JPS61190731A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
- Publication number
- JPS61190731A JPS61190731A JP60031025A JP3102585A JPS61190731A JP S61190731 A JPS61190731 A JP S61190731A JP 60031025 A JP60031025 A JP 60031025A JP 3102585 A JP3102585 A JP 3102585A JP S61190731 A JPS61190731 A JP S61190731A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- track
- objective lens
- semiconductor laser
- lens
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- Pending
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- Semiconductor Lasers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、半導体レーザから出たビームを対物レンズで
集束してディスクのトラック上に光スポットを結ばせ、
そこでの反射ビームを再び前記対物レンズを介して受光
素子に導き、前記トラック上の記録情報を読み取る光ピ
ックアップに関する。
集束してディスクのトラック上に光スポットを結ばせ、
そこでの反射ビームを再び前記対物レンズを介して受光
素子に導き、前記トラック上の記録情報を読み取る光ピ
ックアップに関する。
（従来の技術）
従来のこの種の光ピックアップとしては、第３図の如き
光学系のものが知られている。この光学系は、半導体レ
ーザ１から出たレーザビームをハーフプリズム２を介し
てコリメータレンズ３に入射させ、そこで平行光となっ
たレーザビームを対物レンズ４によりディスク５のトラ
ック上に集束させ、このトラックからの反射ビームを、
対物レンズ４．コリメータレンズ３．ハーフプリズム２
及びシリンドリカルレンズ（一方向性集束レンズ）６を
介して、４個の受光面を有するフォトダイオード（受光
素子）７に導き、第２図Ａ乃至第２図Ｃに示すように、
その受光面７ａ、７ｂ、７ｃ及び７ｄ上に光スポットＳ
Ｐを形成させるように構成し、更に、ディスク５のトラ
ックの接線が、受光面を分割する分割線ｍに平行な線と
して結像するような構成になっている。従って、フォト
ダイオード７の受光面上に形成される光スポットＳＰは
、ディスク５のトラックが対物レンズ４の焦点の位置に
あるとき、第２図△に示すように真円となり、ディスク
５がこれより対物レンズ４側に近づくと、第２図Ｂに示
すような楕円に変わり、ディスク５が対物レンズ４から
遠ざかると、第２図Ｃに示すように長軸と短軸が入れ替
った楕円となる。
光学系のものが知られている。この光学系は、半導体レ
ーザ１から出たレーザビームをハーフプリズム２を介し
てコリメータレンズ３に入射させ、そこで平行光となっ
たレーザビームを対物レンズ４によりディスク５のトラ
ック上に集束させ、このトラックからの反射ビームを、
対物レンズ４．コリメータレンズ３．ハーフプリズム２
及びシリンドリカルレンズ（一方向性集束レンズ）６を
介して、４個の受光面を有するフォトダイオード（受光
素子）７に導き、第２図Ａ乃至第２図Ｃに示すように、
その受光面７ａ、７ｂ、７ｃ及び７ｄ上に光スポットＳ
Ｐを形成させるように構成し、更に、ディスク５のトラ
ックの接線が、受光面を分割する分割線ｍに平行な線と
して結像するような構成になっている。従って、フォト
ダイオード７の受光面上に形成される光スポットＳＰは
、ディスク５のトラックが対物レンズ４の焦点の位置に
あるとき、第２図△に示すように真円となり、ディスク
５がこれより対物レンズ４側に近づくと、第２図Ｂに示
すような楕円に変わり、ディスク５が対物レンズ４から
遠ざかると、第２図Ｃに示すように長軸と短軸が入れ替
った楕円となる。
そこで、この光ピックアップでは、対向する２個の受光
面７ａ、７ｂから得られる信号をＡ、Ｂ、受光面７ｃ、
７ｄから得られる信号をＣ，Ｄとしたとき、Ｆ＝ （Ａ
”、Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）に対応した信号を得て、これをフ
ォーカシング制御信号とし、フォーカシングは、このフ
ォーカシング制御信号が零となるように、対物レンズ４
を駆動している。
面７ａ、７ｂから得られる信号をＡ、Ｂ、受光面７ｃ、
７ｄから得られる信号をＣ，Ｄとしたとき、Ｆ＝ （Ａ
”、Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）に対応した信号を得て、これをフ
ォーカシング制御信号とし、フォーカシングは、このフ
ォーカシング制御信号が零となるように、対物レンズ４
を駆動している。
一方、分割線ｍの同一側の２個の受光面７ａ。
７ｄから１ｑられる信号Ａ、Ｄを加算したものから、他
方の側の受光面７ｂ、７ｃから１ｑられる信号Ｂ。
方の側の受光面７ｂ、７ｃから１ｑられる信号Ｂ。
Ｃを加算したものを引いた信号、即ち、Ｔ−（Ａ’Ｄ）
−（Ｂ＋Ｃ）に対応した信号を得て、これをトラッキン
グ制御信号とし、トラッキングは、このトラッキング制
御信号が零となるように、集束レンズ４をトラックと直
交する方向に移動している。尚、ＲＦ信号は、Ａ−ＬＢ
−Ｌ−Ｃ−Ｉ−Ｄから求め、ラジアル方向の送り制御信
号は通常トラッキング制御信号の直流成分から求めてい
る。
−（Ｂ＋Ｃ）に対応した信号を得て、これをトラッキン
グ制御信号とし、トラッキングは、このトラッキング制
御信号が零となるように、集束レンズ４をトラックと直
交する方向に移動している。尚、ＲＦ信号は、Ａ−ＬＢ
−Ｌ−Ｃ−Ｉ−Ｄから求め、ラジアル方向の送り制御信
号は通常トラッキング制御信号の直流成分から求めてい
る。
ところで、半導体レーザでは、放射されたビームが回折
のために大きく広がる。即ち、第４図に示すように、Ｆ
ＦＰ（ファー・フィールド・パターン）は、接合面に垂
直な方向に長くストライブ方向に短いものとなる。従来
の光ピックアップでは、第３図の下方から対物レンズ４
を見た場合、第５図に示す如く、ディスク５上において
ＦＦＰにおける接合面に垂直な方向とトラックの接線方
向とが一致するように、半導体レーザ１の放射ビームが
対物レンズ４に入射していた。
のために大きく広がる。即ち、第４図に示すように、Ｆ
ＦＰ（ファー・フィールド・パターン）は、接合面に垂
直な方向に長くストライブ方向に短いものとなる。従来
の光ピックアップでは、第３図の下方から対物レンズ４
を見た場合、第５図に示す如く、ディスク５上において
ＦＦＰにおける接合面に垂直な方向とトラックの接線方
向とが一致するように、半導体レーザ１の放射ビームが
対物レンズ４に入射していた。
（発明が解決しようとする問題点）
上記の従来構成の場合、半導体レーザ１のチップ（発振
領域）の中心が対物レンズ４の光軸上にくるような状態
で、半導体レーザ１の取付けが成されれば、第４図中の
水平横モードのピーク位置に対物レンズ４の中心がくる
こことなる。即ち、第６図のＴに示す如き強度分布のビ
ームが対物レンズ４に入ｑ１する。しかし、半導体レー
ザ１の取付けは半導体レーザ１のハウジングを基準にな
されるため、内部のチップがハウジングの中心になけれ
ば、当然チップの中心が対物レンズ４の光軸上からずれ
る。又、半導体レーザ１のハウジングの取付位置にも多
少のずれが生じる。従って、半導体レーザ１のチップと
対物レンズ４の光軸との間に、ディスク５の半径方向の
相対的な位置ずれがある程１望生じることは避けること
ができない。
領域）の中心が対物レンズ４の光軸上にくるような状態
で、半導体レーザ１の取付けが成されれば、第４図中の
水平横モードのピーク位置に対物レンズ４の中心がくる
こことなる。即ち、第６図のＴに示す如き強度分布のビ
ームが対物レンズ４に入ｑ１する。しかし、半導体レー
ザ１の取付けは半導体レーザ１のハウジングを基準にな
されるため、内部のチップがハウジングの中心になけれ
ば、当然チップの中心が対物レンズ４の光軸上からずれ
る。又、半導体レーザ１のハウジングの取付位置にも多
少のずれが生じる。従って、半導体レーザ１のチップと
対物レンズ４の光軸との間に、ディスク５の半径方向の
相対的な位置ずれがある程１望生じることは避けること
ができない。
今、この位置ずれが第６図の如くεだけあったとすると
、＠６図の■に示す如き強度分布のビームが対物レンズ
４に入射することになり、右側部分での入射ビームの強
度が落ち込むこととなる。この落し込み１が大きくなる
と、対物レンズ４のＮＡ（収斂能力）が等儲的に減少す
るため、従来装冨では、成形過程中に生じたヒケ（ディ
スクの円周に沿った円筒形の凹み）があるディスクに対
して、再生能力が劣化するという問題があった。即ち、
対物レンズ４をディスクの半径方向に移動してトラッキ
ングを行うとき、前述の位置関係の場合、対物レンズ４
の移動に際して、左半分、右半分への入射光厘のバラン
スが大きく崩れるため、トラッキング制御ｌ］信号の劣
化が激しいという問題があった。
、＠６図の■に示す如き強度分布のビームが対物レンズ
４に入射することになり、右側部分での入射ビームの強
度が落ち込むこととなる。この落し込み１が大きくなる
と、対物レンズ４のＮＡ（収斂能力）が等儲的に減少す
るため、従来装冨では、成形過程中に生じたヒケ（ディ
スクの円周に沿った円筒形の凹み）があるディスクに対
して、再生能力が劣化するという問題があった。即ち、
対物レンズ４をディスクの半径方向に移動してトラッキ
ングを行うとき、前述の位置関係の場合、対物レンズ４
の移動に際して、左半分、右半分への入射光厘のバラン
スが大きく崩れるため、トラッキング制御ｌ］信号の劣
化が激しいという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、前記ヒケがあるディスク等に対しても安定に信号を再
生できる光ピックアップを提供することにある。
、前記ヒケがあるディスク等に対しても安定に信号を再
生できる光ピックアップを提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
上記問題点を解決する本発明は、半導体レーザから出た
ビームを対物レンズで集束してディスクのトラック上に
光スポットを結ばせ、そこでの反射ビームを再び前記対
物レンズを介して受光素子に導き、前記トラック上の記
録情報を読み取る光ピックアップにおいて、前記半導体
レーザの接合面に垂直な方向が、前記ディスクのトラッ
ク上に、前記トラックの接線方向に対して傾斜をもった
方向に投影されるように設定したことを特徴とするもの
である。
ビームを対物レンズで集束してディスクのトラック上に
光スポットを結ばせ、そこでの反射ビームを再び前記対
物レンズを介して受光素子に導き、前記トラック上の記
録情報を読み取る光ピックアップにおいて、前記半導体
レーザの接合面に垂直な方向が、前記ディスクのトラッ
ク上に、前記トラックの接線方向に対して傾斜をもった
方向に投影されるように設定したことを特徴とするもの
である。
（作用）
本発明の光ピックアップによれば、半導体レーザの接合
面に垂直な方向がディスクのトラックの接線方向に対し
て傾斜するように投影されることになるため、対物レン
ズに入射するビームの強度分布が平ｔＨに近づき、対物
レンズの等洒的ＮＡの減少を防止できる。従って、前述
の如き欠陥のあるディスクに対しても安定に信号を再生
できる。
面に垂直な方向がディスクのトラックの接線方向に対し
て傾斜するように投影されることになるため、対物レン
ズに入射するビームの強度分布が平ｔＨに近づき、対物
レンズの等洒的ＮＡの減少を防止できる。従って、前述
の如き欠陥のあるディスクに対しても安定に信号を再生
できる。
（実施例）
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す要部構成図である。本
実施例が第５図の従来例と相違する点は、半導体レーザ
１の接合面に垂直な方向を、ディスクのトラックの接線
方向に対して角度θだけ傾斜した点にある。ここで角度
θは例えば２０°〜７０°程度の範囲に選ぶ。角度θだ
け傾けた効果は、従来、第１図及び第５図においてへ方
向の光強度分布であったものが、角度θ傾斜したことに
よりＢ方向の光強度分布となる点である。このため、仮
に前記位βずれがεあったとしても、第６図の破線で示
した■の如く平坦化された光強度分布のビームが対物レ
ンズ４に入射することになる。従って、対物レンズ４の
左半分、右半分への入射光重のバランスが大きく崩れる
ことがなく、トラッキング制御信号の劣化も許容できる
範囲になる。
実施例が第５図の従来例と相違する点は、半導体レーザ
１の接合面に垂直な方向を、ディスクのトラックの接線
方向に対して角度θだけ傾斜した点にある。ここで角度
θは例えば２０°〜７０°程度の範囲に選ぶ。角度θだ
け傾けた効果は、従来、第１図及び第５図においてへ方
向の光強度分布であったものが、角度θ傾斜したことに
よりＢ方向の光強度分布となる点である。このため、仮
に前記位βずれがεあったとしても、第６図の破線で示
した■の如く平坦化された光強度分布のビームが対物レ
ンズ４に入射することになる。従って、対物レンズ４の
左半分、右半分への入射光重のバランスが大きく崩れる
ことがなく、トラッキング制御信号の劣化も許容できる
範囲になる。
尚、前記信号の劣化という観点だけでは、θ＝９０’が
最も良いことになるが、このようにすると、ビット情報
を正確に読めない事態が生じることがある。そこで、角
度θの上限は前述の如く７０′″程度にする必要がある
。
最も良いことになるが、このようにすると、ビット情報
を正確に読めない事態が生じることがある。そこで、角
度θの上限は前述の如く７０′″程度にする必要がある
。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、半導体レーザの
接合面に垂直な方向がディスクのトラックの接線方向に
対して傾斜するように投影されることになるため、対物
レンズに入射するビームの強度分布が平坦に近づき、対
物レンズの等価的ＮＡの減少を防止できる。従って、前
述の如き欠陥のあるディスクに対しても安定に信号を再
生できる。
接合面に垂直な方向がディスクのトラックの接線方向に
対して傾斜するように投影されることになるため、対物
レンズに入射するビームの強度分布が平坦に近づき、対
物レンズの等価的ＮＡの減少を防止できる。従って、前
述の如き欠陥のあるディスクに対しても安定に信号を再
生できる。
第１図は本発明の一実施例の要部構成図、第２図はフォ
トダイオード上の光スポットの形状説明図、第３図は光
ピックアップの光学系の説明図、ｍ４図は半導体レーザ
の説明図、第５図は従来例の要部構成図、第６図は対物
レンズへの入射ビームの強度分布説明図である。 １・・・半導体レーザ ２・・・ハーフプリズム３
・・・コリメータレンズ ４・・・対物レンズ５・・・
ディスク ６・・・シリンドリカルレンズ ７・・・フォトダイオード 特許出願人 フォスター電嶺株式会社 代 理 人 弁理士 井 島 藤 胎 外１名 富２図 帛３図 １；半導体レーザ ２；ハーフプリズム ３；コリメータレンズ ４１対物レンズ ５；ディスク ６、シリンドリ力ルレンス” ７；フォトダイオード 篇４図 ＋０１ 出６閃
トダイオード上の光スポットの形状説明図、第３図は光
ピックアップの光学系の説明図、ｍ４図は半導体レーザ
の説明図、第５図は従来例の要部構成図、第６図は対物
レンズへの入射ビームの強度分布説明図である。 １・・・半導体レーザ ２・・・ハーフプリズム３
・・・コリメータレンズ ４・・・対物レンズ５・・・
ディスク ６・・・シリンドリカルレンズ ７・・・フォトダイオード 特許出願人 フォスター電嶺株式会社 代 理 人 弁理士 井 島 藤 胎 外１名 富２図 帛３図 １；半導体レーザ ２；ハーフプリズム ３；コリメータレンズ ４１対物レンズ ５；ディスク ６、シリンドリ力ルレンス” ７；フォトダイオード 篇４図 ＋０１ 出６閃
Claims (1)
- 半導体レーザから出たビームを対物レンズで集束してデ
ィスクのトラック上に光スポットを結ばせ、そこでの反
射ビームを再び前記対物レンズを介して受光素子に導き
、前記トラック上の記録情報を読み取る光ピックアップ
において、前記半導体レーザの接合面に垂直な方向が、
前記ディスクのトラック上に、前記トラックの接線方向
に対して傾斜をもった方向に投影されるように設定した
ことを特徴とする光ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60031025A JPS61190731A (ja) | 1985-02-18 | 1985-02-18 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60031025A JPS61190731A (ja) | 1985-02-18 | 1985-02-18 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61190731A true JPS61190731A (ja) | 1986-08-25 |
Family
ID=12319975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60031025A Pending JPS61190731A (ja) | 1985-02-18 | 1985-02-18 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61190731A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7764575B2 (en) | 2005-11-07 | 2010-07-27 | Sony Corporation | Tracking error detecting method, tracking error detecting apparatus and optical recording and reproducing apparatus |
-
1985
- 1985-02-18 JP JP60031025A patent/JPS61190731A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7764575B2 (en) | 2005-11-07 | 2010-07-27 | Sony Corporation | Tracking error detecting method, tracking error detecting apparatus and optical recording and reproducing apparatus |
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