JPS61211839A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

光ピツクアツプ装置

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JPS61211839A
JPS61211839A JP5317985A JP5317985A JPS61211839A JP S61211839 A JPS61211839 A JP S61211839A JP 5317985 A JP5317985 A JP 5317985A JP 5317985 A JP5317985 A JP 5317985A JP S61211839 A JPS61211839 A JP S61211839A
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JP
Japan
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photodetector
luminous flux
optical
light
split
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Pending
Application number
JP5317985A
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English (en)
Inventor
Hideo Inuzuka
犬塚 英雄
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は光ピックアップ装置に関し、より詳細にはレー
ザ光を用いた記録再生装置に適用し5る光ピックアップ
装置に関するものである。
(従来技術) 従来、光源から出射さオtたレーザ光を、光学系な介し
て光デイスク上に集光照射して情報の読み書ぎを行なう
元ディスク装置がある。
そして、この光ディスク装置に用いられる元ピックアッ
プ装置として、光ディスクからの反射光の光路なビーム
スプリッタにより、光源から光ディスクまでの入射光路
と、光ディスクから光検出器までの反射光路とに分離し
、こうして分離された光路に従う光束をさらに、光分割
手段によりトラッキング制御用の第1の光検出器及びフ
ォーカス制御用の1・2の光検出器・\向かう光に各々
分割して導き、トラッキング誤差信号及びフォーカス誤
差信号を得る方式が知られている。
ところで、従来、上記反射光路を分割する手段として光
検出器の一端部がナイフェツジ的に利用されている。し
かし、ナイフェツジ用として用いる場合には光検出器を
特殊なエツジ形状Vこ加工しなげればならず、そのよう
に形状加工すると耐臨湿度特性を向上させろための保護
膜の形成が困難となり、これを補償するためにはコスト
アップを余儀なくされろという問題がある。
以下第11図乃至第15図により具体的に述べる。
元ピックアップ装置の光学系を説明した第11図VCお
いて、光源たる半導体レーザ1から出射さJtたレーザ
光Lb  はカップリングレンズ2で平行光となり、偏
光ビームスプリンタろを通過し、さ「〕に1/4波長板
4を通過し、対物レンズ5を介して光ディスク乙に集光
され、直径1μm程度のスポットとなる。
そして、光ディスク6からの反射光は、対物レンズ5を
通過し、1/4波長板4により偏光面を変工られ、偏光
ビームスプリッタ3により入射光路と分離されて反射光
路を進み、集光レンズ7により収束ビームとなる。
この収束光の一部は第12図に示すように、光束LL+
4の断面のほぼ半分を占め、元ディスク乙のトラックと
同じ方向Tに平行な2分割の素子C,Dに2分割された
第1の光検出器8Vc入射し、残りの光束は第1の光検
出器8の端縁に平行に配列された2分割の素子A、Bか
らなる1・2の光検出器9に入射する。
、こうして、j・1の光検出器8の各素子C,Dにおけ
る入射光による出力差でトラッキング誤差信号、」・2
の光検出器9の各素子A、BKおける入射光による出力
差でフォーカス誤差信号が得られる。
ここで、前記従来技術の問題は光路分離手段として利用
されている第1の光検出器8の特性が温湿度により影響
を受けることに起因する。すなわち、〕・112図〕・
16図に示すように、素子C,Dは受光部の端縁部を使
用して、ナイフェツジ的効果をもたせているため、光束
のほぼ半分は透過させてやろ必要があり、エツジ状に加
工しである。このため、受光部はレジン等の簡単な保護
膜で被うことができるが、エツジ部Eは保証膜が付き難
く、保護膜の不完全な個所より温湿度の影響による特性
劣化が生ずるのである。
この対処策として、第14図、乏・15図に示す如く、
カバーガラス8a、8bにて枠体8c  VC支持され
た素子C,Dを囲むことも考えられろが、形状が複雑な
ため、大巾なコスト高となり実現性に乏しい。
一方、」・1の光検出器8への入射光については、ドラ
ッギング誤差信号の検出精度な高める必要上、その入射
光量をできるだけ大きくしたいとの要請がある。
(目  的) 従って、この発明の目的は、簡易にして低コストで高精
度の検出信号を得ることのできる光分離手段ケ提供する
ことにある。
(構  成) この発明は上記目的を達成させるため、光分割手段によ
り分割された光栄を元址比で全体の50係を越える光量
とし、この光束を第1の光検出器IC導き、残りの全反
射光束を1・2の光検出器に導くことを特徴としたもの
である。
以下、本発明の一実症例に基づいて具体的に説明する。
実殉例1.(第1図乃至J−6図参照)。
1・1図、1・2図において、半導体レーザ1から光デ
ィスク6までの光射光路は前記第1図へ同等で、光ディ
スク6からの反射光路の一部が変更されている。
マス、偏光ビームスプリッタ6により入射光路から分離
され反射光路なたどる光束は集光レンズ7を通過後、収
束性の光束Lb2となる。この光束Lb2を光分割手段
としての台形プリズム11に入射させ、一部を全反射、
残部を透過させ、2つの光路に分割する。
その際の光量比を非対称とし、透過した光束LD3の光
量を全体光量の50% を越える量とし、これを第1図
(b)にも示す如く元ディスクのトラック方向TK2分
割された′A71の光検出器80により検出してl・ラ
ッキング誤差信号な得ろ。
一方、残りの全反射光束L o 4な、〕・11図C)
に示’j−如く、元ティスクのトラック方向Tと市交す
る方向に2分割された矛2の光検出器90によりツメ−
カス誤差信号を得ろ。
このように、台形プリズム11を光路十に適正配置すイ
〕ことにより、各光検出器へ向かう光束に分割し、その
分割光量比を非対称となし、〕・1の光検出器80−\
の入射元枇を太ぎくとることができるので簡易にして高
精度の検出信号を得ることができる。
すなわち、台形プリズム11は拡大した矛5図にも示さ
れるように、入射″’lt、 II+に対して傾斜した
全反射面11aと、互いに対向する入射面111−1&
Q’透過而11cを有し、紙面と直交する方向に奥行を
有している。
この台形プリズム11に関し、入射しでくる光束を、透
過した光束LD5と全反射光束IJiとに分別するナイ
フェツジの機能な果しているのは、全反射面11aと入
射面111)との境界陵線部11にである。
全反射光束1.o 4は集光レンズ7の作用により、光
軸02−02上の結像、貞P上に焦点を結ぶ。この全反
射光束Lb4は元軸を含まないので結像、唾Pから光[
l1lIIO2−02に対しての角度α1 から角度α
2までの角度をもって収束する。
台形プリズム11は、集光レンズ7により収束さレツツ
あ6f束Lb2)光[1i1fl 01−011/il
:対して入射面11bが直交する関係、光軸o2−02
 K附し′で透過面11cを全反射光束L(〕4と干渉
しない傾向に角度θ′だけ傾いた関係に設定する。
従って角度θの大きさは、全反射光束LD4が透過面1
1cで「クラレ」ることを防止するため(ではレイアウ
ト上、可能な限り大きくした方が好ましく、かといって
大きくしすきると透過した光束LD3の該透過面11c
による反射等の光量ロスを大きくするのでその意味で制
限を受けろ。上記[ケラレJを防止するための条件とし
てはθ≧α2 とず)tばよいことがわかる。その際、
角度θの設定は透過した光束T−b5の上記元財aスな
折lえる観1Qか690°±2〜6°程度で選び得る。
このような構成においてフォーカス誤差信号による合焦
fli!I 1jlllは次のよってして行なわれる。
まず、〕・2図において、対物レンズ5と元ティスク乙
の位置が正しく、合焦であれ(げ、1・4図(1)に示
さi9.るように、書・2の光検出器90VCおげろ素
子A、Bの出力が集光レンズ7の結像点Pで等しくなる
ように調整されている。
これが、対物レンズ5と元ティスク6との間隔が犬とな
った場合は:A−4図(o)のように結像点Pが近づい
て出力がA>Bとなり、逆に」−記間隔が小どなった場
合は牙4図(C)のように結像人豆Pが退いてA、 <
 Bとなる。
従って画素子A、Bの出力な比較したフォーカス誤差1
h@により合焦状態な判断することが可能である。
そして、このツメ−カス誤差信号を利用して対物レンズ
5と元ティスク6との間隔を一定に保つフメーカスザー
ボを行なう。
次に、トラッキング誤差信号によるトラック制御につい
て説明する。
乏・5図に示す如く、スポットが正しく元ディスク乙の
トラック上にある場合には、周・1図(1つ)に示す如
く光束Lb3は第1の光検出器80の素子C1Dに均等
に入射して各出力が等しくなるようvc調整されている
従って、〕・6図に示す如く、スポットの位置がトラッ
クからずれた場合は、ずれの方向に従って素子C或いは
素子りの何れか一方の出力が犬となる。よって、これら
素子間の出力差を利用してトラッキング制御を行なうこ
とができる。
実施例2. (F−7図参照)。
本例では、牙7図に示すように光分割手段としての台形
プリズム111を陵線部111k  の光束上での位置
設定により透過した光束L+)31が光量比で50% 
を越えるように配置する。ここで、入射面111b は
光束Lb2の元軸と直交する関係にある。
又、この入射面111b  と全反射面111a  と
のなす角βは45°未満に設定されている。全反射光束
LD41が透過面111c  と干渉することを防ぐた
めである。
レイアウト上、角度βが全反射限界を越えた場合は全反
射部117a  に多層膜等で反射膜る・形成すノ′コ
ば好都合である。又、〕・20光検出器90ばβ−45
°の場合に比べ(45°−β)×2だけ入射光軸が傾く
のでこれに合わせて位置設定する必要がある。
実施例3(」・8図参照)。
この例ばA・8図(a)に示す如く、上記各個と異なり
、光分割手段たる台形プリズム112により分割された
、全反射光束Ll)42  について元牡比で全体の5
0% を越える光量とし、残部な透過した光束1..b
 52  どしたものである。全反射光束T、、042
の光路」−((は第1の光検出器80(〕・88図1)
)参照)が、透過した光束J、D32  の結隊位置に
は矛2の光検出器90(]・8図(c)参照)が各々配
置さJ7、ている。
この例では、全反射光栄LJ42  はyC4々11を
含んでいるので台形プリズ、z、112の透過能112
Cは光束■−102のyfS叫1と直交するモ面にすれ
ば、所謂1−クラレーjの間1色11は生じr【い。
実施例4(1・9図、」・10図参照)。
本例は前記、A−1図乃至1・7図の例の変形例に対応
し、第2の光検出器90ρ・向がうべき全反射光束側第
2の全反射部113a  で反射させて導くことにより
、レイアウト上の制約を緩和している。
以上、各実施例の適用により、必安に応じて光学レイア
ウトを選べることは勿論、台形プリズムを集光レンズと
配置な入れ換えて設置することも可能である。父、〕・
4図かられかる通り、対物レンズ5と光ディスク乙の関
係が非合焦となった」場合1、台形プリズムには平行y
eではなく収束若しくは発散光が微小な角度を以て入射
するので、台形プリズムに係るθ又はβの角度により[
ケラレ−]のない光の分割が可能であり、集光レンズ7
は第1図、〕・〕7の1合は全反射光束側に、」・8図
の場合は透過光束+11Uに設置している。
上記各個では台形光分割手段としてプリズムにより全反
射光と透過した光束とに分割してトラック及0・フォー
カスの誤差信号を得ているが、これに限らす、全反射と
透過の各機能ケ利用して光束を分離できろなりは形状は
台形プリズムに限らす、例えば」・9図、〕・〕1図に
示す如きダ・・プリズムを使ハjして光路な折り曲げて
光学系全体をコンパクト化ずイ)こともできる。その能
の光学素子を用い4)こともl′I丁能である。
(効 果) 本発明では、光分割手段によりナイフェツジをかげ、光
路分割ケするので、従来技術の如く〕・1の光検出器を
特殊形状にすることなく、一般的な、例えば第2の元・
演出器と同等のパッケージとして蜜月できろので需湿朋
特1律及びコストの問題を解消できる。又、第1の光検
出器に十分な光量な得てトラック検出硝凹を向−J−、
することができる。
【図面の簡単な説明】
〕・1図は本発明の一実癩例を説明した光学系の配置図
、矛2図は同上図の側面図、矛ろ図−は′A−1図の要
部を拡大した図、〕・44図佳光束の結像位置とともに
フォーカス制御なh兄明した図、1・5図、牙6図はト
ラック面]@1におけろ光検出器上でのスポット位置の
変化を説明した図、3・7図乃至矛9図は各々本発明の
他の実症例な説明した光学系の配置図、〕・〕1図は矛
9図の側面図、第11図は従来技術に係る光ビノクアノ
ゾ装置の光路の説明図、1・12図は同上図におげろ光
検出器」二でのスポットの位置関係を説明した図、判・
16図は光検出器の一部を以て構成したナイフェツジ部
の斜視図、3・74図は光検出器を密」月した場合の正
面図、」・15図は同上図のχ−X矢視断面図である。 11、 111. 112. 113  ・・・台形プ
リズム、80・」・1の光検出器、90・・・〕・22
0光検出器第44図 X− X」 7うヘ  ブ5  トロ りr)  ブ5 UミJ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光源から出射されたレーザ光を光学系を介して光ディス
    ク上に集光照射して情報の読み書きを行なう光ディスク
    装置の一部を構成し、光ディスクからの反射光の光路を
    、ビームスプリッタにより、光源から光ディスクまでの
    入射光路と、光ディスクから光検出器までの反射光路と
    に分離し、こうして分離された光路に従う光束をさらに
    光分割手段によりトラッキング制御用の第1の光検出器
    及びフォーカス制御用の第2の光検出器に至る光束に各
    々分割して導き、トラッキング誤差信号及びフォーカス
    誤差信号を得るようにした光ピックアップ装置であって
    、 上記光分割手段により分割された光束を光量比で全体の
    50%を越える光量とし、この光束を第1の光検出器に
    導き、残りの全反射光束を第2の光検出器に導くことを
    特徴とする光ピックアップ装置。
JP5317985A 1985-03-15 1985-03-15 光ピツクアツプ装置 Pending JPS61211839A (ja)

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JP5317985A JPS61211839A (ja) 1985-03-15 1985-03-15 光ピツクアツプ装置

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JP5317985A JPS61211839A (ja) 1985-03-15 1985-03-15 光ピツクアツプ装置

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JPS61211839A true JPS61211839A (ja) 1986-09-19

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100443676B1 (ko) * 2001-09-13 2004-08-09 엘지전자 주식회사 전반사형 집광렌즈를 이용한 광픽업 장치
KR100455478B1 (ko) * 2000-12-29 2004-11-08 엘지전자 주식회사 전반사형 집광렌즈를 이용한 광픽업 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100455478B1 (ko) * 2000-12-29 2004-11-08 엘지전자 주식회사 전반사형 집광렌즈를 이용한 광픽업 장치
KR100443676B1 (ko) * 2001-09-13 2004-08-09 엘지전자 주식회사 전반사형 집광렌즈를 이용한 광픽업 장치

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