JPS60160597A - 断層撮影装置 - Google Patents

断層撮影装置

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Publication number
JPS60160597A
JPS60160597A JP59015807A JP1580784A JPS60160597A JP S60160597 A JPS60160597 A JP S60160597A JP 59015807 A JP59015807 A JP 59015807A JP 1580784 A JP1580784 A JP 1580784A JP S60160597 A JPS60160597 A JP S60160597A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
circuit
control signal
ray tube
tube current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59015807A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidefumi Suzuki
英文 鈴木
Katsuhiro Masuo
克裕 増尾
Hideyuki Moriya
英之 森谷
Takeshi Inoue
武志 井上
Yasuyoshi Doi
土井 泰敬
Takeshi Shimakawa
嶋川 猛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP59015807A priority Critical patent/JPS60160597A/ja
Publication of JPS60160597A publication Critical patent/JPS60160597A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/34Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、断層撮影装置に関し、特に、X線管装置と
受像手段とが軌道運転中に、軌道に応じて照射X線量を
変化させるようにしたX線制御装置を有する断層撮影装
置に関する。
(ロ)従来技術 通常の平行平面式のX線断層撮影装置は、第1図に示す
ように、X線管lとフィルム2とを、テーブル3上の被
検者4を間に挟んで対向配置し、被検者4の体内の任意
の位置に設定された断層面5に平行な平面6.7上をX
線管lとフィルム2とがそれぞれ移動できるようにして
おいて、これら両者を断層面5の中心点0を中心に対称
的に移動させるようにして構成されている。そして上記
の面6.7上での移動軌跡は直線、円、楕円、ハイポサ
イクロイダルおよびうす巻き軌道などの種々のものが採
用されている。
ところで、一般に断層撮影の目的は、截断面の像を正確
に読影することであると言える。それゆえ、正確な読影
の障害となる障害陰影をできる限り目立たなくするか、
障害陰影を見わけ易くする必要がある。従来、多軌道断
層撮影装置を用いた撮影では、撮影部位や撮影軌道の種
類により載断面以外の像が截断面の像の読影の障害とな
る場合があり、この影響をなくすためX線管装置の速度
を変化させたり、管電流を制御したり(特公昭58−2
0117)l、ている。ところが、前者は構造上困難な
点が多く、また後者は、X線管のフィラメント加熱回路
に3端子双方向性スイツチング素子を挿入し、位相制御
により管電流を制御するものであるため、特に管電流が
小さいとき管電流のリップルが大きくなり、フィルムに
むらが生じるという問題がある。
すなわち、断層撮影においては、X線管の移動に伴ない
、軌道上の任意の位置におけるフィルム面到達線量Iは
、FFD(X線管焦点−フィルム間圧#)による減弱f
(θ)、被写体による減弱g(θ)、X線管移動量によ
るX線量の変化h(0)、X線管電流A(θ)により、 I = K−A (θ)・f(0)・g(θ)・h(0
)となる。但しθは第1図に示すようにX線管領斜角度
、Kは定数である。ところがf(θ)は構造」二制御不
可であり、g(θ)は被写体に依存するため制御不可で
ある。上記の前者ではh(θ)を制御しようというので
あるが、上記のように機構およびその制御が複雑となる
。そこでA(θ)を制御して工を制御することが最善と
考えられ、これを実現するものが上記の後者であるが、
上記のように問題がある。
(ハ)目的 この発明は、X線管電流を制御することにより照射X線
量を変化させ、しかも管電流のリップルが少なくてむら
のない画像を得ることができ、且つ簡単な構成のX線制
御装置を備える断層撮影装置を提供することを目的とす
る。
(ニ)構成 この発明の断層撮影装置では、X線管のフィラメント加
熱回路にトランジスタを挿入し、設定された軌道に応じ
て初期値より時間的に変化していく制御信号を発生する
信号発生回路を設け、この制御信号に応じてトランジス
タを駆動することによりX線管電流を変化させて到達X
線量を一定にするようにしている。
(ホ)実施例 以下に示す実施例は、この発明を種々の軌道をとること
ができる多軌道X線断層撮影装置に適用したものである
。種々の軌道をとることができるようにするためには回
転運動と直線運動とを組合せなければならないので、模
式的に表現すると、第2図に示すようにX線管1は直線
運動4!1構9とこの直線運動機構9を回転させる回転
運動機構8とによって保持されていることになる。この
第2図には示していないが、フィルム2は中心点0(第
1図参照)を支点として回動可能に支持された連結レバ
ーを介してX線管lと連結され、X線管lがうす巻き軌
道などの種々の軌道上を運動したときこのX線管lの運
動に対して点0を中心としてフィルム2が対称的に運動
するように之れている。このような相対運動を実現する
機構はX線断層撮影装置において従来より一般に用いら
れているので説明は省略する。
X線制御装置は第3図のように構成される。第3図にお
いて、X線管lのフィラメントには電源llよりトラン
ス12を介してフィラメント加熱電圧が加えられている
。このフィラメント加熱回路のトランス12の1次側に
トランジスタ13が挿入され、加熱電力を制御している
。このトランジスタ13は駆動回路14で駆動され、電
圧検出回路16によって検出されたフィラメント電圧と
制御電圧とが比較回路17て比較され、その比較結果に
基づき駆動回路14が制御されることにより、フィラメ
ント電圧の制御が行なわれる。通常のX線制御装置では
管電流設定用スイッチ18から比較回路17に、選択さ
れた軌道に応じた一定の制御電圧が与えられるが、この
実施例では管電流設定用スイッチ18と比較回路17と
の間に1点鎖線で囲まれた回路が挿入されている。
スイッチ18で選択された管電流の値はOFアンプ21
で構成されるバッファを通ってOPアンプ22よりなる
加算回路に送られ、OPアンプ24とコンデンサ25等
からなる積分回路の出力と加算される。スイッチ23は
管電流の初期値を設定するためのものである。またスイ
ッチ26は、選択された軌道に応じて積分定数を設定す
るためのスイッチであり、軌道別に管電流変化を設定で
きるようになっている。スイッチ27.28はコンデン
サ25を短絡するためのスイッチであり、スイッチ27
は管電流を変化させたくないときにオンにする。スイッ
チ28がX線曝射に応じてオフになり、積分動作を開始
させる。ツェナダイオード29は積分動作を制限するも
ので、管電流変化に制限を加えるために接続されている
任意の軌道を選択し、これに応じてX線管電流を時間的
に変化させる場合について説明する。まずスイッチ18
でV電流値が選択され、次にスイッチ23で管電流値の
初期値が設定される。これらは選択された軌道に応じて
設定される。さらにスイッチ26により、選択された軌
道に応じた管電流変化をもたらす積分定数の設定が行な
われる。そしてスイッチ27はオフにされる。軌道運転
が開始し、X線の曝射が始まると、曝射スイッチ28が
オフになる。するとこの積分回路の積分動作が開始して
、積分電圧が徐々に高まってい〈。この積分電圧は加算
回路でバッファからの出力電圧と加算され、加算回路か
らは初期値より時間的に徐々に高くなる電圧が出力され
、これが制御信号として比較回路17に送られる。一方
フィラメント電圧は電圧検出回路16で検出されていて
、この検出電圧と上記の制御信号との比較が行なわれ、
その差が比較回路17から駆動回路14に送られる。し
たがってトランジスタ13が、上記の差がなくなるよう
制御されることになり、管電流が制御信号に応じて変化
させられることになる。この実施例では積分回路が用い
られているので、管電流は時間とともに直線的に増加し
、ツェナダイオード29により′その増加が停止させら
れる。
管電流を一定にしたい場合は次のようにする。
スイ・ンチ18で管電流を設定するとともに、スイッチ
23で初期値を設定し、加算回路の出力がスイッチ18
から出力される電圧と等しくなるようにする。そしてス
イッチ27をオフとしておけば、積分動作は行なわれな
いので、比較回路17に加えられる制御信号は初期値の
まま一定のちのとなる。
なお、積分回路の代りに関数発生回路を用いれば、任意
の関数に応じて変化する制御信号を得ることができ、単
に管電流を直線的に増加させるだけでなく、種々の変化
態様で管電流を変化させることができる。
ここで、あらかじめ定めた変化態様にしたがって管電流
を時間的に変化させているが、これは軌道の選択が行な
われれば、角度θ(第1図参照)の時間的な変化がおの
ずから決まってしまうことが基礎になっている。すなわ
ち、角度θは時間tの関数であり、上記の式で言えばA
(0)が時間tで制御されることになり、これによりA
(θ)を制御してフィルム面到達線1%Iを一定にする
ことが実現されている。そしてフィラメント加熱回路に
挿入されたトランジスタ13により管電流の制御を行な
っているため、管電流のリップルが少なくなる。
(へ)効果 この発明によれば、X線管電流を制御することにより到
達線量を一定に保つことができるとともに、管電流変化
の全般にわたって管電流のリップルを小さくでき1画面
の全体にむらのない画像が得られる。しかも付加する回
路は簡単な構成となっており、簡便に実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は断層撮影装置の動作を説明するための模式図、
第2図はこの発明の一実施例にかかる断層撮影装置の運
動機構を模式的に示す斜視図、第3図は同実施例のX線
制御装置を示すブロック図である。 l・・・Xi管 2・・・フィルム 3・・・テーブル 4・・・被検者 5・・・断層面 8・・・回転運動機構9・・・直線運
動機構 11・・・電源12・・・トランス 13・・
・トランジスタ14・・・駆動回路 16・・・電圧検
出回路17・・・比較回路 18・・・管電流設定用スイッチ 21・・・バッファ用OFアンプ 22・・・加算用OPアンプ 23・・・初期値設定用スイッチ 24・・・積分用OFアンプ 25・・・積分用コンデンサ 26・・・軌道選択用スイッチ 29・・・ツェナダイオード 出願人 株式会社島津製作所 第1頁の続き 0発 明 者 土 井 泰 敬 京都市中京区西条工場
内 0発 明 者 嶋 川 猛 京都市中京区西条工場内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)X線管装置と、被写体を透過したX線が入射する
    よう被写体を挟んで上記X線管装置に対して対向配置さ
    れる受像手段と、上記X線管装置と受像手段とを被写体
    中に設定された断層面上の中心点を中心として対称的に
    移動させる移動手段と、設定された軌道に応じて初期値
    より時間的に変化していく制御信号を発生する信号発生
    回路と、上記X線管装置のフィラメント加熱回路に挿入
    されており、上記制御信号に応じて駆動されることによ
    りX線管電流を変化させるトランジスタとからなる断層
    撮影装置。
JP59015807A 1984-01-31 1984-01-31 断層撮影装置 Pending JPS60160597A (ja)

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JP59015807A JPS60160597A (ja) 1984-01-31 1984-01-31 断層撮影装置

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JP59015807A JPS60160597A (ja) 1984-01-31 1984-01-31 断層撮影装置

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JPS60160597A true JPS60160597A (ja) 1985-08-22

Family

ID=11899114

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JP59015807A Pending JPS60160597A (ja) 1984-01-31 1984-01-31 断層撮影装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59160826U (ja) * 1983-04-13 1984-10-27 川崎重工業株式会社 過給空気のユニツト式冷却装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59160826U (ja) * 1983-04-13 1984-10-27 川崎重工業株式会社 過給空気のユニツト式冷却装置

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