-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5576831A (en) Wafer alignment sensor
US4184082A (en) Linear flaw detector
KR100876257B1 (ko) 광학적 측정 방법 및 그 장치
JPH10148619A (ja) 検査基体の面欠陥検査方法及び装置
JP3185599B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JPH0328750A (ja) 表面検査機
WO1993002349A1 (en) Method and apparatus for measuring orange peel and texture in painted surfaces
US5157266A (en) Method and device for testing transparent sheets
JPH0256626B2 (ja)
WO1990012310A1 (en) Procedure and apparatus for determining size and/or shape distribution
JPH11101750A (ja) 異物検出方法
JP2503919B2 (ja) 異物検査装置
US5559341A (en) System for detecting defects in articles using a scanning width which is less than width of portion of the article scanned
JPH0812152B2 (ja) 反射光式傷検出装置
JPH02275345A (ja) 表面検査機
JPH01138447A (ja) 異物検出方法
JPS59164910A (ja) 距離測定装置
JPH07270125A (ja) 板材の板幅・蛇行量検出装置
JP3406951B2 (ja) 表面状態検査装置
JPH0821711A (ja) シート板表面のうねり検出装置
JP2001050720A (ja) 表面検査方法および装置
JP2000146861A (ja) フィルム検査装置
JP3126282B2 (ja) 物品有無検出装置
JPH08271442A (ja) 表面欠陥検出方法および装置
KR0183691B1 (ko) 투명부재 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees