JPS61166000A - X線管フイラメント加熱回路 - Google Patents

X線管フイラメント加熱回路

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JPS61166000A
JPS61166000A JP495585A JP495585A JPS61166000A JP S61166000 A JPS61166000 A JP S61166000A JP 495585 A JP495585 A JP 495585A JP 495585 A JP495585 A JP 495585A JP S61166000 A JPS61166000 A JP S61166000A
Authority
JP
Japan
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filament
tube
ray
current
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP495585A
Other languages
English (en)
Inventor
Masami Shimizu
正己 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
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Publication of JPS61166000A publication Critical patent/JPS61166000A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/34Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、Xa管のフィラメント加熱回路に関し、特に
数ミリ秒以下のパルス時間でX線を繰り返し曝射する高
速パルス撮影時においても追随して安定したX線管電流
とすることができるよ51CX線管のフィラメントに供
給する電流を制御できるX線管フィラメント/XI熱回
路く関する。
従来の技術 従来のこの種のX線fフィラメント加熱回路は、第3図
に示すように、X線管1と、このX線管1の陽極2に高
電圧を印加する高電圧発生器3と、上記XMflの陽極
2に流れる実・g電流値を検出する分圧抵抗4及び第一
の演算増幅器A1からなる検出回路と、上記第一の演算
増幅器A1から出力された実・g電流値を入力して設定
管電流値との差を求めると共にその差分に相応してX線
管1のフイラメン)5に供給する電流量を制御する信号
を送出する加熱制御回路6と、この加熱制御回路6から
の制御信号な入力して上記XMIf1のフィラメント5
釦供給する電流を制御する供給制御回路Tとを有して成
っていた。ここで、上記ITJ熱制御回路6は、設定管
電流値に相当する電圧レベルを出力する基準レベル設定
器8と、第二の演算増幅器A2と、フィラメント5の電
流値のプリセット信号を出幻する加熱レベル設定器9と
、第三の演算増幅器A5とを傳している。また、上記供
給制御回路γは、フィラメント加熱トランス10と、こ
のフィラメント加熱トランス10を駆動するインバータ
制御回路11と、上記フィラメントI熱トランス10に
印加する電圧を可変するチョッパ制御回路12と、電源
トランス13と、整流器14とを有している。
そして、このようなX線管フィラメント加熱回路でxi
管1のフィラメント5に一定の電流を流すと共に、陽極
2に一定のX線管電流を流して該X線管1から一定量の
X線を曝射していた。しかし、XjlJ管1が冷えてい
る状態ではX線管′直流が流れ易(曝射X線量を一定と
することができるが、撮影時間の経過に従ってX線管1
の温度が上昇して(るとX線管電流が流れにくくなり、
実管電流値が低下して曝射Xa量が少くなるものであっ
た。そこで、これを補正するため、第3図に示す従来の
X線管フィラメント加熱回路では、次のようにしていた
。すなわち、高電圧発生器3の高圧トランス15の中性
点16に設けられた分圧抵抗4でxis管1を流れる実
管電流値11を検出し、この検出値を第一の演算増幅器
A1を介して加熱制御回路6へ入力し、この加熱制御回
路6では、第二の演算増幅器A2で基準レベル設定器8
から出力される設定・g電流値と上記実管電流値との差
分S1を求めると共に第三の演算増幅器A5で加熱レベ
ル設定器9から出力されるフィラメント電流のプリセッ
ト信号S2に上記差分S1を加算して制御信号3sを出
力し、この制御信号S5は供給制御回路Tへ入力してそ
のチョッパ制御回路120入力電圧となり、該チョッパ
制御回路12で電圧/周波数変換及び電圧/振幅変換を
行ってフィラメント加熱トランス10に印加する電圧V
を町変し、これによってフィラメント電流工2を増やし
て該フィラメント5の温度を上昇させ、その結果XH管
電流工5が一定となるようにフィードバック制御してい
た。
この動作のタイミング線図は第4図に示すようになり1
.s4図(b)K示す各回のX線噴射ごとに分圧抵抗4
で検出した実管を流値工1が第4図(c)に示すように
順次低下していったとする。
このとき、第4図(d)に示すように、上記実管電流値
工1と基準レベル設定器8からの設定管電流値との差分
S1は各回のX線曝射ごとに順次増大し、これに従って
、第4図(e) VC示すように、プリセット信号S2
と上記差分S1とを加算した制御信号85も順次増大す
る。そして、この順次増大する制御信号S3を入力した
供給制御回路7は、第4図(f)に示すよ’)K、各回
のX線曝射ごとのタイミングに合せてフィラメント電流
I2を増大してX線管1のフィラメント5に供給してい
た。
発明が解決しようとする問題点 しかし、このようなX線管フィラメント加熱回路におい
て、上記のように各回のX線曝射のタイミングに合せて
フィードバック制御してフィラメント電流I2を増大し
ても、上記X線管1のフィラメント5の熱慣性のために
、該フィラメント5の温度は直ちには上昇しないで数ミ
リ秒のタイムラグがあった。従って、第4図(b)のよ
うにX線曝射のパルス時間が数ミリ秒以下の高速パルス
撮影時くおいては、第4図(g)に示すように、フィラ
メント温度は、@4図(f)に示すフィラメント電流工
2の立ち上がりから数ミリ秒遅れて温度上昇し始めるが
(斜線部参照)、上記フィラメント電流I2の立ち下が
りでもとの温度に戻ってしまい、実質的には上記フィー
ドバック制御の効果は現われな、かった。このことから
、結局フィラメント温度を上昇させることができず(第
4図(g)参照)、X1sft流工3は、第4図(h)
に示すように、各回のX線曝射ごとに低下して一定とな
らないものであった。従ツテ、高速パルス撮影における
撮影画像の画質は低下するものであった。そこで、本発
明はこのような問題点を解決することを目的とする。
問題点を解決するための手段 上記の問題点を解決する本発明の手段は、X線管と、こ
のXa管の陽極に流れる実管電流値を演出する検出回路
と、この検出回路からの実管電流値を入力して設定¥i
11を流値との差を求めると共にその差分に相応し″C
XS管フィラメントに供給する電流量をセIJ御する信
号を送出する加熱制御回路と、この加熱制御回路からの
制御信号を入力して上記X?fia管のフィラメントに
供給する電流を制御する供給制御回路とを有して成るX
線Wフィラメント加熱回路に祐いて、上記検出回路と加
熱制御回路との間に、上記実管電流値を取り込んで保持
するサンプルホールド回路を設げ、パルス状く流れる実
管電流値を保持しこの保持した実管電流値によって設定
管電流値との差分を求めるようにしたことを特徴とする
X線管フィラメント加熱回路によってなされる。
実施例 以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細く説明す
る。
第1図は本発明によるX線管フィラメント加熱回路を示
す回路図である。このX線管フイラメン10熱回路は、
X線f1と、高電圧発生器3と、分圧抵抗4及び第一の
演算増幅器A1からなる検出回路と、サンプルホールド
回路17と、加熱制御回路6と、供給制御回路7とを有
して成る。
上記Xfs管1は、Xaを曝射するもので、管球の内部
に陽極2とフィラメント5とが対向して設けられており
、上記陽極2釦は高電圧発生器3から高電圧が印加され
る。この高電圧発生器3は、図示外の交流電源の電圧を
昇圧する高圧トランス15と、全波整流器18とから成
る。
前記検出回路は、上記Xa管1の陽極2に流れる実管電
流値工1を検出するもので、上記高電圧発生器3の高圧
トランス15の中性点に設けられた分圧抵抗4とこれに
接続された第一の演算増幅器A1とからなる。この第一
の演算項@5 A lからの出力は、サンプルホールド
回路17へ入力する。このサンプルホールド回路11は
、上記実管電流値工1をある回のXm@射れるX線タイ
マからのX++S曝射のパルスに合せて、当該パルスの
立ち下がりから次のパルスの立ち下がりまでの間、上記
検出回路で検出した実1FVJc流値工1を保持するよ
うになっている。
上記サンプルホールド回路1Tの出力SOは、加熱制御
回路6へ入力する。この加熱制御回路6は、上記出力S
Oとして保持された各回のX線曝射ごとの実管電流値を
入力して設定管電流値との差を求めると共くその差分に
相応してX線=tl 1のフィラメント5に供給する電
流量を制御する信号を送出するもので、上記設定管電流
値く相当する電圧レベルを出力する基準レベル設定器8
と、この基準レベル設定器8の出力である設定′g電流
値と上記実tg流値との差分S1を求める第二の演算増
幅器A2と、フィラメント5の電流値のグリセット信号
S2を出力する加熱レベル設定器9と、このプリセット
信号S2に上記差分S1を加算して制御信号S5を送出
する第三の演算増幅器A5とから成っている。
上記加熱制御回路6からの制御信号Ssは、供給制御回
路7へ入力する。この供給制御回路7は、上記制御信号
S3の変化によって上記X線f1のフィラメント5に供
給する電流を制御するもので、フィラメント加熱トラン
ス10と、トランジスタTr1.Tr2を交互にON、
OFFさせて上記フィラメント加熱トランス10を駆動
するインバータ制御回路11と、電源トランス13及び
整流器14から電源をとりこれをトランジスタTrsの
ONt、ている間だげ電圧/周波数変換及び電圧/振幅
変換を行って上記フィラメントm熱トランス10に印加
する電圧■を可変するチョッパ制御回路12と、チョー
クコイル18と、コンデンサ19とから成っている。
なお、第1図において、加熱制御回路6の中に設けられ
た開閉器20は、X線曝射のパルス時間が数ミリ秒以下
となる高速パルス撮影時において閉路となるスイッチで
あり、それ以外の場合は閉路となる。
次に、このように構成されたX線−ifフィラメント加
熱回路の動作釦ついて第2図のタイミング線図を参照し
て説明する。まず、検査対像としての循環器系の高速シ
ネパルス撮影をするとして、上記開閉器20を閉路とす
る。次に、X線装置全体の準備が完了し待機状態となる
と、第2図fa)に示すように、加熱制御回路6の加熱
レベル設定器9から一定の値のプリセット信号S2が出
力される。そして、供給制御回路γからXa曹1のフィ
ラメント5に所定の電流が供給され、高電圧発生a31
/Cよって上記XW管1の陽極2に高電圧が印加され、
第2図(b)に示すようにパルス時間が数ミリ秒以下の
X線曝射が繰り返し行われる。このとき、高圧トランス
15の中性点16に設けられた分圧抵抗4で各回のxm
曝射ごとにX線f1を流れる実管電流値11を検出する
。いま、撮影時間がある程度経過してX線g1の温度が
徐々に上昇してきたとすると、前回のX線曝射■と、今
回のXaIII射■と、次回のX線曝射■とでは1.@
2図(c) 釦示すように、その実−!P′iIL流値
はil、it’、it  のように少しずつ低下してく
る。このような実管電流値11は、第一の演痒増幅器A
1を介してサンプルホールド回路17へ入力する。する
と、このサングルホールド回路1Tは、上記実it流値
11を取り込んで第2図(b)に示す■のパルスの立ち
下がりから■のパルスの立ち下がりまでの間、その実i
t流値11を保持する。以下、同様にして各回のXi曝
射ごとの実・9或流値I 11 、 I +#を保持す
る。従って、このサンプルホールド回路1Tの出力3o
は、第2図(d)に示すように、少しずつ下がる階段状
となる。
次に、上記サンプルホールド回路1Tの出力SOは、加
熱制御回路6の第二の演算増幅器A2へ入力する。この
第二の演算増幅器A2には、基準レベル設定器8から出
力されるXa管10投定I電流値に相当する電圧レベル
が入力されており、該演算増幅器A2は、上記設定管電
流値と実管電流値工事との差を求め、その差分s1を出
力する。ここで、上述のよ5に、実管電流fiI+は少
しずつ低下して上記サンプルホールド回路1Tの出力S
oは階段状に少しずつ下がっているので、上記第二の演
算増幅器A2から出力される差分S1は、Mcz図(e
)K示すように、少しずつ上がる階段状となる。そして
、上記差分S1は、第三の演算増@器A3へ入力する。
コノ第三の演算増幅器Asには、加熱レベル設定器9か
ら出力されるフィラメント5の電流値のプリセット信号
S2が入力されており、該演算増幅器A3は、上記プリ
セット信号32に上記差分S1を加算し、制御信号ss
として出力する。ここで、第2図(a)〈示すよ5くグ
リセット信号S2は一定であり、第2図(e)に示すよ
うに差分S1は階段状に少しずつ上がっているので、上
記第三の演算増幅aAsから出力される制御信号S5は
、第2図(f)り示すように、サンプルホールド回路1
7の出力3oのタイミングに合せて少しずつ上がる階段
状となる。
次に、上記加熱制御回路6から出力された制御信号3s
は、供給制御回路Tのチョッパ制御回路12へ入力する
。このチョッパ制御回路12は、上記制御信号Ssを入
力電圧とし、これにより電圧/周波数変換及び電圧/掘
幅変換を行ってフィラメント加熱トランス10に印加す
る電圧Vを可変する。この電圧Vは、第2図(f)に示
す制御信号S5の増加と共く増大するので、該電圧Vの
増大に従ってフィラメント5に供給される電流工2は、
第2図(g)に示すように、サンプルホールド回路17
の出力Soのタイミング和合せ【その保持時間ごとに逐
次増えて行く。ここで、第2図(c)K示すようく各回
のX@曝射ごとくパルス状く流れる実管電流値工1は、
サンプルホールド回路1Tで、第2図(d)に示すよう
に前回のX線曝射■の立ち下がりから今回のXs曝射■
の立ち下がりまでの間一定に保持されるので、これを偏
差信号としてフィードくくツク制御した結果のフィラメ
ント電流工2も、第2図(g)に示すように前回のX線
曝射■の立ち下がりから今回のX線曝射■の立ち下がり
までの間増やされた状態となる。このように、前回のX
線曝射■の立ち下がりの直後に増やされたフィラメント
電流I2により、第2図(h)に示すように、フィラメ
ント5の温度が上昇し始める。このとき、該フィラメン
ト5の熱慣性のために、前回のX線曝射■の立ち下がり
から今回のX線曝射■の立ち上がりに至る間は緩やかな
カーブC1で上昇する。しかし、今回のXM@射■の立
ち上がりの時までにはと記増大されたフィラメント電流
I2によってフィラメント5は十分に加熱されて温度が
上昇し、今回のX線曝射■のパルス時間中は上昇した一
定温度C2に保たれる。このフィラメント温度の上昇の
結果、X線W1の陽極2に流れるX線・q電流Isが増
大され、第2図(i)に示すように、各回のX線曝射ご
とのX線管電流工sが設定管′■電流値等しくなり、一
定とされる。このよう釦、上記X線管電流工sが設定管
?lE流値と等しくなると、第2図fc)に示す実管電
流値11と第2図(i)に示すX線管電流工sとが等し
くなり、フィードバック制御は終了する。
発明の効果 本発明は以上説明したように、実管電流値11を検出す
る検出回路と加熱制御回路6との間にサンプルホールド
回路1Tを設けたので、パルス状に流れる上記実f電流
値11をある回のX線曝射の終了時点で取り込んで次の
回のXflj@射の終了まで保持することができ、この
所定の時間保持された実管電流値11によって設定管電
流値との差分S1も次の回のX?/s曝射の終了時点ま
で連続して出力される。従って、供給制御回路Tから供
給されるフィラメント電流12も、ある回のx、iss
射の終了時点から次の回のX線曝射の終了まで増大され
た電流が連続して供給される。これにより、Xa陽射の
パルス時間が数ミリ秒以下の高速パルス撮影においても
、l!flのフィラメント5の熱慣性によるタイムラグ
をある回のX線曝射の終了から次の回のX線曝射の開始
までの間に経過させることができ、その回のXl!II
曝射のタイミングにおいてフィラメント5の温度を上記
差分SIK相応した量だげ上昇させることができる。こ
の結果、X線IF1の陽極2に流れるX線管電流工sを
増大させることができ、各回のX線曝射ごとのX線管電
流ISを設定管電流値と等しくして、一定とすることが
できる。従って、高速パルス撮影における撮影画家の画
質を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるX線管フィラメント加熱回路を示
す回路図、第2図はその動作を示すタイミング線図、第
3図は従来のX線管フィラメント加熱回路を示す回路図
、第4図はその動作を示すタイミング線図である。 1・・・X線管、 2・−・陽 極、 3・・・高電圧発生器、 4・・・分圧抵抗、 5・・・フィラメント、 6・・・加熱制御回路、 7・−供給制御回路、 8・・・基準レベル設定器、 9・・−加熱レベル設定器、 17・・・サンプルホールド回路、 A1・・・第一の演算増幅器、 A2・−第二の演算増幅器、 人S・−第三の演算増幅器、 工1・・・実管電流値、 I2・−フィラメント電流、 SO・・・サンプルホールド回路の出力、Sl−・・実
管″電流値と設定管電流値との差分、S5・・・制御信
号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. X線管と、このX線管の陽極に流れる実管電流値を検出
    する検出回路と、この検出回路からの実管電流値を入力
    して設定管電流値との差を求めると共にその差分に相応
    してX線管のフィラメントに供給する電流量を制御する
    信号を送出する加熱制御回路と、加熱制御回路からの制
    御信号を入力して上記X線管のフィラメントに供給する
    電流を制御する供給制御回路とを有して成るX線管フィ
    ラメント加熱回路において、上記検出回路と加熱制御回
    路との間に、上記実管電流値を取り込んで保持するサン
    プルホールド回路を設け、パルス状に流れる実管電流値
    を保持しこの保持した実管電流値によつて設定管電流値
    との差分を求めるようにしたことを特徴とするX線管フ
    ィラメント加熱回路。
JP495585A 1985-01-17 1985-01-17 X線管フイラメント加熱回路 Pending JPS61166000A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01159400U (ja) * 1988-04-26 1989-11-06
JPH08133431A (ja) * 1994-11-11 1996-05-28 M & K:Kk てこ型物体自動持ち上げ装置
JP2009289579A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Shimadzu Corp パルス透視モードを備えたx線装置

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