JPS61209434A - レジスト用重合体 - Google Patents

レジスト用重合体

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JPS61209434A
JPS61209434A JP60049233A JP4923385A JPS61209434A JP S61209434 A JPS61209434 A JP S61209434A JP 60049233 A JP60049233 A JP 60049233A JP 4923385 A JP4923385 A JP 4923385A JP S61209434 A JPS61209434 A JP S61209434A
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JP
Japan
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polymer
units
halogenoisopropenylcumene
resist
alpha
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JP60049233A
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JPH0588469B2 (ja
Inventor
Tadashi Asanuma
正 浅沼
Junko Takeda
武田 淳子
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Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Original Assignee
Mitsui Toatsu Chemicals Inc
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Publication date
Application filed by Mitsui Toatsu Chemicals Inc filed Critical Mitsui Toatsu Chemicals Inc
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は紫外線、X#、rm、或は電子線などの照射に
よって架橋し溶剤に不溶の重合体となるネガタイプレジ
スト用として好適な重合体にrIAfる。
〔従来の技術〕
レジスト用の重合体としては多くのものが知られており
、アクリル酸系の重合体、フェノール系の重合体、スチ
レン系の重合体などが半導体ディバイス製造用などに利
用されている。
〔発明か解決しようとする問題点〕
半導体ディバイスの高集積化の進歩はめざましく、さら
に高感度高解像力等高機能を有する優れたレジスト用の
重合体の開発が望まれている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者らは、上述の新たなレジスト用の重合体の開発
について鋭意検討し1本発明χ完成した。
即ち、本発明は、全単量体に対して0,02単位以上の
一般式     。H3 (式中;Xはハロゲン原子である。)で示されるα−ハ
ロゲノイソプロペニルクメン単単位金含有るレジスト用
重合体である。
本発明においてα−ハロゲノイソプロペニルクメン単位
は、重合体連鎖を形成するイソプロペニル基に対してm
位又はp位にノ・ロゲノプロパン基が結合した構造7有
しており、・・ロゲン原子としては7ノ素、塩素、息累
、ヨウ素が挙げられる。
上記α−ハロゲノイソプロペニルクメン単位は全単量体
単位を1として0,02単位以上含有されている必要が
あり、0.02単位以下では照射によるゲル化が不充分
であり、レジスト用として好適ではない。
α−ハロゲノイソプロペニルクメン単位以外の単量体単
位としては、種々の構造のものが使用・可能であるが好
ましくは芳香環を有する単量体単位が好ましく、スチレ
ン又はスチレ/の芳香環にアルキル基、アルコキシ基、
ノ・ロゲ/原子などの置換基のついたスチレン誘導体が
好ましい単量体単位として挙げられる。
本発明の重合体の分子量については特に制限はないが、
レジスト用として塗膜の成形性などを考慮すれば100
0以上、好ましくはio、ooo〜100万である。
本発明の重合体ケ製造する方法としては種々可能であり
、α−ハロゲノイノプロペニルクメン単位を単独で或い
は他の重合性のビニル基を含有する単量体と共重合する
方法、或いはジイソプロペニルベンゼン単独の又は他の
重合性のビニル基ケ含有する単量体との共重合体を製造
し、次いでジイソプロペニルベンゼン基のうち重合反応
に関与しなかったインプロペニル基にハロゲン化水素を
付加せしめる方法などが挙げられる。後者のイソプロペ
ニル基を含有する重合体の製造性としては、例えば、!
時開昭59−207905号にその具体的方法が開示さ
れている。得られるインプロペニル基乞含有する重合体
は、反応性に富むため、ノ・ロゲゲン化水素乞導入する
ことでα−ノ・ロゲノイソブロペニルクメン単位とする
ことが可能である。
本発明において、重合体は前述の前者の方法で製造した
場合には、重合反応の後、メタノールなどの沈蛾剤中に
貢合反応液を投入することで沈澱物として重合体を得る
ことが可能であり、後者の方法では、イソプロペニル基
ケ有する重合体を上述と同様の方法で未反応の単量体な
どから分離し、ハロゲン化炭化水素などの反応溶剤に溶
解し、ノ・ロゲン化水素と反応し、未反応のノ・ロゲン
化水素χ不活性ガスの導入でパージして除去することで
レジスト用重合体溶液とすることができる。
本発明の重合体は、適当な溶媒に溶解した状態で基板に
塗布し、乾燥して祷られた塗膜に紫外線、X線、γ線或
いは電子・濠などを照射することで照射部のみが架橋反
応ン起し、溶剤に不溶となるため、ネガタイプのレジス
ト用として使用できる。
〔発明の効果〕
本発明の重合体は紫外線、X線、γ線、或いは電子線な
どの照射に対して高感度に架橋反応が起るためレジスト
用重合体として極めて有用である。
〔実施例〕
以下、実施例を挙げ未発明暑さらに説明する。
実施例1 2007!の丸底フラスコにベンゼン100m、スチレ
ン36−、ジイソプロペニルベンゼン(m一体93%、
p一体6%、イソプロペニルクメン1%) 14m、ア
ゾビスイソブチロニトリル0.39’&加え、70℃で
14時間反応した後、反応混合物を1tのメタノールに
投じ、共重合体を沈赦させた。乾燥後秤量したところ9
82であった。プロトンNMRによってインプロペニル
基の含量を測定したところジイソプロペニルベンゼン単
位は18.2モル%テアった。
又60°Cトルエン溶液の極限粘度数は0.38であっ
た。
この゛共重合体の5F’&200−のクロロホルムに溶
解し、塩化水素ガス2275分間かけ導入し、さらに3
0分間反応した後、窒素ガスを導入して未反応の塩化水
素ガスを除去した。反応液をろ過した後、ろ液ン真空乾
燥して本発明の重合体を得た。
30℃トルエン溶液の極限粘度数は0.36であり、赤
外吸収スペクトルではイソプロペニル基に帰属値 される1 630m−’の吸収は消失しており、元素分
析は炭素8Z05重量%、水素7.64重量%、塩素5
.28重量%であった。従って、この共重合体は定量的
にイソプロペニル基に塩素が付加しており、しかもプロ
トンNMRKよればCH基の吸収も増加していないこと
から、 Ha の組成であると推定される。
こうして得られた重合体をクロロホルムに溶解し、ガラ
ス板上に1μm厚の塗膜を作り、塗膜の上に211jl
′lJi隔のアルミ製の格子をおき、500丼の水銀灯
(東芝製300H)を用い、10cInの距離から20
分間光照射した後、塗膜χクロロホルムで処理したとこ
ろ、光照射された部分は溶解せずに残った。
実施例2 200−の丸底フラスコに、トルエン60−1α−メチ
ルスチレン24−、スチレン10−、ジイソプロペニル
ベンゼン(96wt%カm −’) インブロベニルベ
ンゼンテアリ、他はm−イソプロペニルクメンである。
)6−、ジグライム1−を加え、攪拌しながら一5°C
とし、ブチルリチウム(10wt%ヘキサン溶1)Yl
−加え、−5℃で1時間反応し、次いで1mlのメタノ
ール中加えた後ろ過し、さらにメタノール中に投じて沈
澱させて共重合体21.52を得た。30℃トルエン溶
液での極限粘度数は0.42であり、プロトンNMRに
より測定したイソプロペニル基乞含有する単位は10.
8モル%であった0 この共重合体52を用いて実施例1と同様に塩化水素の
付加反応を行った。得られた重合体の極は消失しており
、元素分析によればα−クロロイソプロペニルクメ/単
位は、10.6モル%であった。
この重合体ン用い薄膜を作り実施例1と同様の光反応7
行ったところ、20分間光照射した部分はクロロホルム
に不溶であった。
実施例3 実施例2で得たイソプロペニル基を有する重合体51を
100−のクロロホルムに溶解し、臭化水素122を6
0分間かけて導入し、さらに2時間攪拌し、次いで窒素
気流で未反応の臭化水素を追い出した後、真空乾燥した
。この共重合体の元素分析によればα−ブロモイソプロ
ペニルクメン単位を10.1モル%含有していた。
この重合体を用いて実施例1と同様に光照射のテストヲ
行ったところ、15分の光照射で光照射した部分はクロ
ロホルムに不溶となった。
比較例1 共重合反応をベンゼン100+n!、スチレン49−、
ジイソプロペニルベンゼン1ゴ、アゾビスイソブチロニ
トリル0.32を用いて行い、以下実施例1と同様に塩
化水素付加反応を行ったところ、元素分析ヨリα−クロ
ロイソプロペニルクメン単位が1.2モル%である重合
体が得られた。
実施例1と同様に光照射を行ったか、20時間光照射し
てもクロロホルムにすべて溶解した。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、全単量体単位に対して0.02単位以上の一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中;Xはハロゲン原子である。)で示されるα−ハ
    ロゲノイソプロペニルクメン単位を含有するレジスト用
    重合体。
JP60049233A 1985-03-14 1985-03-14 レジスト用重合体 Granted JPS61209434A (ja)

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JP60049233A JPS61209434A (ja) 1985-03-14 1985-03-14 レジスト用重合体

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JPS61209434A true JPS61209434A (ja) 1986-09-17
JPH0588469B2 JPH0588469B2 (ja) 1993-12-22

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01261636A (ja) * 1988-04-13 1989-10-18 Canon Inc パターン形成法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01261636A (ja) * 1988-04-13 1989-10-18 Canon Inc パターン形成法

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