JPS6120811A - 光フアイバ干渉計 - Google Patents
光フアイバ干渉計Info
- Publication number
- JPS6120811A JPS6120811A JP59141763A JP14176384A JPS6120811A JP S6120811 A JPS6120811 A JP S6120811A JP 59141763 A JP59141763 A JP 59141763A JP 14176384 A JP14176384 A JP 14176384A JP S6120811 A JPS6120811 A JP S6120811A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- light
- couplers
- optical
- interferometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/58—Turn-sensitive devices without moving masses
- G01C19/64—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
- G01C19/72—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の背景と目的〕
本発明は光ファイバ干渉計に係り、特に物理量の測定精
度を向上するのに好適な2芯のフラットケーブルを用い
た光ファイバ干渉計に関するものである。
度を向上するのに好適な2芯のフラットケーブルを用い
た光ファイバ干渉計に関するものである。
第1図は従来の光ファイバを用いたリング干渉計の基本
構成図である。第1図においては、光源1からの光は、
ハーフミラ−2で2つに等分配し、それぞれの光をレン
ズ3a、3bで集光し、レンズ3a、3bで集光した光
をシングルモード光ファイバコイル40両端へ同時に入
射し、光ファイバコイル4を伝搬後の光は、それぞれに
レンズ3a、3bによって平行光に変換した後、ハーフ
ミラ−2によって合成してハーフミラ−2より干渉光を
出力させるようにしである。
構成図である。第1図においては、光源1からの光は、
ハーフミラ−2で2つに等分配し、それぞれの光をレン
ズ3a、3bで集光し、レンズ3a、3bで集光した光
をシングルモード光ファイバコイル40両端へ同時に入
射し、光ファイバコイル4を伝搬後の光は、それぞれに
レンズ3a、3bによって平行光に変換した後、ハーフ
ミラ−2によって合成してハーフミラ−2より干渉光を
出力させるようにしである。
しかし、この場合、ハーフミラ−2、レンズ、3a、3
’b、光ファイバフィル4端面の反射および光ファイバ
コイル4内でのレーレ−散乱等の影響により干渉光が変
動し、この変動によって例えば光学系全体を回転させた
ときの回転角速度の測定精度が低下するという問題があ
る。
’b、光ファイバフィル4端面の反射および光ファイバ
コイル4内でのレーレ−散乱等の影響により干渉光が変
動し、この変動によって例えば光学系全体を回転させた
ときの回転角速度の測定精度が低下するという問題があ
る。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、回転角速度などの物理量の測定精度を大幅に
向上することができる光ファイバ干渉計を提供すること
にある。
ところは、回転角速度などの物理量の測定精度を大幅に
向上することができる光ファイバ干渉計を提供すること
にある。
[発明の概要]
本発明の特徴は、光源からの光を2つに分岐し、分岐さ
れたそれぞれの光を2系統の光干渉部に入射するように
してなり、上記2系統の光干渉部のアームを構成するそ
れぞれの光ファイバは2芯のフラットケーブルの心線と
してあり、上記2系統の光干渉部からの出力光をそれぞ
れ光−電気変換後、この2つの電気信号の平均値を求め
る構成とした点にある。
れたそれぞれの光を2系統の光干渉部に入射するように
してなり、上記2系統の光干渉部のアームを構成するそ
れぞれの光ファイバは2芯のフラットケーブルの心線と
してあり、上記2系統の光干渉部からの出力光をそれぞ
れ光−電気変換後、この2つの電気信号の平均値を求め
る構成とした点にある。
[実施例]
以下本発明を第2図、第3図に示した実施例を用いて詳
細に説明する。
細に説明する。
第2図は本発明の光ファイバ干渉計の一実施例を示す基
本構成図で、リング干渉計を示しである。
本構成図で、リング干渉計を示しである。
第2図において、21は光源で、光源21からの光は、
レンズ22によって集光して光ファイバ形分岐器23に
入射し、ここで2つの光に等分配し、この2つの出力光
はそれぞれ光ファイバ形方向性結合器(2X2)24.
25に導いである。方向性結合器24.25の2方向の
出力光は、それぞれ2芯のフラットケーブルの心線より
なる同一長さの光ファイバコイル26.27の両端に同
時に入射させて、この2系統の光ファイバコイル26゜
27の出力光は、それぞれ方向性結合器24゜25に再
び入射させて干渉させ、方向性結合器’24.25から
の干渉光をそれぞれ図示しない受光器に入射させて光−
電気変換後、この2つの電気信号の平均値を求めるよう
にしである。
レンズ22によって集光して光ファイバ形分岐器23に
入射し、ここで2つの光に等分配し、この2つの出力光
はそれぞれ光ファイバ形方向性結合器(2X2)24.
25に導いである。方向性結合器24.25の2方向の
出力光は、それぞれ2芯のフラットケーブルの心線より
なる同一長さの光ファイバコイル26.27の両端に同
時に入射させて、この2系統の光ファイバコイル26゜
27の出力光は、それぞれ方向性結合器24゜25に再
び入射させて干渉させ、方向性結合器’24.25から
の干渉光をそれぞれ図示しない受光器に入射させて光−
電気変換後、この2つの電気信号の平均値を求めるよう
にしである。
第3図は第2図の光ファイバコイル26.27を構成し
ているフラットケーブルの一実施例を示す断面図で、図
に示すように、シングルモード光ファイバ31.32に
被覆33を施した2芯のフラットケーブル34を用いて
あり、このフラットケーブル34の両端末で2本の光フ
ァイバ31゜32を分離し、それぞれの光ファイバ31
.32の両端末をそれぞれ方向性結合器24.25に接
続するようにしである。なお、フラットケーブル34を
構成する光ファイバ31.32としては同一特性に近い
ものを使用する。このように、光ファイバコイル26.
27は、フラットケーブル34で構成したので、2つの
光ファイバコイル26.27の温度分布はほぼ等しくな
る。
ているフラットケーブルの一実施例を示す断面図で、図
に示すように、シングルモード光ファイバ31.32に
被覆33を施した2芯のフラットケーブル34を用いて
あり、このフラットケーブル34の両端末で2本の光フ
ァイバ31゜32を分離し、それぞれの光ファイバ31
.32の両端末をそれぞれ方向性結合器24.25に接
続するようにしである。なお、フラットケーブル34を
構成する光ファイバ31.32としては同一特性に近い
ものを使用する。このように、光ファイバコイル26.
27は、フラットケーブル34で構成したので、2つの
光ファイバコイル26.27の温度分布はほぼ等しくな
る。
2系統のリング干渉計の干渉光のゆらぎは、光学物品、
光ファイバ端面の反射および光ファイバ内でのレーレ−
散乱に起因するが、上記した本発明の干渉計のように光
ファイバコイル26.27をフラットケーブル34で構
成すると、2系統の干渉計の出力光のゆらぎの間には相
関がないため、それぞれの干渉光に対応する電気信号の
平均値をとることによって全体の系としその出力の変動
を小さくすることができる。これにともない、例えば、
回転角速度の測定精度を大幅に向上することができる。
光ファイバ端面の反射および光ファイバ内でのレーレ−
散乱に起因するが、上記した本発明の干渉計のように光
ファイバコイル26.27をフラットケーブル34で構
成すると、2系統の干渉計の出力光のゆらぎの間には相
関がないため、それぞれの干渉光に対応する電気信号の
平均値をとることによって全体の系としその出力の変動
を小さくすることができる。これにともない、例えば、
回転角速度の測定精度を大幅に向上することができる。
なお、本発明は、リング干渉計のほか、マツハツエンダ
干渉計、マイケルソン干渉計、ファブリペロ−干渉計な
どにも適用可能であり、同様の効果を得ることができる
。
干渉計、マイケルソン干渉計、ファブリペロ−干渉計な
どにも適用可能であり、同様の効果を得ることができる
。
また、回転角速度のはか帽り圧力、振動等の物理量の測
定の場合においても、測定精度を大幅に向上できる。
定の場合においても、測定精度を大幅に向上できる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、回転角速度など
の物理面の測定精度を大幅に向上できるという効果があ
る。
の物理面の測定精度を大幅に向上できるという効果があ
る。
第1図は従来の光ファイバを用いたリング干渉計の基本
構成図、第2図は本発明の光ファイバ干渉計の一実施例
を示す基本構成図、第3図は第2図の2つの光ファイバ
コイルを構成しているフラットケーブルの一実施例を示
す断面図である。 21:光源、22:レンズ、23:光ファイバ形分岐器
、24,25:光ファイバ形方向性結合器、26.27
:光ファイバコイル、34:フラットケーブル。
構成図、第2図は本発明の光ファイバ干渉計の一実施例
を示す基本構成図、第3図は第2図の2つの光ファイバ
コイルを構成しているフラットケーブルの一実施例を示
す断面図である。 21:光源、22:レンズ、23:光ファイバ形分岐器
、24,25:光ファイバ形方向性結合器、26.27
:光ファイバコイル、34:フラットケーブル。
Claims (1)
- 光源からの光を2つに分岐し、分岐されたそれぞれの光
を2系統の光干渉部に入射するようにしてなり、前記2
系統の光干渉部のアームを構成するそれぞれの光ファイ
バは2芯のフラットケーブルの心線としてあり、前記2
系統の光干渉部からの出力光をそれぞれ光−電気変換後
、該2つの電気信号の平均値を求める構成としてあるこ
とを特徴とする光ファイバ干渉計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59141763A JPS6120811A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 光フアイバ干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59141763A JPS6120811A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 光フアイバ干渉計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6120811A true JPS6120811A (ja) | 1986-01-29 |
Family
ID=15299612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59141763A Pending JPS6120811A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 光フアイバ干渉計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6120811A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01269010A (ja) * | 1988-04-20 | 1989-10-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバジヤイロ |
US7550310B2 (en) | 1997-08-08 | 2009-06-23 | California Institute Of Technology | Techniques and systems for analyte detection |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP59141763A patent/JPS6120811A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01269010A (ja) * | 1988-04-20 | 1989-10-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバジヤイロ |
US7550310B2 (en) | 1997-08-08 | 2009-06-23 | California Institute Of Technology | Techniques and systems for analyte detection |
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