JPS61145437A - 螢光寿命測定装置 - Google Patents
螢光寿命測定装置Info
- Publication number
- JPS61145437A JPS61145437A JP26935784A JP26935784A JPS61145437A JP S61145437 A JPS61145437 A JP S61145437A JP 26935784 A JP26935784 A JP 26935784A JP 26935784 A JP26935784 A JP 26935784A JP S61145437 A JPS61145437 A JP S61145437A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- wave form
- waveform
- light source
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- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は螢光寿命測定装置に関する。
〈従来の技術〉
螢光寿命測定装置に奢いては、サンプル波形と光源波形
とを各別に測定し、１つのＣＲＴ上に表示するようにし
ているが、前記両波形を測定するための光路長が異なる
こと、及び各波形を測定する際の信号処理過程における
回路定数の微妙な差異等によって、両波形の基準点は一
致して奢らず、従来はサンプル波形測定用の時間電圧変
換器（以下、ＴＡＣという）の出力である電圧値（アナ
ログ量）をＡ／Ｄ変換する前にオフセット電圧（アナロ
グ量）を各データに加算し、Ａ／Ｄ変換後に詔いて光源
波形とサンプル波形の基準点を一致させていた。
とを各別に測定し、１つのＣＲＴ上に表示するようにし
ているが、前記両波形を測定するための光路長が異なる
こと、及び各波形を測定する際の信号処理過程における
回路定数の微妙な差異等によって、両波形の基準点は一
致して奢らず、従来はサンプル波形測定用の時間電圧変
換器（以下、ＴＡＣという）の出力である電圧値（アナ
ログ量）をＡ／Ｄ変換する前にオフセット電圧（アナロ
グ量）を各データに加算し、Ａ／Ｄ変換後に詔いて光源
波形とサンプル波形の基準点を一致させていた。
しかしながら、上述のようにアナログ量の段階でオフセ
ット電圧を加えてデータ補正を行なってしまうと、次の
ような不都合が生ずる。即ち、同一光源でも繰り返しフ
ラッシュを行なうと、出力波形にわずかながらの変化が
生ずるが、この変化に対処すべく前記オフセット電圧を
変更すると、スペクトルデータメモリ内にストアしであ
るディジタルデータそのものを消去して、新たに設定し
たオフセット電圧のもとで測定をやり直さなければなら
ず非常に面倒である。
ット電圧を加えてデータ補正を行なってしまうと、次の
ような不都合が生ずる。即ち、同一光源でも繰り返しフ
ラッシュを行なうと、出力波形にわずかながらの変化が
生ずるが、この変化に対処すべく前記オフセット電圧を
変更すると、スペクトルデータメモリ内にストアしであ
るディジタルデータそのものを消去して、新たに設定し
たオフセット電圧のもとで測定をやり直さなければなら
ず非常に面倒である。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明は上述の事柄に留意してなされたもので、その目
的とするところはオフセット電圧を途中で変化させても
、それまでの測定データを使えるようにし、螢光寿命の
測定を能率よく行なうことができるようにすることにあ
る。
的とするところはオフセット電圧を途中で変化させても
、それまでの測定データを使えるようにし、螢光寿命の
測定を能率よく行なうことができるようにすることにあ
る。
〈問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、本発明においては、Ａ／Ｄ変
換変換波形データをストアするスペクトルデータメモリ
からＣＲＴ表示用メモリに波形データを移送する際、該
波形データにデジタル的１こオフセットを加えるように
して、光源波形とサンプル波形の基準点を一致させてい
る。
換変換波形データをストアするスペクトルデータメモリ
からＣＲＴ表示用メモリに波形データを移送する際、該
波形データにデジタル的１こオフセットを加えるように
して、光源波形とサンプル波形の基準点を一致させてい
る。
上記のように構成した場合、スペクトルデータメモリ内
には、測定された波形データ（デジタル量）そのものを
ストアして＄き、０２１ｗ４面上に表示するため、スペ
クトルデータメモリからＣＲＴ表示用メモリに移送する
際初めてデジタル的にオフセットが加えられることにな
る。従って、測定途中に＄いてオフセット値を変更する
ようになっても、スペクトルデータメモリ内には測定さ
れたままの波形データがストアされているので、このデ
ータに新たに設定したオフセット値を加算すればよく、
変更前の波形データを捨て、改めて測定のやり直しをす
る必要がないのである。
には、測定された波形データ（デジタル量）そのものを
ストアして＄き、０２１ｗ４面上に表示するため、スペ
クトルデータメモリからＣＲＴ表示用メモリに移送する
際初めてデジタル的にオフセットが加えられることにな
る。従って、測定途中に＄いてオフセット値を変更する
ようになっても、スペクトルデータメモリ内には測定さ
れたままの波形データがストアされているので、このデ
ータに新たに設定したオフセット値を加算すればよく、
変更前の波形データを捨て、改めて測定のやり直しをす
る必要がないのである。
〈実施例〉
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明に係る螢光寿命測定装置の構成例を示
し、１はパルス励起光発生用の光源、２は光源１による
励起光が照射されるサンプルである。３は試料２からの
螢光を検出し、光電子パルスを発生する光検出器として
のホトマルチプライヤ、４は光源１の励起光を受けてパ
ルスを発生する光検出器としてのホトマルチプライヤで
ある。
し、１はパルス励起光発生用の光源、２は光源１による
励起光が照射されるサンプルである。３は試料２からの
螢光を検出し、光電子パルスを発生する光検出器として
のホトマルチプライヤ、４は光源１の励起光を受けてパ
ルスを発生する光検出器としてのホトマルチプライヤで
ある。
５．６はプリアンプ、７，８はディスクリミネータ、９
は螢光測定用ＴＡＣ，１０は励起光測定用ＴＡＣで、こ
のようなＴＡＣ９，１０は例えば特開昭５７−１３７８
４３号公報にも開示されており公知である。１１，１２
はＡ／Ｄ変換器であり、ホトマルチプライヤ３，４以下
Ａ／Ｄ変換器１１゜１２までによりアナログ部人が形成
されている。
は螢光測定用ＴＡＣ，１０は励起光測定用ＴＡＣで、こ
のようなＴＡＣ９，１０は例えば特開昭５７−１３７８
４３号公報にも開示されており公知である。１１，１２
はＡ／Ｄ変換器であり、ホトマルチプライヤ３，４以下
Ａ／Ｄ変換器１１゜１２までによりアナログ部人が形成
されている。
なお、１３は反射鏡である。
Ｄは前記Ａ／Ｄ変換器１１，１２の出力側に設けられる
デジタル部で、２１．２２はそれぞれスペクトルデータ
メモリで、それぞれデジタル化されたサンプル波形デー
タＳＤ、光源波形データＬＤが順次ストアされる。この
場合、両データＳＤ 、ＬＤの基準点はαだけずれてい
る。２３はＣＰＵ 、ＲＯＭ 、ＲＡＭ等より成るコン
ピュータ、２４はデータバス２５を介して前記スペクト
ルデータメモリ２１，２２、コンピュータ２３と接続さ
れたＣＲＴ表示メモリ、２６はＣＲＴ２７を制御するＣ
ＲＴ表示制御回路である。なあ、ＣＲ７表示メモリ２４
、ＣＲ７表示制御回路２６に代えてＣＲＴコントローラ
を設け、データバス２５に接続してもよい。２８はキー
ボード等の入力装置で、デジタルオフセットＤＯを入力
することができ、インターフェース回路２９を介してデ
ータバス２５に接続されている。
デジタル部で、２１．２２はそれぞれスペクトルデータ
メモリで、それぞれデジタル化されたサンプル波形デー
タＳＤ、光源波形データＬＤが順次ストアされる。この
場合、両データＳＤ 、ＬＤの基準点はαだけずれてい
る。２３はＣＰＵ 、ＲＯＭ 、ＲＡＭ等より成るコン
ピュータ、２４はデータバス２５を介して前記スペクト
ルデータメモリ２１，２２、コンピュータ２３と接続さ
れたＣＲＴ表示メモリ、２６はＣＲＴ２７を制御するＣ
ＲＴ表示制御回路である。なあ、ＣＲ７表示メモリ２４
、ＣＲ７表示制御回路２６に代えてＣＲＴコントローラ
を設け、データバス２５に接続してもよい。２８はキー
ボード等の入力装置で、デジタルオフセットＤＯを入力
することができ、インターフェース回路２９を介してデ
ータバス２５に接続されている。
次に、上述のように構成された螢光寿命測定装置の作動
について、第２図（ト）、（Ｂ）をも参照して説明する
。
について、第２図（ト）、（Ｂ）をも参照して説明する
。
光源１をフラッシュする毎にホトマルチプライヤ３．４
からパルスが発せられ、それぞれのパルスはプリアンプ
５，６、ディスクリミネータ７．８ＴＡＣ９，１０を経
てＡ／Ｄ変換器１１．１２に入力され、デジタル量とし
てのサンプル波形データＳＤ、光源波形データＬＤがス
ペクトルデータメモリ２１．２２にストアされる。この
スペクトルデータメモリ２１，２２を読み出してＣＲＴ
２７の画面上に表示すると、第２図（２）に示すように
なる。即ち、サンプル波形Ｓ（仮想線で示す）の基準点
Ｋｇと光源波形Ｌ（実線で示す）の基準点ＫＬとの間に
は、αなるずれが生ずる。なお、点αはアドレスが零（
即ち時間零）の点である。このように、スペクトルデー
タメモリ２１，２２にストアされているサンプル波形デ
ータＳＤ、光源波形データＬＤとの間にはズレαが存在
する。
からパルスが発せられ、それぞれのパルスはプリアンプ
５，６、ディスクリミネータ７．８ＴＡＣ９，１０を経
てＡ／Ｄ変換器１１．１２に入力され、デジタル量とし
てのサンプル波形データＳＤ、光源波形データＬＤがス
ペクトルデータメモリ２１．２２にストアされる。この
スペクトルデータメモリ２１，２２を読み出してＣＲＴ
２７の画面上に表示すると、第２図（２）に示すように
なる。即ち、サンプル波形Ｓ（仮想線で示す）の基準点
Ｋｇと光源波形Ｌ（実線で示す）の基準点ＫＬとの間に
は、αなるずれが生ずる。なお、点αはアドレスが零（
即ち時間零）の点である。このように、スペクトルデー
タメモリ２１，２２にストアされているサンプル波形デ
ータＳＤ、光源波形データＬＤとの間にはズレαが存在
する。
今、コンピュータ２３がスペクトルデータメモリ２２内
の光源波形データＬＤを読み取り、順次データバス２５
を介してＣＲ７表示用メモリ２４内に移送し、更にＣＲ
７表示コントロール回路２６を介してＣＲＴ２７の画面
上に、第２図（８）において実線で示す如き光源波形り
を形成したものとする。
の光源波形データＬＤを読み取り、順次データバス２５
を介してＣＲ７表示用メモリ２４内に移送し、更にＣＲ
７表示コントロール回路２６を介してＣＲＴ２７の画面
上に、第２図（８）において実線で示す如き光源波形り
を形成したものとする。
次いでサンプル波形を表示する場合、まず入力装置２８
によって、前記ズレαに相当するデジタルオフセットＤ
Ｏを入力し、該オフセットＤＯはコンピュータ２３のＲ
ＡＭ内にストアされる。ここで、コンピュータ２３のＣ
ＰＵがスペクトルデータメモリ２１からサンプル波形デ
ータＳＤを読み取り、該データＳＤをＣＲＴ表示用メモ
リ２４に移送する際、各データに前記デジタルオフセラ
）ＤＯを加算する。これによってＣＲ７表示用メモリ２
４内には測定時のデータにデジタルオフセットＤＯが加
算された補正後のサンプル波形データがストアされるこ
とになる。
によって、前記ズレαに相当するデジタルオフセットＤ
Ｏを入力し、該オフセットＤＯはコンピュータ２３のＲ
ＡＭ内にストアされる。ここで、コンピュータ２３のＣ
ＰＵがスペクトルデータメモリ２１からサンプル波形デ
ータＳＤを読み取り、該データＳＤをＣＲＴ表示用メモ
リ２４に移送する際、各データに前記デジタルオフセラ
）ＤＯを加算する。これによってＣＲ７表示用メモリ２
４内には測定時のデータにデジタルオフセットＤＯが加
算された補正後のサンプル波形データがストアされるこ
とになる。
上述の補正が行なわれた後、ＣＲ７表示コントロール回
路２６を介してＣＲＴ２７の画面上に、第２図（６）に
初いて仮想線で示すようなサンプル波形Ｓが表示され、
ＣＲＴ２７の画面には光源波形りの基準点ＫＬと一致し
た基準点Ｋｇを有する波形Ｓが表示されることになる。
路２６を介してＣＲＴ２７の画面上に、第２図（６）に
初いて仮想線で示すようなサンプル波形Ｓが表示され、
ＣＲＴ２７の画面には光源波形りの基準点ＫＬと一致し
た基準点Ｋｇを有する波形Ｓが表示されることになる。
つまり、サンプル波形ＳはＣＲＴ２７の画面上に＃いて
左方へデジタルシフトされたことになる。
左方へデジタルシフトされたことになる。
なセ、本発明は上述の実施例に限られるものではなく、
光源波形データＬＤにデジタルオフセットを加え、光源
波形りを右方ヘデジタルシフトするようにしてもよい。
光源波形データＬＤにデジタルオフセットを加え、光源
波形りを右方ヘデジタルシフトするようにしてもよい。
このように光源波形りを右方ヘデジタルシフトした場合
、Ａ／Ｄ変換器１１゜１２として従来装置と同じビット
数を有するものを使用することができる。
、Ａ／Ｄ変換器１１゜１２として従来装置と同じビット
数を有するものを使用することができる。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によればスペクトルデータ
メモリ内にはＡ／Ｄ変換後のサンプル波形データ及び光
源波形データがストアされるようＫＬ、ＣＲＴの画面上
に表示するため前記スペクトルデータメモリからＣＲＴ
表示用メモリに移送する際、サンプル波形データ又は光
源波形データのいずれかにデジタルオフセットを加える
ようにしているので、従来装置のようにオフセット値が
変更されても測定のやり直しをする必要がなくなり、そ
れだけこの種測定に要する時間を短縮することができる
。又、本発明によれば、異なる測定条件下で測定した波
形データであっても、デジタルオフセットを加えるだけ
で、サンプル波形と光源波形の基準点を容易に一致させ
ることができる。
メモリ内にはＡ／Ｄ変換後のサンプル波形データ及び光
源波形データがストアされるようＫＬ、ＣＲＴの画面上
に表示するため前記スペクトルデータメモリからＣＲＴ
表示用メモリに移送する際、サンプル波形データ又は光
源波形データのいずれかにデジタルオフセットを加える
ようにしているので、従来装置のようにオフセット値が
変更されても測定のやり直しをする必要がなくなり、そ
れだけこの種測定に要する時間を短縮することができる
。又、本発明によれば、異なる測定条件下で測定した波
形データであっても、デジタルオフセットを加えるだけ
で、サンプル波形と光源波形の基準点を容易に一致させ
ることができる。
第１図は本発明に係る螢光寿命測定装置の構成例を示す
ブロック図、第２図（２）、 ＣＢ）はその動作説明図
である。 ９．１０・・・時間電圧変換器、１１．１２・・・Ａ／
Ｄ変換器、２１．２２・・・スペクトルデータメモリ、
２４・・・ＣＲＴ表示用メモリ、ＬＤ・・・光源波形デ
ータ、ＳＤ・・・サンプル波形データ、ＤＯ・・・デジ
タルオフセット、Ｌ・・・光源波形、ｓ用すンプル波形
、ＫＬ、ＫＳ・・・基準点。 第１ｒＲ （Ａ） ＫＬ ｍ
ブロック図、第２図（２）、 ＣＢ）はその動作説明図
である。 ９．１０・・・時間電圧変換器、１１．１２・・・Ａ／
Ｄ変換器、２１．２２・・・スペクトルデータメモリ、
２４・・・ＣＲＴ表示用メモリ、ＬＤ・・・光源波形デ
ータ、ＳＤ・・・サンプル波形データ、ＤＯ・・・デジ
タルオフセット、Ｌ・・・光源波形、ｓ用すンプル波形
、ＫＬ、ＫＳ・・・基準点。 第１ｒＲ （Ａ） ＫＬ ｍ
Claims (1)
- 時間電圧変換器の出力をＡ／Ｄ変換し、該変換後の波形
データをスペクトルデータメモリに入力し、更にＣＲＴ
表示用メモリを介してＣＲＴ上に光源波形とサンプル波
形としてスペクトル表示するようにした螢光寿命測定装
置において、前記スペクトルデータメモリからＣＲＴ表
示用メモリに波形データを移送する際、前記波形データ
にデジタルオフセツトを加えるようにして光源波形とサ
ンプル波形の基準点が互いに一致するようにしたことを
特徴とする螢光寿命測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59269357A JPH0665980B2 (ja) | 1984-12-19 | 1984-12-19 | 螢光寿命測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59269357A JPH0665980B2 (ja) | 1984-12-19 | 1984-12-19 | 螢光寿命測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61145437A true JPS61145437A (ja) | 1986-07-03 |
| JPH0665980B2 JPH0665980B2 (ja) | 1994-08-24 |
Family
ID=17471250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59269357A Expired - Lifetime JPH0665980B2 (ja) | 1984-12-19 | 1984-12-19 | 螢光寿命測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0665980B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0546855A (ja) * | 1991-08-09 | 1993-02-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 負荷制御装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50978U (ja) * | 1973-04-28 | 1975-01-08 |
-
1984
- 1984-12-19 JP JP59269357A patent/JPH0665980B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50978U (ja) * | 1973-04-28 | 1975-01-08 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0546855A (ja) * | 1991-08-09 | 1993-02-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 負荷制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0665980B2 (ja) | 1994-08-24 |
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