JPS61155942A - 容器の天面を検査する機構 - Google Patents
容器の天面を検査する機構Info
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- JPS61155942A JPS61155942A JP59280776A JP28077684A JPS61155942A JP S61155942 A JPS61155942 A JP S61155942A JP 59280776 A JP59280776 A JP 59280776A JP 28077684 A JP28077684 A JP 28077684A JP S61155942 A JPS61155942 A JP S61155942A
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- Japan
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 42
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0078—Testing material properties on manufactured objects
- G01N33/0081—Containers; Packages; Bottles
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は容器、例えばびんのひび割れの有無等を検査す
るのに好適な容器の検査機構に関するものである。
るのに好適な容器の検査機構に関するものである。
一般に、容器、例えば、びんの中に内容物を充填する際
、先ずびんを洗浄し、洗浄した多数のびんをベルトコン
ベアで充填位置に搬送し、夫々のびんに内容物を充填す
るようにしている。しかし、洗浄ミスが原因でびんの内
面には付着物が残ることがある。このような付着物がつ
いたびんに内容物を充填して商品にすることは好ましく
ない。又、傷やひび割れ等のあるびんに内容物を充填し
て商品にすることも好ましくない。
、先ずびんを洗浄し、洗浄した多数のびんをベルトコン
ベアで充填位置に搬送し、夫々のびんに内容物を充填す
るようにしている。しかし、洗浄ミスが原因でびんの内
面には付着物が残ることがある。このような付着物がつ
いたびんに内容物を充填して商品にすることは好ましく
ない。又、傷やひび割れ等のあるびんに内容物を充填し
て商品にすることも好ましくない。
そこでびんの中に内容物を充填する前にびんにひび割れ
等があるか否かを検査することが試みられている。
等があるか否かを検査することが試みられている。
従来、この種の検査機構は、直線移動して来たびんの一
側に配置された光源によってびんに光を照射しつつびん
を回転させ、このびんを透過した光をびんの他側に配置
された光電変換器で受け、びんの透過光の強弱によって
びんの外周全体に亘ってひび割れや付着物等があるか否
かを検査するようにしていた。
側に配置された光源によってびんに光を照射しつつびん
を回転させ、このびんを透過した光をびんの他側に配置
された光電変換器で受け、びんの透過光の強弱によって
びんの外周全体に亘ってひび割れや付着物等があるか否
かを検査するようにしていた。
しかしながら、かかる検査機構では光源と光電変換器と
が検査位置に設置され且つ検査すべき複数のびんがベル
トコンベア上で一定の間隔をあけて配置されているため
に一つのびんを検査してから次のびんが検査位置に来る
迄の間検査を持たなければならなかった。このため全体
の検査時間が有効に活用されていなかった。
が検査位置に設置され且つ検査すべき複数のびんがベル
トコンベア上で一定の間隔をあけて配置されているため
に一つのびんを検査してから次のびんが検査位置に来る
迄の間検査を持たなければならなかった。このため全体
の検査時間が有効に活用されていなかった。
本発明の目的は上記の如き従来技術の欠点を改善した容
器の検査機構を提供することにある。
器の検査機構を提供することにある。
上記従来技術の欠点を解決するために本発明では一つの
びんから次のびん迄の間を検査時間に用いて検査のむだ
時間を省き且つ検査の精度を向上させたものである。
びんから次のびん迄の間を検査時間に用いて検査のむだ
時間を省き且つ検査の精度を向上させたものである。
実施例
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。
。
第１図を参照すると、本発明に係る容器の検査機構が示
しである。この検査機構は検査すべき容器、例えばびん
１０を移動する搬送装置２０を備えている。この搬送装
置は図示の実施例ではびんを直線方向に移動する直線移
動手段２１とびんｔ回転させる回転手段２２とから成っ
ている。
しである。この検査機構は検査すべき容器、例えばびん
１０を移動する搬送装置２０を備えている。この搬送装
置は図示の実施例ではびんを直線方向に移動する直線移
動手段２１とびんｔ回転させる回転手段２２とから成っ
ている。
直線移動手段２１は図示の場合には多数のびんを長手方
向に間隔をあげて支持する通常のベルトコンベア２３か
ら成っている。
向に間隔をあげて支持する通常のベルトコンベア２３か
ら成っている。
回転手段２２は図示の場合にはベルトコンベア上にびん
の底部を囲むように配置された複数の回転ローラ２４と
これら回転ローラを回転させる図示しない駆動体とから
成っている。回転手段２２は他の実施例ではびんの両側
に接触する一対のベルトコンベア（図示せず）から成っ
ている。かくして夫々のびん１０はベルトコンベア２３
によって第１図の矢印方向に直線移動され且つ回転ロー
ラ２４によって第１図の矢印方向に回転される。
゛びん１０を検査するための検査装置３０が設けられ、
この検査装置は図示の実施例ではびんの口部１０ａのひ
び割れや傷等を検査するように示されている。この検査
装置は第１図ではびん１０の一側に配置された光源３１
とびんの口部１０ａの上方に配置されたミラー３２とカ
メラ３３とを備えている。
の底部を囲むように配置された複数の回転ローラ２４と
これら回転ローラを回転させる図示しない駆動体とから
成っている。回転手段２２は他の実施例ではびんの両側
に接触する一対のベルトコンベア（図示せず）から成っ
ている。かくして夫々のびん１０はベルトコンベア２３
によって第１図の矢印方向に直線移動され且つ回転ロー
ラ２４によって第１図の矢印方向に回転される。
゛びん１０を検査するための検査装置３０が設けられ、
この検査装置は図示の実施例ではびんの口部１０ａのひ
び割れや傷等を検査するように示されている。この検査
装置は第１図ではびん１０の一側に配置された光源３１
とびんの口部１０ａの上方に配置されたミラー３２とカ
メラ３３とを備えている。
ミラー３２はびんの口部を写す反射面３２ａを有してい
る。カメラ３３のレンズ３３ａはこの反射面３２ａに対
向して配置されている。従って、びんの口部１０ａはミ
ラーの反射面３２ａで写されこの反射面の像をレンズ３
３ａを通してカメラで撮影することができる。
る。カメラ３３のレンズ３３ａはこの反射面３２ａに対
向して配置されている。従って、びんの口部１０ａはミ
ラーの反射面３２ａで写されこの反射面の像をレンズ３
３ａを通してカメラで撮影することができる。
ミラー３２の一側にはシャフト３４が突出して設けられ
、このシャフトはフレーム３５に回転自在に支持されて
いる。このシャフトはモータ３６の駆動軸（図示せず）
に接続されている。このモータは例えばステッピングモ
ータから成りモータドライバー３７に接続され、このモ
ータドライバーは後述するコントローラに接続されてい
る。モータを駆動すると、ミラーが回動し、従って、び
んの口部の検査領域を変えることができる。
、このシャフトはフレーム３５に回転自在に支持されて
いる。このシャフトはモータ３６の駆動軸（図示せず）
に接続されている。このモータは例えばステッピングモ
ータから成りモータドライバー３７に接続され、このモ
ータドライバーは後述するコントローラに接続されてい
る。モータを駆動すると、ミラーが回動し、従って、び
んの口部の検査領域を変えることができる。
コントローラ４０はコンピュータ（図示せず）を有する
。このコンピュータはモータドライバー３７とカメラ３
３に接続されている。コントローラは、又、びんの移動
、特に直線移動速度を検出する手段を有し、この手段は
図示の場合にはベルトコンベア２３の移動距離を検出す
るロータリエンコーダ４１から成っている。このロータ
リエンコーダはベルトコンベアの駆動体（図示せず）に
接続されている。このロータリエンコーダはベルトコン
ベアの移動距離に比例しだパルスを発生する。このパル
スはコンピュータに入力される。このようにしてミラー
はびんの位置に応じて検査に都合のよい移動を行うこと
ができる。
。このコンピュータはモータドライバー３７とカメラ３
３に接続されている。コントローラは、又、びんの移動
、特に直線移動速度を検出する手段を有し、この手段は
図示の場合にはベルトコンベア２３の移動距離を検出す
るロータリエンコーダ４１から成っている。このロータ
リエンコーダはベルトコンベアの駆動体（図示せず）に
接続されている。このロータリエンコーダはベルトコン
ベアの移動距離に比例しだパルスを発生する。このパル
スはコンピュータに入力される。このようにしてミラー
はびんの位置に応じて検査に都合のよい移動を行うこと
ができる。
次に本発明の検査機構の使用状態について述べると以下
の通りである。
の通りである。
第２図に示すように、びん１０がある速度でＡからＡ′
に移動する間、ミラー３２は検査部１に停止しており、
従ってびんの口部はその端部から端部にかけてミラーの
反射面を通してカメラ３３で撮影される。このとき次の
検査すべきびんはＢ′にあるのでミラーを検査部２に移
しびんがＡ′からＡ’に移動する間同じびんをもう一度
検査する。
に移動する間、ミラー３２は検査部１に停止しており、
従ってびんの口部はその端部から端部にかけてミラーの
反射面を通してカメラ３３で撮影される。このとき次の
検査すべきびんはＢ′にあるのでミラーを検査部２に移
しびんがＡ′からＡ’に移動する間同じびんをもう一度
検査する。
びんがＡ“の位置まで進んだ侍医のびんがＡ（Ｂ”）の
位置に来ているのでミラーを検査部１に戻し、次のびん
の検査を始める。このような検査を繰返し行う。
位置に来ているのでミラーを検査部１に戻し、次のびん
の検査を始める。このような検査を繰返し行う。
許される最大検査時間の長さによってはびんの口部の端
部から端部を検査する間ミラーは必ずしも停止しなくて
もよい。
部から端部を検査する間ミラーは必ずしも停止しなくて
もよい。
上記のように、本発明によれば、ぴんとびんとの間の非
検査時間帯を検査時間に使うことができ、このためきわ
めて精密な検査ができるという実益がある。
検査時間帯を検査時間に使うことができ、このためきわ
めて精密な検査ができるという実益がある。
第１図は本発明に係る容器の検査装置の概略構成斜視図
、第２図は検査方法を示す説明図である。 １０・・・びん １０ａ・・・びんの口部 ２０・・・
搬送装置３０・・・検査装置 ４０・・コントローラＪ
、第２図は検査方法を示す説明図である。 １０・・・びん １０ａ・・・びんの口部 ２０・・・
搬送装置３０・・・検査装置 ４０・・コントローラＪ
Claims (4)
- （１）容器を支持して移動させる搬送装置と、容器を検
査する移動可能な検査装置と、該検査装置が前記容器の
移動に追従して移動するように検査装置を制御するコン
トローラとを備えて成る容器の検査機構。 - （２）検査装置が移動可能な撮像手段から成る特許請求
の範囲第１項の機構。 - （３）検査装置が容器の被検査部に対向する反射面を有
する回転可能なミラーと該ミラーの反射面に写った容器
の被検査部を撮影するカメラと前記ミラーを回転させる
モータとを有する特許請求の範囲第１項の機構。 - （４）コントローラが検査装置に接続されたコンピュー
タと、該コンピュータに接続され搬送装置の容器の移動
距離を検出するロータリエンコーダとを有する特許請求
の範囲第１項の機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59280776A JPS61155942A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 容器の天面を検査する機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59280776A JPS61155942A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 容器の天面を検査する機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155942A true JPS61155942A (ja) | 1986-07-15 |
| JPH0469333B2 JPH0469333B2 (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=17629797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59280776A Granted JPS61155942A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 容器の天面を検査する機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155942A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5597220B2 (ja) * | 2012-03-30 | 2014-10-01 | 日本山村硝子株式会社 | ガラス壜のびり検査装置およびそれを用いたびり検査方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4916675A (ja) * | 1972-06-09 | 1974-02-14 | ||
| JPS58150927A (ja) * | 1982-03-04 | 1983-09-07 | Toshiba Glass Co Ltd | 可視方向性を有する物品の可視面の観測装置 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP59280776A patent/JPS61155942A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4916675A (ja) * | 1972-06-09 | 1974-02-14 | ||
| JPS58150927A (ja) * | 1982-03-04 | 1983-09-07 | Toshiba Glass Co Ltd | 可視方向性を有する物品の可視面の観測装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0469333B2 (ja) | 1992-11-05 |
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