JPS61201303A - プログラム調節計 - Google Patents
プログラム調節計Info
- Publication number
- JPS61201303A JPS61201303A JP4299185A JP4299185A JPS61201303A JP S61201303 A JPS61201303 A JP S61201303A JP 4299185 A JP4299185 A JP 4299185A JP 4299185 A JP4299185 A JP 4299185A JP S61201303 A JPS61201303 A JP S61201303A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- program
- control
- annealing
- program pattern
- value
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000000137 annealing Methods 0.000 abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
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Landscapes
- Feedback Control In General (AREA)
- Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、プログラム調節計の改良に関するものであ
る。
る。
［従来の技術］
ガラス製品やレンズ（特に精密・高級なもの）を製造す
るには、溶融ガラスを目的の形状にして固めた後、これ
をゆっくり冷却してやらないとヒビ割れ等が発生してし
まう。このため、数十臼から数か月かけて徐々に冷却す
る除冷、アニール工程を必要とする。この時、製品毎に
除冷勾配を異にするため、プログラム制御が必要となる
。
るには、溶融ガラスを目的の形状にして固めた後、これ
をゆっくり冷却してやらないとヒビ割れ等が発生してし
まう。このため、数十臼から数か月かけて徐々に冷却す
る除冷、アニール工程を必要とする。この時、製品毎に
除冷勾配を異にするため、プログラム制御が必要となる
。
［発明が解決しようとする問題点］
このアニール工程では、温度の高いガラスを除冷用の炉
に入れるのであるが、ガラスの投入時点では炉の内部は
かなり冷えている。そこに温度の高いガラスを入れると
温度バランスがとれるまで自分の熱で温度がかなり上昇
する。そして、通常はあるスタート２１ｉ１度ＴＯに下
げてから除冷を開始する。
に入れるのであるが、ガラスの投入時点では炉の内部は
かなり冷えている。そこに温度の高いガラスを入れると
温度バランスがとれるまで自分の熱で温度がかなり上昇
する。そして、通常はあるスタート２１ｉ１度ＴＯに下
げてから除冷を開始する。
この時、調節計は、通常、スタート温度ＴＯで定植制御
を行っているため、第３図（ａ＞で示すように自己温度
上昇の後、これを引き戻すようにアンダーシュートを生
じてスタートｔｓＨＩＴｏに安定する場合があり、製品
を駄目にしてしまうおそ 。
を行っているため、第３図（ａ＞で示すように自己温度
上昇の後、これを引き戻すようにアンダーシュートを生
じてスタートｔｓＨＩＴｏに安定する場合があり、製品
を駄目にしてしまうおそ 。
れがある。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、このようなアンダ
ーシュートを防止するようにしたプログラムＵＡｗｉ計
を提供することである ［問題点を解決するための手段］ この発明は、入力信号の最大値を検出する検出手段と、
この検出手段の出力により第１のプログラムパターンで
所定の値まで制御し、次いで第２のプログラムパターン
で制御する演舞手段とを備えるようにしたプログラム調
節計である。
ーシュートを防止するようにしたプログラムＵＡｗｉ計
を提供することである ［問題点を解決するための手段］ この発明は、入力信号の最大値を検出する検出手段と、
この検出手段の出力により第１のプログラムパターンで
所定の値まで制御し、次いで第２のプログラムパターン
で制御する演舞手段とを備えるようにしたプログラム調
節計である。
［実施例］
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、１は、ガラスアニール炉等の制御対象１０
の温度等の測定入力信号ｅｉと設定１ｉｅｓとを比較し
、ＰＩＤ演算等を行い調節出力信号ｅＯを発生するｍ陣
手段、２は、入力信号の最大値Ｔｐを検出する検出手段
、３は、この検出手段２の出力によりアンダーシュート
防止用の第１のプログラムパターン４を演算手段１の設
定値ｅｓとし、この第１のプログラムパターンが終了し
てアニールを開始するスタート温度ＴＯとなったとき、
自動的に、または外部信号によりアニール制御用の第２
のプログラムパターン５を演算手段１の設定値ｅｓとす
る選択手段である。
の温度等の測定入力信号ｅｉと設定１ｉｅｓとを比較し
、ＰＩＤ演算等を行い調節出力信号ｅＯを発生するｍ陣
手段、２は、入力信号の最大値Ｔｐを検出する検出手段
、３は、この検出手段２の出力によりアンダーシュート
防止用の第１のプログラムパターン４を演算手段１の設
定値ｅｓとし、この第１のプログラムパターンが終了し
てアニールを開始するスタート温度ＴＯとなったとき、
自動的に、または外部信号によりアニール制御用の第２
のプログラムパターン５を演算手段１の設定値ｅｓとす
る選択手段である。
第１、第２のプログラムパターン４．５は、通常メモリ
に記憶されており、演算手段１、検出手段２、選択手段
３は、マイクロコンピュータの機能により実現される。
に記憶されており、演算手段１、検出手段２、選択手段
３は、マイクロコンピュータの機能により実現される。
次に第２図、第３図（ｂ）を参照して動作を説明する。
第３図（ｂ）で示すように、かなり温度の高いガラス等
の熱処理物１１を炉等の制御対象１０に投入すると、第
３図（ｂ）で示すように、自己温度上昇により温度が上
昇する。この炉のような制御対象１０の測定入力信号ｅ
ｉの最大値Ｔｐを最大値検出手段２が検出すると選択手
段３によりアンダーシュート防止用の徐々に一定傾斜で
下降するような第１のプログラムパターン４が演舞手段
１の設定値ｅｓとされ、その調節信号ｅＯにより、制御
対象１０のヒータ１２等に供給される電力の制御を行う
。
の熱処理物１１を炉等の制御対象１０に投入すると、第
３図（ｂ）で示すように、自己温度上昇により温度が上
昇する。この炉のような制御対象１０の測定入力信号ｅ
ｉの最大値Ｔｐを最大値検出手段２が検出すると選択手
段３によりアンダーシュート防止用の徐々に一定傾斜で
下降するような第１のプログラムパターン４が演舞手段
１の設定値ｅｓとされ、その調節信号ｅＯにより、制御
対象１０のヒータ１２等に供給される電力の制御を行う
。
アンダーシュートせず、測定入力信号ｅｉがアニールを
開始する所定の値ＴＯとなったとき、自動または外部信
号により選択手段３はアニール用の第２のプログラムパ
ターン５を演算手段１の設定値ｅＳとしアニール制御が
行われる。
開始する所定の値ＴＯとなったとき、自動または外部信
号により選択手段３はアニール用の第２のプログラムパ
ターン５を演算手段１の設定値ｅＳとしアニール制御が
行われる。
このように、入力信号の最大値Ｔｐを検出してアンダー
シュート防止用の第１のプログラムパターン４により制
御を行いアンダーシュート防止を図っている。また、第
１のプログラムパターン４から第２のプログラムパター
ン５とを一連の１つのプログラムパターンで構成し、連
続的な制御を行ってもよい。
シュート防止用の第１のプログラムパターン４により制
御を行いアンダーシュート防止を図っている。また、第
１のプログラムパターン４から第２のプログラムパター
ン５とを一連の１つのプログラムパターンで構成し、連
続的な制御を行ってもよい。
［発明の効果］
以上述べたように、この発明は、最大値（ビーク値）を
検出したとき、アンダーシュート防止用の第１のプログ
ラムパターンで制御しているので、自己熱量により昇温
した場合に生じやすいアンダーシュートの防止が図れ、
製品を損なうことがない。また、すべて、マイクロコン
ピュータによる自動プログラムなので操作が容易である
。
検出したとき、アンダーシュート防止用の第１のプログ
ラムパターンで制御しているので、自己熱量により昇温
した場合に生じやすいアンダーシュートの防止が図れ、
製品を損なうことがない。また、すべて、マイクロコン
ピュータによる自動プログラムなので操作が容易である
。
第１図、第２図、第３図（ｂ）は、この発明の一実施例
を示す説明図、第３図＜ａ ）は従来例を示す説明図で
ある。
を示す説明図、第３図＜ａ ）は従来例を示す説明図で
ある。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、入力信号の最大値を検出する検出手段と、この検出
手段の出力により第１のプログラムパターンで所定の値
まで制御し、次いで第２のプログラムパターンで制御す
る演算手段とを備えたことを特徴とするプログラム調節
計。 ２、前記第１のプログラムパターンと第２のプログラム
パターンとを連続した１つのプログラムパターンで構成
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のプロ
グラム調節計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4299185A JPS61201303A (ja) | 1985-03-05 | 1985-03-05 | プログラム調節計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4299185A JPS61201303A (ja) | 1985-03-05 | 1985-03-05 | プログラム調節計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61201303A true JPS61201303A (ja) | 1986-09-06 |
Family
ID=12651492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4299185A Pending JPS61201303A (ja) | 1985-03-05 | 1985-03-05 | プログラム調節計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61201303A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015202976A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | Hoya株式会社 | 光学ガラス素子の製造装置及び光学ガラス素子の製造方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5523508A (en) * | 1978-07-26 | 1980-02-20 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Transfer method to program control |
| JPS6030015B2 (ja) * | 1979-05-09 | 1985-07-13 | 株式会社日立製作所 | 光ビ−ム位置制御装置 |
-
1985
- 1985-03-05 JP JP4299185A patent/JPS61201303A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5523508A (en) * | 1978-07-26 | 1980-02-20 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Transfer method to program control |
| JPS6030015B2 (ja) * | 1979-05-09 | 1985-07-13 | 株式会社日立製作所 | 光ビ−ム位置制御装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015202976A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | Hoya株式会社 | 光学ガラス素子の製造装置及び光学ガラス素子の製造方法 |
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