JPH04291139A - ストリップの有疵部報知装置 - Google Patents
ストリップの有疵部報知装置Info
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- JPH04291139A JPH04291139A JP3081920A JP8192091A JPH04291139A JP H04291139 A JPH04291139 A JP H04291139A JP 3081920 A JP3081920 A JP 3081920A JP 8192091 A JP8192091 A JP 8192091A JP H04291139 A JPH04291139 A JP H04291139A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 11
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 abstract description 3
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 238000005097 cold rolling Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、冷間圧延によって製造
される鋼板ストリップの表面の疵を検出し、かつその有
疵部の位置を検定員に報知する装置に関するものである
。
される鋼板ストリップの表面の疵を検出し、かつその有
疵部の位置を検定員に報知する装置に関するものである
。
【０００２】
【従来の技術】冷間圧延によって製造される鋼板ストリ
ップは、その品質保証のための疵検査が略全面に渡って
行なわれる。このストリップ表面の疵検査方法としては
、ライン内を走行するストリップ表面をレーザー光にて
幅方向に走査し、この反射波をＣＣＤ素子などの光電変
換素子によって電圧強度に変換し、この信号データから
疵の有無を判別する方法が既に確立されている（特開昭
６３−６２８２５号公報など参照）。
ップは、その品質保証のための疵検査が略全面に渡って
行なわれる。このストリップ表面の疵検査方法としては
、ライン内を走行するストリップ表面をレーザー光にて
幅方向に走査し、この反射波をＣＣＤ素子などの光電変
換素子によって電圧強度に変換し、この信号データから
疵の有無を判別する方法が既に確立されている（特開昭
６３−６２８２５号公報など参照）。
【０００３】一方、この疵有無の判別方法は、疵の程度
や性質をも判別し得るものではないことから、あくまで
も予備的な検査として行なわれ、検定員が目視検査を別
途行なったうえで最終的な判断を下すことが通例である
。
や性質をも判別し得るものではないことから、あくまで
も予備的な検査として行なわれ、検定員が目視検査を別
途行なったうえで最終的な判断を下すことが通例である
。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記したよ
うな光学装置による疵検出装置は、単に疵を発見して警
報を発するのみであり、その位置に関する情報を十分に
与えるものとは言い難く、そのために検定員は正確な疵
位置を予測することができず、場合によっては見落とし
てしまう虞れもあった。
うな光学装置による疵検出装置は、単に疵を発見して警
報を発するのみであり、その位置に関する情報を十分に
与えるものとは言い難く、そのために検定員は正確な疵
位置を予測することができず、場合によっては見落とし
てしまう虞れもあった。
【０００５】本発明は、このような従来技術の不都合を
解消すべく案出されたものであり、その主な目的は、有
疵部を検定員が確認するに際し、その位置を容易に、か
つ正確に予測することができ、目視検査実施の確実性を
高めることを可能にするためのストリップの有疵部報知
装置を提供することにある。
解消すべく案出されたものであり、その主な目的は、有
疵部を検定員が確認するに際し、その位置を容易に、か
つ正確に予測することができ、目視検査実施の確実性を
高めることを可能にするためのストリップの有疵部報知
装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的は、スト
リップ表面をレーザー光にて走査し、光電変換素子にて
その反射光を受光して得られた電圧強度に基づいてスト
リップ表面の疵を検出するための疵検出装置と、ストリ
ップ搬送ローラの周速に基づいてストリップの長さ方向
の任意の位置の移動を追跡するためのトラッキング装置
と、疵検出装置からの疵位置データおよびトラッキング
装置からの疵位置移動データに基づいて有疵部の通過位
置を検定員に報知するための表示装置とからなることを
特徴とするストリップの有疵部報知装置によって達成さ
れる。
リップ表面をレーザー光にて走査し、光電変換素子にて
その反射光を受光して得られた電圧強度に基づいてスト
リップ表面の疵を検出するための疵検出装置と、ストリ
ップ搬送ローラの周速に基づいてストリップの長さ方向
の任意の位置の移動を追跡するためのトラッキング装置
と、疵検出装置からの疵位置データおよびトラッキング
装置からの疵位置移動データに基づいて有疵部の通過位
置を検定員に報知するための表示装置とからなることを
特徴とするストリップの有疵部報知装置によって達成さ
れる。
【０００７】
【作用】この装置によれば、疵検出装置が検出した有疵
部の移動がトラッキング装置にて追跡され、検定員の待
機位置に対する有疵部の接近あるいは通過が表示装置に
表示される。
部の移動がトラッキング装置にて追跡され、検定員の待
機位置に対する有疵部の接近あるいは通過が表示装置に
表示される。
【０００８】
【実施例】以下に添付の図面に示された具体的な実施例
に基づいて本発明の構成を詳細に説明する。
に基づいて本発明の構成を詳細に説明する。
【０００９】図１は、本発明装置の全体構成を示してい
る。本装置は、Ｈｅ −Ｎｅ レーザー投光器１からス
トリップ２の表面に向けてレーザースポットを幅方向に
掃引照射し、これの反射光をフォトマルチプライヤなど
からなる受光器３にて受けることによって得られた電圧
強度信号を処理装置４にて処理し、この電圧波形、もし
くはこれを微分して得られた微分波形からストリップ２
の表面の疵を検出するように構成された疵検出装置６と
、ストリップ２を搬送するハースロール７の回転数をパ
ルス発信器８にて計数し、かつこれを演算器９にて演算
して求めた板速度に基づいてストリップ２の送出量を出
力するトラッキング装置１１と、ストリップ２上の有疵
部に照明を当てるべく検定ステージに設けられた照光装
置１２と、検定ステージへの有疵部の接近を音声信号に
て報知する発鳴器１４と、疵位置の移動状況をリアルタ
イムで表示する表示盤１５と、各装置からのデータの集
約並びに各装置の統合制御を行なう集中制御盤１３とか
らなっている。
る。本装置は、Ｈｅ −Ｎｅ レーザー投光器１からス
トリップ２の表面に向けてレーザースポットを幅方向に
掃引照射し、これの反射光をフォトマルチプライヤなど
からなる受光器３にて受けることによって得られた電圧
強度信号を処理装置４にて処理し、この電圧波形、もし
くはこれを微分して得られた微分波形からストリップ２
の表面の疵を検出するように構成された疵検出装置６と
、ストリップ２を搬送するハースロール７の回転数をパ
ルス発信器８にて計数し、かつこれを演算器９にて演算
して求めた板速度に基づいてストリップ２の送出量を出
力するトラッキング装置１１と、ストリップ２上の有疵
部に照明を当てるべく検定ステージに設けられた照光装
置１２と、検定ステージへの有疵部の接近を音声信号に
て報知する発鳴器１４と、疵位置の移動状況をリアルタ
イムで表示する表示盤１５と、各装置からのデータの集
約並びに各装置の統合制御を行なう集中制御盤１３とか
らなっている。
【００１０】表示盤１５は、図２に示すように、ストリ
ップ２を幅方向に適宜に分割し、有疵部に該当するレー
ンを照光表示する幅位置表示部１５ａと、疵位置の通過
を照光表示する通過表示灯１５ｂと、疵位置までの距離
が今度の疵と次の疵とについてそれぞれディジタル表示
される距離表示部１５ｃ・１５ｄとを備えている。
ップ２を幅方向に適宜に分割し、有疵部に該当するレー
ンを照光表示する幅位置表示部１５ａと、疵位置の通過
を照光表示する通過表示灯１５ｂと、疵位置までの距離
が今度の疵と次の疵とについてそれぞれディジタル表示
される距離表示部１５ｃ・１５ｄとを備えている。
【００１１】先ず、受光器３が発する電圧強度信号から
得た電圧波形、もしくは微分波形を予め定められた許容
値と比較し、許容値を超える信号が処理装置４に入力し
た場合には、ストリップ２上における疵の幅方向位置を
演算し、この疵位置信号と疵検出信号とを集中制御盤１
３へ出力する。
得た電圧波形、もしくは微分波形を予め定められた許容
値と比較し、許容値を超える信号が処理装置４に入力し
た場合には、ストリップ２上における疵の幅方向位置を
演算し、この疵位置信号と疵検出信号とを集中制御盤１
３へ出力する。
【００１２】一方、ハースロール７の回転数信号から演
算した板速度に基づいて疵検出信号が入力したストリッ
プ２上のポイントをトラッキングし、有疵部が検定ステ
ージを通過するタイミングに同期させて集中制御盤１３
から照光装置１２に発光指令を発し、ストリップ２上の
疵に光を照射する。それと共に、発鳴器１４から発せら
れる音声出力の例えばパルスの断続間隔を変化させるこ
とにより、あるいは音色を次第に変化させることにより
、有疵部の接近を検定員に報知する。
算した板速度に基づいて疵検出信号が入力したストリッ
プ２上のポイントをトラッキングし、有疵部が検定ステ
ージを通過するタイミングに同期させて集中制御盤１３
から照光装置１２に発光指令を発し、ストリップ２上の
疵に光を照射する。それと共に、発鳴器１４から発せら
れる音声出力の例えばパルスの断続間隔を変化させるこ
とにより、あるいは音色を次第に変化させることにより
、有疵部の接近を検定員に報知する。
【００１３】他方、表示盤１５には、疵の幅方向位置が
レーン表示されると共に、有疵部の検定ステージまでの
距離が表示され、かつ実際に検定ステージを有疵部が通
過するタイミングに合わせて通過表示灯１５ｂが照灯さ
れる。
レーン表示されると共に、有疵部の検定ステージまでの
距離が表示され、かつ実際に検定ステージを有疵部が通
過するタイミングに合わせて通過表示灯１５ｂが照灯さ
れる。
【００１４】このようにして、検定員はストリップ２上
の疵位置を確実に認知して疵の程度および性質を容易に
確認することができることとなる。
の疵位置を確実に認知して疵の程度および性質を容易に
確認することができることとなる。
【００１５】
【発明の効果】このように本発明によれば、ストリップ
上の有疵部を追跡し、その位置が検定員の待機位置に接
近あるいは通過したことを表示装置に表示することがで
きるため、有疵部の確認を検定員が確実に行ない得るよ
うにすることができる。従って、検定員の作業負荷を軽
減し、かつ品質管理の徹底を図るうえに大きな効果があ
る。
上の有疵部を追跡し、その位置が検定員の待機位置に接
近あるいは通過したことを表示装置に表示することがで
きるため、有疵部の確認を検定員が確実に行ない得るよ
うにすることができる。従って、検定員の作業負荷を軽
減し、かつ品質管理の徹底を図るうえに大きな効果があ
る。
【図１】本発明に基づく有疵部報知装置の概略構成図で
ある。
ある。
【図２】表示装置の一例を示す盤面図である。
１ 投光器
２ ストリップ
３ 受光器
４ 処理装置
６ 疵検出装置
７ ハースロール
８ パルス発信器
９ 演算器
１１ トラッキング装置
１２ 照光装置
１３ 集中制御盤
１４ 発鳴器
１５ 表示盤
Claims (1)
- 【請求項１】ストリップ表面をレーザー光にて走査し、
光電変換素子にてその反射光を受光して得られた電圧強
度に基づいてストリップ表面の疵を検出するための疵検
出装置と、ストリップ搬送ローラの周速に基づいてスト
リップの長さ方向の任意の位置の移動を追跡するための
トラッキング装置と、前記疵検出装置からの疵位置デー
タおよび前記トラッキング装置からの疵位置移動データ
に基づいて有疵部の通過位置を検定員に報知するための
表示装置とからなることを特徴とするストリップの有疵
部報知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3081920A JPH04291139A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | ストリップの有疵部報知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3081920A JPH04291139A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | ストリップの有疵部報知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04291139A true JPH04291139A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13759896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3081920A Pending JPH04291139A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | ストリップの有疵部報知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04291139A (ja) |
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US6393160B1 (en) | 1998-03-13 | 2002-05-21 | Applied Science Fiction | Image defect correction in transform space |
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| JPH0290046A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-29 | Toshiba Corp | 表面検査装置 |
| JPH02259454A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-22 | Nippon Steel Corp | コイル鋼板の欠陥疵表示装置 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP3081920A patent/JPH04291139A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19960409 |