JPS61187840A - Ｘ‐線診断装置 - Google Patents
Ｘ‐線診断装置Info
- Publication number
- JPS61187840A JPS61187840A JP61024982A JP2498286A JPS61187840A JP S61187840 A JPS61187840 A JP S61187840A JP 61024982 A JP61024982 A JP 61024982A JP 2498286 A JP2498286 A JP 2498286A JP S61187840 A JPS61187840 A JP S61187840A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- stray radiation
- radiation grid
- detection system
- grid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 41
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000003475 lamination Methods 0.000 claims description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/64—Circuit arrangements for X-ray apparatus incorporating image intensifiers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/044—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using laminography or tomosynthesis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ−線源と、物体キャリヤと、湾曲した入射窓
を有しているＸ−線検出系と、前記物体キャリＶと前記
検出系の入射側との間に取付けられる漂遊放射グリッド
とを具えているＸ−線診断装置に関するものである。
を有しているＸ−線検出系と、前記物体キャリＶと前記
検出系の入射側との間に取付けられる漂遊放射グリッド
とを具えているＸ−線診断装置に関するものである。
斯種のＸ−線診断装置は米国特許第４，２２０，８９０
号から既知である。
号から既知である。
前記米国特許に記載されている×−線診断装置はＸ−線
像増倍管の形態をしているＸ−線検出器を具えている。
像増倍管の形態をしているＸ−線検出器を具えている。
漂遊放射グリッドはＸ−線像増倍管の入射窓の前方に配
置している。診断すべき物体を照射した後のＸ−線源か
らの像担持Ｘ−線ビームは漂遊放射グリッドを通過して
から、入射窓を通過する。Ｘ−線像増倍管の内側には前
記入射窓に入射スクリーンが設けられており、このスク
リーンは例えばＯ３１層で構成し、このスクリーン上に
光電陰極を設けている。斯かるスクリーンにて像担持Ｘ
−線ビームは光電子ビームに変換される。光電陰極から
出る電子は例えば２５ｋ Ｖに加速され、その後これら
の電子は射出けい光スクリーン上に結像される。像担持
光ビームは射出窓を経てＸ−線像増倍管から出射し、こ
の光ビームによって例えば写真感光板を露光したり、又
はテレビジョン像を形成したりすることができる。
置している。診断すべき物体を照射した後のＸ−線源か
らの像担持Ｘ−線ビームは漂遊放射グリッドを通過して
から、入射窓を通過する。Ｘ−線像増倍管の内側には前
記入射窓に入射スクリーンが設けられており、このスク
リーンは例えばＯ３１層で構成し、このスクリーン上に
光電陰極を設けている。斯かるスクリーンにて像担持Ｘ
−線ビームは光電子ビームに変換される。光電陰極から
出る電子は例えば２５ｋ Ｖに加速され、その後これら
の電子は射出けい光スクリーン上に結像される。像担持
光ビームは射出窓を経てＸ−線像増倍管から出射し、こ
の光ビームによって例えば写真感光板を露光したり、又
はテレビジョン像を形成したりすることができる。
種々の照射方向でのＸ−線像を得るためには、Ｘ−線源
及びＸ−線検出系を、診断すべき物体を中心に回転させ
る必要がある。この場合、平坦な漂遊放射グリッドを使
用すると、Ｘ線像増倍管の傾斜位置での像形成が最適に
ならなくなる。その理由は、漂遊放射グリッドの幾何学
的構成のためにＸ−線像増倍管と診断すべき物体との間
の距離が必然的に増大するからである。傾斜位置での照
射の場合における斯かる比較的長い距離のために、Ｘ−
線源が測定中に理想的な角度位置から屡々動いてしまう
が、Ｘ−線検出系はそのままであり、従って像形成が最
適にならず、漂遊放射グリッドが局部的に不均一な放射
吸収度を呈するようになる。これがため、検出系の全入
射面を横切るＸ−線ビームの照度を適切にするためには
Ｘ−線ビームの強度を増大させる必要がある。しかし、
このようにＸ−線ビームの強度を高めると、放射被爆量
が多くなるため好ましくない。
及びＸ−線検出系を、診断すべき物体を中心に回転させ
る必要がある。この場合、平坦な漂遊放射グリッドを使
用すると、Ｘ線像増倍管の傾斜位置での像形成が最適に
ならなくなる。その理由は、漂遊放射グリッドの幾何学
的構成のためにＸ−線像増倍管と診断すべき物体との間
の距離が必然的に増大するからである。傾斜位置での照
射の場合における斯かる比較的長い距離のために、Ｘ−
線源が測定中に理想的な角度位置から屡々動いてしまう
が、Ｘ−線検出系はそのままであり、従って像形成が最
適にならず、漂遊放射グリッドが局部的に不均一な放射
吸収度を呈するようになる。これがため、検出系の全入
射面を横切るＸ−線ビームの照度を適切にするためには
Ｘ−線ビームの強度を増大させる必要がある。しかし、
このようにＸ−線ビームの強度を高めると、放射被爆量
が多くなるため好ましくない。
本発明の目的は上述したような欠点を除去し得るように
適切に構成配置した上述した種類のＸ−線診断装置を提
供することにある。
適切に構成配置した上述した種類のＸ−線診断装置を提
供することにある。
本発明は冒頭にて述べた種類のＸ−線診断装置において
、前記漂遊放射グリッドを放射吸収ラミネーションをも
って構成し、前記漂遊放射グリッドの湾曲方向を前記湾
曲入射窓の湾曲方向と同一又は反対とするか、或いは前
記漂遊放射グリッドの湾曲方向を前記物体キャリヤの湾
曲方向と同一方向とするかのいずれかとするようにした
ことを特徴とする。
、前記漂遊放射グリッドを放射吸収ラミネーションをも
って構成し、前記漂遊放射グリッドの湾曲方向を前記湾
曲入射窓の湾曲方向と同一又は反対とするか、或いは前
記漂遊放射グリッドの湾曲方向を前記物体キャリヤの湾
曲方向と同一方向とするかのいずれかとするようにした
ことを特徴とする。
Ｘ−線源から見て凸状をしている入射窓と同じ曲率を有
する漂遊放射グリッドは米国特許第２，７６０．０７７
号明細書から既知であるが、斯かるグリッドは放射−吸
収ラミネーションで構成したものではない。上記米国特
許に記載されている漂遊放射グリッドは二次放射吸収用
のコイルを含むものであるが、このコイルは造るのが困
難である。
する漂遊放射グリッドは米国特許第２，７６０．０７７
号明細書から既知であるが、斯かるグリッドは放射−吸
収ラミネーションで構成したものではない。上記米国特
許に記載されている漂遊放射グリッドは二次放射吸収用
のコイルを含むものであるが、このコイルは造るのが困
難である。
漂遊放射グリッドを（×−線源から見て）凸状とした入
射窓の場合と同じ方向に湾曲させた場合には、診断すべ
き物体のまわりをＸ−線像形成用の系を回転中に、診断
すべき物体と入射スクリーンとの間の距離を短くするこ
とができるため、Ｘ−線像の像形成を強めることができ
る。
射窓の場合と同じ方向に湾曲させた場合には、診断すべ
き物体のまわりをＸ−線像形成用の系を回転中に、診断
すべき物体と入射スクリーンとの間の距離を短くするこ
とができるため、Ｘ−線像の像形成を強めることができ
る。
本発明によるＸ−線診断装置の例におけるＸ−線検出系
は円筒状に湾曲させた入射スクリーンを有しているＸ−
線フイルムカメラによって形成し、物体キャリヤを前記
曲率に適合させて、焦点距離を最小とする。
は円筒状に湾曲させた入射スクリーンを有しているＸ−
線フイルムカメラによって形成し、物体キャリヤを前記
曲率に適合させて、焦点距離を最小とする。
Ｘ−線検出系の入射窓をＸ−線源から見て凸状とする場
合、焦点合わせする漂遊放射グリッドは、それを入射Ｘ
−線ビームの発散の度合に適合させることによって比較
的簡単に実現することができる。
合、焦点合わせする漂遊放射グリッドは、それを入射Ｘ
−線ビームの発散の度合に適合させることによって比較
的簡単に実現することができる。
これは特に円筒状に湾曲させた漂遊放射グリッドの場合
に好適である。この場合には本来平坦なラミネーション
（積層体）を入射Ｘ−線ビームの発散の度合に応じて入
射窓に垂直に取付けさえすれば良い。特に、焦点合わせ
しない漂遊放射グリッドの場合には、そのグリッドを随
意物体キャリヤ又はＸ−線検出系に接続することができ
る。
に好適である。この場合には本来平坦なラミネーション
（積層体）を入射Ｘ−線ビームの発散の度合に応じて入
射窓に垂直に取付けさえすれば良い。特に、焦点合わせ
しない漂遊放射グリッドの場合には、そのグリッドを随
意物体キャリヤ又はＸ−線検出系に接続することができ
る。
以下図面につき本発明を説明する。
第１図に示したようなＸ−線診断装置は高電圧源２を有
するＸ−線源１・と、診断すべき患者４用の物体キャリ
ヤ（搬送台）３と、Ｘ−線像増倍管５と、基本対物レン
ズ系６と、半透１１７と、フィルムカメラ８と、ビーム
偏向コイル１０を有するテレビジョン撮像管９と、テレ
ビジョンモニタ１１とを具えている。Ｘ−線像増倍管５
は、Ｃｓ Ｉ製を可とし、かつ内側に設けられるＸ−線
けい光スクリーン（別々には示していない）及び光電陰
極付きの入射スクリーン１２と、１個以上の中間電極１
５を含む電子光学系と、本例の場合射出窓１４の内側に
設けられる射出スクリーン１３を具えている。入射スク
リーン１２は入射窓２２の内側に取付ける。Ｘ−線増倍
管のまわりには強磁性遮蔽ジャケット２１を設けること
ができる。入射Ｘ−線ビーム１６は患者４を照射し、こ
の患者を透過した像担持Ｘ−線ビーム１７はＸ−線像増
倍管５の入射スクリーン１２に入射する。この入射スク
リーン１２に入射したＸ−線ビーム１７は光電子ビーム
１８に変換され、この光電子ビームは例えば２５ｋ Ｖ
に加速されて、射出スクリーン１３上に結像される。像
担持光ビーム１９は射出窓１４を経て放射され、この光
ビームは所要に応じ写真感光板を露光したり、又はテレ
ビジョン画像を形成したりするのに用いることができる
。
するＸ−線源１・と、診断すべき患者４用の物体キャリ
ヤ（搬送台）３と、Ｘ−線像増倍管５と、基本対物レン
ズ系６と、半透１１７と、フィルムカメラ８と、ビーム
偏向コイル１０を有するテレビジョン撮像管９と、テレ
ビジョンモニタ１１とを具えている。Ｘ−線像増倍管５
は、Ｃｓ Ｉ製を可とし、かつ内側に設けられるＸ−線
けい光スクリーン（別々には示していない）及び光電陰
極付きの入射スクリーン１２と、１個以上の中間電極１
５を含む電子光学系と、本例の場合射出窓１４の内側に
設けられる射出スクリーン１３を具えている。入射スク
リーン１２は入射窓２２の内側に取付ける。Ｘ−線増倍
管のまわりには強磁性遮蔽ジャケット２１を設けること
ができる。入射Ｘ−線ビーム１６は患者４を照射し、こ
の患者を透過した像担持Ｘ−線ビーム１７はＸ−線像増
倍管５の入射スクリーン１２に入射する。この入射スク
リーン１２に入射したＸ−線ビーム１７は光電子ビーム
１８に変換され、この光電子ビームは例えば２５ｋ Ｖ
に加速されて、射出スクリーン１３上に結像される。像
担持光ビーム１９は射出窓１４を経て放射され、この光
ビームは所要に応じ写真感光板を露光したり、又はテレ
ビジョン画像を形成したりするのに用いることができる
。
本発明によれば患者４とＸ−線像増倍管との間に（×−
線源１から見て）凸状の漂遊放射グリッド２０を配置す
る。このグリッド２０は例えば患者４でのＸ−線の散乱
により伝搬方向がビーム１７の伝搬方向から過度にずれ
るＸ−線を遮る。種々の照射角度でのＸ−線像を得るた
めにはＸ−線像増倍管を患者のまわりで回転させる必要
があり、この回転中に診断すべき患者４と入射スクリー
ン１２どの間の距離は漂遊放射グリッド２０が凸状をし
ているために最小に保つことができる。従ってＸ−線像
の形成が改善される。漂遊放射グリッド２０はＸ−線の
吸収を均一にするために像担持Ｘ−線ビーム１７の発散
の度合に従って焦点に集められる放射吸収ラミネーショ
ン（積層体）２３を具えている。
線源１から見て）凸状の漂遊放射グリッド２０を配置す
る。このグリッド２０は例えば患者４でのＸ−線の散乱
により伝搬方向がビーム１７の伝搬方向から過度にずれ
るＸ−線を遮る。種々の照射角度でのＸ−線像を得るた
めにはＸ−線像増倍管を患者のまわりで回転させる必要
があり、この回転中に診断すべき患者４と入射スクリー
ン１２どの間の距離は漂遊放射グリッド２０が凸状をし
ているために最小に保つことができる。従ってＸ−線像
の形成が改善される。漂遊放射グリッド２０はＸ−線の
吸収を均一にするために像担持Ｘ−線ビーム１７の発散
の度合に従って焦点に集められる放射吸収ラミネーショ
ン（積層体）２３を具えている。
第２図に示したようなＸ−線診断装置は高電圧源２を有
しているＸ−線源１と、診断すべき患者４用の物体キャ
リヤ３と、漂遊放射グリッド２４と、Ｘ−線フィルムカ
メラ２５とを具えている。物体キャリヤ３及び漂遊放射
グリッド２４はいずれもＸ−線源１から見て凹状をして
いる。Ｘ−線の吸収度は、漂遊放射グリッド２４のラミ
ネーション２６の方向を像担持Ｘ−線ビーム１７の発散
の度合に適合させることによって均一とし、従って最小
とすることができる。
しているＸ−線源１と、診断すべき患者４用の物体キャ
リヤ３と、漂遊放射グリッド２４と、Ｘ−線フィルムカ
メラ２５とを具えている。物体キャリヤ３及び漂遊放射
グリッド２４はいずれもＸ−線源１から見て凹状をして
いる。Ｘ−線の吸収度は、漂遊放射グリッド２４のラミ
ネーション２６の方向を像担持Ｘ−線ビーム１７の発散
の度合に適合させることによって均一とし、従って最小
とすることができる。
漂遊放射グリッドを焦点合わせする場合には、Ｘ−線検
出系のＸ−線ビーム入射窓、又は入射スクリーンの曲率
を、その曲率中心がＸ−線源の物体焦点と一致するよう
に選定するのが好適である。
出系のＸ−線ビーム入射窓、又は入射スクリーンの曲率
を、その曲率中心がＸ−線源の物体焦点と一致するよう
に選定するのが好適である。
このような場合にはラミネーションを単に入射窓に垂直
に取付けることができる。Ｘ−線源と例えば第２図のＸ
−線フイルムカメラ２５に接続する漂遊放射グリッドと
の相対位置は一定のままとする必要がある。これがため
第２図に示した例では、Ｘ−線源１（保持器２１を介し
て）並びにＸ−線フィルム力・メラ２５を所謂Ｃ−状フ
ァーム部材８に接続して、これらを物体、即ち患者４を
中心に一緒に回転させる。特に比較的僅かな回転の場合
には、Ｘ−線源と検出系の位置を固定させて、診断すべ
き物体を回転し得るように位置させるのが有利である。
に取付けることができる。Ｘ−線源と例えば第２図のＸ
−線フイルムカメラ２５に接続する漂遊放射グリッドと
の相対位置は一定のままとする必要がある。これがため
第２図に示した例では、Ｘ−線源１（保持器２１を介し
て）並びにＸ−線フィルム力・メラ２５を所謂Ｃ−状フ
ァーム部材８に接続して、これらを物体、即ち患者４を
中心に一緒に回転させる。特に比較的僅かな回転の場合
には、Ｘ−線源と検出系の位置を固定させて、診断すべ
き物体を回転し得るように位置させるのが有利である。
第１図は漂遊放射グリッドがＸ−線源から見て凸状をし
ている入射窓と同じ方向に湾曲している本発明によるＸ
−線診断装置の一例を示す線図；第２図は漂遊放射グリ
ッドがＸ−線源から見て凸状となるように湾曲しており
、かつ該グリッドがＸ−線フィメムカメラに接続されて
いる本発明によるＸ−線診断装置の他の例を示す線図で
ある。 １・・・Ｘ−線源 ２・・・高電圧源３・・・
物体キャリヤ ４・・・診断物体５・・・Ｘ−線像
増倍管 ６・・・対物レンズ系１・・・半透ａｌｌ
８・・・フィルムカメラ９・・・テレビ
ジョン撮像管 １０・・・ビーム偏向コイル １１・・・テレビジョン
モニタ１２・・・入射スクリーン １３・・・射出ス
クリーン１４・・・射出窓 １５・・・中間
電極１６・・・入射Ｘ−線ビーム １７・・・像担持Ｘ
−線ビーム１８・・・光電子ビーム １９・・・像
担持光ビーム２０・・・漂遊放射グリッド ２１・・・強磁性遮蔽ジャケット ２２・・・入射窓２
３・・・放射吸収ラミネーション ２４・・・漂遊放射グリッド ２５・・・Ｘ−線フィルレムカメラ ２６・・・ラミネーション ２７・・・保持器２８・
・・アーム部材 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
ている入射窓と同じ方向に湾曲している本発明によるＸ
−線診断装置の一例を示す線図；第２図は漂遊放射グリ
ッドがＸ−線源から見て凸状となるように湾曲しており
、かつ該グリッドがＸ−線フィメムカメラに接続されて
いる本発明によるＸ−線診断装置の他の例を示す線図で
ある。 １・・・Ｘ−線源 ２・・・高電圧源３・・・
物体キャリヤ ４・・・診断物体５・・・Ｘ−線像
増倍管 ６・・・対物レンズ系１・・・半透ａｌｌ
８・・・フィルムカメラ９・・・テレビ
ジョン撮像管 １０・・・ビーム偏向コイル １１・・・テレビジョン
モニタ１２・・・入射スクリーン １３・・・射出ス
クリーン１４・・・射出窓 １５・・・中間
電極１６・・・入射Ｘ−線ビーム １７・・・像担持Ｘ
−線ビーム１８・・・光電子ビーム １９・・・像
担持光ビーム２０・・・漂遊放射グリッド ２１・・・強磁性遮蔽ジャケット ２２・・・入射窓２
３・・・放射吸収ラミネーション ２４・・・漂遊放射グリッド ２５・・・Ｘ−線フィルレムカメラ ２６・・・ラミネーション ２７・・・保持器２８・
・・アーム部材 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、Ｘ−線源と、物体キャリヤと、湾曲した入射窓を有
しているＸ−線検出系と、前記物体キャリヤと前記検出
系の入射側との間に取付けられる漂遊放射グリッドとを
具えているＸ−線診断装置において、前記漂遊放射グリ
ッドを放射吸収ラミネーションをもって構成し、前記漂
遊放射グリッドの湾曲方向を前記湾曲入射窓の湾曲方向
と同一又は反対とするか、或いは前記漂遊放射グリッド
の湾曲方向を前記物体キャリヤの湾曲方向と同一方向と
するかのいずれかとするようにしたことを特徴とするＸ
−線診断装置。 ２、前記Ｘ−線検出系が前記Ｘ−線源から見て凸状の入
射窓を含むＸ−線像増倍管を具えるようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第１項に記載のＸ−線診断装置
。 ３、前記Ｘ−線検出系が前記Ｘ−線源から見て凹状の入
射窓を具えるようにしたことを特徴とする特許請求の範
囲第１項に記載のＸ−線診断装置。 ４、前記Ｘ−線検出系が湾曲入射スクリーンを有するＸ
−線フィルムカメラを具えるようにしたことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項に記載のＸ−線診断装置。 ５、前記漂遊放射グリッドを断面にて見た場合に、該グ
リッドが球状湾曲断面を成すようにしたことを特徴とす
る特許請求の範囲第１〜４項のいずれか一項に記載のＸ
−線診断装置。 ６、前記放射吸収ラミネーションを前記入射Ｘ−線ビー
ムの発散の度合に応じて焦点に集めるようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１〜５項のいずれか一項に
記載のＸ−線診断装置。 ７、前記物体キャリヤを前記Ｘ−線源から見て凹状とな
るように湾曲させて、該物体キャリヤを前記漂遊放射グ
リッドの曲率に適当させるようにしたことを特徴とする
特許請求の範囲第１〜６項のいずれか一項に記載のＸ−
線診断装置。 ８、前記漂遊放射グリッドを前記物体キャリヤ又は前記
Ｘ−線検出系のいずれかに接続するようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第４項及び第５項に記載のＸ−
線診断装置。 ９、前記漂遊放射グリッドの曲率半径を前記Ｘ−線源と
前記漂遊放射グリッドとの間の距離にほぼ等しくなるよ
うにしたことを特徴とする特許請求の範囲第１〜８項の
いずれか一項に記載のＸ−線診断装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8500376 | 1985-02-12 | ||
| NL8500376A NL8500376A (nl) | 1985-02-12 | 1985-02-12 | Roentgenonderzoekinrichting. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61187840A true JPS61187840A (ja) | 1986-08-21 |
Family
ID=19845499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61024982A Pending JPS61187840A (ja) | 1985-02-12 | 1986-02-08 | Ｘ‐線診断装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0191532A1 (ja) |
| JP (1) | JPS61187840A (ja) |
| NL (1) | NL8500376A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000217812A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 散乱線除去グリッドおよびその製造方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8800679A (nl) * | 1988-03-18 | 1989-10-16 | Philips Nv | Roentgenonderzoekapparaat met een strooistralenrooster met antivignetterende werking. |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE370123C (de) * | 1922-06-13 | 1923-02-27 | Rudorff | Vorrichtung zum Fernhalten der Streustrahlung vom Bildtraeger bei Roentgenaufnahmen |
| US2760077A (en) * | 1952-03-29 | 1956-08-21 | Westinghouse Electric Corp | Spiral x-ray image intensifier |
| US3858050A (en) * | 1972-09-29 | 1974-12-31 | Kewanee Oil Co | Electrically insulating gamma radiation shield |
| DE2507150A1 (de) * | 1975-02-19 | 1976-09-02 | Siemens Ag | Gammakamera |
| NL7703296A (nl) * | 1977-03-28 | 1978-10-02 | Philips Nv | Roentgenbeeldversterkerbuis. |
-
1985
- 1985-02-12 NL NL8500376A patent/NL8500376A/nl not_active Application Discontinuation
-
1986
- 1986-02-08 JP JP61024982A patent/JPS61187840A/ja active Pending
- 1986-02-10 EP EP86200179A patent/EP0191532A1/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000217812A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 散乱線除去グリッドおよびその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL8500376A (nl) | 1986-09-01 |
| EP0191532A1 (en) | 1986-08-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4246607A (en) | X-Ray fluoroscopy device | |
| JP3133103B2 (ja) | レントゲン顕微鏡およびレントゲン画像の形成方法 | |
| US4404591A (en) | Slit radiography | |
| US4969176A (en) | X-ray examination apparatus having a stray radiation grid with anti-vignetting effect | |
| US5311568A (en) | Optical alignment means utilizing inverse projection of a test pattern/target | |
| JPH04110073U (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JPS5836327B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JPS61143046A (ja) | 乳房撮影ｘ線装置用ダイヤフラム装置 | |
| GB1579265A (en) | Tomography | |
| JPS61187840A (ja) | Ｘ‐線診断装置 | |
| US4829548A (en) | Dental X-ray examination apparatus | |
| JPS59166938A (ja) | Ｘ線像記録装置 | |
| JPH05345041A (ja) | 高エネルギー放射線検出装置 | |
| US5270534A (en) | Solid-state image recording apparatus having two pairs of adjustment members | |
| JP2000329898A (ja) | Ｘ線撮像装置 | |
| US5218626A (en) | Solid state photo sensor with adjustable viewing means | |
| JP4730054B2 (ja) | アスベスト用位相コントラストｘ線撮影システム及びアスベスト用位相コントラストｘ線撮影方法 | |
| CA1121917A (en) | X-ray apparatus for computer tomography | |
| US6587542B1 (en) | Dental panoramic imaging system | |
| JPS6188200A (ja) | Ｘ線照射系 | |
| Kubota et al. | Determination of x‐ray tube focal spot position | |
| JP3049790B2 (ja) | 結像型軟ｘ線顕微鏡装置 | |
| US4230948A (en) | Arrangement for the production of x-ray sectional pictures | |
| JPH0218086B2 (ja) | ||
| JP2830223B2 (ja) | ガンマカメラ |