JPS61159785A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS61159785A JPS61159785A JP42485A JP42485A JPS61159785A JP S61159785 A JPS61159785 A JP S61159785A JP 42485 A JP42485 A JP 42485A JP 42485 A JP42485 A JP 42485A JP S61159785 A JPS61159785 A JP S61159785A
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- semiconductor
- resonating
- laser
- light
- lasers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は複数個の半導体レーザがモノリシックに形成さ
れた半導体装置に関する。
れた半導体装置に関する。
従来1例えば特開昭59−128に開示されているよう
に、半導体レーザまたは発光ダイオード(LED)を複
数個用いて光走査装置を設計する場合、第3図に示すよ
うに発光体からの光の出射方向が一点ρ0で交わるよう
に光源を配置し、複数の走査スポットを良好な結像状態
を保ちながら被走査面(不図示)に対して走査できるよ
う工夫されていた。
に、半導体レーザまたは発光ダイオード(LED)を複
数個用いて光走査装置を設計する場合、第3図に示すよ
うに発光体からの光の出射方向が一点ρ0で交わるよう
に光源を配置し、複数の走査スポットを良好な結像状態
を保ちながら被走査面(不図示)に対して走査できるよ
う工夫されていた。
第3図はその典型的な従来例を示したものであり、光源
と偏向器の間の光学系を偏向走査面と垂直な方向から見
た図である。 31a 、 31bは半導体レーザであ
り、各レーザはマウント32の上にその光束発生面がマ
ウント32の端面と平行になるように配されている。半
導体レーザ31a、31bが設けられているマウント3
2の端面32a、32bは、各レーザ31a、31bか
らの発散光束の中心光線ha。
と偏向器の間の光学系を偏向走査面と垂直な方向から見
た図である。 31a 、 31bは半導体レーザであ
り、各レーザはマウント32の上にその光束発生面がマ
ウント32の端面と平行になるように配されている。半
導体レーザ31a、31bが設けられているマウント3
2の端面32a、32bは、各レーザ31a、31bか
らの発散光束の中心光線ha。
hbが同一の点poを通過して来たかの如く設定される
。換言すれば、半導体レーザ(31a 、 31b)が
設けられる位置で、端面32aと32bに各々法線をた
てると、各々の法線がPGを通過するように、端面32
aと32bは設定されている。更に、偏向走査面と平行
な方向から見れば、各々の半導体レーザの中心光線ha
、 hbのP、点を通過する位置が、偏向走査面と直交
する方向にわずかに変位するように、マウント32上に
設けられる半導体レーザの位置は設定される。上記20
点と偏向器の偏向反射面33の所定の近傍の点Pとは、
結像レンズ34により光学的共役な関係に保たれている
。
。換言すれば、半導体レーザ(31a 、 31b)が
設けられる位置で、端面32aと32bに各々法線をた
てると、各々の法線がPGを通過するように、端面32
aと32bは設定されている。更に、偏向走査面と平行
な方向から見れば、各々の半導体レーザの中心光線ha
、 hbのP、点を通過する位置が、偏向走査面と直交
する方向にわずかに変位するように、マウント32上に
設けられる半導体レーザの位置は設定される。上記20
点と偏向器の偏向反射面33の所定の近傍の点Pとは、
結像レンズ34により光学的共役な関係に保たれている
。
このように、複数個の半導体発光素子(例えば半導体レ
ーザ)をそれぞれの光の出射方向が異なるように配置す
るためには、上記例に示したようにマウント上に位置合
せをしてハイブリッドに構成する必要があった。以下便
宜上、複数個の半導体発光素子としてアレーレーザとい
う言葉を使用するが、原理的にはLEDアレーのような
発光体にも当てはまる。
ーザ)をそれぞれの光の出射方向が異なるように配置す
るためには、上記例に示したようにマウント上に位置合
せをしてハイブリッドに構成する必要があった。以下便
宜上、複数個の半導体発光素子としてアレーレーザとい
う言葉を使用するが、原理的にはLEDアレーのような
発光体にも当てはまる。
また、モノリシックに形成されたアレーレーザを使用す
る場合には、アレーレーザの前面に何らかの光学系を設
置する必要がある。特開昭58−211735に開示さ
れている例としては、プリズムが7レーレーザの前面に
配置されている。これを第4図に示す。
る場合には、アレーレーザの前面に何らかの光学系を設
置する必要がある。特開昭58−211735に開示さ
れている例としては、プリズムが7レーレーザの前面に
配置されている。これを第4図に示す。
第4図は半導体アレーレーザが5つの発光部を有する場
合のプリズムの断面を示すものである。
合のプリズムの断面を示すものである。
4!は5つの発光部(41a、 41b、 41c、
41d、 41e)を有する半導体アレーレーザであり
、42はプリズムである9発光部41aからの光束の中
心光!ahaは傾斜面42aにより屈折されあたかもp
oを通過して来たかのように曲げられる。同じ<41b
からの中心光線hbは傾斜面42bにより、41dから
の中心光線hdは傾斜面42dにより、41eからの中
心光線heは傾斜面42eにより、それぞれあたかもp
oを通過して来たかのように曲げられる。なお41cか
らの中心光11hcは平面42cを垂直に通過して行き
、この中心光11hcの延長線上に20が存在する。こ
のように各発光部に対応して傾斜角を定めた傾斜平面が
設けられ、プリズム42を出射後の各光束の中心光線は
、あたかもPoから出射したかのようにその方向を制御
されている。このPoは前述したように偏向反射面の近
傍の所望の位1tP(不図示)と光学系を介して共役に
保たれる。
41d、 41e)を有する半導体アレーレーザであり
、42はプリズムである9発光部41aからの光束の中
心光!ahaは傾斜面42aにより屈折されあたかもp
oを通過して来たかのように曲げられる。同じ<41b
からの中心光線hbは傾斜面42bにより、41dから
の中心光線hdは傾斜面42dにより、41eからの中
心光線heは傾斜面42eにより、それぞれあたかもp
oを通過して来たかのように曲げられる。なお41cか
らの中心光11hcは平面42cを垂直に通過して行き
、この中心光11hcの延長線上に20が存在する。こ
のように各発光部に対応して傾斜角を定めた傾斜平面が
設けられ、プリズム42を出射後の各光束の中心光線は
、あたかもPoから出射したかのようにその方向を制御
されている。このPoは前述したように偏向反射面の近
傍の所望の位1tP(不図示)と光学系を介して共役に
保たれる。
この場合の問題点はプリズム42の微細加工精度及び方
法、プリズム42とアレーレーザ41との位置合せ及び
接合方法などであり、アレーレーザのピッチが小さくな
る程難しくなる。実際、!OOμs以下ではほぼ不可能
である。
法、プリズム42とアレーレーザ41との位置合せ及び
接合方法などであり、アレーレーザのピッチが小さくな
る程難しくなる。実際、!OOμs以下ではほぼ不可能
である。
一方、第5図は光学系即ちリレー光学系53で同様の効
果を持たせようとしたもので、アレーレーザ51a、5
1bから出射した光を平行化して結像させるコリメータ
レンズ52とシリンドリカルレンズ55との間にリレー
光学系53を介在させてポリゴン面54に結像した例で
あり、良好な結像状態で被走査面(不図示)上に結像さ
れる。
果を持たせようとしたもので、アレーレーザ51a、5
1bから出射した光を平行化して結像させるコリメータ
レンズ52とシリンドリカルレンズ55との間にリレー
光学系53を介在させてポリゴン面54に結像した例で
あり、良好な結像状態で被走査面(不図示)上に結像さ
れる。
この場合の問題点は光路長であり、リレー系自体で約2
0cm長くなってしまう。
0cm長くなってしまう。
本発明の目的は、ハイブリッドに半導体発光体を配置す
ることに起因する位置合せ誤差や集積密度の制限を排除
すると共に、光出射方向が一定でかつモノリシックに形
成されたアレーレーザを使用する場合のような付加光学
系の煩雑さを避けることを可能にする半導体装置を提供
することにある。
ることに起因する位置合せ誤差や集積密度の制限を排除
すると共に、光出射方向が一定でかつモノリシックに形
成されたアレーレーザを使用する場合のような付加光学
系の煩雑さを避けることを可能にする半導体装置を提供
することにある。
本発明による半導体装置は、複数個の半導体レーザがモ
ノリシックに形成されている半導体装置において、上述
の半導体レーザのそれぞれの共振方向と共振面とのなす
角が異なるように形成し、これら半導体レーザのそれぞ
れからの光が共振面から射出される時点でそれぞれの光
出射方向が異なっていることを特徴とする。
ノリシックに形成されている半導体装置において、上述
の半導体レーザのそれぞれの共振方向と共振面とのなす
角が異なるように形成し、これら半導体レーザのそれぞ
れからの光が共振面から射出される時点でそれぞれの光
出射方向が異なっていることを特徴とする。
なお、以下の記載において用いられる「それぞれのレー
ザからの光の出射方向が異なる」という表現は同一方向
に出射するものが1組もないという意味ではなく、広義
には出射方向の異なるものが1組以上存在するという意
味である。
ザからの光の出射方向が異なる」という表現は同一方向
に出射するものが1組もないという意味ではなく、広義
には出射方向の異なるものが1組以上存在するという意
味である。
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
する。
第1rI4に本発明の一実施例を示す0図中、11〜1
5は個々の半導体レーザを示し、1la−15aは各半
導体レーザU〜15における電流の注入域、即ち発光域
に対応する。そして、この注入域11a〜15aの延長
線(以下、共振方向と称する。 ) ttb〜tsbと
共振面lθおよび17に立てた法線18とのなす角がそ
れぞれφa、φb、φC9φd、φeとなるように形成
されている。
5は個々の半導体レーザを示し、1la−15aは各半
導体レーザU〜15における電流の注入域、即ち発光域
に対応する。そして、この注入域11a〜15aの延長
線(以下、共振方向と称する。 ) ttb〜tsbと
共振面lθおよび17に立てた法線18とのなす角がそ
れぞれφa、φb、φC9φd、φeとなるように形成
されている。
なお、共振面18および17は1通常基板として用いら
れる結晶(例えばGal1g)のへき開面が利用される
ので平行であるが、ドライエツチングのように平行度が
若干異なる可能性のあるような場合には、レーザ出射前
面側の共振面1Bを基準に考える。
れる結晶(例えばGal1g)のへき開面が利用される
ので平行であるが、ドライエツチングのように平行度が
若干異なる可能性のあるような場合には、レーザ出射前
面側の共振面1Bを基準に考える。
共振面IBおよび17で共振した光はレーザ光として共
振面18より出射する時、はぼスネルの法則に従って曲
げられる0図中、llc〜15cは光出射方向を示す。
振面18より出射する時、はぼスネルの法則に従って曲
げられる0図中、llc〜15cは光出射方向を示す。
ここで、任意の光出射方向と法線!Bとのなす角、すな
わち出射角をθとすれば、n/no=sinθ/gin
φの関係が成り立つ0例jJfGaAs結晶から出射す
る場合を考えると、n(結晶の屈折:J)は約3.5、
l1o(空気の屈折率)は約1であるので、φを1度に
選べば、レーザ光は法線18に対して約3.5度傾いて
出射する。
わち出射角をθとすれば、n/no=sinθ/gin
φの関係が成り立つ0例jJfGaAs結晶から出射す
る場合を考えると、n(結晶の屈折:J)は約3.5、
l1o(空気の屈折率)は約1であるので、φを1度に
選べば、レーザ光は法線18に対して約3.5度傾いて
出射する。
第1図に示す実施例では、φa、φb、ΦC1φd、φ
eをそれぞれ÷1.0度、 +0.5度、0.0度。
eをそれぞれ÷1.0度、 +0.5度、0.0度。
−〇、5度、−1.0度に設定することにより、出射角
θa、θb、θC1θd、θeがそれぞれ會3.5度、
今1.75度、0.0度、 −1,75度、−3,5
度となるようなアレーレーザを作成することができた。
θa、θb、θC1θd、θeがそれぞれ會3.5度、
今1.75度、0.0度、 −1,75度、−3,5
度となるようなアレーレーザを作成することができた。
第2図は第1図のA−A ’線からみた断面図である。
以下、この図を用いて製造プロセスを詳しく述べる。
まず、n型GaAs基板21上に順次、バッファ層とし
てn型GaAs22をIgm、クラッド層としてn型A
lGaAs23を2鱗、活性層としてノンドープのGa
Ag24を0.08g、クラッド層としてp型AjGa
As25を165μs、キ+ ?プ層としテn” @
GaAs2Bを0.1鱗1分子線エピタキシ法によって
作成した。
てn型GaAs22をIgm、クラッド層としてn型A
lGaAs23を2鱗、活性層としてノンドープのGa
Ag24を0.08g、クラッド層としてp型AjGa
As25を165μs、キ+ ?プ層としテn” @
GaAs2Bを0.1鱗1分子線エピタキシ法によって
作成した。
続いて電流注入域を制限するため、プラズマCVD法に
より窒化シリコンIt!1127を0.2鱗積層した後
、フォトリンゲラフィブロセスによって窒化シリコン膜
の一部(第1図の1la−15aの領域)を除去した。
より窒化シリコンIt!1127を0.2鱗積層した後
、フォトリンゲラフィブロセスによって窒化シリコン膜
の一部(第1図の1la−15aの領域)を除去した。
ストライプ幅(注入域の@W)は5μsである。また、
5木のストライプはそれぞれ0.5度の角度をもって形
成されている。
5木のストライプはそれぞれ0.5度の角度をもって形
成されている。
次に、上部電極としてCr−Auオーミック電極を形成
し、エツチングで分離してlid N15dの5つの独
立な電極にした。
し、エツチングで分離してlid N15dの5つの独
立な電極にした。
また、GaAs基板21はラッピングで100μsの厚
さまでけずった後、n型用オーミック電極29としてA
u−Ge電極を蒸着した。
さまでけずった後、n型用オーミック電極29としてA
u−Ge電極を蒸着した。
続いて拡散のための熱処理を行った後、第1図に示され
るように共振面18.17をへき開した。 19の面に
ついてはスクライブで分離した。なお、各々のレーザの
ピッチは共振面1Bにおいて100−である、一方、電
極lid N15dのそれぞれはワイヤボンディング(
不図示)により独立に取出した。
るように共振面18.17をへき開した。 19の面に
ついてはスクライブで分離した。なお、各々のレーザの
ピッチは共振面1Bにおいて100−である、一方、電
極lid N15dのそれぞれはワイヤボンディング(
不図示)により独立に取出した。
ここで、キャビティ長(共振面1Bと17の間隔)は3
00鱗である。
00鱗である。
これにより光出射方向が同一面内でそれぞれ1.75度
ずつ異なる5つのレーザをモノリシックに形成すること
ができた。
ずつ異なる5つのレーザをモノリシックに形成すること
ができた。
一般に、注入域(共振方向)と共振面を直角に保ちなが
ら半導体レーザの光出射方向を異ならせるためには、共
振面を光出射方向のずれθと同じだけ角度をもたせて形
成せねばならない、この場合、共振面を直線的に形成す
ることはできないので、従来確立されているへき開の技
術を用いることは不可能である。従って、θずつずれた
ようなフォトマスクを使ってドライプロセスエツチング
等で形成する必要がある。この場合、共振面が不均一と
なって反射率が低下したり、!8の共振面を活性層24
の面に対して直角に形成できないため発振しきい値電流
が増加する、等の問題が生じる。
ら半導体レーザの光出射方向を異ならせるためには、共
振面を光出射方向のずれθと同じだけ角度をもたせて形
成せねばならない、この場合、共振面を直線的に形成す
ることはできないので、従来確立されているへき開の技
術を用いることは不可能である。従って、θずつずれた
ようなフォトマスクを使ってドライプロセスエツチング
等で形成する必要がある。この場合、共振面が不均一と
なって反射率が低下したり、!8の共振面を活性層24
の面に対して直角に形成できないため発振しきい値電流
が増加する、等の問題が生じる。
本発明による半導体装置によれば、前述したように各レ
ーザの共振方向と共振面とのなす角が異なるように形成
されているため共振面を臂開で形成でき、このような問
題は生じない。
ーザの共振方向と共振面とのなす角が異なるように形成
されているため共振面を臂開で形成でき、このような問
題は生じない。
本発明による半導体装置では、へき開面を用いて光出射
方向の異なるアレーレーザを作成しているが1本発明が
へき開面を用いたアレーレーザに限定される訳ではない
、実装上の都合により、例えば片面、あるいは両面にウ
ェットプロセスまたはドライプロセス等で作成された共
振面を採用することも可能である。
方向の異なるアレーレーザを作成しているが1本発明が
へき開面を用いたアレーレーザに限定される訳ではない
、実装上の都合により、例えば片面、あるいは両面にウ
ェットプロセスまたはドライプロセス等で作成された共
振面を採用することも可能である。
また、角度φについては、あまり大きくとると共振面へ
の入射角が大きくなって反射率が低下するので、φとし
ては±15度以内が適当である。特に、小が±3度くら
いまでは発振しきい値電流の上昇も10〜20%程度で
、駆動上容易である。しかも、光出射角0を±lO°程
度まで変更することが可能である。
の入射角が大きくなって反射率が低下するので、φとし
ては±15度以内が適当である。特に、小が±3度くら
いまでは発振しきい値電流の上昇も10〜20%程度で
、駆動上容易である。しかも、光出射角0を±lO°程
度まで変更することが可能である。
本実施例ではGaAs系を用いたストライプ電極型レー
ザ(利得導波型レーザの一種)を例にとって述べたが、
他の利得導波型1例えばプロトンボンバード型にも適用
可能であり、また、BH構造。
ザ(利得導波型レーザの一種)を例にとって述べたが、
他の利得導波型1例えばプロトンボンバード型にも適用
可能であり、また、BH構造。
リッジウェーブ構造等の屈折率導波型のレーザに対して
も有効である。
も有効である。
また、レーザ間の間隔や光出射方向のずれθは一般的に
は一定値を用いるのが装置設計上便利である。しかしな
がら、必ずしも一定値をとる必要はない。
は一定値を用いるのが装置設計上便利である。しかしな
がら、必ずしも一定値をとる必要はない。
加えて、半導体レーザの材料はCaAs * An G
aAg系の他、 InP m l1GaAsP系、
MGalnP系等の材料に対しても同様にあてはまるの
は言うまでもない。
aAg系の他、 InP m l1GaAsP系、
MGalnP系等の材料に対しても同様にあてはまるの
は言うまでもない。
以上説明したように本発明は、電流注入域(共振方向)
と共・振面とのなす角が少しずつ変化するよう形成され
ているので、共振面にへき開面を用いてしかも光出射方
向が異なるようなモノリシックなアレーレーザを作成す
ることができる効果を有する。また、この光出射方向の
異なるアレーレーザを用いることにより、多数の点から
のレーザ光を走査光学系を用いて媒体上に良好に結像さ
せることができるので、レーザビームプリンタ等の光学
装置の光源としては極めて有利である。
と共・振面とのなす角が少しずつ変化するよう形成され
ているので、共振面にへき開面を用いてしかも光出射方
向が異なるようなモノリシックなアレーレーザを作成す
ることができる効果を有する。また、この光出射方向の
異なるアレーレーザを用いることにより、多数の点から
のレーザ光を走査光学系を用いて媒体上に良好に結像さ
せることができるので、レーザビームプリンタ等の光学
装置の光源としては極めて有利である。
第1図は本発明による半導体装置の一実施例を示す平面
図、第2図は第1図のA−A ’線からみた断面図、第
3図はレーザがハイブリッドに配置された従来例、第4
図は出射方向一定の7レーレーザとプリズムを合体して
出射方向を異ならせた従来例、第5図は出射方向一定の
7レーレーザを光学系で補正しようとした場合の従来例
である。 11〜15・・・半導体レーザ、11b〜15b・・・
共振方向。 18、17・・・共振面、 1lc−15c・・
・光出射方向。 第3図 第4図
図、第2図は第1図のA−A ’線からみた断面図、第
3図はレーザがハイブリッドに配置された従来例、第4
図は出射方向一定の7レーレーザとプリズムを合体して
出射方向を異ならせた従来例、第5図は出射方向一定の
7レーレーザを光学系で補正しようとした場合の従来例
である。 11〜15・・・半導体レーザ、11b〜15b・・・
共振方向。 18、17・・・共振面、 1lc−15c・・
・光出射方向。 第3図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数個の半導体レーザがモノリシックに形成されている
半導体装置において、 前記半導体レーザのそれぞれの共振方向と共振面とのな
す角が異なるように形成し、該半導体レーザのそれぞれ
からの光が該共振面から射出される時点でそれぞれの光
出射方向が異なっていることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP42485A JPS61159785A (ja) | 1985-01-08 | 1985-01-08 | 半導体装置 |
GB08528248A GB2169134B (en) | 1984-11-16 | 1985-11-15 | Multibeam emitting device |
FR858516920A FR2582154B1 (fr) | 1984-11-16 | 1985-11-15 | Dispositif d'emission de faisceaux multiples comportant des elements semiconducteurs en particulier des diodes lasers |
US07/312,311 US4971415A (en) | 1984-11-16 | 1989-02-17 | Multibeam emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP42485A JPS61159785A (ja) | 1985-01-08 | 1985-01-08 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61159785A true JPS61159785A (ja) | 1986-07-19 |
JPH0552679B2 JPH0552679B2 (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=11473422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP42485A Granted JPS61159785A (ja) | 1984-11-16 | 1985-01-08 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61159785A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5467392A (en) * | 1977-11-08 | 1979-05-30 | Nec Corp | Composite semiconductor device |
JPS59126A (ja) * | 1982-06-25 | 1984-01-05 | Canon Inc | 複数ビ−ム走査装置 |
JPS59169190A (ja) * | 1983-03-16 | 1984-09-25 | Hitachi Ltd | 発光半導体装置 |
-
1985
- 1985-01-08 JP JP42485A patent/JPS61159785A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5467392A (en) * | 1977-11-08 | 1979-05-30 | Nec Corp | Composite semiconductor device |
JPS59126A (ja) * | 1982-06-25 | 1984-01-05 | Canon Inc | 複数ビ−ム走査装置 |
JPS59169190A (ja) * | 1983-03-16 | 1984-09-25 | Hitachi Ltd | 発光半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0552679B2 (ja) | 1993-08-06 |
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