JPS61193479A - 固体カラ−撮像デバイス - Google Patents
固体カラ−撮像デバイスInfo
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- JPS61193479A JPS61193479A JP60032594A JP3259485A JPS61193479A JP S61193479 A JPS61193479 A JP S61193479A JP 60032594 A JP60032594 A JP 60032594A JP 3259485 A JP3259485 A JP 3259485A JP S61193479 A JPS61193479 A JP S61193479A
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Classifications
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14665—Imagers using a photoconductor layer
- H01L27/14667—Colour imagers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は固体撮像デバイス、とくに、特定波長域の光に
感応する光半導体層を有し、これによって色分離された
映像信号を出力することができる固体カラー撮像デバイ
スに関するものである。
感応する光半導体層を有し、これによって色分離された
映像信号を出力することができる固体カラー撮像デバイ
スに関するものである。
背景技術
このような方式の固体カラー撮像デバイスは、たとえば
特開昭511−103187.同5fl−103185
および同5B−1(L31BBに提案されている。
特開昭511−103187.同5fl−103185
および同5B−1(L31BBに提案されている。
特開昭58−103187には、半導体基板の主面の上
に形成された青(B)の波長域かそれより短い波長の光
にのみ感応する光半導体層と、その上にストライプ状に
形成されたマゼンタ(M)のフィルタとを有し、基板の
主面に’MOSスイッチングゲートおよびフォトタイオ
ードが形成されている固体カラー撮像デバイスが開示さ
れている。3つのMOSスイッチングゲートと2つのフ
ォトタイオードによって1つの画素が構成される。
に形成された青(B)の波長域かそれより短い波長の光
にのみ感応する光半導体層と、その上にストライプ状に
形成されたマゼンタ(M)のフィルタとを有し、基板の
主面に’MOSスイッチングゲートおよびフォトタイオ
ードが形成されている固体カラー撮像デバイスが開示さ
れている。3つのMOSスイッチングゲートと2つのフ
ォトタイオードによって1つの画素が構成される。
光半導体層の両主面には平板状の透明電極か被着され、
これには、入射光によりその層で励起された光電荷を集
めるためのバイアス電圧が印加される。−刀の透明電極
にはMOSスイッチングゲートが接続され、これからは
青の映像信号が得られる。ストライプフィルタの下方に
ある一方のフォトダイオードからは赤(R)の映像信号
が得られる。これは、このフォトダイオードに入射する
光はマゼンタフィルタと光半導体層を通過した赤の
□光であるためである。他方のフォトダイオードか
らはイエロー(Ye)の映像信号が得られる。これは、
このフォトタイオードへの入射光は、光半導体層で青の
成分が除去されている、ためである。
これには、入射光によりその層で励起された光電荷を集
めるためのバイアス電圧が印加される。−刀の透明電極
にはMOSスイッチングゲートが接続され、これからは
青の映像信号が得られる。ストライプフィルタの下方に
ある一方のフォトダイオードからは赤(R)の映像信号
が得られる。これは、このフォトダイオードに入射する
光はマゼンタフィルタと光半導体層を通過した赤の
□光であるためである。他方のフォトダイオードか
らはイエロー(Ye)の映像信号が得られる。これは、
このフォトタイオードへの入射光は、光半導体層で青の
成分が除去されている、ためである。
特開昭58−103185は、」−述の特開昭58−1
03187と類似の構造で光半導体層が3層に形成され
た固体カラー撮像デバイスが記載されている。3つの半
導体層は、基板に近い方から順に、全波長域の光、緑か
それより短い波長の光、および青の波長 □域か
それより短い波長の光に感応する。このデバイスにはス
トライプフィルタはなく、また基板の主面にはフォトタ
イオードが形成されてなく、3 ″つのMOSス
イッチングゲートが対応する各光半導体層の透明電極に
接続されている。これによりて、各スイッチングゲート
からはR,GおよびBに色分離された映像信号が出力さ
れる。
03187と類似の構造で光半導体層が3層に形成され
た固体カラー撮像デバイスが記載されている。3つの半
導体層は、基板に近い方から順に、全波長域の光、緑か
それより短い波長の光、および青の波長 □域か
それより短い波長の光に感応する。このデバイスにはス
トライプフィルタはなく、また基板の主面にはフォトタ
イオードが形成されてなく、3 ″つのMOSス
イッチングゲートが対応する各光半導体層の透明電極に
接続されている。これによりて、各スイッチングゲート
からはR,GおよびBに色分離された映像信号が出力さ
れる。
特開昭58−10318[iには、」二連の特開昭58
−103167および同58−103+65の中間に相
当する構成の固体カラー撮像デバイスが示され、光)h
導体層が2層に形成されている。2つの半導体層は、基
板に近い方から順に、緑かそれより短い波長の光、およ
び青の波長域かそれより短い波長の光に感応する。この
デバイスにはストライプフィルタはなく、また基板の主
面には1画素当り1つのフォトタイオートが形成され、
2つのMOSスイッチングケ−1・が対応する各光半導
体層の透明電極に接続されている。これによって、各ス
イッチングゲートからはGおよびBに色分離された映像
信号が、またフォトタイオードからはRの映像信号が出
力される。
−103167および同58−103+65の中間に相
当する構成の固体カラー撮像デバイスが示され、光)h
導体層が2層に形成されている。2つの半導体層は、基
板に近い方から順に、緑かそれより短い波長の光、およ
び青の波長域かそれより短い波長の光に感応する。この
デバイスにはストライプフィルタはなく、また基板の主
面には1画素当り1つのフォトタイオートが形成され、
2つのMOSスイッチングケ−1・が対応する各光半導
体層の透明電極に接続されている。これによって、各ス
イッチングゲートからはGおよびBに色分離された映像
信号が、またフォトタイオードからはRの映像信号が出
力される。
これらのいずれのデバイスにおいても光半導体層は平板
状の2つの透明電極層に印加されるバイアス電圧によっ
て半導体層の垂直な方向に電界が形成される。これは、
撮像デバイスに次のような問題を生じSせる。
状の2つの透明電極層に印加されるバイアス電圧によっ
て半導体層の垂直な方向に電界が形成される。これは、
撮像デバイスに次のような問題を生じSせる。
たとえば、光半導体層にピンホールが存在すると、これ
により電界の発生が阻害され、その感光セルから出力さ
れる映像信号は、再生画像におけるその画素を白ボッに
してしまう。また、比抵抗が約1010ΩC[oより低
い゛16導体材料は、暗電流が大きいので十分低い雑音
レベルが得られないため、この光半導体層に用いること
はできない。したがって半導体材料の選択の自由IPt
が制限される。
により電界の発生が阻害され、その感光セルから出力さ
れる映像信号は、再生画像におけるその画素を白ボッに
してしまう。また、比抵抗が約1010ΩC[oより低
い゛16導体材料は、暗電流が大きいので十分低い雑音
レベルが得られないため、この光半導体層に用いること
はできない。したがって半導体材料の選択の自由IPt
が制限される。
さらに、光半導体層のド側の電極層も透明である必要が
あり、ITQなどの透りlqv極材料に限定され、電極
材料の選択の自由度が制限される。また、このように多
重の積層構造をとっているので、製造工程数が多く、複
雑な処理を必要とする。
あり、ITQなどの透りlqv極材料に限定され、電極
材料の選択の自由度が制限される。また、このように多
重の積層構造をとっているので、製造工程数が多く、複
雑な処理を必要とする。
[1的
本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、比較的簡
略な構造の固体カラー撮像デバイスを提供することを[
1的とする。
略な構造の固体カラー撮像デバイスを提供することを[
1的とする。
発明の開示
本発明によれば、゛r−導体基板と、入射光によって光
1R荷が励起される半導体材料を含む少なくとも1つの
光半導体層とを有し、光半導体層は、半導体基板の一方
の主表面のL方に配設され、入射光の一部を)、(板へ
透過する厚さを有し、画像の画素に対応する撮像領域の
配列が半導体基板および光’l” i体層によって形成
された固体カラー撮像デバイスにおいて、撮像領域はそ
れぞれ、光半導体層の中の電荷を導く接続手段と、半導
体基板の一方の主表面に形成され、入射光によって光電
荷が励起される感光領域と、半導体基板の一方の主表面
に形成され、感光領域に接続されて感光領域の中の電荷
を信号として出力する第1のスイッチング手段と、半導
体基板の一方の主表面に形成され、接続手段に接続され
て接続手段により導かれた電荷を信号として出力する第
2のスイッチング手段と、光半導体層に形成され、接続
手段と協動して光半導体層にその主面にほぼ平行に電界
を形成する電極手段とを有するものである。
1R荷が励起される半導体材料を含む少なくとも1つの
光半導体層とを有し、光半導体層は、半導体基板の一方
の主表面のL方に配設され、入射光の一部を)、(板へ
透過する厚さを有し、画像の画素に対応する撮像領域の
配列が半導体基板および光’l” i体層によって形成
された固体カラー撮像デバイスにおいて、撮像領域はそ
れぞれ、光半導体層の中の電荷を導く接続手段と、半導
体基板の一方の主表面に形成され、入射光によって光電
荷が励起される感光領域と、半導体基板の一方の主表面
に形成され、感光領域に接続されて感光領域の中の電荷
を信号として出力する第1のスイッチング手段と、半導
体基板の一方の主表面に形成され、接続手段に接続され
て接続手段により導かれた電荷を信号として出力する第
2のスイッチング手段と、光半導体層に形成され、接続
手段と協動して光半導体層にその主面にほぼ平行に電界
を形成する電極手段とを有するものである。
本発明によればまた、半導体基板と、入射光によって光
電荷が励起される半導体材料を含む少なくとも2つの光
半導体層とを有し、光半導体層は、半導体基板の一方の
主表面の」一方に配設され、画像の画素に対応する撮像
領域の配列が半導体基板および光半導体層によって形成
された固体カラー撮像デバイスにおいて、撮像領域はそ
れぞれ、光半導体層の中の電荷をそれぞれ導く少なくと
も2つの接続手段と、半導体基板の一方の主表面に形成
され、接続手段にそれぞれ接続されて接続手段により導
かれた電荷を信号として出力する少なくとも2つのスイ
ッチング手段と、光半導体層のそれぞれに形成され、接
続手段と協動して光半導体層にその主面にほぼ平行に電
界を形成する少なくとも2つの電極手段とを有するもの
であ実施例の説明 次に添伺図面を参照して本発明による固体カラー撮像デ
バイスの実施例を詳細に説明する。
電荷が励起される半導体材料を含む少なくとも2つの光
半導体層とを有し、光半導体層は、半導体基板の一方の
主表面の」一方に配設され、画像の画素に対応する撮像
領域の配列が半導体基板および光半導体層によって形成
された固体カラー撮像デバイスにおいて、撮像領域はそ
れぞれ、光半導体層の中の電荷をそれぞれ導く少なくと
も2つの接続手段と、半導体基板の一方の主表面に形成
され、接続手段にそれぞれ接続されて接続手段により導
かれた電荷を信号として出力する少なくとも2つのスイ
ッチング手段と、光半導体層のそれぞれに形成され、接
続手段と協動して光半導体層にその主面にほぼ平行に電
界を形成する少なくとも2つの電極手段とを有するもの
であ実施例の説明 次に添伺図面を参照して本発明による固体カラー撮像デ
バイスの実施例を詳細に説明する。
第2図を参照すると、本発明の実施例では、平板状の基
板10の上に行列状に配列きれた多数の撮像セルを含む
撮像セルアレイ12が形成されて固体カラー撮像デバイ
スを構成している。本実施例では基板10は、p型シリ
コンが有利に適用される。
板10の上に行列状に配列きれた多数の撮像セルを含む
撮像セルアレイ12が形成されて固体カラー撮像デバイ
スを構成している。本実施例では基板10は、p型シリ
コンが有利に適用される。
その一部、すなわち点線14にて囲んだ部分を概念的に
分解斜視図にて第3図かられかるように、この実施例で
は、基板lOの一方の主表面の七に2つの光半導体層1
6および18がこの順に積層されている。なお、基板l
O1半導体層16および18の相Wの間には、それぞれ
絶縁層46および48(第1図)が介在し、これらを相
互に電気的に分離している。
分解斜視図にて第3図かられかるように、この実施例で
は、基板lOの一方の主表面の七に2つの光半導体層1
6および18がこの順に積層されている。なお、基板l
O1半導体層16および18の相Wの間には、それぞれ
絶縁層46および48(第1図)が介在し、これらを相
互に電気的に分離している。
半導体層16は、本実施例では、緑(G)およびそれよ
り短い波長の光に感応して光電荷を発生する半導体材料
を含み、半導体層16は、青(B)の波長域の光に感応
して光電荷を発生する半導体材料を含む。したがって、
半導体層18は、入用光のうちBの成分に対応する光電
荷を発生し、その下にある半導体層16は、入射光のう
ちBの成分を除去された光のうちのGの成分に対応する
光電荷を発生する。そこで入射光のうちの残りの成分す
なわち赤(R)の波長域の光が基板lOまで入射するこ
とができる。
り短い波長の光に感応して光電荷を発生する半導体材料
を含み、半導体層16は、青(B)の波長域の光に感応
して光電荷を発生する半導体材料を含む。したがって、
半導体層18は、入用光のうちBの成分に対応する光電
荷を発生し、その下にある半導体層16は、入射光のう
ちBの成分を除去された光のうちのGの成分に対応する
光電荷を発生する。そこで入射光のうちの残りの成分す
なわち赤(R)の波長域の光が基板lOまで入射するこ
とができる。
半導体層16および18の一方の主面の上にはそれぞれ
、クシ型、ないしはストライプ状もしくは帯状の形状を
有する電極導体20および22が被着されている。導体
20および22は、たとえば列方向の撮像セルに対応し
て形成され、たとえばアルミニウムやアルミニウム・シ
リコン合金などの金属が有利に適用される。勿論、たと
えばITQなどの透明電極材料であってもよい。本実施
例では、導体20はそれら自体で電気的に共通に接続さ
れ、導体22はそれら自体で電気的に共通に接続されて
いる。
、クシ型、ないしはストライプ状もしくは帯状の形状を
有する電極導体20および22が被着されている。導体
20および22は、たとえば列方向の撮像セルに対応し
て形成され、たとえばアルミニウムやアルミニウム・シ
リコン合金などの金属が有利に適用される。勿論、たと
えばITQなどの透明電極材料であってもよい。本実施
例では、導体20はそれら自体で電気的に共通に接続さ
れ、導体22はそれら自体で電気的に共通に接続されて
いる。
第2図かられかるように、導体22は電極バッド24に
接続され、これを介して、たとえばバイアス回路などの
外部の回路と接続される。本実施例では、導体20と2
2は電気的に分離されているが、両者が共通に接続され
ていてもよい。
接続され、これを介して、たとえばバイアス回路などの
外部の回路と接続される。本実施例では、導体20と2
2は電気的に分離されているが、両者が共通に接続され
ていてもよい。
半導体層20および22の他方の主面のLには、各撮像
セルに対応して島状の電極導体2Bおよび28が形成さ
れ、全体としてモザイク状に配列されている。これらの
導体もたとえばアルミニウムなどの金属が有利に適用さ
れる。
セルに対応して島状の電極導体2Bおよび28が形成さ
れ、全体としてモザイク状に配列されている。これらの
導体もたとえばアルミニウムなどの金属が有利に適用さ
れる。
基板10の主表面には、そのエビタギシャル成長層にス
イッチング素子30および32、ならびにフォトダイオ
ード34が撮像セルに対応して形成されている。スイッ
チング素子30および32は、本実施例ではMO9構造
をとっているが、たとえばMNOSまたはCCDなどの
他の方式も有利に適用される。スイッチング素子30は
半導体層16の導体26に、また素子32は半導体層1
8の導体28にそれぞれ、対応する電気接続3Bおよび
38によって接続されている。
イッチング素子30および32、ならびにフォトダイオ
ード34が撮像セルに対応して形成されている。スイッ
チング素子30および32は、本実施例ではMO9構造
をとっているが、たとえばMNOSまたはCCDなどの
他の方式も有利に適用される。スイッチング素子30は
半導体層16の導体26に、また素子32は半導体層1
8の導体28にそれぞれ、対応する電気接続3Bおよび
38によって接続されている。
なお接続38は、半導体層1Bの開口40を通して導体
28と接続され、半導体層16からは回路的に分離され
ている。
28と接続され、半導体層16からは回路的に分離され
ている。
したがって、スイッチング素子30はG成分の映像信号
を、またスイッチング素子32はB成分の映像信号をス
イッチングし、さらにフォトダイオード34はRI&分
の入射光に感応してその映像信号を形成する。こうして
スイッチング素子30および32、ならびにフォトダイ
オード34が1組で、再生画像における1つの画素に対
応する。
を、またスイッチング素子32はB成分の映像信号をス
イッチングし、さらにフォトダイオード34はRI&分
の入射光に感応してその映像信号を形成する。こうして
スイッチング素子30および32、ならびにフォトダイ
オード34が1組で、再生画像における1つの画素に対
応する。
第4図および第5図には、本発明の他の実施例が示され
、これは、クシ状電極20および22の代りに、格子型
の形状を有する電極42および44がそれぞれ半導体層
16および18の一方の主面上に形成されている点が第
2図および第3図の実施例と相違する。この格子状電極
42および44の1区画が3つの撮像セルを含み、これ
によって再生画像の1画素を構成している。なお以降の
図においで、同様の構成要素は同じ参照符号で示し、説
明の重複を避ける。
、これは、クシ状電極20および22の代りに、格子型
の形状を有する電極42および44がそれぞれ半導体層
16および18の一方の主面上に形成されている点が第
2図および第3図の実施例と相違する。この格子状電極
42および44の1区画が3つの撮像セルを含み、これ
によって再生画像の1画素を構成している。なお以降の
図においで、同様の構成要素は同じ参照符号で示し、説
明の重複を避ける。
第1図を参照してさらに詳細に説明する。同図は、第2
図および第3図に示す実施例、または第4図および第5
図に示す実施例において、本デバイス構体の2つの水平
方向における縦断面を、理解しやすいように合成して概
念的に示したものである。
図および第3図に示す実施例、または第4図および第5
図に示す実施例において、本デバイス構体の2つの水平
方向における縦断面を、理解しやすいように合成して概
念的に示したものである。
第1図かられかるように、スイッチング素f−30およ
び32はMOS )ランジスタ構造をとっている。
び32はMOS )ランジスタ構造をとっている。
トランジスタ30は、基板10の表面に独立して形成さ
れた2つのn型拡散領域50および52を有し、両者の
間の絶縁層46にゲート電8i54が形成されている。
れた2つのn型拡散領域50および52を有し、両者の
間の絶縁層46にゲート電8i54が形成されている。
ケート電極54は多結晶シリコンまたは金属でよい。こ
れによって領域50がソースを形成し、電気接続36に
接続されている。また領域52は、ドレーンを形成する
とともに、同図の紙面の垂直方向に他の撮像セルの同様
な領域52と接続されてアレイ12の列方向の信号読出
し線を構成している。
れによって領域50がソースを形成し、電気接続36に
接続されている。また領域52は、ドレーンを形成する
とともに、同図の紙面の垂直方向に他の撮像セルの同様
な領域52と接続されてアレイ12の列方向の信号読出
し線を構成している。
ゲート電極54は、列方向の多数の同様の撮像セルにつ
いて選択的に付勢されるようにシフトレジスタ(図示せ
ず)の対応するレジスタ段に接続されている。したがっ
て、適切にバイアスされたときには、これにG成分の映
像信号が読み出される。
いて選択的に付勢されるようにシフトレジスタ(図示せ
ず)の対応するレジスタ段に接続されている。したがっ
て、適切にバイアスされたときには、これにG成分の映
像信号が読み出される。
同様にトランジスタ32は、2つのn型拡散領域56お
よび58を有し、両者の間の絶縁層46にゲート電8i
60が形成されている。ゲート電極60は多結晶シリコ
ンまたは金属でよい。これによって領域56がソースを
形成し、電気接続38に接続されている。また領域58
は、ドレーンを形成するとともに、同図の紙面の垂直力
向に他の撮像セルの同様な領域58と接続されてアレイ
12の列方向の信号読出し線を構成している。ゲート電
極60は、列方向の多数の同様の撮像セルについて選択
的に付勢されるようにシフトレジスタ(図示せず)の対
応する段に接続されている。したがって、適すJに/ヘ
イアスされたときには、これにはB成分の映像信号が読
み出される。
よび58を有し、両者の間の絶縁層46にゲート電8i
60が形成されている。ゲート電極60は多結晶シリコ
ンまたは金属でよい。これによって領域56がソースを
形成し、電気接続38に接続されている。また領域58
は、ドレーンを形成するとともに、同図の紙面の垂直力
向に他の撮像セルの同様な領域58と接続されてアレイ
12の列方向の信号読出し線を構成している。ゲート電
極60は、列方向の多数の同様の撮像セルについて選択
的に付勢されるようにシフトレジスタ(図示せず)の対
応する段に接続されている。したがって、適すJに/ヘ
イアスされたときには、これにはB成分の映像信号が読
み出される。
フォトタイオート34は、感光領域として基板10の主
表面に形成されたn型拡散領域62を含み、これに対向
する位置にやはりn型拡散領域64が形成されている。
表面に形成されたn型拡散領域62を含み、これに対向
する位置にやはりn型拡散領域64が形成されている。
両者の間には、絶縁層46にゲート電極66が形成され
、これは多結晶シリコンまたは金属でよい。なお、シリ
コン基板10の長波長光に対する感度は比較的高く、す
なわち変換量子効率が■に近いため、その光字間「1季
、すなわち2木の。
、これは多結晶シリコンまたは金属でよい。なお、シリ
コン基板10の長波長光に対する感度は比較的高く、す
なわち変換量子効率が■に近いため、その光字間「1季
、すなわち2木の。
クシ型電権22の間に含まれる3つの撮像セルの受尤面
積に対する感光領域62の受光面積の比は、低くてもよ
い。
積に対する感光領域62の受光面積の比は、低くてもよ
い。
この構造かられかるように、領域62および64、なら
びにゲート電極66によってMOS 1ランシスタが形
成され、領域62はそのソースを形成し、また回64は
、ドレーンを形成するとともに、同図の紙面の垂11方
向に他の撮像セルの同様な領域64と接続されてアレイ
12のタリ方向の信号読出し線を構成している。ゲート
電極66は、列方向の多数の同様の撮像セルについて選
択的に付勢されるようにシフトレジスタ(図示せず)の
対応するレジスタ段に接続されている。したがって、適
切にバイアスされたときには、感光領域62に入射した
R領域の光によって生じたR成分の映像信号が領域64
に読み出される。
びにゲート電極66によってMOS 1ランシスタが形
成され、領域62はそのソースを形成し、また回64は
、ドレーンを形成するとともに、同図の紙面の垂11方
向に他の撮像セルの同様な領域64と接続されてアレイ
12のタリ方向の信号読出し線を構成している。ゲート
電極66は、列方向の多数の同様の撮像セルについて選
択的に付勢されるようにシフトレジスタ(図示せず)の
対応するレジスタ段に接続されている。したがって、適
切にバイアスされたときには、感光領域62に入射した
R領域の光によって生じたR成分の映像信号が領域64
に読み出される。
これかられかるように、ゲート54.60および66を
付勢するシフトレジスタを駆動してこれらのゲートを順
次刊勢させることによって、転送路領域52.58およ
び64には、B、GおよびRに色分離された映像信号が
出力される。
付勢するシフトレジスタを駆動してこれらのゲートを順
次刊勢させることによって、転送路領域52.58およ
び64には、B、GおよびRに色分離された映像信号が
出力される。
なお本実施例では、電極26および28がスイッチング
素7−30および32のソース領域50および56とそ
れぞれ接続されているが、このようにしないで、ゲート
電極54および56とそれぞれ接続するように構成して
もよい。他の実施例においても同様である。
素7−30および32のソース領域50および56とそ
れぞれ接続されているが、このようにしないで、ゲート
電極54および56とそれぞれ接続するように構成して
もよい。他の実施例においても同様である。
動作状態では、電極20と26の間、および電極22と
28の間にバイアス電圧が印加される。その極性は、本
実施例では、各光半導体層IBおよび18に発生した光
電子がそれぞ゛れ、電極26および28に向って走行す
るような方向に規定される。これかられかるように、半
導体層1Bおよび18には、その主面とほぼ平行な方向
に電解が加わり、したがって発生した電荷はこの主面と
ほぼ平行な方向に走行する。
28の間にバイアス電圧が印加される。その極性は、本
実施例では、各光半導体層IBおよび18に発生した光
電子がそれぞ゛れ、電極26および28に向って走行す
るような方向に規定される。これかられかるように、半
導体層1Bおよび18には、その主面とほぼ平行な方向
に電解が加わり、したがって発生した電荷はこの主面と
ほぼ平行な方向に走行する。
入射光68が照射されると、そのうち比較的短い波長域
のB成分が半導体層18に吸収され、その強度に応じた
光電荷が層18に励起される。光電子は、電極28と2
2の間に層18の主面とほぼ平行に形成された電界によ
って電極28に向って走行し、スイッチング素’(−3
2を介して読出し線領域58に出力される。
のB成分が半導体層18に吸収され、その強度に応じた
光電荷が層18に励起される。光電子は、電極28と2
2の間に層18の主面とほぼ平行に形成された電界によ
って電極28に向って走行し、スイッチング素’(−3
2を介して読出し線領域58に出力される。
入射光68のうち半導体層18を透過した成分、すなわ
ちGおよびRの波長域の光は、そのうち比較的中程度の
波長のG成分が半導体層1Bで吸収され、その強度に応
じた光電荷が層16に励起される。光電子は、電極26
と20の間に層16の主面とほぼ平行に形成された電界
によって電極26に向って走行し、スイッチング素子3
0を介して転送路52に出力される。
ちGおよびRの波長域の光は、そのうち比較的中程度の
波長のG成分が半導体層1Bで吸収され、その強度に応
じた光電荷が層16に励起される。光電子は、電極26
と20の間に層16の主面とほぼ平行に形成された電界
によって電極26に向って走行し、スイッチング素子3
0を介して転送路52に出力される。
半導体層16を透過した入射光成分、すなわち比較的長
い波長のR成分は感光領域62まて到達し、その強度に
応じた光電荷を領域82と基板lOとの境゛ 界、すな
わち接合部に励起する。この光電荷は、ゲート86によ
って読出し線領域64に出力される。
い波長のR成分は感光領域62まて到達し、その強度に
応じた光電荷を領域82と基板lOとの境゛ 界、すな
わち接合部に励起する。この光電荷は、ゲート86によ
って読出し線領域64に出力される。
こうして読出し線領域領域52.58および64には、
実質的にB、GおよびRに色分離された映像信号が出力
される。
実質的にB、GおよびRに色分離された映像信号が出力
される。
このように本実施例では、光半導体層16および18に
形成される電界がその主面とほぼ平行な方向であるので
、層16および18にピンホールがあっても十分な電界
が形成され、前述のような白ボツ欠陥が生ずることはな
い。また、層18および18として好適な半導体材料の
比抵抗による制限が緩和される。Sらに、島状の電極2
6および28は、必ずしも透明電極材料を用いなくても
よく、また、電気接続36および38目体の一部として
形成してもよい。したがって、透明電極の形成やりソグ
ラフィのプロセスが簡略化される。。
形成される電界がその主面とほぼ平行な方向であるので
、層16および18にピンホールがあっても十分な電界
が形成され、前述のような白ボツ欠陥が生ずることはな
い。また、層18および18として好適な半導体材料の
比抵抗による制限が緩和される。Sらに、島状の電極2
6および28は、必ずしも透明電極材料を用いなくても
よく、また、電気接続36および38目体の一部として
形成してもよい。したがって、透明電極の形成やりソグ
ラフィのプロセスが簡略化される。。
第6図には本発明のさらに他の実施例が示され、これは
、第1図に示す実施例において半導体層16および18
の一方の主面にそれぞれ配設されていた電極20および
22の代りに、それらの他方の主面にそれぞれ電極20
aおよび22aが配設されている点が前者の実施例と相
違する。これらの電極20aおよび22aは、クシ型な
いしはストライブ状、または格子状の形状が有利に適用
される。他は第1図の実施例と同様でよい。この構造に
よっても、半導体層1Bおよび18の中に主面とほぼ平
行な方向に電界が形成される。
、第1図に示す実施例において半導体層16および18
の一方の主面にそれぞれ配設されていた電極20および
22の代りに、それらの他方の主面にそれぞれ電極20
aおよび22aが配設されている点が前者の実施例と相
違する。これらの電極20aおよび22aは、クシ型な
いしはストライブ状、または格子状の形状が有利に適用
される。他は第1図の実施例と同様でよい。この構造に
よっても、半導体層1Bおよび18の中に主面とほぼ平
行な方向に電界が形成される。
第1図の実施例では電極層20および22は、それぞれ
半導体層16および18に対して電極26および28と
は反対側にあったので、前者は後者とはそれぞれ別の工
程で形成する必要があった。しかし第6図の実施例では
両者がそれぞれ半導体層16および18と同じ側にある
ので、同じ工程で形成することができる。
半導体層16および18に対して電極26および28と
は反対側にあったので、前者は後者とはそれぞれ別の工
程で形成する必要があった。しかし第6図の実施例では
両者がそれぞれ半導体層16および18と同じ側にある
ので、同じ工程で形成することができる。
第7図には本発明のさらに他の実施例が示され、第1図
の実施例における電極26および28の代りに、半導体
層18および18にそれぞれ形成された透孔70および
72の中に電極28aおよび28aが形成されている。
の実施例における電極26および28の代りに、半導体
層18および18にそれぞれ形成された透孔70および
72の中に電極28aおよび28aが形成されている。
他は第1図の実施例と同様でよい。
この構造によっても、半導体層1Bおよび18の中に主
面とほぼ平行な方向に電界が形成される。
面とほぼ平行な方向に電界が形成される。
なお本発明は、これら図示の実施例に限定されず、たと
えば1つのデバイスで、これらの実施例のうちいずれか
2つないしは3つの電極構造または電極配置を組み合わ
せたものにも有利に適用される。
えば1つのデバイスで、これらの実施例のうちいずれか
2つないしは3つの電極構造または電極配置を組み合わ
せたものにも有利に適用される。
第8図には、本発明のさらに他の実施例が示され、これ
までの実施例では基板lOの主表面にフォトダイオード
34が形成されていたが、本実施例では、1つの画素に
対応する光半導体層16の領域が2つに分かれてフォト
ダイオード34に相当する素子がない。半導体層16の
一方の領域112には、その一方の主面にクシ型もしく
はストライプ状、または格子状の電極導体100が被着
され、他方の主面には島状ないしはモザイク状の電極導
体102が形成されている。電極導体102に対応する
基板10:+ :::: m:t:二:二―ごニニ丁:
二:れている。領域104は、ゲート電極66を介して
読出し線領域64に対向している。
までの実施例では基板lOの主表面にフォトダイオード
34が形成されていたが、本実施例では、1つの画素に
対応する光半導体層16の領域が2つに分かれてフォト
ダイオード34に相当する素子がない。半導体層16の
一方の領域112には、その一方の主面にクシ型もしく
はストライプ状、または格子状の電極導体100が被着
され、他方の主面には島状ないしはモザイク状の電極導
体102が形成されている。電極導体102に対応する
基板10:+ :::: m:t:二:二―ごニニ丁:
二:れている。領域104は、ゲート電極66を介して
読出し線領域64に対向している。
同様に、半導体層16の他方の領域114には、その一
方の主面にクシ型もしくはストライブ状、または格子状
の電極導体108が被着され、他方の主面には島状ない
しはモザイク状の電極導体26が形成されている。電極
導体26は基板10の主表面の領域50と電気接続36
によって接続されている。この半導体層16の他方の領
域!14の1一方には、光学フィルタ110が配設され
、本実施例ではこれは、光半導体層18の主表面でこの
領域114を覆うように、すなわち同図の紙面に垂直な
方向に延在して形成されている。フィルタ110は、ス
トライブ状をなし、たとえば同じ列に含まれる他の画素
の対応する領域114を覆うように形成されている。
方の主面にクシ型もしくはストライブ状、または格子状
の電極導体108が被着され、他方の主面には島状ない
しはモザイク状の電極導体26が形成されている。電極
導体26は基板10の主表面の領域50と電気接続36
によって接続されている。この半導体層16の他方の領
域!14の1一方には、光学フィルタ110が配設され
、本実施例ではこれは、光半導体層18の主表面でこの
領域114を覆うように、すなわち同図の紙面に垂直な
方向に延在して形成されている。フィルタ110は、ス
トライブ状をなし、たとえば同じ列に含まれる他の画素
の対応する領域114を覆うように形成されている。
フィルタ110は、本実施例ではシアンフィルタである
が、マゼンタなどの他の色であってもよい。
が、マゼンタなどの他の色であってもよい。
動作状態において、半導体層18は入射光68のB成分
に感応して光電荷を発生する。シアンフィルタ110は
B成分を透過するので、領域112および114の全域
にわたってB成分に対応した光電荷を発生することがで
きる。この光電子は、電極22と28の間に形成された
電界によって電極2日に向って走行し、スイッチング素
子32を通して映像信号として読み出される。
に感応して光電荷を発生する。シアンフィルタ110は
B成分を透過するので、領域112および114の全域
にわたってB成分に対応した光電荷を発生することがで
きる。この光電子は、電極22と28の間に形成された
電界によって電極2日に向って走行し、スイッチング素
子32を通して映像信号として読み出される。
領域112で半導体層18を透過した光は、GとHの成
分を含み、半導体層1Bにおいてそれに対応する光電荷
を励起する。この光電子は、電極lOOと102の間に
形成された電界によって電極102に向って走行し、ゲ
ート66を伺勢することによって読出し線64にG+R
成分の映像信号として読み出される。
分を含み、半導体層1Bにおいてそれに対応する光電荷
を励起する。この光電子は、電極lOOと102の間に
形成された電界によって電極102に向って走行し、ゲ
ート66を伺勢することによって読出し線64にG+R
成分の映像信号として読み出される。
領域114で半導体層18を透過した光は、シアンフィ
ルタ110を透過したものであるから、G成分を含み、
半導体層16においてそれに対応する光電荷を励起する
。この光電子は、電極108と26の間に形成された電
界によって電極26に向って走行し、スイッチング素子
30を通して読出し線52にG成分の映像信号として読
み出される。なお、シアンフィルタ110の代りにマゼ
ンタフィルタを使用すると、領域114からはHの信号
が取り出される。
ルタ110を透過したものであるから、G成分を含み、
半導体層16においてそれに対応する光電荷を励起する
。この光電子は、電極108と26の間に形成された電
界によって電極26に向って走行し、スイッチング素子
30を通して読出し線52にG成分の映像信号として読
み出される。なお、シアンフィルタ110の代りにマゼ
ンタフィルタを使用すると、領域114からはHの信号
が取り出される。
第9図を参照すると、光半導体層が単層である本発明の
さらに他の実施例が示されている。この実施例は、光半
導体層18と絶縁層46を有し、これまでの実施例にお
ける光半導体層16および絶縁層48がない。半導体層
18の主面の一部、すなわち領域11Bに対応する部分
には、フィルタ11Bが形成されている。このフィルタ
は、第8図を参照して説Ill Lだフィルタ110と
同様のものであってよい。
さらに他の実施例が示されている。この実施例は、光半
導体層18と絶縁層46を有し、これまでの実施例にお
ける光半導体層16および絶縁層48がない。半導体層
18の主面の一部、すなわち領域11Bに対応する部分
には、フィルタ11Bが形成されている。このフィルタ
は、第8図を参照して説Ill Lだフィルタ110と
同様のものであってよい。
基板lOの主表面には、領域118に対応してn型拡散
領域120が形成され、これは、感光領域62と同様に
、p型基板lOとの間でフォトタイオート12Eiを構
成している。基板10には、絶縁層46に形成された、
たとえば金属または多結晶シリコンなどのゲート電極1
22を介して領域120に対向してn型拡散領域124
が形成されている。これらによってスイッチング素fが
構成され、領域120はそのソースを形成し、また同1
24は、ドレーンを形成するとともに、同図の紙面の垂
直方向に他の撮像セルの同様な領域124と接続されて
アレイ12の列方向の信号読出し線を構成している。
領域120が形成され、これは、感光領域62と同様に
、p型基板lOとの間でフォトタイオート12Eiを構
成している。基板10には、絶縁層46に形成された、
たとえば金属または多結晶シリコンなどのゲート電極1
22を介して領域120に対向してn型拡散領域124
が形成されている。これらによってスイッチング素fが
構成され、領域120はそのソースを形成し、また同1
24は、ドレーンを形成するとともに、同図の紙面の垂
直方向に他の撮像セルの同様な領域124と接続されて
アレイ12の列方向の信号読出し線を構成している。
動作状態において、半導体層1日は入射光68のB成分
に感応して光電荷を発生する。シアンフィルタ116は
B成分を透過するので、1画素に対応する全領域にわた
ってB成分に対応した光電荷を発生することができる。
に感応して光電荷を発生する。シアンフィルタ116は
B成分を透過するので、1画素に対応する全領域にわた
ってB成分に対応した光電荷を発生することができる。
この光電子は、電極22と28の間に形成された電界に
よって電極28に向って走行し、スイッチング素子32
を通して映像信号として読み出される。
よって電極28に向って走行し、スイッチング素子32
を通して映像信号として読み出される。
領域118で半導体層18を透過した光は、シアンフィ
ルタ116を透過したものであるから、G成分を含み、
感光領域120においてそれに対応する光電荷を励起す
る。この光電子は、ゲート電極122を付勢することに
よって読出し線124にG成分の映像信号として読み出
される。
ルタ116を透過したものであるから、G成分を含み、
感光領域120においてそれに対応する光電荷を励起す
る。この光電子は、ゲート電極122を付勢することに
よって読出し線124にG成分の映像信号として読み出
される。
領域118以外の部分で半導体層18を透過した光は、
GとRの成分を含み、感光領域62においてそれに対応
する光電荷を励起する。この光電子は、ゲート電極86
を4=j勢することによって読出し線64にG+R成分
の映像信号として読み出される。
GとRの成分を含み、感光領域62においてそれに対応
する光電荷を励起する。この光電子は、ゲート電極86
を4=j勢することによって読出し線64にG+R成分
の映像信号として読み出される。
この実施例では、Bセルの開口率が他の色の開[1率の
3倍程度、またGおよびG+Hのセルの開口率は、Bの
セルが基板に設けられていない分だけ、それぞれ従来の
ものより太きい。なお、シアンフィルタ116の代りに
マゼンタフィルタを使用すると、領域120からはHの
信号が取り出される。この実施例は、光半導体層が単層
であるので、その形成プロセスが簡略である特徴がある
。
3倍程度、またGおよびG+Hのセルの開口率は、Bの
セルが基板に設けられていない分だけ、それぞれ従来の
ものより太きい。なお、シアンフィルタ116の代りに
マゼンタフィルタを使用すると、領域120からはHの
信号が取り出される。この実施例は、光半導体層が単層
であるので、その形成プロセスが簡略である特徴がある
。
第1O図を谷照すると、光半導体層が3層設けられてい
る本発明のさらに他の実施例が示されている。この実施
例では、第1図に示す実施例における半導体層16と絶
縁層46の間に絶縁層130および光半導体層132が
設けられている。半導体層132は、本実施例では、赤
の波長域の光、または赤を含めてそれより短い波長の光
に感応する半導体材料を含。半導体層132には透孔1
34が設けられ、それらの中を電気接続36および38
が通過している。
る本発明のさらに他の実施例が示されている。この実施
例では、第1図に示す実施例における半導体層16と絶
縁層46の間に絶縁層130および光半導体層132が
設けられている。半導体層132は、本実施例では、赤
の波長域の光、または赤を含めてそれより短い波長の光
に感応する半導体材料を含。半導体層132には透孔1
34が設けられ、それらの中を電気接続36および38
が通過している。
半導体層132の一方の主面にはクシ型もしくはストラ
イブ状、または格子状の電極導体135が被着され、他
方の主面には島状ないしはモザイク状の電極導体136
が形成されている。電極導体13Bに対応する基板lO
の主表面の位置には、n型拡散領域138が形成され、
電極導体136と電気接続140によって接続されてい
る。基板10の主表面には、やはりn型の拡散領域14
2が形成されている。絶縁層46には、基板10の主表
面の近傍に多結晶シリコンまたは金属からなるゲート電
極141が形成され、ゲート電極141を介して領域1
38が読出し線領域142に対向している。
イブ状、または格子状の電極導体135が被着され、他
方の主面には島状ないしはモザイク状の電極導体136
が形成されている。電極導体13Bに対応する基板lO
の主表面の位置には、n型拡散領域138が形成され、
電極導体136と電気接続140によって接続されてい
る。基板10の主表面には、やはりn型の拡散領域14
2が形成されている。絶縁層46には、基板10の主表
面の近傍に多結晶シリコンまたは金属からなるゲート電
極141が形成され、ゲート電極141を介して領域1
38が読出し線領域142に対向している。
入射光68が照射されると、そのうち比較的短い波長域
のB成分が半導体層18に光電荷を励起する。その光電
子は、電極28と22の間に形成された電界によって電
極28に向って走行し、スイッチング素子32を介して
読出し線領域58に出力される。
のB成分が半導体層18に光電荷を励起する。その光電
子は、電極28と22の間に形成された電界によって電
極28に向って走行し、スイッチング素子32を介して
読出し線領域58に出力される。
入射光68のうち半導体層1Bを透過した成分、すなわ
ちGおよびRの波長域の光は、そのうち比較的中程度の
波長のG成分が半導体層16でその強度に応した光電荷
を励起する。光電子は、電極26と20の間に層16に
形成された電界によって電極26に向って走行し、スイ
ッチング素子30を介して読出し線領域52に出力され
る。
ちGおよびRの波長域の光は、そのうち比較的中程度の
波長のG成分が半導体層16でその強度に応した光電荷
を励起する。光電子は、電極26と20の間に層16に
形成された電界によって電極26に向って走行し、スイ
ッチング素子30を介して読出し線領域52に出力され
る。
半導体層1Bを透過した入射光成分、すなわち比較的長
い波長のR成分は光半導体層132まて到達し、その強
度に応じた光電荷が励起される。この光電荷は1、電極
135と136の間に層132の主面とほぼ平行に形成
された電界によって電極136に向って走行し、ゲート
141を付勢することによって読出し線領域142に出
力される。こうして読出し線領域領域52.58および
142には、実質的にB、GおよびHに色分離された映
像信号が出力される。
い波長のR成分は光半導体層132まて到達し、その強
度に応じた光電荷が励起される。この光電荷は1、電極
135と136の間に層132の主面とほぼ平行に形成
された電界によって電極136に向って走行し、ゲート
141を付勢することによって読出し線領域142に出
力される。こうして読出し線領域領域52.58および
142には、実質的にB、GおよびHに色分離された映
像信号が出力される。
この実施例の場合、B、GおよびHの3色の撮像セルを
モノリシックに基板lOに形成した従来の素子に比較す
ると、素子の光学開口率が各色とも約3倍程度増大する
。したがって、全体では約9倍程度の感度の増大が期待
される。
モノリシックに基板lOに形成した従来の素子に比較す
ると、素子の光学開口率が各色とも約3倍程度増大する
。したがって、全体では約9倍程度の感度の増大が期待
される。
効 果
このように本発明によれば、光半導体層に形成される電
界がその層の主面の方向とほぼ平行であるので、光半導
体層にピンホールがあっても十分な電界が形成され、こ
れに起因する白ボツ欠陥が生ずることはない。また、光
半導体層として好適な半導体材料の比抵抗による制限が
緩和される。
界がその層の主面の方向とほぼ平行であるので、光半導
体層にピンホールがあっても十分な電界が形成され、こ
れに起因する白ボツ欠陥が生ずることはない。また、光
半導体層として好適な半導体材料の比抵抗による制限が
緩和される。
・さらに、モザイク電極は必すしも透明電極材料を用い
なくてもよい。したがって、透明電極の形成やリングラ
フィのプロセスが簡略化される。また、本発明による固
体カラー撮像デバイスは構造が比較的簡略である。
なくてもよい。したがって、透明電極の形成やリングラ
フィのプロセスが簡略化される。また、本発明による固
体カラー撮像デバイスは構造が比較的簡略である。
第1図は、第2図および′第3図に示す実施例、または
第4図および第5図に示す実施例において、木デバイス
構体の2つの水平方向における縦断面を理解しやすいよ
うに合成して概念的に示す断面図、 第2図は、本発明による固体カラー撮像デバイスの実施
例を示す概念的斜視図、 第3図は、第2図において点線で囲んだ部分を概念的に
示す分解斜視図、 第4図および第5図は、本発明の他の実施例を示すそれ
ぞれ第2図および第3図と同様の図、第6図は本発明の
さらに他の実施例を示す第1図と同様の図、 第7図〜第1O図は、本発明のさらに他の実施例を示す
第1図と同様の図である。 主要部分の符号の説明 129.撮像セルアレイ 16.18. ;光半導体層 20.22. 、クシ状電極導体 28.28. 、モザイク電極 30.32. 、スイッチング素子 34、、、フォトタイオード 36.38. 、電気接続 41(,4B、 、絶縁層 集2凹 毛4図 尾、!5図
第4図および第5図に示す実施例において、木デバイス
構体の2つの水平方向における縦断面を理解しやすいよ
うに合成して概念的に示す断面図、 第2図は、本発明による固体カラー撮像デバイスの実施
例を示す概念的斜視図、 第3図は、第2図において点線で囲んだ部分を概念的に
示す分解斜視図、 第4図および第5図は、本発明の他の実施例を示すそれ
ぞれ第2図および第3図と同様の図、第6図は本発明の
さらに他の実施例を示す第1図と同様の図、 第7図〜第1O図は、本発明のさらに他の実施例を示す
第1図と同様の図である。 主要部分の符号の説明 129.撮像セルアレイ 16.18. ;光半導体層 20.22. 、クシ状電極導体 28.28. 、モザイク電極 30.32. 、スイッチング素子 34、、、フォトタイオード 36.38. 、電気接続 41(,4B、 、絶縁層 集2凹 毛4図 尾、!5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体基板と、 入射光によって光電荷が励起される半導体材料を含む少
なくとも1つの光半導体層とを有し、該光半導体層は、
前記半導体基板の一方の主表面の上方に配設され、前記
入射光の一部を該基板へ透過する厚さを有し、 画像の画素に対応する撮像領域の配列が前記半導体基板
および光半導体層によって形成された固体カラー撮像デ
バイスにおいて、 前記撮像領域はそれぞれ、 前記光半導体層の中の電荷を導く接続手段 と、 前記半導体基板の一方の主表面に形成され、入射光によ
って光電荷が励起される感光領域と、該半導体基板の一
方の主表面に形成され、該感光領域に接続されて該感光
領域の中の電荷を信号として出力する第1のスイッチン
グ手段と、該半導体基板の一方の主表面に形成され、前
記接続手段に接続されて該接続手段により導かれた電荷
を信号として出力する第2のスイッチング手段と、 前記光半導体層に形成され、前記接続手段と協動して該
光半導体層にその主面にほぼ平行に電界を形成する電極
手段とを有することを特徴とする固体カラー撮像デバイ
ス。 2、特許請求の範囲第1項記載のデバイスにおいて、 該デバイスは、前記光半導体層を2層含み、前記接続手
段、第2のスイッチング手段および電極手段は、該2層
の光半導体層のそれぞれに対応して設けられていること
を特徴とする固体カラー撮像デバイス。 3、特許請求の範囲第1項記載のデバイスにおいて、 該デバイスは、前記光半導体層を1層含み、前記撮像領
域はそれぞれ、前記感光領域を2つ含み、該2つの感光
領域の一方の上方には、前記光半導体層を透過する光の
成分の一部を除去する光学フィルタ手段を含むことを特
徴とする固体カラー撮像デバイス。 4、特許請求の範囲第1項、第2項または第3項に記載
のデバイスにおいて、前記撮像領域は、行列状に配列さ
れていることを特徴とする固体カラー撮像デバイス。 5、特許請求の範囲第1項記載のデバイスにおいて、 前記接続手段は、前記光半導体層の前記半導体基板に近
い方の主面で該半導体層に接続され、前記電極手段は、
該光半導体層の他方の主面に配設されていることを特徴
とする固体カラー撮像デバイス。 6、特許請求の範囲第1項記載のデバイスにおいて、 前記接続手段は、前記光半導体層の前記半導体基板に近
い方の主面で該半導体層に接続され、前記電極手段は、
該光半導体層の該半導体基板に近い方の主面に配設され
ていることを特徴とする固体カラー撮像デバイス。 7、特許請求の範囲第1項記載のデバイスにおいて、 前記接続手段は、前記光半導体層に設けられた透孔によ
って該半導体層に接続されていることを特徴とする固体
カラー撮像デバイス。 8、特許請求の範囲第5項、第6項または第7項に記載
のデバイスにおいて、前記接続手段は島状に形成された
電極導体を含むことを特徴とする固体カラー撮像デバイ
ス。 9、特許請求の範囲第5項、第6項または第7項に記載
のデバイスにおいて、前記電極手段は帯状に形成された
電極導体を含むことを特徴とする固体カラー撮像デバイ
ス。 10、特許請求の範囲第9項記載のデバイスにおいて、
前記帯状の電極導体は金属材料を含むことを特徴とする
固体カラー撮像デバイス。 11、半導体基板と、 入射光によって光電荷が励起される半導体材料を含む少
なくとも2つの光半導体層とを有し、該光半導体層は、
前記半導体基板の一方の主表面の上方に配設され、 画像の画素に対応する撮像領域の配列が前記半導体基板
および光半導体層によって形成された固体カラー撮像デ
バイスにおいて、 前記撮像領域はそれぞれ、 前記光半導体層の中の電荷をそれぞれ導く少なくとも2
つの接続手段と、 前記半導体基板の一方の主表面に形成され、前記接続手
段にそれぞれ接続されて該接続手段により導かれた電荷
を信号として出力する少なくとも2つのスイッチング手
段と、 前記光半導体層のそれぞれに形成され、前記接続手段と
協動して該光半導体層にその主面にほぼ平行に電界を形
成する少なくとも2つの電極手段とを有することを特徴
とする固体カラー撮像デバイス。 12、特許請求の範囲第11項記載のデバイスにおいて
、 該デバイスは、前記光半導体層を3層含み、前記接続手
段、スイッチング手段および電極手段は、該3層の光半
導体層のそれぞれに対応して設けられていることを特徴
とする固体カラー撮像デバイス。 13、特許請求の範囲第11項記載のデバイスにおいて
、 該デバイスは、前記光半導体層を2層含み、前記撮像領
域はそれぞれ、 該光半導体層の一方について1組の前記接続手段、スイ
ッチング手段および電極手段と、 該光半導体層の他方については、その一部分について設
けられた1組の前記接続手段、スイッチング手段および
電極手段と、その残りの部分について設けられた1組の
前記接続手段、スイッチング手段および電極手段と、 前記一部分の上方に設けられ、前記光半導体層を透過す
る光の成分の一部を除去する光学フィルタ手段とを含む
ことを特徴とする固体カラー撮像デバイス。 14、特許請求の範囲第11項、第12項または第13
項に記載のデバイスにおいて、前記撮像領域は、行列状
に配列されていることを特徴とする固体カラー撮像デバ
イス。 15、特許請求の範囲第11項記載のデバイスにおいて
、 前記接続手段は、前記光半導体層の前記半導体基板に近
い方の主面で該半導体層に接続され、前記電極手段は、
該光半導体層の他方の主面に配設されていることを特徴
とする固体カラー撮像デバイス。 16、特許請求の範囲第11項記載のデバイスにおいて
、 前記接続手段は、前記光半導体層の前記半導体基板に近
い方の主面で該半導体層に接続され、前記電極手段は、
該光半導体層の該半導体基板に近い方の主面に配設され
ていることを特徴とする固体カラー撮像デバイス。 17、特許請求の範囲第11項記載のデバイスにおいて
、 前記接続手段は、前記光半導体層に設けられた透孔によ
って該半導体層に接続されていることを特徴とする固体
カラー撮像デバイス。 18、特許請求の範囲第15項、第16項または第17
項に記載のデバイスにおいて、前記接続手段は島状に形
成された電極導体を含むことを特徴とする固体カラー撮
像デバイス。 19、特許請求の範囲第15項、第16項または第17
項に記載のデバイスにおいて、前記電極手段は帯状に形
成された電極導体を含むことを特徴とする固体カラー撮
像デバイス。 20、特許請求の範囲第19項記載のデバイスにおいて
、前記帯状の電極導体は金属材料を含むことを特徴とす
る固体カラー撮像デバイス。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60032594A JPS61193479A (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 固体カラ−撮像デバイス |
US06/830,887 US4737833A (en) | 1985-02-22 | 1986-02-19 | Solid-state color image pickup device with accumulated-layer structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60032594A JPS61193479A (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 固体カラ−撮像デバイス |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61193479A true JPS61193479A (ja) | 1986-08-27 |
JPH0566746B2 JPH0566746B2 (ja) | 1993-09-22 |
Family
ID=12363181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60032594A Granted JPS61193479A (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 固体カラ−撮像デバイス |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4737833A (ja) |
JP (1) | JPS61193479A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2003298039A (ja) * | 2002-02-27 | 2003-10-17 | Agilent Technol Inc | 二色フォトディテクタを有するディジタルイメージセンサ |
JP2005268609A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | 多層積層型多画素撮像素子及びテレビカメラ |
JP2006120773A (ja) * | 2004-10-20 | 2006-05-11 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光電変換膜積層型単板式カラー固体撮像装置 |
JP2007012796A (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-18 | Fujifilm Holdings Corp | 有機と無機のハイブリッド光電変換素子 |
JP2011049240A (ja) * | 2009-08-25 | 2011-03-10 | Toshiba Corp | 固体撮像装置及びその製造方法 |
US9583523B2 (en) | 2014-09-29 | 2017-02-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric conversion device and imaging system |
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KR100697279B1 (ko) * | 2005-02-03 | 2007-03-20 | 삼성전자주식회사 | 수직형 광검출기를 가지는 이미지 센서 및 그 제조 방법 |
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KR101002131B1 (ko) * | 2008-07-29 | 2010-12-16 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서 및 그 제조방법 |
KR101024770B1 (ko) * | 2008-09-30 | 2011-03-24 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서 및 그 제조방법 |
KR101087842B1 (ko) * | 2008-09-30 | 2011-11-30 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서 및 그 제조방법 |
KR101046798B1 (ko) * | 2008-09-30 | 2011-07-05 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서 및 그 제조방법 |
KR101033353B1 (ko) * | 2008-10-14 | 2011-05-09 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서 및 그 제조방법 |
KR20100078112A (ko) * | 2008-12-30 | 2010-07-08 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서 및 그 제조방법 |
KR101890748B1 (ko) | 2011-02-01 | 2018-08-23 | 삼성전자주식회사 | 멀티 스택 씨모스(cmos) 이미지 센서의 화소 및 그 제조방법 |
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-
1985
- 1985-02-22 JP JP60032594A patent/JPS61193479A/ja active Granted
-
1986
- 1986-02-19 US US06/830,887 patent/US4737833A/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
US4737833A (en) | 1988-04-12 |
JPH0566746B2 (ja) | 1993-09-22 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |