JPS6120811A - 光フアイバ干渉計 - Google Patents

光フアイバ干渉計

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Publication number
JPS6120811A
JPS6120811A JP59141763A JP14176384A JPS6120811A JP S6120811 A JPS6120811 A JP S6120811A JP 59141763 A JP59141763 A JP 59141763A JP 14176384 A JP14176384 A JP 14176384A JP S6120811 A JPS6120811 A JP S6120811A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light
couplers
optical
interferometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59141763A
Other languages
English (en)
Inventor
Keizo Nukada
額田 啓三
Toshio Iizuka
飯塚 寿夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP59141763A priority Critical patent/JPS6120811A/ja
Publication of JPS6120811A publication Critical patent/JPS6120811A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/72Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の背景と目的〕 本発明は光ファイバ干渉計に係り、特に物理量の測定精
度を向上するのに好適な2芯のフラットケーブルを用い
た光ファイバ干渉計に関するものである。
第1図は従来の光ファイバを用いたリング干渉計の基本
構成図である。第1図においては、光源1からの光は、
ハーフミラ−2で2つに等分配し、それぞれの光をレン
ズ3a、3bで集光し、レンズ3a、3bで集光した光
をシングルモード光ファイバコイル40両端へ同時に入
射し、光ファイバコイル4を伝搬後の光は、それぞれに
レンズ3a、3bによって平行光に変換した後、ハーフ
ミラ−2によって合成してハーフミラ−2より干渉光を
出力させるようにしである。
しかし、この場合、ハーフミラ−2、レンズ、3a、3
’b、光ファイバフィル4端面の反射および光ファイバ
コイル4内でのレーレ−散乱等の影響により干渉光が変
動し、この変動によって例えば光学系全体を回転させた
ときの回転角速度の測定精度が低下するという問題があ
る。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、回転角速度などの物理量の測定精度を大幅に
向上することができる光ファイバ干渉計を提供すること
にある。
[発明の概要] 本発明の特徴は、光源からの光を2つに分岐し、分岐さ
れたそれぞれの光を2系統の光干渉部に入射するように
してなり、上記2系統の光干渉部のアームを構成するそ
れぞれの光ファイバは2芯のフラットケーブルの心線と
してあり、上記2系統の光干渉部からの出力光をそれぞ
れ光−電気変換後、この2つの電気信号の平均値を求め
る構成とした点にある。
[実施例] 以下本発明を第2図、第3図に示した実施例を用いて詳
細に説明する。
第2図は本発明の光ファイバ干渉計の一実施例を示す基
本構成図で、リング干渉計を示しである。
第2図において、21は光源で、光源21からの光は、
レンズ22によって集光して光ファイバ形分岐器23に
入射し、ここで2つの光に等分配し、この2つの出力光
はそれぞれ光ファイバ形方向性結合器(2X2)24.
25に導いである。方向性結合器24.25の2方向の
出力光は、それぞれ2芯のフラットケーブルの心線より
なる同一長さの光ファイバコイル26.27の両端に同
時に入射させて、この2系統の光ファイバコイル26゜
27の出力光は、それぞれ方向性結合器24゜25に再
び入射させて干渉させ、方向性結合器’24.25から
の干渉光をそれぞれ図示しない受光器に入射させて光−
電気変換後、この2つの電気信号の平均値を求めるよう
にしである。
第3図は第2図の光ファイバコイル26.27を構成し
ているフラットケーブルの一実施例を示す断面図で、図
に示すように、シングルモード光ファイバ31.32に
被覆33を施した2芯のフラットケーブル34を用いて
あり、このフラットケーブル34の両端末で2本の光フ
ァイバ31゜32を分離し、それぞれの光ファイバ31
.32の両端末をそれぞれ方向性結合器24.25に接
続するようにしである。なお、フラットケーブル34を
構成する光ファイバ31.32としては同一特性に近い
ものを使用する。このように、光ファイバコイル26.
27は、フラットケーブル34で構成したので、2つの
光ファイバコイル26.27の温度分布はほぼ等しくな
る。
2系統のリング干渉計の干渉光のゆらぎは、光学物品、
光ファイバ端面の反射および光ファイバ内でのレーレ−
散乱に起因するが、上記した本発明の干渉計のように光
ファイバコイル26.27をフラットケーブル34で構
成すると、2系統の干渉計の出力光のゆらぎの間には相
関がないため、それぞれの干渉光に対応する電気信号の
平均値をとることによって全体の系としその出力の変動
を小さくすることができる。これにともない、例えば、
回転角速度の測定精度を大幅に向上することができる。
なお、本発明は、リング干渉計のほか、マツハツエンダ
干渉計、マイケルソン干渉計、ファブリペロ−干渉計な
どにも適用可能であり、同様の効果を得ることができる
また、回転角速度のはか帽り圧力、振動等の物理量の測
定の場合においても、測定精度を大幅に向上できる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、回転角速度など
の物理面の測定精度を大幅に向上できるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光ファイバを用いたリング干渉計の基本
構成図、第2図は本発明の光ファイバ干渉計の一実施例
を示す基本構成図、第3図は第2図の2つの光ファイバ
コイルを構成しているフラットケーブルの一実施例を示
す断面図である。 21:光源、22:レンズ、23:光ファイバ形分岐器
、24,25:光ファイバ形方向性結合器、26.27
:光ファイバコイル、34:フラットケーブル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光源からの光を2つに分岐し、分岐されたそれぞれの光
    を2系統の光干渉部に入射するようにしてなり、前記2
    系統の光干渉部のアームを構成するそれぞれの光ファイ
    バは2芯のフラットケーブルの心線としてあり、前記2
    系統の光干渉部からの出力光をそれぞれ光−電気変換後
    、該2つの電気信号の平均値を求める構成としてあるこ
    とを特徴とする光ファイバ干渉計。
JP59141763A 1984-07-09 1984-07-09 光フアイバ干渉計 Pending JPS6120811A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59141763A JPS6120811A (ja) 1984-07-09 1984-07-09 光フアイバ干渉計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59141763A JPS6120811A (ja) 1984-07-09 1984-07-09 光フアイバ干渉計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6120811A true JPS6120811A (ja) 1986-01-29

Family

ID=15299612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59141763A Pending JPS6120811A (ja) 1984-07-09 1984-07-09 光フアイバ干渉計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6120811A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01269010A (ja) * 1988-04-20 1989-10-26 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバジヤイロ
US7550310B2 (en) 1997-08-08 2009-06-23 California Institute Of Technology Techniques and systems for analyte detection

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01269010A (ja) * 1988-04-20 1989-10-26 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバジヤイロ
US7550310B2 (en) 1997-08-08 2009-06-23 California Institute Of Technology Techniques and systems for analyte detection

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