JPS61151844A - 光学式再生装置 - Google Patents
光学式再生装置Info
- Publication number
- JPS61151844A JPS61151844A JP59272975A JP27297584A JPS61151844A JP S61151844 A JPS61151844 A JP S61151844A JP 59272975 A JP59272975 A JP 59272975A JP 27297584 A JP27297584 A JP 27297584A JP S61151844 A JPS61151844 A JP S61151844A
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- JP
- Japan
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- optical
- diffraction grating
- beams
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はレーザ光源として半導体レーザ光源を用い次光
学式再生装置、に関し、簡単な光学系で３ビ一ム方式の
トラッキング誤差検出および非点収差法によるフォーカ
ス誤差検出を行なうことを可能にし次光学式再生装置に
関する。
学式再生装置、に関し、簡単な光学系で３ビ一ム方式の
トラッキング誤差検出および非点収差法によるフォーカ
ス誤差検出を行なうことを可能にし次光学式再生装置に
関する。
従来、３ビ一ム方式によるトラッキング誤差検出におい
ては、例えは特り昭５７−２０５８３３号公報に示さｎ
るように、半導体レーザ光源およびビームス１リツタ間
の光路中に位相形回折格子を配置するものが知らｎてい
る。この方法に、簡単な光学系で５ビ一ム方式のトラッ
キング誤差検出を行なうことができるため、光学式のオ
ーディオティスフプレーヤに広く採用されているが、光
束分離手段としてビームスプリッタが、また３ビームを
発生させるために回折格子という高価で特別な光学部品
が別々に必要となるという問題があっ次。ま７？：、非
点収差法によるフォーカス誤差検出においては、非点収
差を発生させるために円柱レンズという高価で特別な光
学部品が必要となるという問題があった。
ては、例えは特り昭５７−２０５８３３号公報に示さｎ
るように、半導体レーザ光源およびビームス１リツタ間
の光路中に位相形回折格子を配置するものが知らｎてい
る。この方法に、簡単な光学系で５ビ一ム方式のトラッ
キング誤差検出を行なうことができるため、光学式のオ
ーディオティスフプレーヤに広く採用されているが、光
束分離手段としてビームスプリッタが、また３ビームを
発生させるために回折格子という高価で特別な光学部品
が別々に必要となるという問題があっ次。ま７？：、非
点収差法によるフォーカス誤差検出においては、非点収
差を発生させるために円柱レンズという高価で特別な光
学部品が必要となるという問題があった。
本発明の目的は、１個の光学部品でビームスプリッタの
機能と３ビ一ム発生の機能を合わせ持つようにし九光学
式再生装置を提供することにある。
機能と３ビ一ム発生の機能を合わせ持つようにし九光学
式再生装置を提供することにある。
さらに、円柱レンズを用いない簡単な構成で非点収差法
による７オーカス誤差検出を行なうことのできる光学式
再生装置を提供することＫある。
による７オーカス誤差検出を行なうことのできる光学式
再生装置を提供することＫある。
上記目的を達成するためＫ、半導体レーザ光源よりの発
散ビームをコリメートレンズにより平行ビームにし、前
記平行ビームを対物レンズにより集束して光学式記録媒
体に照射し、前記光学式記録媒体よシの反射ビームを光
検出器に照射して再生信号を得るようにし交光学式再生
装置において、前記コリメートレンズおよび前記光検出
器間の光路中に、内部に凸凹型のビームスグリツタ面を
備えた反射型回折格子を光軸に対して傾斜させて配置し
、前記半導体レーザ光源よ）の発散ビームを前記ビーム
スグリツタ面で反射させて０次、±１次回折ビームに分
離して前記コリメートレンズに導ひき、前記光学式記録
媒体よりの０次、±１次回折反射ビームをそｎぞｎ第１
．第２および第３の光検出器に照射して、前記＠１の光
検出器よシ再生伯号１凱前記第２及び第３の光検出器よ
シそｎ−＋″ｎトラッキング誤差信号を得るようにし友
ものである。さらに、前記反射型回折格子を、光軸に対
して、前記光学式記録媒体の記録トラック方向に傾斜さ
せ、かつ前記光軸まわシに略４５°回転させて配置して
前記光学式記録媒体よシの反射ビームに非点収差を生じ
せしめ、前記第１の光検出器により前記反射ビームの集
束形状を検出して７オ一カス誤差信号を得るようにし次
ものである。
散ビームをコリメートレンズにより平行ビームにし、前
記平行ビームを対物レンズにより集束して光学式記録媒
体に照射し、前記光学式記録媒体よシの反射ビームを光
検出器に照射して再生信号を得るようにし交光学式再生
装置において、前記コリメートレンズおよび前記光検出
器間の光路中に、内部に凸凹型のビームスグリツタ面を
備えた反射型回折格子を光軸に対して傾斜させて配置し
、前記半導体レーザ光源よ）の発散ビームを前記ビーム
スグリツタ面で反射させて０次、±１次回折ビームに分
離して前記コリメートレンズに導ひき、前記光学式記録
媒体よりの０次、±１次回折反射ビームをそｎぞｎ第１
．第２および第３の光検出器に照射して、前記＠１の光
検出器よシ再生伯号１凱前記第２及び第３の光検出器よ
シそｎ−＋″ｎトラッキング誤差信号を得るようにし友
ものである。さらに、前記反射型回折格子を、光軸に対
して、前記光学式記録媒体の記録トラック方向に傾斜さ
せ、かつ前記光軸まわシに略４５°回転させて配置して
前記光学式記録媒体よシの反射ビームに非点収差を生じ
せしめ、前記第１の光検出器により前記反射ビームの集
束形状を検出して７オ一カス誤差信号を得るようにし次
ものである。
以下、本発明の第１の実施例を第１図により説明する。
半導体レーザ光源（レーザダイオード）１よシの発散ビ
ーム２は、光軸に対して傾斜させて配置された反射型回
折格子３に入射する。図でに略４５＠傾斜させである。
ーム２は、光軸に対して傾斜させて配置された反射型回
折格子３に入射する。図でに略４５＠傾斜させである。
この反射型回折格子５は、その内部に凸凹型のビームス
プリッタ面３ａを備え次、いわゆる位相型の回折格子で
ある。発散ビーム２は、凸凹型のビームスプリッタ面３
ａで反射さ扛て０次回折ビーム２ａ、＋１次回折ビーム
２１）、−１次回折ビーム２ｃＫ分離さｎｌ この分
陰さｎｆｃ各ビーム２ａ、２’ｂ、２ｃｉ）コリメート
レンズ４に入射してそｎそれ平行ビームとなさｎた後、
対物レンズ５に入射して集束ビームとなされ、記録媒体
６上に一列に並んで焦点を結ぶ。
プリッタ面３ａを備え次、いわゆる位相型の回折格子で
ある。発散ビーム２は、凸凹型のビームスプリッタ面３
ａで反射さ扛て０次回折ビーム２ａ、＋１次回折ビーム
２１）、−１次回折ビーム２ｃＫ分離さｎｌ この分
陰さｎｆｃ各ビーム２ａ、２’ｂ、２ｃｉ）コリメート
レンズ４に入射してそｎそれ平行ビームとなさｎた後、
対物レンズ５に入射して集束ビームとなされ、記録媒体
６上に一列に並んで焦点を結ぶ。
なお、記録媒体６上に集束する各ビーム２ａ。
２ｂ、２Ｑはその記録トラック方向Ｉと直交する方向ｙ
上に並び、０次回折ビーム２Ｃの前後に＋１次回折ビー
ム２１）、−１次回折ビーム２Ｃが位置している０記録
媒体６よシの各反射ビーム２ａ。
上に並び、０次回折ビーム２Ｃの前後に＋１次回折ビー
ム２１）、−１次回折ビーム２Ｃが位置している０記録
媒体６よシの各反射ビーム２ａ。
２ｂ、２０ＦＸ逆行し、今度は反射型回折格子３を透過
後、凹レンズ７、円柱レンズ８を介して光検出器９，１
０．１１に入射する０光検出器１０゜１１は再生信号を
得る友めの光検出器９とは別個に設けられ、そ詐ぞれ＋
１次、−１次回折ビーム２ｂ、２ａを受ける。なお、０
次回折ビーム２Ｃは光検出器９に入射する。なお、本発
明は、主として３ビーム法によるトラッキング誤差検出
に関するものであシ、凹レンズ７、円柱レンズ８に本発
明の本質とは直接関係ない。
後、凹レンズ７、円柱レンズ８を介して光検出器９，１
０．１１に入射する０光検出器１０゜１１は再生信号を
得る友めの光検出器９とは別個に設けられ、そ詐ぞれ＋
１次、−１次回折ビーム２ｂ、２ａを受ける。なお、０
次回折ビーム２Ｃは光検出器９に入射する。なお、本発
明は、主として３ビーム法によるトラッキング誤差検出
に関するものであシ、凹レンズ７、円柱レンズ８に本発
明の本質とは直接関係ない。
第２図は光検出器１０，９．１１の検出面を示す。々お
、光検出器９に４象限の光検出部９ａ。
、光検出器９に４象限の光検出部９ａ。
９’ｂ、９Ｃ，９（ｌに分割さｎている。再生信号は、
光検出器９の各検出＠９ａ、９ｂ、９ｃ、９６の検出出
力の和により得られる。
光検出器９の各検出＠９ａ、９ｂ、９ｃ、９６の検出出
力の和により得られる。
フォーカス誤差信号に、円柱レンズ８０発生する非点収
差により、光検出器９の第１及び第３象限の検出ｓ９ａ
、９ｃの検出出力の和と、第２及び第４象限の検出部９
１）、９ｄの検出出力の和との差により得られる。なお
、光検出器９上のスボッ）２ａ’ｔ１％ ７オーカス状
態の時にほぼ円形、テフォーカス状態の時にほぼ楕円形
となる０このフォーカス誤差信号により対物レンズ５を
軸方向に移動させる。
差により、光検出器９の第１及び第３象限の検出ｓ９ａ
、９ｃの検出出力の和と、第２及び第４象限の検出部９
１）、９ｄの検出出力の和との差により得られる。なお
、光検出器９上のスボッ）２ａ’ｔ１％ ７オーカス状
態の時にほぼ円形、テフォーカス状態の時にほぼ楕円形
となる０このフォーカス誤差信号により対物レンズ５を
軸方向に移動させる。
トラッキング誤差信号は％光検出器１０．１１の検出出
力の差により得らｎる。このトラッキング誤差信号によ
り、対物レンズ５を記録媒体６の記録トラック方向Ｉと
直交する方向７に移動させるＯ 第１の実施例によ−ｒＬは、反射型回折格子５を用い次
ので、この１個の光学部品でビームス１リツタの機能と
３ビ一ム発生の機能とを合わせ持たせることが可能とな
るといつ次効果かある。
力の差により得らｎる。このトラッキング誤差信号によ
り、対物レンズ５を記録媒体６の記録トラック方向Ｉと
直交する方向７に移動させるＯ 第１の実施例によ−ｒＬは、反射型回折格子５を用い次
ので、この１個の光学部品でビームス１リツタの機能と
３ビ一ム発生の機能とを合わせ持たせることが可能とな
るといつ次効果かある。
次に１本発明の第２の実施例を＆３図によ〕説明する。
半導体レーザ光源１よシの発散ビーム２は、反射型回折
格子１３に入射する。この反射型回折格子１３は、光軸
に対して、記録媒体６の記録トラック方向ｘＫ傾斜させ
、かつ光軸まわシに略４５″回転させて配置しである。
格子１３に入射する。この反射型回折格子１３は、光軸
に対して、記録媒体６の記録トラック方向ｘＫ傾斜させ
、かつ光軸まわシに略４５″回転させて配置しである。
第１の実施例で述べた反射型回折格子３と基本的には同
一であシ、内部に凸凹型のビームスクリツタ面１５ａを
備えた、いわゆる位相型の回折格子である＠この回折格
子１３ＦＸ、、傾斜して配置した平行平板と同じである
から透過屈折光に非点収差が発生する０しかし、反射型
回折格子１３のコリメートレンズ４側の面１３１）とビ
ームスクリツタ面１３＆との間隔に十分小さｔｎ＊め、
ビームス１リツタ面１３ｍで反射されて分離し九〇次回
折光２ａ、＋１次回折光２１）、−１次回折光２Ｃには
非点収差は発生しない。この分離さｎた各ビーム２ａ、
２ｂ、 ２ａにコリメートレンズ４に入射してそ
れぞｎ平行ビームとなされた後、対物レンズ５に入射し
て集束ビームとなさｎ１記録媒体６上に一列に並んで焦
点を結ぶ。なお、記録媒体６上に集束する各ビーム２ａ
、 ２１１Ｉ、 ２ｃはその記録トラック方向Ｉと
直交する方向ｙ上Ｋ並び、０次回折ビーム２ａの前後に
＋１次回折ビーム２１）、−１次回折ビーム２Ｃが位置
している。記録媒体６よりの各反射ビーム２ａ、２ｂ、
２ｃは逆行し、今度は・反射型回折格子１３を透過屈折
後、凹レンズ７を介して光検出器９，１０．１１に入射
する。光検出器１０゜１１は再生信号？：得る友めの光
検出器９とは別個に設けらｎ、そｎぞｆｉ＋１次、−１
次回折ビーム２ｂ、２ｃｆ：受ける。なお、０次回折ビ
ーム２ａに光検出器９に入射する。
一であシ、内部に凸凹型のビームスクリツタ面１５ａを
備えた、いわゆる位相型の回折格子である＠この回折格
子１３ＦＸ、、傾斜して配置した平行平板と同じである
から透過屈折光に非点収差が発生する０しかし、反射型
回折格子１３のコリメートレンズ４側の面１３１）とビ
ームスクリツタ面１３＆との間隔に十分小さｔｎ＊め、
ビームス１リツタ面１３ｍで反射されて分離し九〇次回
折光２ａ、＋１次回折光２１）、−１次回折光２Ｃには
非点収差は発生しない。この分離さｎた各ビーム２ａ、
２ｂ、 ２ａにコリメートレンズ４に入射してそ
れぞｎ平行ビームとなされた後、対物レンズ５に入射し
て集束ビームとなさｎ１記録媒体６上に一列に並んで焦
点を結ぶ。なお、記録媒体６上に集束する各ビーム２ａ
、 ２１１Ｉ、 ２ｃはその記録トラック方向Ｉと
直交する方向ｙ上Ｋ並び、０次回折ビーム２ａの前後に
＋１次回折ビーム２１）、−１次回折ビーム２Ｃが位置
している。記録媒体６よりの各反射ビーム２ａ、２ｂ、
２ｃは逆行し、今度は・反射型回折格子１３を透過屈折
後、凹レンズ７を介して光検出器９，１０．１１に入射
する。光検出器１０゜１１は再生信号？：得る友めの光
検出器９とは別個に設けらｎ、そｎぞｆｉ＋１次、−１
次回折ビーム２ｂ、２ｃｆ：受ける。なお、０次回折ビ
ーム２ａに光検出器９に入射する。
３２図は光検出器１０，９．１１の検出面を示す。なお
、光検出器９は４象限の光検出器９ａ。
、光検出器９は４象限の光検出器９ａ。
９ｂ、９ｃ、９ｔｌに分割されている・再生信号は。
光検出器９の各検出１１ｓ９ａ、９ｂ、９ ｃ、９６の
検出出力の和により得ら詐る。
検出出力の和により得ら詐る。
フォーカス誤差信号は、傾斜配置さｎｚ反射型回折格子
１３を透過屈折する時に発生する非点収差により、光検
出器９の第１及び第３象限の検出９９ａ、９ｃの検出出
力の和と、第２及び第４象限の検出部９１）、？（ｌの
検出出力の和との差により得られる。なお、光検出器９
上のスホッ）２ａ’は、フォーカス状態の時にほぼ円形
、テフォーカス状態の時Ｋｔ１ぼ楕円形となる。このフ
ォーカス誤差信号により対物レンズ５を軸方向に移動さ
せるＯ トラッキング誤差信号は、光検出器１０．１１の検出出
力の差により得らｎる。このトラッキング誤差信号によ
り、対物レンズ５を記録媒体６の記録トラック方向Ｘと
直交する方向ｙＫ移動させるＯ 第２の実施例によれば、第１の実施例と同じく反射型回
折格子１３を用いたので、この１個の光学部品でビーム
スプリッタの機能と３ビ一ム発生の機能とを合わせ持次
、せることか可能となるといつ次効果がある。また、傾
斜配置さｒｔｅ反射反射型回折格子１晃０ 検出に利用できるので、従来非点収差を発生させる九め
に用いられ次高価で特別が光学部品である円柱レンズを
省略することができる。
１３を透過屈折する時に発生する非点収差により、光検
出器９の第１及び第３象限の検出９９ａ、９ｃの検出出
力の和と、第２及び第４象限の検出部９１）、？（ｌの
検出出力の和との差により得られる。なお、光検出器９
上のスホッ）２ａ’は、フォーカス状態の時にほぼ円形
、テフォーカス状態の時Ｋｔ１ぼ楕円形となる。このフ
ォーカス誤差信号により対物レンズ５を軸方向に移動さ
せるＯ トラッキング誤差信号は、光検出器１０．１１の検出出
力の差により得らｎる。このトラッキング誤差信号によ
り、対物レンズ５を記録媒体６の記録トラック方向Ｘと
直交する方向ｙＫ移動させるＯ 第２の実施例によれば、第１の実施例と同じく反射型回
折格子１３を用いたので、この１個の光学部品でビーム
スプリッタの機能と３ビ一ム発生の機能とを合わせ持次
、せることか可能となるといつ次効果がある。また、傾
斜配置さｒｔｅ反射反射型回折格子１晃０ 検出に利用できるので、従来非点収差を発生させる九め
に用いられ次高価で特別が光学部品である円柱レンズを
省略することができる。
なお、第１および第２の実施例で用い次反射型、 回
折格子３．１３の概略格子パターンの１例をそれぞれ第
４図、第５図に示す。このように格子パターンが非対称
となっているのは、回折格子を傾斜することＫよって発
生する＋１次回折光２ｂと−１次回折光２Ｃの焦点位置
のずれを補正するためである０ １７ｔ１＃！１および第２の実施例で用い次反射型回折
格子３，１３０概略断面構造の１例を第６図に示す。こ
の例では、ガラス蒸着またはガラスエツチングにより作
成した凸凹型回折格子２１の凸凹面２２の上に増反射Ｊ
［２５を形成し、さらにその上にガラスに近い屈折率を
持つ光学用１２スチツク層２４を成形によ多形成した。
折格子３．１３の概略格子パターンの１例をそれぞれ第
４図、第５図に示す。このように格子パターンが非対称
となっているのは、回折格子を傾斜することＫよって発
生する＋１次回折光２ｂと−１次回折光２Ｃの焦点位置
のずれを補正するためである０ １７ｔ１＃！１および第２の実施例で用い次反射型回折
格子３，１３０概略断面構造の１例を第６図に示す。こ
の例では、ガラス蒸着またはガラスエツチングにより作
成した凸凹型回折格子２１の凸凹面２２の上に増反射Ｊ
［２５を形成し、さらにその上にガラスに近い屈折率を
持つ光学用１２スチツク層２４を成形によ多形成した。
また増反射膜２５０代わ）Ｋ金属薄！Ｉ（図示せず）を
用いても艮い◎ 〔発明の効果〕 本発明によれば、傾斜配置さｒｔた反射型回折格子を用
いたので、この１個の光学部品でビームスプリッタの機
能と３ビ一ム発生の機能を合わせ持几せることか可能と
なる。さらに、円柱レンズを用いない簡単な構成で非点
収差によるフォーカス誤差検出全行なうことができると
いった効果がある。
用いても艮い◎ 〔発明の効果〕 本発明によれば、傾斜配置さｒｔた反射型回折格子を用
いたので、この１個の光学部品でビームスプリッタの機
能と３ビ一ム発生の機能を合わせ持几せることか可能と
なる。さらに、円柱レンズを用いない簡単な構成で非点
収差によるフォーカス誤差検出全行なうことができると
いった効果がある。
第１図は、本発明の第１の実施例の側面図、第２図は、
光検出器の正面図、第５図は、第２の実施例の側面図、
第４図、第５図はそｎぞｎ第１゜第２の実施例の回折格
子パターンの概略図、第６図は回折格子の断面構造の概
略図である。 １・・・半導体レーザ光源、２・・・ビーム、３・・・
回折格子、３ａ・・・ビームスプリッタ面％ ４・・・
コリメートレンズ、５・・・対物レンズ、６・・・記録
媒体、７・・・凹レンズ、８・・・円柱レンズ、９，１
０．１１・・・光検出器、１３・・・回折格子、１３ａ
・・・ビームスプリッタ面、２１・・・凸凹型回折格子
、２２・・・凸凹面、２３・・・増反射膜、２４・・・
光学用プラスチック層。）ヤ ｌＩ！１ 才２図 ヤ３ 図
光検出器の正面図、第５図は、第２の実施例の側面図、
第４図、第５図はそｎぞｎ第１゜第２の実施例の回折格
子パターンの概略図、第６図は回折格子の断面構造の概
略図である。 １・・・半導体レーザ光源、２・・・ビーム、３・・・
回折格子、３ａ・・・ビームスプリッタ面％ ４・・・
コリメートレンズ、５・・・対物レンズ、６・・・記録
媒体、７・・・凹レンズ、８・・・円柱レンズ、９，１
０．１１・・・光検出器、１３・・・回折格子、１３ａ
・・・ビームスプリッタ面、２１・・・凸凹型回折格子
、２２・・・凸凹面、２３・・・増反射膜、２４・・・
光学用プラスチック層。）ヤ ｌＩ！１ 才２図 ヤ３ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）レーザ光源よりの発散ビームを反射型回折格子によ
り反射させてコリメートレンズに導き、次いで該コリメ
ートレンズにより平行ビームにし、前記平行ビームを対
物レンズにより集束して光学式記録媒体に照射し、前記
光学式記録媒体よりの反射ビームを前記反射型回折格子
を透過させて光検出手段に照射して再生信号を得るよう
にした光学式再生装置において、前記反射型回折格子は
その内部に凸凹型のビームスプリッタ面を備えると共に
、光軸に対して傾斜して配置されていて、前記レーザ光
源よりの発散ビームを前記ビームスプリッタ面で反射さ
せて０次、±１次回折ビームに分離して前記コリメート
レンズに導びき、前記光学式記録媒体よりの０次、±１
次回折反射ビームをそれぞれ前記光検出手段を構成する
第１、第２および第３の光検出器に照射して、前記第１
の光検出器より再生信号を得、前記第２及び第３の光検
出器よりそれぞれトラッキング誤差信号を得るようにし
たことを特徴とする光学式再生装置。 ２）特許請求の範囲第１項記載の光学式再生装置におい
て、前記反射型回折格子は、光軸に対して、前記光学式
記録媒体の記録トラック方向に傾斜させ、かつ前記光軸
まわりに略４５°回転させて配置することにより、前記
光学式記録媒体よりの反射ビームに非点収差を生じせし
め、前記第１の光検出器により前記反射ビームの集束形
状を検出してフォーカス誤差信号を得るようにしたこと
を特徴とする光学式再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59272975A JPH0619838B2 (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-26 | 光学式再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59272975A JPH0619838B2 (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-26 | 光学式再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61151844A true JPS61151844A (ja) | 1986-07-10 |
| JPH0619838B2 JPH0619838B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=17521394
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59272975A Expired - Lifetime JPH0619838B2 (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-26 | 光学式再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619838B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61195533U (ja) * | 1985-05-29 | 1986-12-05 | ||
| JPS62141652A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Canon Inc | 光ヘツド装置 |
| FR2601174A1 (fr) * | 1986-07-01 | 1988-01-08 | Mitsubishi Electric Corp | Dispositif formant tete de type optique, notamment pour l'enregistrement et la lecture de donnees. |
| JPS6310325A (ja) * | 1986-07-01 | 1988-01-16 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式ヘツド装置 |
| JPS6339146A (ja) * | 1986-08-05 | 1988-02-19 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式ヘツド装置 |
| US4753513A (en) * | 1986-04-18 | 1988-06-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical type head device |
| US4983002A (en) * | 1987-10-06 | 1991-01-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical head device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5657013A (en) * | 1979-09-28 | 1981-05-19 | Philips Nv | Focus error detector |
-
1984
- 1984-12-26 JP JP59272975A patent/JPH0619838B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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| JPS5657013A (en) * | 1979-09-28 | 1981-05-19 | Philips Nv | Focus error detector |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0619838B2 (ja) | 1994-03-16 |
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