JPS61150517A - テストパタ−ン信号発生回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテストパターン信号発生回路に関し、特にラン
ドナツト等の観劇爾屋から送られてくるリモートセンシ
ング画像信号のようなａ雑で最大なデータフォーマット
を持つ試験信号（テストパターン信号）ｆ：発生するテ
ストパターン信号発生回路に関する。

〔従来の技術〕

一般に画像処理装置の試験調整や動作確認にはディスプ
レー画面上にテストパターンを表示させることが行われ
る。テストパターンを表示させるためのテストパターン
信号は、通常単純な繰返し符号をカウンタ回路等によっ
て発生させるか、少なくともｌデータフォーマット分の
全符号列をメモリに記憶させておき、これを繰返し読み
出す等の方法によシ発生されている。ランドナツト衛星
に搭載されているマルチ・スペクトル・スキャナ（Ｍ２
Ｓ）のリモートセンシング画像信号は、衛星の移動方向
と直角な方向の１回のミラー走査で同時に観測される６
走査線、４スペクトル（赤。

緑と近赤外の２波長）分の合計２４樋のデータがディジ
タル多重化されて直列データとして伝送されるため、複
雑で長大なデータフォーマットを有している。すなわち
、第２図に示すように１メージヤーフレームがプリアン
プル部、走査開始情報。

時刻情報と、これに続くｌミ２−走査分（走査方向に対
しては公称３２００個の画素に分割される）の画像情報
部と、黒レベルと白レベル情報から成る走査終了情報、
Ｍ８Ｓの光電に換器の較正情報。

黒レベル情報とによって構成された７３ｍ５．約１．１
Ｍビット長の長大な符号列である。その画像情報部は１
５０語（１語は６ビツト構成）から成るマイナーフレー
ムで構成され、各マイナーフレームはマイナーフレーム
同期語（ＭＦ８Ｃ及びｍ５ｆｃ）又はブランク符号（Ｂ
ＬＡＮＣ）とこれに続く６走査線（Ａ、Ｆで表示）、４
スペクトル（１〜４で表示）分の２４個のセンナの出力
データ（各６ビツト構成）とから成る２５Ｗ＃構成のブ
ロック６個から構成されている。このように複雑で長大
なデータフォーマットを持つ試験信号をカウンタ回路等
の組合わせで発生させることは困難であシ、ランドサラ
）Ｍ２Ｓ用の画像処理装置のテストパターン信号発生回
路には、従来、１メジヤ一フレーム分の全符号列をメモ
リに記憶させておく方法が用いられている。

〔発明が解決すべき問題点〕

上述したように、Ｍ２Ｓのリモートセンシング画像信号
は約１１Ｍビットの長大で複雑なデータフォーマットを
持っているため、これを記憶させるためには大容量のメ
モリが必要となり、通常は簡単な一塊類またはごく少数
のテストパターンのみしか発生できないという問題点が
ある。本発明の目的は、このような問題点を除去し、小
容量のメモリで多攬類のテストパターンを発生できるテ
ストパターン信号発生回路を提供することである。

〔問題を解決するための手段〕

本発明のテストパターン信号発生回路は、画像処理装置
の試験ｐ４Ｉｉ等の目的でディスプレー画面上にテスト
パターンを表示させるための複雑なデータフォーマット
の試験信号を発生するテストパターン信号発生回路にお
いて、前記データフォーマ、トを構成するそれぞれ複数
語から成る要素符号列を複数個記憶した要素メモリと、
前記要素符号列の配列情報を記憶した配列メモリとを備
え、この配列メモリのアドレスを指定して前記要素符号
列を順次読み出すようにして構成される。

〔実施例〕

次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明の一実施例のブロック図で、第２図に示
すランドサラ）Ｍ８８信号のデータフォーマット１構成
する２５ｍ（１５０ビツト）から成るブロックを要素符
号列としてテーブル形式で記憶した要素メモリ１と、こ
れら要素符号列の配列情報を記憶した配列メモリ２と、
これらを制御するクロック及びアドレスカウンタ等を含
む制御部３とで構成され、配列メモリ２のアドレスをパ
ターン制御部４から指定制御して複数種類のテストパタ
ーン信号を発生できるように構成されている。

要素メモリ１にはＭＦ８Ｃを先頭とする要素符号列と、
ＭＦ８Ｃの逆符号ｍｆｓｃを先頭とする要素符号列と、
ＢＬＡＮＣを先頭とする要素符号列とが、それぞれ十数
種類（データ値の異なるもの）づつ用意され、東に画像
情報部以外の部分を構成するために必要な２５語構成の
要素符号列が必要数テーブル形式で記憶されている。配
列メモリ２には、データフォーマットを画像情報部とそ
れ以外の非画像情報部とに分け、それぞれ１メジヤ一フ
レーム分の符号列を構成するために必要な要素符号列の
配列順序を指定した情報が要素メモリ１のアドレスで記
憶されている。従って、パターン制御部４から配列メモ
リ２の非画像情報部と画像情報部の各配列情報のアドレ
スを交互に繰返し指定することによりテストパターン信
号を発生させることができる。配列メモリ２に記憶され
る配列情報としては、例えはテストパターンに直接関係
のない非画像情報部については２種類用意し、テストパ
ターンに直接関係する画像情報部に対しては１０徳類を
用意すれば、パターン制御部４からの指定を変更するこ
とにより何種類ものテストパターンを発生させることが
できる。なお、非画像情報部の配列情報は走査終了情報
から次のメジャーフレームの時刻情報ｌでのデータフォ
ーマットを発生するように構成されている。

要素メモリ１に記憶された各要素符号列を６ビツトで指
定できるようにすれば６４種の異なる要素符号列が登録
でき、各要素符号列は２５語。

１５０ビツトで構成されているので４にビットのメモリ
に記憶することができる。一方、配夕１ｊメモリ２にお
ける画像情報部の配列情報の記録には、要素メモリのア
ドレス指定を６ビツトとすると約１９にビットが必要と
なり、非画像情報部の配列情報には約２４にビットが必
要となる。従って、記憶する配列情報の種類を非画像情
報部で２種類。

画像情報部で１０種類とすると２５６にビットメモリ１
個で賄うことができる。これに対し、従来の方法により
ｌメジャーフレームの全符号列を記憶させるには２５６
にビットメモリ４個では不足で５個が必要であり、しか
も１種類のテストパターンしか発生させることができな
い。従って、本実施例の効果は回路構成の縮小と、テス
ト機能の拡大の両面で明らかである。

上述の実施例では、７オーマツトメモリには画像ｔＷ報
部と非画像情報部とを分けて配列情報を記録し、それぞ
れに複数種類の配列情報を用意するように説明したが、
非画像情報部の配列情報は１楓類でもよく、又、必ずし
も分離して記憶させなくてもよい。又、要素符号列は２
５語礪成としたが、ｌマイナーフレーム（１５０飴）又
は１／２マイナーフレーム（７５語）を要素符号列とす
ることも’ｏＪ能である。史に、上述の説明Ｆｉ２ンド
サットのＭ８Ｓのリモートセンシング画像信号について
述べたが、他の衛星からの同様な信号についても本発明
の技術思想が通用できることは云うまでもない。なお、
第１図のパターン制御部４はカウンタ回路またはメモリ
で構成できるが、パソコン等の外部装置で制御してもよ
い。

〔発明の効果〕

以上詳細に説明したように、本発明のテストパターン信
号発生回路によれは、複雑で長大なデータフォーマット
を持つリモートセンシング画像信号と同様な試験信号を
小答量のメモリで発生させ、しかも多種類のテストパタ
ーンを容易に発生できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図はう／
ドサットのＭ８８リモートシセンシング画像信号のデー
タフォーマットである。 １・・・・・・要素メモリ、２・・・・・・配列メモリ
、３・・・・・・制御部、４・・・・・・パターン制御
部。 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 画像処理装置の試験調整等の目的でディスプレー画面上
   にテストパターンを表示させるためのデータフォーマッ
   トの試験信号を発生するテストパターン信号発生回路に
   おいて、前記データフォーマットを構成するそれぞれ複
   数語から成る要素符号列を複数個記憶した要素メモリと
   、前記要素符号列の配列情報を記憶した配列メモリとを
   備え、この配列メモリのアドレスを指定して前記要素符
   号列を順次読み出すように構成したことを特徴とするテ
   ストパターン信号発生回路。